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1. 发明公开

EP4382857A1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR INSPEKTION VON TECHNISCHEN GUMMIARTIKELN 审中-公开
公开(公告)号：EP4382857A1
公开(公告)日：2024-06-12
申请号：EP23210920.7
申请日：2023-11-20
申请人： Continental Reifen Deutschland GmbH
发明人： Ludwig, Jens , Kirschning, Oliver
IPC分类号： G01B11/25 , G01M17/02 , B60C25/00 , G01B15/00 , G01B11/245
CPC分类号： G01B11/2518 , G01M17/027 , B60C25/005 , G01B11/245 , G01B15/00
摘要： Verfahren zur Inspektion von technischen Gummiartikeln, wobei die technischen Gummiartikel Fahrzeugreifen oder Komponenten von Fahrzeugreifen sind, wobei ein technischer Gummiartikel mit einer Oberfläche bereitgestellt wird, wobei unter der Oberfläche in einem Einbettungsabstand metallische Festigkeitsträger verlaufen, wobei wenigstens zwei Radarabstandsmesser Positionen der Festigkeitsträger vermessen, wobei die Strahlung der Radarabstandsmesser zu einem ersten Zeitpunkt wenigstens zwei in einer ersten Richtung gegeneinander verschobene Radarstrahlbereiche auf der Oberfläche durchdringt, wobei ein Lichtabstandsmesser die Oberfläche vermisst, wobei eine Relativbewegung zwischen dem Gummiartikel einerseits und den Radarabstandmessern und dem Lichtabstandsmesser andererseits vollführt wird, wobei die Relativbewegung parallel zu der Oberfläche und senkrecht zu der ersten Richtung verläuft.
Der Lichtabstandsmesser vermisst die Oberfläche, indem eine Lichtlinie auf die Oberfläche projiziert und ausgewertet wird, wobei die Lichtlinie im Rahmen der Relativbewegung so gegenüber der Oberfläche verschoben wird, dass für jeden Radarabstandsmesser ein weiterer Zeitpunkt existiert, zu dem die Lichtlinie durch den zu einem jeweiligen Radarabstandsmesser gehörigen Radarstrahlbereich verläuft.

2. 发明授权

EP3394601B1 METHODS FOR DETECTING A FIBRE MISALIGNMENT IN AN ELONGATED STRUCTURE, RELATED APPARATUSES 有权转让
公开(公告)号：EP3394601B1
公开(公告)日：2024-05-22
申请号：EP16819891.9
申请日：2016-12-19
IPC分类号： G01N23/207 , G01N23/201 , G01B15/00 , B29C51/14 , G01N23/205 , G01N23/02
CPC分类号： B29C51/14 , G01N23/201 , G01N23/205 , G01N23/02 , G01B15/00 , G01N23/207

3. 发明授权

EP2054633B1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM BESTIMMEN DER POSITION EINES KOLBENS IN EINEM ZYLINDER 有权
公开(公告)号：EP2054633B1
公开(公告)日：2018-08-01
申请号：EP07801711.8
申请日：2007-08-16
申请人： Astyx GmbH
发明人： TRUMMER, Guenther
IPC分类号： F15B15/28 , G01B7/14
CPC分类号： F15B15/222 , F15B15/2869 , G01B7/14 , G01B15/00 , Y10T29/49826

4. 发明公开

EP3260849A1 DISTRIBUTED SENSOR NETWORK FOR NONDESTRUCTIVELY MONITORING AND INSPECTING INSULATED ELECTRICAL MACHINE COMPONENTS 审中-公开
标题翻译：分布式传感器网络无损监测和检查绝缘电机部件
公开(公告)号：EP3260849A1
公开(公告)日：2017-12-27
申请号：EP17176924.3
申请日：2017-06-20
申请人： General Electric Company
发明人： DEHGHAN NIRI, Ehsan , BREZNAK, Jeffrey Michael , MURPHY, Gene
IPC分类号： G01N23/04 , H01B13/34
CPC分类号： G01N23/00 , G01B15/00 , G01N23/04 , G01N2223/40 , G01N2223/611 , G01N2223/632 , G01N2223/646 , G01R31/1218 , G01R31/1272
摘要： An insulated electrical component (10) of an insulated electrical machine includes a conducting element (12), a first radiographically-visible conductor sensor node (16) coupled to the conducting element (12), at least one second radiographically-visible conductor sensor node (16) coupled to the conducting element (12) a first distance in a predetermined direction from the first radiographically-visible conductor sensor node (16), and an insulating material (14) bonded to the conducting element (12). In some embodiments, the insulated electrical component (10) further includes a first radiographically-visible insulator sensor node (40) coupled to the insulating material (14) and not coupled to the conducting element (12) and at least one second radiographically-visible insulator sensor node (40) coupled to the insulating material (14) and not coupled to the conducting element (12) a second distance from the first radiographically-visible insulator sensor node (40). The radiographically-visible sensor nodes (16, 40) are distinguishable from the conducting element (12) and the insulating material (14) in a radiographic image. Methods of manufacturing and non-destructive testing of insulated electrical components (10) are also disclosed.
摘要翻译：绝缘电机的绝缘电气部件（10）包括导电元件（12），耦合到导电元件（12）的第一射线照相可见导体传感器节点（16），至少一个第二射线照相可见导体传感器节点（16），其从所述第一射线照相可见导体传感器节点（16）沿预定方向与所述传导元件（12）连接第一距离，以及与所述传导元件（12）连接的绝缘材料（14）。在一些实施例中，绝缘电气部件（10）还包括耦合到绝缘材料（14）并且不耦合到传导元件（12）的第一射线照相可见绝缘体传感器节点（40）以及至少一个第二射线照相可见绝缘体传感器节点（40），所述绝缘体传感器节点（40）耦合到所述绝缘材料（14）并且不与所述传导元件（12）相距所述第一射线照相可见绝缘体传感器节点（40）的第二距离。射线照相可见传感器节点（16,40）在射线照相图像中与传导元件（12）和绝缘材料（14）是可区分的。还公开了绝缘电气元件（10）的制造和非破坏性测试的方法。

5. 发明公开

EP3017840A4 LOCATION CONTROL SYSTEM 审中-公开
标题翻译：地控制系统
公开(公告)号：EP3017840A4
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：EP15743844
申请日：2015-01-09
申请人： SATO HIROSHI
发明人： SATO HIROSHI
IPC分类号： A61M25/095 , A61B34/30 , A61B34/35 , A61M5/46 , G01B15/00
CPC分类号： A61B34/20 , A61B5/062 , A61B17/32093 , A61B34/30 , A61B34/35 , A61B34/73 , A61B90/11 , A61B2017/320052 , A61B2034/2051 , A61B2034/2059 , A61B2034/2065 , A61B2034/2072 , A61B2034/732 , A61B2090/061 , A61B2090/062 , A61B2090/374 , A61B2090/376 , A61B2090/3762 , A61B2090/378 , A61B2090/392 , A61B2090/3954 , A61B2090/3966 , A61B2218/002 , A61B2218/007 , A61M1/008 , A61M5/158 , A61M2005/1585 , G01B15/00
摘要： The present invention provides a position control system which can constitute an injection-suction system capable of injecting liquid such as anti-cancer agents to a target position of a body and sucking a liquid such as cytosol from a target position of a body without destruction as possible. The position control system includes a movement apparatus 40 which can move a fine head 20 by magnetic force, and a position detection apparatus 50 which can detect a position of the fine head 20.

6. 发明公开

EP3017840A1 LOCATION CONTROL SYSTEM 审中-公开
标题翻译： STANDORTSTEUERUNGSSYSTEM
公开(公告)号：EP3017840A1
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：EP15743844.1
申请日：2015-01-09
申请人： Sato, Hiroshi
发明人： Sato, Hiroshi
IPC分类号： A61M25/00 , A61M25/095 , G01B15/00
CPC分类号： A61B34/20 , A61B5/062 , A61B17/32093 , A61B34/30 , A61B34/35 , A61B34/73 , A61B90/11 , A61B2017/320052 , A61B2034/2051 , A61B2034/2059 , A61B2034/2065 , A61B2034/2072 , A61B2034/732 , A61B2090/061 , A61B2090/062 , A61B2090/374 , A61B2090/376 , A61B2090/3762 , A61B2090/378 , A61B2090/392 , A61B2090/3954 , A61B2090/3966 , A61B2218/002 , A61B2218/007 , A61M1/008 , A61M5/158 , A61M2005/1585 , G01B15/00
摘要： The present invention provides a position control system which can constitute an injection-suction system capable of injecting liquid such as anti-cancer agents to a target position of a body and sucking a liquid such as cytosol from a target position of a body without destruction as possible. The position control system includes a movement apparatus 40 which can move a fine head 20 by magnetic force, and a position detection apparatus 50 which can detect a position of the fine head 20.
摘要翻译：本发明提供一种位置控制系统，其能够构成能够将诸如抗癌剂的液体注射到身体的目标位置并从身体的目标位置吸取诸如细胞溶质的液体而不破坏的注射吸引系统，可能。位置控制系统包括能够通过磁力移动细头20的移动装置40和能够检测细头20的位置的位置检测装置50。

7. 发明公开

EP2939412A1 SYSTEMS AND METHODS FOR REMOTE CONTROL OF A NON-DESTRUCTIVE TESTING SYSTEM 有权
标题翻译：系统和方法破坏性试验系统的远程控制
公开(公告)号：EP2939412A1
公开(公告)日：2015-11-04
申请号：EP13821545.4
申请日：2013-12-17
申请人： General Electric Company
发明人： COOMBS, Kevin, Andrew , VENUGOPAL, Rajeshkumar , SCHIEFER, Eugene, Carl , REEDER, Michael, Stanton, Jr.
IPC分类号： H04N5/232 , H04N5/225
CPC分类号： G05B23/00 , G01B15/00 , G03B17/563 , G03B37/005 , H04N5/23206 , H04N5/23216 , H04N5/23296 , H04N2005/2255
摘要： A system may include a non-destructive testing (NDT) device. The NDT device may further include a wireless system configured to communicate control data from an external system, wherein the NDT device is configured to use the control data to control a component included in the NDT device.

8. 发明公开

EP2939225A1 SYSTEMS AND METHODS FOR CONTROL OF A NON-DESTRUCTIVE TESTING SYSTEM 有权
标题翻译：系统VERFAHREN ZUR STEUERUNG EINESZERSTÖRUNGSFREIENPRÜFSYSTEMS
公开(公告)号：EP2939225A1
公开(公告)日：2015-11-04
申请号：EP13821544.7
申请日：2013-12-17
申请人： General Electric Company
发明人： MESSINGER, Jason, Howard , WARD, Robert, Carroll , DE FROMONT, Francois, Xavier , DOMKE, Michael, Christopher
IPC分类号： G08C17/02
CPC分类号： G08C17/02 , G01B15/00 , G08C2201/42 , H04L67/10
摘要： A system may include a non-destructive testing (NDT) device. The NDT device may further include a communications system configured to receive control data from an external system, wherein the NDT device is configured to use the control data to control a component included in the NDT device, to control a parameter of the NDT device, or a combination thereof.
摘要翻译：系统可以包括非破坏性测试（NDT）设备。 NDT设备还可以包括被配置为从外部系统接收控制数据的通信系统，其中NDT设备被配置为使用控制数据来控制包括在NDT设备中的组件来控制NDT设备的参数，或者其组合。

9. 发明授权

EP2067000B1 VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG DES ABSTANDS ZWISCHEN EINER LAUFSCHAUFEL UND EINER DIE LAUFSCHAUFEL UMGEBENDEN WANDUNG EINER STRÖMUNGSMASCHINE 有权
标题翻译：一种用于确定距离之间的移动刀片和移动刀片围岩涡轮机WALL
公开(公告)号：EP2067000B1
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：EP07803043.4
申请日：2007-08-30
申请人： Siemens Aktiengesellschaft
发明人： BOSSELMANN, Thomas , WILLSCH, Michael
IPC分类号： G01B11/14 , G01B15/00
CPC分类号： G01B15/00

10. 发明公开

EP2715767A1 APPARATUS AND METHOD FOR INVESTIGATING AN OBJECT 有权转让
标题翻译： VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR UNTERSUCHUNG EINES OBJEKTS
公开(公告)号：EP2715767A1
公开(公告)日：2014-04-09
申请号：EP12725622.0
申请日：2012-05-25
申请人： Carl Zeiss SMS GmbH
发明人： BAUR, Christof , EDINGER, Klaus , HOFMANN, Thorsten , BARALIA, Gabriel , BUDACH, Michael
IPC分类号： H01J37/28 , H01J37/244 , H01J37/304 , G01Q10/00
CPC分类号： G01B15/00 , B82Y35/00 , G01Q30/02 , G06K7/0004 , H01J37/244 , H01J37/28 , H01J37/3045 , H01J2237/2817 , H01J2237/2818 , H01J2237/2826 , H01J2237/30444
摘要： The present invention refers to an apparatus and a method for investigating an object with a scanning particle microscope and at least one scanning probe microscope with a probe, wherein the scanning particle microscope and the at least one scanning probe microscope are spaced with respect to each other in a common vacuum chamber so that a distance between the optical axis of the scanning particle microscope and the measuring point of the scanning probe microscope in the direction perpendicular to the optical axis of the scanning particle microscope is larger than the maximum field of view of both the scanning probe microscope and the scanning particle microscope, wherein the method comprises the step of determining the distance between the measuring point of the scanning probe microscope and the optical axis of the scanning particle microscope.
摘要翻译：本发明涉及一种用扫描粒子显微镜和至少一个具有探针的扫描探针显微镜研究物体的装置和方法，其中扫描微粒显微镜和至少一个扫描探针显微镜相对于彼此间隔开在共同的真空室中，使得扫描粒子显微镜的光轴与扫描探针显微镜的测量点在垂直于扫描粒子显微镜的光轴的方向上的距离大于两者的最大视场扫描探针显微镜和扫描粒子显微镜，其中所述方法包括确定扫描探针显微镜的测量点与扫描粒子显微镜的光轴之间的距离的步骤。

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