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2. 发明授权

EP3123137B1 INSTALLATION CONCENTRATRICE DE RAYONNEMENT COSMIQUE EQUIPEE D'UN SYSTEME DE CONTROLE DE SURFACE OPTIQUE REFLECHISSANTE 失效
标题翻译：带有反射式光学表面控制系统的COSMIC辐射集中器安装
公开(公告)号：EP3123137B1
公开(公告)日：2017-11-08
申请号：EP15741795.7
申请日：2015-03-24
申请人： Centre National de la Recherche Scientifique
发明人： HENAULT, François , CALIOT, Cyril
IPC分类号： G01M11/00 , F24J2/18 , F24J2/16 , F24J2/12 , H04N5/225 , H04N5/232 , F24J2/38
CPC分类号： F24S23/79 , F24S23/71 , F24S23/77 , F24S2050/25 , G01M5/005 , G01M11/005 , G01M11/081 , H04N5/2258 , H04N5/23296 , Y02E10/42 , Y02E10/52

3. 发明公开

EP3012578A2 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ERMITTLUNG EINER DREIDIMENSIONALEN VERZERRUNG 有权
标题翻译：方法和一种用于确定三维形变
公开(公告)号：EP3012578A2
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：EP15190190.7
申请日：2015-10-16
申请人： Isra Surface Vision GmbH
发明人： KUBIAK, Dr. Rolf , RIPPERDA, Dr. Christian
IPC分类号： G01B11/25 , G01N21/958
CPC分类号： G01B11/25 , G01M11/005 , G01M11/081 , G01N21/8806 , G01N21/958 , G01N2021/9586
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung einer Verzerrung des durch eine Reflexion an einem reflektierenden Gegenstand (1) entstehenden Bilds eines Objekts (5). Für eine einfache und kostengünstige Bestimmung der Verzerrung wird zunächst die dreidimensionale Form der Oberfläche (2) des Gegenstands (1) ermittelt, anschließend basierend auf der bekannten dreidimensionalen Form der Oberfläche (2) die Verzerrung des Bilds des Objekts (5) aus verschiedenen Blickrichtungen berechnet und hieraus eine dreidimensionale Verzerrung ermittelt. Es wird ferner eine entsprechende Vorrichtung beschrieben.
摘要翻译：本发明涉及一种方法，用于从反射对象物体（1）得到的物体（5）的图像确定通过反射的失真。对于一个简单的和便宜的测定面（2）第（1）然后，基于（2），首先确定该表面的已知的三维形状的三维形状的失真，计算出从不同的方向的对象（5）的图像的失真并从中确定一个三维变形。它是在相应的设备中进一步描述。

4. 发明公开

EP2986933A1 APPARATUS AND METHODS FOR PERFORMING WAVEFRONT-BASED AND PROFILE-BASED MEASUREMENTS OF AN ASPHERIC SURFACE 审中-公开
标题翻译： DEVICE AND METHOD FOR PERFORMING波正面和基于轮廓的基于测量的非球面
公开(公告)号：EP2986933A1
公开(公告)日：2016-02-24
申请号：EP14723278.9
申请日：2014-04-14
申请人： Corning Incorporated
发明人： VANKERKHOVE, Steven, James
IPC分类号： G01B11/24 , G01M11/02
CPC分类号： G01B11/2441 , G01B9/02039 , G01B11/24 , G01M11/005 , G01M11/0271
摘要： Apparatus and methods for performing wavefront-based and profile-based measurements of an aspheric surface are disclosed. The apparatus includes an interferometric wavefront measurement system that collects wavefront-based measurement data of the aspheric surface. The apparatus also includes a profile measurement system that performs at least one non-contact profile-based measurement of the aspheric surface to collect profile-based measurement data of the aspheric surface. The measurements are performed without removing the aspheric element from a rotatable base. The two measurements are then used to form a combined measurement of the aspheric surface.

5. 发明授权

EP2755072B1 Dispositif de contrôle optique d'un système d'imagerie 有权
标题翻译：成像系统的光控制元件
公开(公告)号：EP2755072B1
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：EP13196049.4
申请日：2013-12-06
申请人： Thales
发明人： Blanc, Jean-François , Houairi, Kamel , Garin, Stéphane , Bernot, Marc , Liotard, Arnaud , Devilliers, Christophe
IPC分类号： G02B7/00 , G01M11/00 , G01M11/02 , G02B27/62 , H04N17/00
CPC分类号： H04N17/002 , G01M11/005 , G01M11/0221 , G02B7/003 , G02B27/62

6. 发明公开

EP2833094A1 Système de contrôle d'une surface optique à mesurer 有权
标题翻译： Kontrollsystem einer zu messenden optischenOberfläche
公开(公告)号：EP2833094A1
公开(公告)日：2015-02-04
申请号：EP14179391.9
申请日：2014-07-31
申请人： Thales
发明人： Fourez, Julien
IPC分类号： G01B9/02 , G01M11/00 , G02B27/00
CPC分类号： G01B9/02055 , G01B9/02027 , G01B9/02039 , G01B9/02057 , G01B9/02058 , G01M11/005 , G02B3/02 , G02B27/0068
摘要： L'invention concerne un système de contrôle (10) d'une surface optique à mesurer par rapport à une surface optique de référence, le système de contrôle (10) comprenant un premier élément optique (36) muni d'un premier axe optique et propre à introduire une première fonction de phase dans la phase d'un faisceau incident, et un deuxième élément optique (38) muni d'un deuxième axe optique et propre à introduire une deuxième fonction de phase dans la phase d'un faisceau transmis ou réfléchi par le premier élément optique (36). La première fonction de phase et la deuxième fonction de phase correspondent chacune à la même aberration optique et au moins l'un parmi le premier élément optique (36) et le deuxième élément optique (38) est rotatif autour de l'axe optique propre à l'élément optique (36, 38) considéré.
摘要翻译：一种用于相对于光学参考表面控制要测量的光学表面的系统（10），所述控制系统（10）包括设置有第一光轴的第一光学元件（36），并且能够将第一相位功能引入到所述第一光学元件入射光束的相位以及具有第二光轴并能够将第二相位函数引入透过第一光学元件（36）反射的光束的相位的第二光学元件（38）。第一相位函数和第二相位函数各自对应于相同的光学像差，并且第一光学元件（36）和第二光学元件（38）中的至少一个围绕相关光学元件（...）的光轴旋转 36,38）。

7. 发明公开

EP2594896A1 METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING SHAPE OF SURFACE TO BE INSPECTED, AND METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL ELEMENT 有权
标题翻译：用于测量表面的形状的方法和设备进行检查和生产光学元法
公开(公告)号：EP2594896A1
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：EP10854715.9
申请日：2010-07-15
申请人： Canon Kabushiki Kaisha
发明人： OSAKI Yumiko
IPC分类号： G01B11/24 , G01J9/02 , G01M11/00
CPC分类号： G01M11/025 , G01B2210/52 , G01M11/005 , G01M11/0271
摘要： Provided is a measurement method or apparatus that can reduce the time for measuring the shape of an entire test surface.
Each of a plurality of measurement ranges is set so that one measurement range overlaps a portion of at least another measurement range to form an overlap region, each measurement range being a portion of the test surface. Then, the shape of the test surface is measured at a first resolution in a first measurement range among the plurality of measurement ranges, and is measured at a second resolution in a second measurement range. Pieces of data of the shapes of the test surface in the plurality of measurement ranges are stitched using the resulting measurement data to calculate the shape of the test surface,
摘要翻译：本发明提供一种测量方法或设备没有可减少时间用于测量整个测试表面的形状。测量范围的多个每个被设置成没有一个测量范围重叠至少另一测量范围的一部分以形成重叠区域，每个测量范围内的测试表面的一部分。然后，测试表面的形状在测量范围的多元性中的第一测量范围中的第一分辨率被测量，并且在一个第二测量范围的第二分辨率进行测量。在测量范围的所述多个测试表面的形状的数据的片。使用得到的测量数据缝合计算测试表面的形状，

8. 发明公开

EP1925907A4 ULTRA PRECISION PROFILE MEASURING METHOD 有权
标题翻译： ULTRAPRÄZISIONS-PROFILMESSVERFAHREN
公开(公告)号：EP1925907A4
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：EP07714259
申请日：2007-02-15
申请人： JTEC CORP , YAMAUCHI KAZUTO
发明人： YAMAUCHI KAZUTO , MIMURA HIDEKAZU
IPC分类号： G01B11/24 , G01B9/02 , G01M11/00 , G01M11/02
CPC分类号： G01B11/2441 , G01B9/02085 , G01B2290/60 , G01M11/005

9. 发明公开

EP1925908A1 PLANE DISTORTION MEASURING DEVICE AND METHOD 有权
标题翻译：平面畸变测量装置和方法
公开(公告)号：EP1925908A1
公开(公告)日：2008-05-28
申请号：EP06798168.8
申请日：2006-09-14
申请人： JFE Steel Corporation , JFE Techno-Research Corporation
发明人： SATO, Kentaro , SAITO, Takanobu , IWAMA, Takashi , YOSHITAKE, Akihide , UESUGI, Mitsuaki
IPC分类号： G01B11/25
CPC分类号： G01B11/2536 , G01B11/2527 , G01B11/2531 , G01M11/005 , G01N21/8806 , G06T7/521
摘要： A surface-distortion measuring device and a surface-distortion measuring method can quantitatively, rapidly, and highly accurately measure and evaluate surface-distortion distribution at all of observable points on a specular or semi-specular surface of a measurement target. The device includes pattern displaying means 2 capable of switching and displaying a plurality of kinds of light-and-shade patterns 5, capturing means 3 for capturing mirror images, reflected in the specular or semi-specular surface of a measurement target 1, of the plurality of light-and-shade patterns displayed on the pattern displaying means, and surface-distortion distribution calculating means 10 for performing image processing on the captured mirror images of the plurality of light-and-shade patterns to calculate surface-distortion distribution of the measurement-target surface.
摘要翻译：表面畸变测量装置和表面畸变测量方法可以定量，快速并且高度精确地测量和评估测量对象的镜面或半镜面上的所有可观察点处的表面畸变分布。该装置包括：模式显示装置2，能够切换和显示多种类型的明暗图案5;捕获装置3，用于捕获反射在测量目标1的镜面或半镜面中的镜像; 显示在图案显示装置上的多个明暗图案以及表面畸变分布计算装置10，用于对所拍摄的多个明暗图案的镜面图像进行图像处理，以计算所述多个明暗图案的表面畸变分布测量目标表面。

10. 发明公开

EP1316789A1 Kalibrierung eines diffraktiven Kompensations- oder Absolutnormal-Elementes ( twin oder dual CGH ) über Wellenfrontfehler der sphärischen Hilfswelle 审中-公开
标题翻译：校准过的球形中间轴的波阵面误差的衍射补偿或绝对普通元件（成对的或双CGH）
公开(公告)号：EP1316789A1
公开(公告)日：2003-06-04
申请号：EP01128393.4
申请日：2001-12-03
申请人： Universität Stuttgart
发明人： Reichelt, Stephan
IPC分类号： G01M11/00
CPC分类号： G01M11/0271 , G01M11/005 , G01M11/025
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kalibrierung eines diffraktiven Kompensations- oder Absolutnormal-Elementes für eine interferometrische Absolutprüfung asphärischer Oberflächen, bei dem ein komplex kodiertes computergeneriertes Hologramm (11, 12), das sowohl eine asphärische Welle, die für eine interferometrische Vermessung der zu prüfenden asphärischen Oberfläche (8) oder Wellenfront geeignet ist, als auch eine sphärische Hilfswelle rekonstruiert, als Kompensations- bzw. Absolutnormal-Element bereitgestellt und auf Basis der sphärischen Hilfswelle interferometrisch vermessen wird, um durch das computergenerierte Hologramm (11, 12) hervorgerufene Wellenfrontfehler der sphärischen Hilfswelle zu bestimmen. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass aus den durch das computergenerierte Hologramm (11, 12) hervorgerufenen Wellenfrontfehlern der sphärischen Hilfswelle Positionierungsfehler eines Schreibstrahls bei der Herstellung des computergenerierten Hologrammes (11, 12) ermittelt und aus den Positionierungsfehlern die zu erwartenden Wellenfrontfehler der asphärischen Welle berechnet und als Kalibrierung herangezogen werden.
Mit dem vorliegenden Verfahren lässt sich eine vollständige interferometrische Absolutprüfung asphärischer Oberflächen erreichen.
摘要翻译：生产由计算机生成的全息图引起的球面辅助波的波前误差的基础上，所述计算机生成的全息图（11,12）的过程中检测到一个写光束的定位误差。非球面波的波前可能误差被计算的定位误差的基础上，并用于校准。

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