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1. 发明专利

JP6042978B2 交番磁界誘導装置有权
标题翻译：交变磁场感应装置
公开(公告)号：JP6042978B2
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：JP2015515374
申请日：2013-04-16
申请人：ネイションズテクノロジーズインコーポレーテッド
发明人：ホァン・ジェン
IPC分类号： G01R33/02
CPC分类号： G01R33/0286 , G01R33/0385

2. 发明专利

JP5267907B2 Driving device using actuator and it due to the magnetic force, as well as the sensor 有权
公开(公告)号：JP5267907B2
公开(公告)日：2013-08-21
申请号：JP2007340048
申请日：2007-12-28
申请人：国立大学法人九州工業大学
发明人：敬一金藤
IPC分类号： H02N11/00 , A61F2/70 , F03G7/00 , G01R33/02
CPC分类号： G01R33/038 , A61F2002/5066 , B82Y25/00 , G01R33/0385 , G01R33/18 , H01L41/12 , H01L41/125
摘要： To provide an actuator that can flexibly and softly move like muscles, can maintain a stable operation over a long period of time, can generate a strong driving force, has a rapid input response, has a favorable sensitivity, has a high energy conversion efficiency, and can be accurately controlled. A coil is embedded in a magnetic elastomer obtained by mixing a powder-like ferromagnetic or highly magnetic permeable material with an elastomer, so that the coil can be electrically connected. By electrically connecting the coil, a magnetic field generates in the coil and around the coil. The magnetic field penetrates the magnetic elastomer. When the magnetic field generates in the magnetic elastomer, deformation force acts on the magnetic elastomer by the magnetic force acting on each portion in the magnetic elastomer. Thus, driving force can be obtained.

3. 发明专利

JP4965387B2 A magnetic sensor circuit 有权
公开(公告)号：JP4965387B2
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：JP2007214737
申请日：2007-08-21
申请人：セイコーインスツル株式会社
发明人：正一杉浦
IPC分类号： G01R33/07
CPC分类号： G01R33/0385 , B82Y25/00 , G01R33/0023 , G01R33/022 , G01R33/072

4. 发明专利

JP2010531993A Measuring apparatus and method of the energy in the magnetic interaction 审中-公开
公开(公告)号：JP2010531993A
公开(公告)日：2010-09-30
申请号：JP2010514194
申请日：2008-07-02
申请人：ステオルンリミテッド
发明人： MCCARTHY SEAN DAVID , SIMPSON ALAN , FLOOD MARTIN , SORIN MAXIME
IPC分类号： G01R33/12
CPC分类号： G01R33/0385 , B82Y25/00 , G01R33/038
摘要：材料の磁気粘性による磁力応答時間を測定し、磁気材料の相対運動により交換された全エネルギーを測定する装置及び方法が提供される。電磁石による時間対電圧及び電流は、測定され、記録される。時間に対し対応する力は、試験材料の磁気粘性の影響を決定するために、電磁石の励磁に応答して試験材料に加えられた磁力について測定される。磁気材料の相対運動により交換されたエネルギーを測定するために試験装置も提供される。移転された機械エネルギーと電気エネルギーの実際値は、永久磁石と電磁石の相互作用により交換された全エネルギーを決定するために結合される。

5. 发明专利

JP5975534B2 直流磁場の磁気プロファイル測定装置および磁気プロファイル測定方法有权
标题翻译：磁性形状测定装置和上述直流磁场的磁轮廓测量方法
公开(公告)号：JP5975534B2
公开(公告)日：2016-08-23
申请号：JP2013536310
申请日：2012-09-25
申请人：国立大学法人秋田大学
发明人：齊藤準 , 吉村哲
IPC分类号： G01Q60/50
CPC分类号： G01Q30/04 , G01Q60/54 , G01R33/0385 , B82Y35/00

6. 发明专利

JPWO2013047537A1 直流磁場の磁気プロファイル測定装置および磁気プロファイル測定方法有权
标题翻译：磁性形状测定装置和上述直流磁场的磁轮廓测量方法
公开(公告)号：JPWO2013047537A1
公开(公告)日：2015-03-26
申请号：JP2013536310
申请日：2012-09-25
申请人：国立大学法人秋田大学
发明人：準齊藤 , 準齊藤 , 哲吉村 , 哲吉村
IPC分类号： G01Q60/50
CPC分类号： G01Q30/04 , G01Q60/54 , G01R33/0385
摘要：走査領域を走査することで得られた磁場の振幅および位相のデータを用いて、観察試料の表面上の磁場分布画像を得る。磁気プロファイル測定装置1は、カンチレバー11と、カンチレバーを共振周波数ないし共振周波数に近い周波数で励振する励振器12と、カンチレバーの励振振動を周波数変調する交流磁場発生器13と、探針の振動を検出する振動センサー14と、探針と観察試料との間に生じる交流磁気力に対応する磁気信号を復調し、磁場の振幅および位相を検出する復調処理装置15と、探針により走査領域を走査する走査機構16と、走査領域の各座標における磁場の振幅および位相を初期データとして記憶するデータ記憶装置17と、初期データから位相を変更したデータを複数生成する変更データ生成器18と、変更したデータに基づく磁場分布画像を表示する画像表示装置19とを備える。
摘要翻译：通过使用由扫描的扫描区域到观察样品的表面上得到的磁场分布图像获得的磁场数据的幅度和相位。磁性形状测定装置1包括：悬臂11，和检测激励器12在接近谐振频率或谐振频率，频率调制悬臂的激励频率，探头的振动的交变磁场发生器13的频率来激励悬臂对于一个振动传感器14解调对应于所述探头和观察试样之间产生的AC磁场的磁力信号，扫描解调处理单元15，用于通过探针检测振幅和磁场的相位，扫描区域扫描机构16，用于存储该磁场的振幅和相位作为初始数据在扫描区域的每个坐标，以及改变数据发生器18，以产生多个数据从最初的数据和变化数据改变相位的数据存储装置17 和用于显示的磁场分布图像的图像显示装置19基于。

7. 发明专利

JP5592841B2 Magnetic force microscope and the magnetic field observation method using the same 有权
公开(公告)号：JP5592841B2
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：JP2011134563
申请日：2011-06-16
申请人：株式会社日立製作所
发明人：誠嗣平家
IPC分类号： G01Q60/50
CPC分类号： G01R33/0385 , B82Y35/00 , G01Q60/56
摘要： A magnetic force microscope capable of measuring the absolute value of a magnetic field with high resolution without causing a change in magnetization state of the probe. The magnetic force microscope includes a cantilever, a probe, a displacement detector that detects a displacement of the probe, a specimen carrier, and various transfer units. The magnetic force microscope that measures an undulation distribution as well as a magnetic field distribution on the surface of a specimen placed on the specimen carrier is further provided with a magnetic-field impress-unit that impresses a magnetic field to the probe, and an output of the magnetic-field impress-unit is controlled such that a magnetic force impressed onto the probe 5 is turned zero to thereby measure a magnetic field distribution on the surface of the specimen.

8. 发明专利

JPWO2011105363A1 接触不良測定方法及び接触不良測定装置有权
公开(公告)号：JPWO2011105363A1
公开(公告)日：2013-06-20
申请号：JP2012501782
申请日：2011-02-22
申请人：本田技研工業株式会社
发明人：丸山　進 , 進丸山 , 英之土切 , 英之土切 , 福田　浩治 , 浩治福田 , 出町　敦 , 敦出町
IPC分类号： G01R31/04 , G01M17/007
CPC分类号： G01R33/02 , G01R31/006 , G01R31/04 , G01R33/0385
摘要：接触不良測定方法及び接触不良測定装置(14)では、測定対象のハーネス(80)の端子嵌合部(50)に外力を作用させたときのハーネス(80)の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを磁気センサ(70)により検出して端子嵌合部(50)の接触状態の良否の指標として表示する。

9. 发明专利

JP2013002970A Magnetic force microscope and magnetic field observation method using the same 有权
标题翻译：磁力显微镜和使用该磁场的磁场观测方法
公开(公告)号：JP2013002970A
公开(公告)日：2013-01-07
申请号：JP2011134563
申请日：2011-06-16
申请人： Hitachi Ltd , 株式会社日立製作所
发明人： HEIKE SEIJI
IPC分类号： G01Q60/50
CPC分类号： G01R33/0385 , B82Y35/00 , G01Q60/56
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a magnetic force microscope capable of highly stably measuring distribution of absolute values of a magnetic field without changing a magnetization state of a probe.SOLUTION: The magnetic force microscope includes: a cantilever 6; a probe 5; a displacement detector 8 for detecting displacement of the cantilever; a sample table 2; and movement means (3, 4, 11, 16, 17) for moving the sample table. The magnetic force microscope is for measuring height distribution and magnetic field distribution on a surface of a sample 1 placed on the sample table. The magnetic force microscope further includes a magnetic field applying device 14 for applying the magnetic field to the probe 5, controls output of the magnetic field applying device 14 so that magnetic force applied to the probe 5 is zero, and measures the magnetic field distribution on the surface of the sample.
摘要翻译：要解决的问题：提供能够高度稳定地测量磁场绝对值的分布而不改变探针的磁化状态的磁力显微镜。磁力显微镜包括：悬臂6; 探头5; 用于检测悬臂的位移的位移检测器8; 样品表2; 以及用于移动样品台的移动装置（3,4,11,16,17）。磁力显微镜用于测量放置在样品台上的样品1的表面上的高度分布和磁场分布。磁力显微镜还包括用于向探针5施加磁场的磁场施加装置14，控制磁场施加装置14的输出，使得施加到探针5的磁力为零，并且测量磁场分布样品的表面。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

10. 发明专利

JP4769918B1 Magnetic field observation device and magnetic field observation method 有权
标题翻译：空值
公开(公告)号：JP4769918B1
公开(公告)日：2011-09-07
申请号：JP2010198054
申请日：2010-09-03
申请人：国立大学法人秋田大学
发明人：哲吉村 , 準齊藤
IPC分类号： G01Q60/50
CPC分类号： G01Q60/38 , G01Q60/50 , G01Q60/54 , G01R33/022 , G01R33/0385
摘要：【課題】磁性体試料の表面近傍において高分解能で磁気力を計測でき、該磁性体試料表面の磁極の極性検出も可能な磁場観察装置及び磁場観察方法を提供する。
【解決手段】磁性体試料からの漏洩磁場を観察する磁場観察装置であって、磁性体試料より磁化反転し易い探針と、探針を励振させる励振機構と、探針及び磁性体試料を相対的に移動させて探針に磁性体試料上を走査させる走査機構と、探針を周期的に磁化反転させることができ、かつ磁性体試料を磁化反転させない大きさの交流磁場を探針に印加する交流磁場発生機構と、探針の磁化と磁性体試料の磁化との間の磁気的相互作用による交番力が探針に加える周期的に強度が変化する力によって周期的に変化する探針の見かけ上のバネ定数に起因する、探針の振動の周期的な周波数変調の程度を、周波数復調により、又は周波数変調により発生する側帯波スペクトルのうちの１つの側帯波スペクトルの強度の計測により、計測することができる変調計測機構と、を備える磁場観察装置、及び該装置を用いて行える磁場観察方法とする。
【選択図】図１
摘要翻译：一种用于以高分辨率测量磁性材料试样表面附近的磁力并检测试样表面磁极极性的磁场观测装置和方法。该装置包括：探头; 激发机制; 相对移动探头和试样的扫描机构; 交变磁场产生机构使探针周期性地进行磁化反转，并向其施加具有不使样本经历磁化反转的量值的交变磁场; 以及用于测量由其由周期性变化的强度周期性地改变的表观弹簧常数引起的探头振荡周期性频率调制程度的调制测量机构，并且通过交变力通过探针和样本的磁化之间的磁相互作用施加到探针上，频率通过频率调制产生的频谱中的一个边带波谱的强度进行解调或测量。使用该设备执行的方法。

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