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    • 31. 发明专利
    • Magnetic sensor circuit
    • 磁传感器电路
    • JP2009047585A
    • 2009-03-05
    • JP2007214737
    • 2007-08-21
    • Seiko Instruments Incセイコーインスツル株式会社
    • SUGIURA SHOICHI
    • G01R33/07
    • G01R33/0385B82Y25/00G01R33/0023G01R33/022G01R33/072
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a magnetic sensor circuit of which circuit scale is small without increasing current consumption and raising cost.
      SOLUTION: A magnetic sensor circuit includes: a hall element; a comparator circuit comparing a hall voltage according to the magnetic flux which penetrates the hall element with a threshold voltage; an output logic determining circuit determining the output logic of the magnetic sensor circuit from the output signals of the comparator circuit; a threshold voltage control circuit determining a threshold voltage with the data signals output from the output logic determining circuit; and a threshold voltage output circuit outputting the threshold voltage of the comparator circuit with the data signals output from the threshold voltage control circuit.
      COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
    • 要解决的问题:提供电路规模小而不增加电流消耗和提高成本的磁传感器电路。 解决方案:磁传感器电路包括:霍尔元件; 比较器电路,其根据穿过霍尔元件的磁通量的门限电压与阈值电压进行比较; 输出逻辑判定电路根据比较器电路的输出信号来决定磁传感器电路的输出逻辑; 阈值电压控制电路用从输出逻辑判定电路输出的数据信号来确定阈值电压; 以及阈值电压输出电路,其将阈值电压控制电路输出的数据信号输出到比较电路的阈值电压。 版权所有(C)2009,JPO&INPIT
    • 33. 发明专利
    • Magnetic field generator for magnetic force microscope
    • 用于磁力显微镜的磁场发生器
    • JP2006184043A
    • 2006-07-13
    • JP2004375425
    • 2004-12-27
    • Fujitsu Ltd富士通株式会社
    • ENDO YASUHIROWAKANA SHINICHI
    • G01Q30/04G01Q40/02G01Q60/50
    • B82Y35/00B82Y25/00G01Q60/50G01R33/0385
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To perform calibration on measurement distances of a cantilever probe for a magnetic force microscope.
      SOLUTION: Magnetic field generation parts 204, 205 and 206 severally different in size are provided on a core 201 of this magnetic field generator to generate separated magnetic fields at different positions. These generation parts are scanned by a probe 212 of the magnetic force microscope to measure the intensity of the generated magnetic fields, thereby calculating, from measurement results, measurement distances corresponding to the sizes of the respective generation parts in the scanning direction. These measurement distances are used for finding the characteristic values of the probe 212 to calibrate individual differences.
      COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
    • 要解决的问题:对磁力显微镜的悬臂探头的测量距离进行校准。 解决方案:在该磁场发生器的芯201上设置尺寸不同的磁场产生部件204,205和206,以在不同位置产生分离的磁场。 通过磁力显微镜的探针212扫描这些发生部分,以测量所产生的磁场的强度,从而根据测量结果计算与扫描方向上的各个发生部分的尺寸对应的测量距离。 这些测量距离用于找到探针212的特征值以校准个体差异。 版权所有(C)2006,JPO&NCIPI
    • 36. 发明专利
    • 交流磁場の磁気プロファイル測定装置および磁気プロファイル測定方法
    • 磁性形状测定装置和交变磁场的磁性轮廓测量方法
    • JPWO2013047538A1
    • 2015-03-26
    • JP2013536311
    • 2012-09-25
    • 国立大学法人秋田大学
    • 準 齊藤準 齊藤哲 吉村哲 吉村
    • G01Q60/50
    • G01N27/725B82Y35/00G01Q30/04G01Q60/54G01R33/0385
    • 交流磁場が存在する空間を走査することで、当該空間の磁気プロファイルや交流磁場発生デバイスの磁気プロファイルを測定する。先端に探針が取り付けられたカンチレバー11と、カンチレバーの共振周波数ないし共振周波数に近い周波数で励振する励振器12と、探針の振動を検出する振動センサー13と、探針の位置の交流磁場に対応する磁気信号を復調するとともに、復調した磁気信号を位相が90?異なる、互いに直交した2つの信号成分に分離する復調処理装置14と、探針により前記交流磁場が存在する空間を走査する走査機構15と、互いに直交した2つの信号成分を、初期位相のまま初期データとして記憶するデータ記憶装置と、データ記憶装置に記憶した、初期データを呼び出し、当該初期データの位相を変更したデータを複数生成する変更データ生成器と、磁場分布画像を表示する画像表示装置とを備えたことを特徴とする。
    • 通过扫描空间,其中的交变磁场存在时,测量磁性轮廓的磁性轮廓和交替的空间的磁场产生装置。 探针被附接至尖端的悬臂11,激励器12,以激励在接近谐振频率或悬臂的谐振频率,用于检测所述探头,探头的位置的交变磁场的振动的振动传感器13的频率 相应解调的磁信号,磁信号相位是90°不同的解调,以扫描所述解调处理单元14用于分离是彼此正交的两个信号分量,一个空间,其中的交变磁场是目前由于探测扫描 多个和机构15,两个信号分量相互正交的,用于存储所述初始相位的静止初始数据的数据存储设备,并存储在数据存储装置中,调用的初始数据,数据改变初始数据的相位 要产生的变化数据生成器,其特征在于包括用于显示的磁场分布图像的图像显示装置。
    • 39. 发明专利
    • Surge current detection device
    • 浪涌电流检测装置
    • JP2012220307A
    • 2012-11-12
    • JP2011085465
    • 2011-04-07
    • Sankosha Corp株式会社サンコーシヤ
    • OKAWA TAKAYUKISAEKI EIRYOOUCHI TAKUYA
    • G01R19/165H01T1/12H01T4/02
    • G02B26/026B82Y25/00G01R15/148G01R19/04G01R33/0385H01F2017/065
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surge current detection device which can be mounted easily in a conductor and accurately detects a surge current entering the conductor.SOLUTION: A surge current detection device 30 is mounted freely removable with respect to a conductor 11 and configured to detect a surge current entering the conductor 11. The surge current detection device 30 comprises a holder 40, a magnetic force centralizing member 60 of which the cross section is U-shaped approximately, and a magnetic substance sheet 70. The holder 40 holds the conductor 11 freely removably by means of first and second confronted holder bodies 40-1 and 40-2. The magnetic force centralizing member 60 is fixed inside the holder 40 and centralizes a line of magnetic force forming a magnetic field generated by the surge current entering the conductor 11 into a predetermined detection area with high density. The magnetic substance sheet 70 is fixed inside the holder 40 so as to be positioned in the detection area and detects the surge current.
    • 要解决的问题:提供可以容易地安装在导体中并且精确地检测进入导体的浪涌电流的浪涌电流检测装置。 浪涌电流检测装置30相对于导体11自由地可拆卸地安装,并被配置为检测进入导体11的浪涌电流。浪涌电流检测装置30包括保持器40,磁力集中构件60 其截面为大致U形,以及磁性物质片70.保持器40通过第一和第二面对保持体40-1和40-2自由移动地保持导体11。 磁力集中部件60固定在保持架40的内部,并将形成由进入导体11的浪涌电流产生的磁场的磁力线集中到高密度的规定的检测区域。 磁性物质片70固定在保持器40的内部,以被定位在检测区域中,并检测浪涌电流。 版权所有(C)2013,JPO&INPIT
    • 40. 发明专利
    • Magnetic force microscope and high spatial resolution magnetic field measurement method
    • 磁力显微镜和高空间分辨率磁场测量方法
    • JP2012198192A
    • 2012-10-18
    • JP2011270138
    • 2011-12-09
    • Tokyo Institute Of Technology国立大学法人東京工業大学
    • MAJIMA YUTAKAAZUMA YASUOTANAKA SUGURU
    • G01Q60/50G01Q80/00
    • G01Q60/52B82Y25/00B82Y35/00G01R33/0385
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problems of conventional magnetic force microscopes: that as the primary resonance frequency of a cantilever is varied during probe scanning, the phase of a modulation frequency signal is varied and it is difficult to obtain a magnetic field distribution with phase information; that a measuring time becomes long due to a low excitation frequency of about 100 Hz; and that as a FM modulation signal which is an indirect signal is measured, a S/N ratio is hard to be increased.SOLUTION: An inventive magnetic force microscope includes: a cantilever 2 with a probe 1 having a magnetic material; a first oscillator 4 exciting with a first resonance frequency; a displacement detection circuit 7; a fine motion element 16; a z-axis drive part 12 for driving the fine motion element 16; a second oscillator 13 exciting with a second resonance frequency; and a lock-in amplifier 21 inputting a displacement signal and a reference signal. The z-axis drive part 12 allows the probe 1 to approach a magnetic recording head 8 based on the displacement signal and the first resonance frequency, and the lock-in amplifier 21 generates magnetic field data based on the displacement signal and the reference signal.
    • 要解决的问题:为了解决常规磁力显微镜的问题:在探针扫描期间,随着悬臂的主要共振频率的变化,调制频率信号的相位变化,难以获得磁性 具有相位信息的场分布; 由于约100Hz的低激发频率,测量时间变长; 并且作为间接信号的FM调制信号被测量,S / N比难以增加。 解决方案:本发明的磁力显微镜包括:具有磁性材料的探针1的悬臂2; 以第一谐振频率激励的第一振荡器4; 位移检测电路7; 精细运动元件16; 用于驱动微动元件16的z轴驱动部12; 以第二谐振频率激励的第二振荡器13; 以及输入位移信号和参考信号的锁定放大器21。 z轴驱动部分12允许探针1基于位移信号和第一共振频率接近磁记录头8,并且锁定放大器21基于位移信号和参考信号产生磁场数据。 版权所有(C)2013,JPO&INPIT