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11. 发明专利

JPS5939705B2 JPS5939705B2 - 失效
公开(公告)号：JPS5939705B2
公开(公告)日：1984-09-26
申请号：JP13821080
申请日：1980-10-02
申请人： Jeneraru Sukyaningu Inc
发明人： JIIN AI MONTAAGU
IPC分类号： G01R5/00 , G01R1/02 , G01R5/02 , G01R5/18
CPC分类号： G01R5/02 , G01R1/02

12. 发明专利

JPS5952764A Multiple measuring device 失效
标题翻译：多重测量装置
公开(公告)号：JPS5952764A
公开(公告)日：1984-03-27
申请号：JP14450683
申请日：1983-08-09
申请人： Metorabatsuto Gmbh
发明人： KAARU HOTSUHOROITAA , YOERUKU TORAGATSUTOSHIYUNITSUH
IPC分类号： G01D7/00 , G01D11/24 , G01D11/30 , G01R1/02 , G01R1/04 , G12B9/04 , G12B9/08
CPC分类号： G01D11/24 , G01R1/02 , G01R1/04 , G12B9/04

13. 发明专利

JP2017134649A 電源装置およびそれを用いた試験装置、電源電圧の供給方法有权
公开(公告)号：JP2017134649A
公开(公告)日：2017-08-03
申请号：JP2016014282
申请日：2016-01-28
申请人：株式会社アドバンテスト , 国立大学法人東京大学
发明人：石田雅裕 , 日下崇 , 池野理門 , 浅田邦博 , 名倉徹 , 寺尾直樹
IPC分类号： G01R31/28 , G06F1/26
CPC分类号： G05F1/625 , G01R1/02 , G01R31/28 , G01R31/31721
摘要：【課題】所望の電源環境をエミュレート可能な電源装置を提供する。【解決手段】電源装置100は、電源電圧V DD を供給する。電源装置100は、メイン電源102に加えて補償回路104が設けられる。補償回路104は、その入力INに電源電圧V DD に応じた検出信号V S がフィードバックされ、メイン電源100の特性とエミュレーションの対象であるターゲット電源の特性に応じた入出力特性f IO を有し、検出信号V S に応じた補償電流i COMP を、電源電圧V DD の発生ノードに注入し、あるいはそこから引き抜く。【選択図】図2

14. 发明专利

JP5983606B2 電子デバイス検査装置及び電子デバイスの検査方法有权
标题翻译：用于电子设备的测试装置和电子设备的检查方法
公开(公告)号：JP5983606B2
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：JP2013520487
申请日：2012-05-23
申请人：コニカミノルタ株式会社
发明人：有田浩了 , 増田修
IPC分类号： H01L51/50 , H05B33/02 , G01R31/26 , H05B33/12
CPC分类号： G01R1/02 , G01R31/01 , G02F1/1309 , G09G3/006 , H01L22/30 , H02S50/10 , G09G3/3208 , Y02E10/542

16. 发明专利

JP2012178149A Capacitive sensor sheet and method for manufacturing the same 有权
标题翻译：电容式传感器片及其制造方法
公开(公告)号：JP2012178149A
公开(公告)日：2012-09-13
申请号：JP2012022381
申请日：2012-02-03
申请人： Shin Etsu Polymer Co Ltd , 信越ポリマー株式会社
发明人： NISHIZAWA KOJI , KOBAYASHI YUSUKE , KOMATSU HIROTO
IPC分类号： G06F3/041 , G06F3/044
CPC分类号： G01R1/02 , G01R3/00 , G06F3/044 , G06F2203/04103
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a capacitive sensor sheet suppressing fluctuations of a conducting area between a transparent electrode and an auxiliary electrode and to provide a method for manufacturing the sheet.SOLUTION: The method includes: a film formation step of forming a thin film 11 of light-transmitting conductive film on at least one surface of a light-transmitting substrate 2; an auxiliary electrode formation step of setting an electrode area 3a to function as a transparent electrode 3 for at least a part of the thin film 11 and laminating an auxiliary electrode 4a having lower electric resistance than that of the thin film 11 so as to cover at least a part of the periphery of the electrode area 3a; a wire formation step of laminating a wire 4b, one end of which is connected to the auxiliary electrode 4a on the thin film 11; a resist lamination step of laminating a resist 12 so as to cover all of the electrode area 3a and at least a part of the auxiliary electrode 4a; and a conductive film removal step of removing, from the thin film 11 formed on the light-transmitting substrate 2, the thin film 11 at locations not overlapping the resist 12, the auxiliary electrode 4a or the wire 4b.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种抑制透明电极和辅助电极之间的导电区域的波动的电容式传感器片，并提供制造片材的方法。解决方案：该方法包括：在透光基板2的至少一个表面上形成透光导电膜的薄膜11的成膜步骤; 辅助电极形成步骤，用于将电极区域3a设置为用作至少一部分薄膜11的透明电极3，并且层叠具有比薄膜11的电阻低的电阻的辅助电极4a，以覆盖在电极区域3a的周边的至少一部分; 将导线4b的一端与薄膜11上的辅助电极4a连接的线形成步骤; 抗蚀剂层压步骤，层压抗蚀剂12以覆盖所有电极区域3a和辅助电极4a的至少一部分; 以及导电膜去除步骤，在不与抗蚀剂12，辅助电极4a或导线4b重叠的位置处从形成在透光基板2上的薄膜11移除薄膜11。版权所有（C）2012，JPO＆INPIT

17. 发明专利

JP2012042446A Method for repairing probe board and probe board using the method 有权
标题翻译：使用该方法修复探针板和探针板的方法
公开(公告)号：JP2012042446A
公开(公告)日：2012-03-01
申请号：JP2011001786
申请日：2011-01-07
申请人： Samsung Electro-Mechanics Co Ltd , サムソンエレクトロ−メカニックスカンパニーリミテッド.
发明人： CHANG MYUNG WHUN , LEE DAE HYEONG , HON KI-PYO
IPC分类号： G01R1/073 , H05K1/11 , H05K3/22 , H05K3/40
CPC分类号： H05K1/11 , G01R1/02 , H05K1/09 , H05K3/225 , H05K3/4015 , H05K3/4061 , Y10T29/49002 , Y10T29/49149 , Y10T29/49165 , Y10T29/49726 , Y10T29/49748
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for repairing a probe board and to provide a probe board using the method.SOLUTION: The method for repairing a probe board includes steps of forming a plurality of first via electrodes filled with a first filling substance in a substrate made of a ceramic sintered body; forming a via hole in a via electrode with conductivity failure among the plurality of first via electrodes; filling the via hole with a second filling substance having a lower sintering temperature than that of the first filling substance; and forming a second via electrode by sintering the second filling substance. Repairing the via electrode with conductivity failure results in an improvement of the yield of the board and reduction of the cost of manufacturing.
摘要翻译：要解决的问题：提供修复探针板的方法，并使用该方法提供探针板。解决方案：用于修复探针板的方法包括以下步骤：在由陶瓷烧结体制成的衬底中形成多个填充有第一填充物质的第一通孔电极; 在所述多个第一通孔电极中形成具有导电性故障的通路电极中的通孔; 用比第一填充物质烧结温度低的第二填充物填充通孔; 以及通过烧结所述第二填充物质形成第二通孔电极。电导率故障修复导通电极会导致电路板产量的提高和制造成本的降低。版权所有（C）2012，JPO＆INPIT

18. 发明专利

JPS6117009B2 JPS6117009B2 - 失效
公开(公告)号：JPS6117009B2
公开(公告)日：1986-05-06
申请号：JP510678
申请日：1978-01-20
申请人： Harii Datsudorii Raito
发明人： OIGEN UEBAA
IPC分类号： G01R1/02 , G05G1/00 , G05G1/08 , G05G5/22 , G05G25/04 , H01H3/08
CPC分类号： G05G1/12 , G01R1/02 , G05G1/08 , G05G5/22 , H01H3/08 , Y10T74/2084

19. 发明专利

JP6307532B2 電源装置およびそれを用いた試験装置、電源電圧の供給方法有权
公开(公告)号：JP6307532B2
公开(公告)日：2018-04-04
申请号：JP2016014282
申请日：2016-01-28
申请人：株式会社アドバンテスト , 国立大学法人東京大学
发明人：石田雅裕 , 日下崇 , 池野理門 , 浅田邦博 , 名倉徹 , 寺尾直樹
IPC分类号： G01R31/28 , G06F1/26
CPC分类号： G05F1/625 , G01R1/02 , G01R31/28 , G01R31/31721 , G01R31/31937

20. 发明专利

JP2015191812A 有機ELデバイスの検査装置、検査方法及び製造方法审中-公开
标题翻译：用于检查有机EL器件的器件和方法，以及制造有机EL器件的方法
公开(公告)号：JP2015191812A
公开(公告)日：2015-11-02
申请号：JP2014068987
申请日：2014-03-28
申请人：日東電工株式会社
发明人：丹野嘉之 , 木樽智也 , 長瀬純一
IPC分类号： H01L51/50 , H05B33/10
CPC分类号： G09G3/006 , G01R1/02 , G09G3/3208 , H01L51/56
摘要：【課題】可撓性を有する帯状の基材上に形成された複数の有機EL素子の発光状態を、効率良く検査し得る有機ELデバイスの検査装置等を提供する。【解決手段】有機ELデバイスの基材を支持しつつ有機EL素子を長手方向に送る支持部と、該支持部に支持されている有機EL素子の第1及び第2の通電領域にそれぞれ回転しながら順次接触することによって、該第1及び第2の電極層に通電させて前記有機EL素子を発光させるローラ状の通電部と、有機EL素子の発光状態を検査する検査部とを備えた有機ELデバイスの検査装置。【選択図】図3
摘要翻译：要解决的问题：提供一种有机EL器件的检查装置等，能够有效地检测形成在具有柔性的带状基板上的多个有机EL元件的发光状态。解决方案：检查装置对于有机EL器件，包括：支撑部件，其沿着纵向方向发送有机EL元件，同时支撑有机EL器件的基底部件：辊状连通部，其中第一和第二电极层通电以制造有机EL器件 EL元件分别通过与所述有机EL元件的第一和第二连通区域相接触而发光，所述第一和第二连通区域被所述支撑部分支撑，同时分别旋转; 以及检查有机EL元件的发光状态的检查部。

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