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    • 49. 发明专利
    • トランジスタの作製方法
    • 晶体管制造方法
    • JP2016106435A
    • 2016-06-16
    • JP2016051243
    • 2016-03-15
    • 株式会社半導体エネルギー研究所
    • 山崎 舜平
    • H01L29/786H01L21/336
    • C23C14/08C23C14/02C23C14/086C23C14/34C23C14/351C23C14/352C23C14/541C23C14/566H01L21/67167H01L21/67173H01L21/67207H01L29/7869H01L21/02565
    • 【課題】酸化物半導体を用いたトランジスタは、非晶質シリコンを用いたトランジスタと 比較して信頼性が劣る場合があった。また、酸化物半導体を用いたトランジスタの電気特 性は、基板内、基板間及びロット間において、ばらつきが大きい場合があった。そこで、 信頼性が高く、電気特性のばらつきの小さい酸化物半導体を用いた半導体装置を作製する 。 【解決手段】ロードロック室と、ロードロック室とゲートバルブを介して接続された搬送 室と、搬送室とゲートバルブを介して接続された基板加熱室と、搬送室とゲートバルブを 介して接続されたリークレートが1×10 −10 Pa・m 3 /秒以下である成膜室と、を 有する成膜装置である。 【選択図】図1
    • 要解决的问题为了制造使用具有高可靠性和较小电特性变化的氧化物半导体的半导体器件,以解决与使用非晶硅的晶体管相比,使用氧化物半导体的晶体管具有较低的可靠性的情况下的问题, 并且使用氧化物半导体的晶体管的电特性在基板之间以及批次之间变化很大。解决方案:沉积设备包括:负载锁定室; 传送室,通过闸阀与加载锁定室连接; 基板加热室,经由闸阀与转印室连接; 以及通过闸阀与传送室连接并具有等于或小于1×10Pa m / sec的泄漏率的沉积室。图1