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    • 10. 发明公开
    • Delay line control system for automatic test equipment
    • VerzögerungsliniensteuerungssystemfürautomatischesTestgerät。
    • EP0322308A2
    • 1989-06-28
    • EP88403258.2
    • 1988-12-21
    • SCHLUMBERGER TECHNOLOGIES, INC.
    • Herlein, Richard F.Davis, Jeffrey A.
    • H03K5/13G06F11/26
    • H03K5/131G01R31/3191G01R31/31922H03K2005/00247H03K2005/00254H03K2005/0026
    • A system is disclosed which enables signals to be supplied at precisely desired times in an automatic test system. The apparatus includes a base delay memory (44) which stores information representing the higher order bits of a time delay, while vernier memories (70, 72) store information relating to the lower order bits of the time delay. Offset memories enable storing calibra­tion data.
      The base delay memory (44) controls at least two counters (40, 42) in independent signal paths, while the vernier (70, 72) and offset memories control appropriate deskew units (60, 62) for further delaying the counter (40, 42) output signal as desired. The system enables sharing of resources, yet eliminates the need for repetitively loading correction data for deskew operations.
    • 公开了一种能够在自动测试系统中以精确期望的时间提供信号的系统。 该装置包括存储表示时间延迟的较高位的信息的基本延迟存储器(44),而游标存储器(70,72)存储与时间延迟的较低位相关的信息。 偏移存储器可存储校准数据。 基本延迟存储器(44)控制独立信号路径中的至少两个计数器(40,42),而游标(70,72)和偏移存储器控制适当的去偏移单元(60,62),用于进一步延迟计数器 42)输出信号。 该系统能够共享资源,但不需要重复加载校正数据进行偏移校正操作。