专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

31. 发明专利

JP2011202972A Imaging apparatus 审中-公开
标题翻译：成像设备
公开(公告)号：JP2011202972A
公开(公告)日：2011-10-13
申请号：JP2010067835
申请日：2010-03-24
申请人： Fujitsu Ltd , 富士通株式会社
发明人： MARUYAMA KAZUNORI , HASEGAWA SHINYA , MIYAMOTO AKINORI , INOTANI NOBUHIKO
IPC分类号： G01N21/35 , G01N21/3586 , G01N22/00
CPC分类号： G02B21/14 , G02B21/0004
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve an imaging apparatus, capable of acquiring both of the amplitude data and phase data of an object to be measured in a short time, and capable of being constructed at low cost.SOLUTION: The imaging apparatus includes an electromagnetic wave light source 1, an electromagnetic wave branch 2 for branching the continuous electromagnetic wave 10 from the electromagnetic wave light source into a first electromagnetic wave beam 10A and a second electromagnetic wave beam 10B, a probe light source 5, a probe light branching part 6 for branching the continuous probe light 11 from the probe light source into a first probe light beam 11A and a second probe light beam 11B, a first electrooptical crystal 3 irradiated with the first electromagnetic wave beam through the object to be measured 9 and receiving the incidence of the first probe light beam, a second electrooptical crystal 4 on which the second electromagnetic wave beam and the second probe light beam are incident, an interference part 7 for allowing the first probe light beam from the first electrooptical crystal and the second probe light beam from the second electrooptical crystal to interfere with each other and an imaging apparatus 8 for taking the interference image from the interference part.
摘要翻译：要解决的问题：为了实现能够在短时间内获取要测量的对象的振幅数据和相位数据两者并且能够以低成本构造的成像装置。解决方案：成像装置包括电磁波长光源1，用于将连续电磁波10从电磁波光源分支到第一电磁波束10A和第二电磁波束10B的电磁波分支2，探测光源5，探测光分支部分6 用于将连续探测光11从探测光源分支到第一探测光束11A和第二探测光束11B中，第一电光晶体3通过被测量物体9照射第一电磁波束并接收入射光的第一探针光束，第二电光晶体4，第二电磁波束和第二探测光束在其上用于允许来自第一电光晶体的第一探测光束和来自第二电光晶体的第二探测光束彼此干涉的干涉部分7和用于从干涉部分拍摄干涉图像的成像装置8。

32. 发明专利

JP2011133438A Device, method and program for acquisition of thickness information, and microscope 有权
标题翻译：用于获取厚度信息的装置，方法和程序以及显微镜
公开(公告)号：JP2011133438A
公开(公告)日：2011-07-07
申请号：JP2009295380
申请日：2009-12-25
申请人： Sony Corp , ソニー株式会社
发明人： YAMAMOTO TAKASHI
IPC分类号： G01B11/02 , G02B21/00
CPC分类号： G01B11/06 , G01B9/04 , G02B21/14
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain thickness information of samples with sufficient precision at short times.
SOLUTION: In the present invention, because a correlation condition for a reference image of acquired phase difference images is computed and, according to the correlation condition concerned, thickness information of tissue slice TS is acquired, thickness information of the tissue slice TS is acquirable from one phase difference image, thickness information reflecting distribution along the thickness direction of samples is also acquirable, and thus thickness information is acquirable with sufficient precision at short times.
COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：在短时间内获得足够精度的样品的厚度信息。解决方案：在本发明中，由于计算了所获取的相位差图像的参考图像的相关条件，并且根据相关条件获取组织切片TS的厚度信息，组织切片TS的厚度信息从一个相位差图像可以获得，也可以获取反映样品厚度方向分布的厚度信息，从而在短时间内以足够的精度获取厚度信息。版权所有（C）2011，JPO＆INPIT

33. 发明专利

JPWO2009044834A1 偏光補償光学系及びこの光学系に用いられる偏光補償光学素子审中-公开
公开(公告)号：JPWO2009044834A1
公开(公告)日：2011-02-10
申请号：JP2009536091
申请日：2008-09-26
申请人：株式会社ニコン
发明人：正宏水田 , 正宏水田 , 久美子松爲 , 久美子松爲
IPC分类号： G02B21/14 , G02B5/30
CPC分类号： G02B1/02 , G02B5/3008 , G02B21/14 , G02B27/28
摘要：偏光補償光学系は、偏光子Pを介して標本4に照明光を照射する光源1、コレクタレンズ2及びコンデンサレンズ3と、標本4からの光を集光し、検光子Aを介して結像する対物レンズ5と、偏光子Pと標本4の間又は標本4と検光子Aの間の少なくとも一方に配設され、有効径内を複数の領域に分割して偏光子Pと検光子Aの間に配設されている光学素子により発生する偏光方向の回転及び位相差を当該領域の各々で補償する偏光補償光学素子C(C1,C2)とを有して構成される偏光補償光学系において、偏光補償光学素子C(C1,C2)の領域分割数を8以上とする。

34. 发明专利

JP4538633B2 Dlp type slit light scanning microscope 有权
公开(公告)号：JP4538633B2
公开(公告)日：2010-09-08
申请号：JP2005094188
申请日：2005-03-29
申请人：国立大学法人浜松医科大学
发明人：進寺川 , 清二山本 , 孝司櫻井 , 佳彦若園
IPC分类号： G02B21/06 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0024 , G02B21/06 , G02B21/14 , G02B21/16 , G02B26/0833

35. 发明专利

JP2010515084A System and method for three-dimensional interferometric microscopy 有权
公开(公告)号：JP2010515084A
公开(公告)日：2010-05-06
申请号：JP2009543248
申请日：2007-12-21
申请人：ハワードヒューズメディカルインスティチュート
发明人：エフ．ヘス，ハラルド
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G01B9/02041 , G01B9/02007 , G01B9/02081 , G01B9/02097 , G01B9/04 , G01B2290/45 , G01B2290/55 , G01N21/6456 , G01N21/6458 , G02B21/0056 , G02B21/0076 , G02B21/008 , G02B21/14 , G02B21/367 , H04N13/0214
摘要：一実施形態では、装置は、複数のディテクターとプロセッサーとを有する光学システムを含む。光学システムは、所与の時間で、各ディテクターで、第１の次元と第１の次元に実質的に直交する第２の次元とで、光源の画像を生成するように構成される。画像の各画像は、光源からの第１の方向の発光と、光源からの第１の方向とは異なる第２の方向の発光と、の干渉に基づく。プロセッサーは、画像に基づいて第３の次元で位置を計算するように構成される。第３の次元は、第１の次元と第２の次元とに実質的に直交する。

36. 发明专利

JP2010054601A Microscope 有权
标题翻译：显微镜
公开(公告)号：JP2010054601A
公开(公告)日：2010-03-11
申请号：JP2008216873
申请日：2008-08-26
申请人： Olympus Corp , オリンパス株式会社
发明人： NISHIWAKI DAISUKE
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/14 , G02B21/0056 , G02B21/16
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a microscope for both use in fluorescent observation and phase-contrast observation, wherein, in particular, a ring slit can be used in common even if a plurality of phase-contrast objectives are provided, and the objectives can be used in common in both the phase-contrast observation and the fluorescent observation.
SOLUTION: The microscope includes at least a first phase-contrast objective having a 20-fold magnification or lower and a second phase-contrast objective having a 60-fold magnification or higher, wherein the ring slit is shared and used by the first phase-contrast objective and the second phase-contrast objective, and provided that a pupil diameter of the second phase-contrast objective is denoted as OB
2 , and a ring center diameter of a phase film of the second phase-contrast objective is denoted as PH
OB2 , expression (1): PH
OB2 /OB
2 ≤0.2 is satisfied.
COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：为了提供用于荧光观察和相位对比观察的显微镜，其中特别地，即使提供多个相位对比度目标，也可以共同使用环形狭缝，并且目标可以在相位对比观察和荧光观察两者中共同使用。解决方案：显微镜包括至少具有20倍放大率或更低倍数的第一相位对比度物镜和具有60倍放大率或更高倍数的第二对比度物镜，其中环形狭缝被共享并由第一相对对比度物镜和第二相对对比度物镜，并且第二相对对比度物镜的光瞳直径被表示为OB 2 ，并且相位膜的相位膜的环心直径第二相对对比物体被表示为PH OB2 ，表达式（1）：PH OB2 / OB 2 ≤0.2。版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

37. 发明专利

JPWO2008010316A1 偏光子，及び偏光子を用いた顕微鏡有权
公开(公告)号：JPWO2008010316A1
公开(公告)日：2009-12-17
申请号：JP2008525785
申请日：2007-07-17
申请人：株式会社フォトニックラティス
发明人：川上　彰二郎 , 彰二郎川上 , 井上　喜彦 , 喜彦井上
IPC分类号： G02B5/30 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/14 , G02B5/30
摘要：【課題】偏光軸が直線的な偏光子ではなく,偏光顕微鏡に用いた場合に,レンズなど(削除)に由来する偏光状態変換の影響を受けない新規な偏光子を提供すること及び新規な偏光子を用いた,偏光変換作用の無い試料を観察した場合には,理想的に光が遮断される偏光顕微鏡を提供することを目的とする。【解決手段】上記課題は,レンズが光軸に対して回転対称な曲面で構成されているのに対して,偏光軸が直線的である場合に不可避な問題である。従って,レンズ同様に光軸に対して回転対称な透過軸を有する偏光子を用いることで,上記課題は根本的に解決することができる。つまり,偏光顕微鏡に用いる偏光子を,透過軸が同心円状である偏光子もしくは透過軸が放射状である偏光子にすることにより,前記課題は解決される。【選択図】図6

38. 发明专利

JP2009211010A Optical component and phase contrast microscope using the optical component 有权
标题翻译：光学元件和相对对比度显微镜使用光学元件
公开(公告)号：JP2009211010A
公开(公告)日：2009-09-17
申请号：JP2008056783
申请日：2008-03-06
申请人： Yutaka Suenaga , 豊末永
发明人： SUENAGA YUTAKA
IPC分类号： G02B21/14 , G02B5/30
CPC分类号： G02B21/14 , G02B27/52
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical component and a phase contrast microscope, exhibiting a phase difference of a sample including frequency information and color information. SOLUTION: At least two optical media are arranged side by side so as to produce a given phase difference with respect to at least two wavelengths. COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种具有包括频率信息和颜色信息的样本的相位差的光学组件和相差显微镜。解决方案：至少两个光学介质并排布置，以产生相对于至少两个波长的给定相位差。版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

39. 发明专利

JP2009521216A Method and apparatus for cell sample analysis 有权
公开(公告)号：JP2009521216A
公开(公告)日：2009-06-04
申请号：JP2008547187
申请日：2006-12-22
申请人：フェイズホログラフィックイメージングペーハーイーアーベーPhase Holographic Imaging Phi Ab
发明人：マッツ・グスタフスン , ミカエル・セベスタ
IPC分类号： C12Q1/06 , C12M1/34 , G01N21/45
CPC分类号： G02B21/14 , G02B21/36 , G03H1/0005 , G03H1/0443 , G03H1/0866 , G03H2001/005 , G03H2001/0428 , G03H2001/0447 , G03H2001/045 , G03H2210/12 , G03H2210/62
摘要：透明な生体細胞および／または死んだ細胞から成るサンプルを、デジタルホログラフィー顕微鏡の五つの手段によって分析する非破壊的な方法と装置であり、サンプル（８）はレーザ（２）からの光線に曝露される。サンプル内の細胞を通過する光線は、周囲の媒体と比較して光路長の差を経験し、十個の細胞から出てくる波面は、結果として位相シフトする。この歪みは、デジタルホログラムにより検出することができ、それは位相差または位相シフトとしてＣＣＤまたはＣＭＯＳのようなデジタルセンサ（１７）によって検出される干渉パターンから再構築され、それによってデジタルホログラムを作成する。ホログラムのそれぞれの要素の十五個の位相シフトが、その後、サンプルにおける細胞の特性を分析するために使用される。

40. 发明专利

JP4020714B2 microscope 有权
公开(公告)号：JP4020714B2
公开(公告)日：2007-12-12
申请号：JP2002192665
申请日：2002-07-01
申请人：オリンパス株式会社
发明人：寛之南方 , 公明山本 , 武橋本 , 郁俊福島 , 満雙木
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/06 , G02B21/14 , G02B21/36 , G02F1/01 , G02F1/13
CPC分类号： G02B21/086 , G02B21/14

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式