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1. 发明公开

EP2875311A4 PORTABLE THREE-DIMENSIONAL METROLOGY WITH DATA DISPLAYED ON THE MEASURED SURFACE 审中-公开
公开(公告)号：EP2875311A4
公开(公告)日：2018-07-18
申请号：EP13819266
申请日：2013-07-12
申请人： 8 TREE LLC
发明人： KLAAS ERIK
IPC分类号： G01B11/25
CPC分类号： G01N21/8806 , G01B11/00 , G01B11/03 , G01B11/04 , G01B11/2513 , G01B11/254 , G01N21/8851 , G01N2021/8845 , G01N2021/8887 , G06K9/00201 , G06K9/2036
摘要： A portable instrument for 3D surface metrology projects augmented-reality feedback directly on the measured target surface. The instrument generates structured-light measuring-patterns and projects them successively on a target surface. Features, contours, and textures of the target surface distort each projected measuring-pattern image (MPI) from the original measuring-pattern. The instrument photographs each MPI, extracts measurement data from the detected distortions, and derives a result-image from selected aspects of the measurement data. The instrument warps the result-image to compensate for distortions from the projector or surface and projects the result-image on the measured surface, optionally with other information such as summaries, instrument status, menus, and instructions. The instrument is lightweight and rugged. Accurate measurements with hand-held embodiments are made possible by high measurement speed and an optional built-in inertial measurement unit to correct for pose and motion effects.

2. 发明公开

EP3317633A1 ANLAGE ZUR OPTISCHEN ÜBERPRÜFUNG VON OBERFLÄCHENBEREICHEN VON GEGENSTÄNDEN 审中-公开
标题翻译：对物体表面进行光学审查的附录
公开(公告)号：EP3317633A1
公开(公告)日：2018-05-09
申请号：EP16731826.0
申请日：2016-06-14
申请人： Eisenmann SE
发明人： RÖCKLE, Jürgen , HAMMERMANN, Jan Reiner , HALBMEYER, Axel
IPC分类号： G01M11/08 , G01M17/007 , G01N21/88
CPC分类号： G01N21/8806 , G01M11/081 , G01M17/007 , G01N21/8803 , G01N21/8901 , G01N2021/8835 , G01N2021/8845
摘要： The invention relates to an installation for the optical inspection of surface regions (16) of objects (12), in particular painted vehicle bodies (14), comprising a test light device (28), by which objects (12) located in a test region (18a) can be irradiated with a test light (30) and by which a test pattern (32) can be generated on the surface region (16). A lighting system (42) comprises a plurality of lighting units (50, 64), by which test light (30) can be emitted. The color of light or both the color of light and the light intensity of the test light (30) can be optionally adjusted by means of the lighting units (50, 64).

3. 发明公开

EP3223001A1 SYSTEM AND METHOD FOR CAPTURING ILLUMINATION REFLECTED IN MULTIPLE DIRECTIONS 有权
标题翻译：用于捕获在多个方向上反射的照明的系统和方法
公开(公告)号：EP3223001A1
公开(公告)日：2017-09-27
申请号：EP17169023.3
申请日：2011-07-13
申请人： Semiconductor Technologies & Instruments Pte Ltd.
发明人： Amanullah, Ajharali
IPC分类号： G01N21/95 , G01N21/88 , G03F7/20
CPC分类号： G01N21/9501 , G01N2021/8825 , G01N2021/8845 , G03F7/7065
摘要： An optical inspection system in accordance with the disclosure can be configured to simultaneously capture illumination reflected in multiple directions from the surface of a substrate, thereby overcoming inaccurate or incomplete characterization of substrate surface aspects as a result of reflected intensity variations that can arise when illumination is captured only from a single direction. Such a system includes a set of illuminators and an image capture device configured to simultaneously capture at least two beams of illumination that are reflected off the surface. The at least two beams of illumination that are simultaneously captured by the image capture device have different angular separations between their reflected paths of travel. The set of illuminators can include a set of thin line illuminators positioned and configured to supply one or more beams of thin line illumination incident to the surface. For instance, two beams of thin line illumination can be directed to the surface at different angles of incidence to a normal axis of the surface.
摘要翻译：根据本公开的光学检查系统可以被配置成同时捕获从基板的表面以多个方向反射的照明，由此克服由于在照明是光时可能出现的反射强度变化而导致的基板表面方面的不准确或不完整的表征仅从一个方向捕获。这样的系统包括一组照明器和被配置为同时捕获从表面反射的至少两个照明光束的图像捕获设备。由图像捕获装置同时捕获的至少两个照明光束在其反射路径之间具有不同的角度间隔。该组照明器可以包括一组细线照明器，其被定位和构造成供应入射到该表面的一条或多条细线照明光束。例如，两束细线照明可以以与表面的法线轴线不同的入射角引导至表面。

4. 发明授权

EP1477793B1 Verfahren zur Erkennung von Fehlern in transparentem Material 有权
标题翻译：一种用于在透明材料的缺陷检测方法
公开(公告)号：EP1477793B1
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：EP04003014.0
申请日：2004-02-11
申请人： Schott AG , ISRA VISION LASOR GmbH
发明人： Gerstner, Klaus, Dr. , Ottermann, Clemens, Dr. , Zimmermann, Thomas , Droste, Josef
IPC分类号： G01N21/89 , G01B11/30
CPC分类号： G01N21/896 , G01N2021/1772 , G01N2021/8845 , G01N2021/8962

5. 发明授权

EP1167964B1 METHOD AND APPARATUS FOR NON DESTRUCTIVE TESTING 有权
标题翻译：方法和设备进行破坏性试验
公开(公告)号：EP1167964B1
公开(公告)日：2010-05-05
申请号：EP99912069.4
申请日：1999-03-31
申请人： Hitachi-GE Nuclear Energy, Ltd.
发明人： ASANO, Toshio, Hitachi, Ltd. , SAKAI, Kaoru, Hitachi, Ltd. , TAGUCHI, Tetsuo, Hitachi, Ltd. , TANAKA, Isao, Hitachi, Ltd.
IPC分类号： G01N27/84 , G01N21/91
CPC分类号： G01N21/91 , G01N21/8806 , G01N27/84 , G01N2021/8845 , G01N2021/8918

6. 发明公开

EP1498723A1 Verfahren zum Erkennen von Fremdkörpern innerhalb eines kontinuierlich geführten Produktstroms und Vorrichtung zur Durchführung desselben 审中-公开
标题翻译：用于连续地引导产品流内检测异物，用于执行相同的方法，和装置
公开(公告)号：EP1498723A1
公开(公告)日：2005-01-19
申请号：EP04090280.1
申请日：2004-07-16
申请人： Hauni Maschinbau AG
发明人： Schröder, Dierk , Drewes, Harry , Schuster, Frank , Hapke, Siegfried , Ibel, Michael
IPC分类号： G01N21/89 , G01N21/892 , A24C5/34
CPC分类号： G01N21/8903 , A24C5/3412 , G01N21/85 , G01N21/8914 , G01N2021/8845
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Erkennen von Fremdkörpern innerhalb eines kontinuierlich geführten Produktstroms (13), insbesondere in einem Tabakstrom, sowie eine Vorrichtung (10) zur Durchführung des Verfahrens.
Durch das erfindungsgemäße Verfahren sowie die Vorrichtung (10) wird auf besonders einfache und zuverlässige Weise eine zeitgleiche Bestrahlung des Produktstroms (13) über die gesamte Breite erreicht, da das Bestrahlungslicht (14) mit einem Strahl-Aufweiter (18) fächerförmig aufgeweitet wird. Damit kann auf bewegte Teile verzichtet werden. Des weiteren kann der Produktstrom (13) kontinuierlich und mit hoher Auflösung detektiert werden.
Das Bestrahlungsmittel (11) umfaßt mindestens eine Lichtquelle (21,22,23,24), die vorzugsweise als Laser ausgebildet ist und bei unterschiedlichen Wellenlängen abstrahlt. Als Detektionsmittel (15) wird mindestens eine Kamera (30,31,32,33) verwendet, die vorzugsweise als Zeilenkamera ausgebildet ist.
摘要翻译：对于一个连续的产品流（13）内检测异物的方法，爱尤其是流或烟草，其中，所述产物流在其整个宽度使用扇形形状的照明光束（14）的同时照射使用光束扩展器（18）产生的。照明光束是使用激光光源（21）产生的OPTI马利，而检测设备包括照相机，优选线阵相机。独立claimsoft被用于在产品流中探测异物的设备制造。

7. 发明公开

EP1477793A2 Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung von Fehlern in transparentem Material 有权
标题翻译： Verfahren zur Erkennung von Fehlern在透明材料
公开(公告)号：EP1477793A2
公开(公告)日：2004-11-17
申请号：EP04003014.0
申请日：2004-02-11
申请人： Schott Glas , Lasor AG
发明人： Gerstner, Klaus, Dr. , Ottermann, Clemens, Dr. , Zimmermann, Thomas , Droste, Josef
IPC分类号： G01N21/89 , G01B11/30
CPC分类号： G01N21/896 , G01N2021/1772 , G01N2021/8845 , G01N2021/8962
摘要： Die Erfindung betriff ein Verfahren zur Erkennung von Fehlern in transparentem Material, bei dem mit einer ersten Strahlungsquelle ein definiertes Teilvolumen des Materials bestrahlt wird, und bei dem mit einer zweiten Strahlungsquelle derart Licht in das Material eingekoppelt wird, dass der Lichtweg im besagten Teilvolumen ausschließlich im Inneren des Materials verläuft und bei dem ein Fehler im Teilvolumen dadurch erkannt wird, dass

a) sowohl vom Fehler gestreutes Licht, oder
b) die vom Fehler hervorgerufene Absorption im Hellfeld, und/oder
c) die vom Fehler hervorgerufene Ablenkung des Lichts der ersten Strahlungsquelle
detektiert wird.
Weiterhin betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zur Erkennung von Fehlern in transparentem Material, mit einer ersten Strahlungsquelle zur Beleuchtung eines definierten Teilvolumens des transparenten Materials, mit einem Detektor zur Erfassung des vom besagten Teilvolumens herrührenden Lichts, und mit einer zweiten Strahlungsquelle, die derart zum Material angeordnet ist, dass im besagten Teilvolumen der zugehörige Lichtweg ausschließlich im Inneren des Materials verläuft.
摘要翻译：检测透明材料中的故障包括用第一辐射源照射确定的透明材料的部分体积，将第二辐射源的光耦合到透明材料中，以及从部分体积的故障和/或光的偏转中检测散射光和明场的吸收的第一辐射源通过部分体积的故障来检测部分体积中的故障的存在。检测透明材料中的缺陷包括用第一辐射源照射确定的部分体积的透明材料; 将第二辐射源的光耦合到透明材料中，使得部分体积中的光的光路仅在透明材料的内部扩展; 并且通过部分体积的故障在部分体积中检测来自故障的散射光和亮场吸收，和/或第一辐射源的光的偏转，以检测透明材料的部分体积中的故障的存在。还包括用于执行上述方法的装置的独立权利要求，该装置包括用于照射透明材料（3）的确定部分体积（2）的第一辐射源，用于来自部分体积的光的检测器（4）以及相对于透明材料布置的第二辐射源（5），使得相关联的光路仅在透明材料的内部扩展。

8. 发明公开

EP1265063A1 Improved sample inspection system 失效
标题翻译：改进测试系统样本
公开(公告)号：EP1265063A1
公开(公告)日：2002-12-11
申请号：EP02012062.2
申请日：1998-09-18
申请人： KLA-Tencor Corporation
发明人： Vaez-Iravani, Mehdi , Stokowski, Stanley , Zhao, Guoheng
IPC分类号： G01N21/00 , G01N21/86 , G01B11/24 , G01N21/88 , G01N21/95 , G01B7/34
CPC分类号： G01J3/44 , G01J3/0216 , G01J3/0229 , G01N21/21 , G01N21/47 , G01N21/474 , G01N21/8806 , G01N21/94 , G01N21/9501 , G01N2021/8825 , G01N2021/8845 , G01N2021/8848 , G01N2201/065
摘要： A curved mirrored surface (78) is used to collect radiation scattered by a sample surface (76a) and originating from a normal illumination beam (70) and an oblique illumination beam (90). The collected radiation is focused to a detector (80). Scattered radiation originating from the normal and oblique illumination beams may be distinguished by employing radiation at two different wavelengths, by intentionally introducing an offset between the spots illuminated by the two beams or by switching the normal and oblique illumination beams (70, 90) on and off alternately. Beam position error caused by change in sample height may be corrected by detecting specular reflection of an oblique illumination beam and changing the direction of illumination in response thereto. Butterfly-shaped spatial filters may be used in conjunction with curved mirror radiation collectors 78 to restrict detection to certain azimuthal angles.

9. 发明授权

EP0439881B1 Method and apparatus for nondestructively measuring micro defects in materials 失效
标题翻译：方法和装置用于在材料的微缺陷的无故障测量
公开(公告)号：EP0439881B1
公开(公告)日：1996-05-08
申请号：EP90300958.7
申请日：1990-01-30
申请人： VTI, INC.
发明人： Silva, Robert M. , Sledge Jr., Robert B. , Orazio Jr., Fred D.
IPC分类号： G01N21/88
CPC分类号： G01N21/9505 , G01N2021/1782 , G01N2021/4704 , G01N2021/4792 , G01N2021/8845

10. 发明公开

EP0610235A1 SCATTERED/TRANSMITTED LIGHT INFORMATION SYSTEM 失效
标题翻译： DEVICE用于获取信息错落/透射的光。
公开(公告)号：EP0610235A1
公开(公告)日：1994-08-17
申请号：EP92919697.0
申请日：1992-09-30
申请人： OSENEY LIMITED
发明人： VAN DEN BERGH, Herman , LANE, Marvin , MALLON, John 2 Dun An Oir Milford Grange
IPC分类号： G01N21 , B07C5
CPC分类号： B07C5/342 , B07C5/3416 , G01N21/49 , G01N21/88 , G01N2021/4709 , G01N2021/8466 , G01N2021/8845
摘要： Dans un système de collecte d'informations particulièrement destiné à la surveillance de légumes dans un appareil de triage, un faisceau de lumière (23) est dirigé par une source d'exploration par balayage tel qu'un laser (11) sur la surface d'un objet (2), tel qu'une tomate, qui se déplace dans le sens xx à travers une zone de balayage. L'opération de balayage est effectuée dans le sens yy. La lumière directement réfléchie par la surface de l'objet (2) le long d'une trajectoire (17) s'étendant à partir d'une zone cible (12) du faisceau de lumière est détectée par un détecteur de ligne (14) qui produit un signal de sortie représentatif du niveau de lumière directement réfléchie. La lumière pénétrant dans la matière du produit organique (2) est soumise à un procédé de dispersion ou de diffusion de lumière à l'intérieur du produit, de sorte qu'au moins une région (13) de la surface du produit (12), entourant la zone cible (12) du faisceau de lumière (23) s'éclaire ou s'illumine de l'intérieur. Des détecteurs de ligne photosensibles (15) et (16) additionnels, chacun de chaque côté situés côté du détecteur (14) de lumière réfléchie, surveillent les niveaux de lumière émanant de cette zone éclairée (13) entourant la zone cible (12) du faisceau de lumière et qui parvient aux détecteurs (15) et (16) le long de trajectoires de référence respectives (18) et (19). La comparaison des niveaux relatifs des signaux de lumière directement réfléchie et des signaux de lumière émanant de l'intérieur du produit permet de déduire des informations se rapportant à des défauts présents à la surface ou au-dessous de la surface du produit (2). L'utilisation d'un circuit logique approprié permet de rejeter un produit défectueux en réponse à l'information fournie par les signaux lumineux.

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