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1. 发明专利

JP6438054B2 三次元干渉顕微鏡観察のためのシステムおよび方法审中-公开
公开(公告)号：JP6438054B2
公开(公告)日：2018-12-12
申请号：JP2017005396
申请日：2017-01-16
申请人：ハワードヒューズメディカルインスティチュート
发明人：ヘス,ハラルドエフ.
IPC分类号： G01N21/64 , G02B21/00
CPC分类号： G01B9/02041 , G01B9/02007 , G01B9/02081 , G01B9/02097 , G01B9/04 , G01B2290/45 , G01B2290/55 , G01N21/6456 , G01N21/6458 , G02B21/0056 , G02B21/0076 , G02B21/008 , G02B21/14 , G02B21/367 , H04N13/214

2. 发明专利

JP2018119991A 物体の光干渉測定装置および光干渉測定方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018119991A
公开(公告)日：2018-08-02
申请号：JP2018090906
申请日：2018-05-09
申请人：ポリテック・ゲー・エム・ベー・ハー , POLYTEC GMBH
发明人：マティアス・シュスラー , クリスチアン・レンベ , アレクサンダー・ドレーベンシュテット , ロベルト・コヴァルシュ , ヴァンヤ・オックス
IPC分类号： G01B11/00 , G01J9/02 , G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02022 , G01B9/02002 , G01B9/02028 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01H9/00
摘要：【課題】さらに付加的な情報の取得が可能で、かつ堅牢な装置構造と高度な測定精度とを有する光干渉測定技術の提供。【解決手段】光干渉測定装置は、光源1からの出発ビーム2を測定ビーム3と第1の参照ビーム4aとに分割するビームスプリッタ5aと、光の重ね合わせ手段と、第1の検出器8aとを備える。重ね合わせ手段と第1の検出器8aとは互いに連携する。物体7によって反射された測定ビームと第1の参照ビームとが第1の検出器の検出面で重ね合わされる。ビームスプリッタ5aは、出発ビーム2を測定ビーム3と、第1の参照ビーム4aと、少なくとも第2の参照ビーム4bとに分割する。重ね合わせ手段と互いに連係する第2の検出器8bが備えられ、物体7によって散乱させられた第1の受信ビーム4b’としての測定ビームと第2の参照ビーム4bとが第2の検出器8bの検出面で重ね合わされる。【選択図】図2

3. 发明专利

JP2017102032A 光計測方法および装置审中-公开
公开(公告)号：JP2017102032A
公开(公告)日：2017-06-08
申请号：JP2015235980
申请日：2015-12-02
申请人：株式会社日立エルジーデータストレージ
发明人：峯邑浩行 , 大澤賢太郎 , 安齋由美子
IPC分类号： G01B11/02
CPC分类号： G01N15/14 , G01B9/02041 , G01B9/02081 , G01B9/02091 , G01N15/1434 , G01N15/1475 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01N2015/1006 , G01N2015/1445 , G01N2015/1493
摘要：【課題】光を用いて被検物を計測する際の計測誤差を低減することができる技術を提供する。【解決手段】本発明に係る光計測方法は、被検物に対して光を照射したときの反射光の強度と前記被検物のサイズとの間の対応関係を記述した対応関係データを取得し、前記対応関係データと前記反射光の強度とを用いて前記被検物のサイズを取得する。また本発明に係る光計測方法は、被検物に対して光を照射したときの反射光の強度を表す検出信号から、被検物の容器の傾きに起因する成分を減算することにより、前記容器の傾きを補正する。【選択図】図16

4. 发明专利

JP2017056355A 掃引信号源光学コヒーレンスドメイン反射率測定用の装置有权
公开(公告)号：JP2017056355A
公开(公告)日：2017-03-23
申请号：JP2017000184
申请日：2017-01-04
申请人：カールツアイスメディテックアクチエンゲゼルシャフト
发明人：ハッカー、マルティン , エーベルスバッハ、ラルフ , パブスト、トーマス , ペーテルライン、ウルフ , アントコヴィアック、ジェラルド , ベルグナー、ロランド , コシュミエーダー、インゴ
IPC分类号： A61B3/10
CPC分类号： A61B3/1005 , A61B3/102 , G01B9/02004 , G01B9/0203 , G01B9/02067 , G01B9/02069 , G01B9/02091 , G01N21/4795 , G01B2290/45
摘要：【課題】典型的な眼球の動きを考慮し、サンプルの動きに追従するアクティブな測定ビームの例えば待ち時間誤差などの欠点を生じることなく、眼内距離を迅速かつ正確に測定する。【解決手段】本発明は、可動サンプル、特に人間の眼球に対してAスキャンを行うための掃引信号源光学コヒーレンスドメイン反射率測定(SSOCDR)装置に関する。この装置は、サンプル長に応じた測定範囲を有するとともに、主波数k 0 で調整可能なレーザー光源とサンプルから放散された光に対する少なくとも1つのレシーバとを有する。直径Dを有する測定ビームが、結合装置によってサンプル表面に照射される。光源は、δk −1 のスペクトル線幅を有し、この光源の調整は、τ 0 )で実施される。【選択図】図1

5. 发明专利

JP6099606B2 光センサーインテロゲーションシステム有权
公开(公告)号：JP6099606B2
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：JP2014192655
申请日：2014-09-22
申请人：ザ・ボーイング・カンパニー , The Boeing Company
发明人：ラーセン, タイエー. , カラレロ, マイケルピー.
IPC分类号： G01L1/24 , G01L11/02 , G01D5/353
CPC分类号： G02F1/295 , A61B5/0066 , G01D5/268 , G01N21/55 , A61B5/0059 , G01B2290/45 , G01B9/02091 , G01N21/4795 , G01N2201/068 , G01N2201/088 , G02B6/1225

7. 发明专利

JP5778078B2 物体をモニタする干渉計システム有权
标题翻译：监测对象干涉仪系统
公开(公告)号：JP5778078B2
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：JP2012122500
申请日：2012-05-29
申请人：ザイゴコーポレーション , ZYGO CORPORATION
发明人：デグロート、ピーター , デック、レスリーエル. , ザノニ、カール
IPC分类号： G01B11/00 , G01B9/02
CPC分类号： G01B9/02004 , G01B9/02002 , G01B9/02007 , G01B9/02027 , G01B9/0209 , G03F7/70775 , G01B2290/15 , G01B2290/45

9. 发明专利

JP2015111160A 対チャープFMCWコヒーレントレーザレーダー用の小型の光ファイバ配置审中-公开
标题翻译：用于计数器FMCW相干激光雷达的紧凑光纤光学几何
公开(公告)号：JP2015111160A
公开(公告)日：2015-06-18
申请号：JP2015053210
申请日：2015-03-17
申请人：ニコン・メトロロジー・エヌヴェ
发明人：ミナ・レツク , アンソニー・スロットヴィンスキー
IPC分类号： G01B9/02 , G01S17/32
CPC分类号： G01B9/02004 , G01B11/026 , G01B9/02003 , G01B9/02007 , G01B9/02027 , G01B9/0207 , G01B9/02077 , G01S17/325 , G01B2290/45 , G01B2290/60 , G01B2290/70 , G01S7/4818 , G02B6/32
摘要：【課題】非常に正確で、測定時間が短く、狭いスペースにもアクセスでき、柔軟性及び信頼性があることを可能にする実用的な光学的精密測定システムを提供すること。【解決手段】システムは、第1の波形及び第1の周波数を有する第1の光ビームを生成する第1のレーザ光源;第2の周波数及び第2の波形を有する第2の光ビームを生成する第2のレーザ光源であって、第2の周波数が第2の率でチャープダウンされるときに第1の周波数は第1の率でチャープアップされ、第1の周波数が第1の率でチャープダウンされるときに第2の周波数は第2の率でチャープアップされる、第2のレーザ光源;第1の光ビームを第2の光ビームと結合して結合光ビーム経路に入力させる光学素子であって、結合光ビーム経路からの戻り部分を第3の光ビームに分割する光学素子;及び測定距離に比例する2つの異なるビート周波数を含む第3の光ビームを受光する単一の検出器を含む。【選択図】図3
摘要翻译：要解决的问题：提供一种具有高精度，快速测量时间，狭小空间，灵活性和可靠性的实用光学精密测量系统。解决方案：该系统包括：第一激光源，其产生具有第一波形和第一频率; 第二激光源，其产生具有第二频率和第二波形的第二光束，其中第一频率以第一速率被啁啾，而第二频率以第二速率被啁啾，并且第二频率被啁啾第二个频率以第一个频率啁啾一次; 用于将第一光束与第二光束组合成组合光束路径的光学元件，光学元件将组合光束路径的返回部分分割为第三光束; 以及用于接收第三光束的单个检测器，其包括与测量的距离成比例的两个不同的拍频。

10. 发明专利

JP2015094761A 合成波レーザー測距を使用する位置の決定审中-公开
标题翻译：使用合成波激光定位的位置确定
公开(公告)号：JP2015094761A
公开(公告)日：2015-05-18
申请号：JP2014213822
申请日：2014-10-20
申请人：ザ・ボーイング・カンパニー , The Boeing Company
发明人：ソライデ, デーヴィッドシー. , サンクレア, ジョナサンエム.
IPC分类号： G01B9/02 , G01B11/00 , G01C3/06
CPC分类号： G01S17/36 , G01B11/2441 , G01B9/02003 , G01B9/02008 , G01B9/02027 , G01S17/42 , G01S17/87 , G01S7/4815 , G01S7/491 , G01S7/4917 , G01B2290/45
摘要：【課題】大きな物体の製造、アセンブリの用途に使われ、目標の位置を決定するレーザ測距センサを提供する。【解決手段】システムは、連続波光のセンサビームを目標に対して向けるように各々が構成される、3以上のレーザー測距センサを含む。目標によって反射される光は、センサビームと干渉して干渉ビームを生成する。干渉ビームは、各々のレーザー測距センサの中の局部発振器ビームと組み合わされて、合成波ビームを生成する。レーザー測距センサの各々はまた、合成波ビームを感知する一連の光検出器を含み、かつ一連の光検出器からの出力に基づいて、目標までの距離を測定することができる。システムはさらに、レーザー測距センサの各々から距離測定値を受信し、かつ距離測定値に基づいて座標系の中で目標の位置を計算するコントローラを含む。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供用于确定在诸如制造和/或组装大型物体的应用中使用的物体的位置的激光测距传感器。解决方案：系统包括三个或更多个激光测距传感器，每个激光测距传感器被配置为引导传感器连续波光束朝向目标。反射目标的光线会干扰传感器光束，产生干涉光束。干涉光束与每个激光测距传感器中的本地振荡器波束组合以产生合成波束。每个激光测距传感器还包括感测合成波束的光电检测器阵列，并且能够基于光电检测器阵列的输出来测量到目标的距离。该系统还包括控制器，其接收来自每个激光测距传感器的距离测量，并且基于距离测量来计算坐标系中目标的位置。

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