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1. 发明公开

EP3388531A1 METHOD FOR DETERMINING BIOPHYSICAL PROPERTIES 有权
公开(公告)号：EP3388531A1
公开(公告)日：2018-10-17
申请号：EP18157349.4
申请日：2005-06-13
申请人： Gen-Probe Incorporated
发明人： DENSHAM, Daniel
IPC分类号： C12Q1/68 , G01N33/543 , G01N21/55 , B82Y15/00
CPC分类号： G01N33/54373 , B82Y35/00 , G02B5/008 , G02B5/1809
摘要： This disclosure relates to measuring the dynamic conformational or energetic state of a molecular species.

2. 发明公开

EP3261982A1 SELF-PROCESSING SYNTHESIS OF HYBRID NANOSTRUCTURES 审中-公开
标题翻译：自组装纳米结构的自加工合成
公开(公告)号：EP3261982A1
公开(公告)日：2018-01-03
申请号：EP16722705.7
申请日：2016-04-21
申请人： Yissum Research Development Company of the Hebrew University of Jerusalem Ltd.
发明人： YERUSHALMI, Roie , PALTIEL, Yossef , PINCHAS-HAZUT, Ori , WAICHMAN, Sharon , ZIV, Amir , YOCHELIS, Shira
IPC分类号： B82B1/00 , B81C1/00
CPC分类号： B81C1/00031 , B81B2203/0361 , B82B1/001 , B82Y30/00 , B82Y35/00
摘要： Provided is a self-processing synthesis of hybrid nanostructures, novel nanostructures and uses thereof in the construction of electronic and optoelectronic devices.

3. 发明授权

EP2064534B1 Scanning probe microscopy with band excitation 有权转让
标题翻译：带激发扫描探针显微镜
公开(公告)号：EP2064534B1
公开(公告)日：2017-11-08
申请号：EP07811668.8
申请日：2007-09-04
申请人： UT-Battelle, LLC
发明人： JESSE, Stephen , KALININ, Sergei V.
IPC分类号： G01Q10/06 , G01Q30/04 , G01Q60/32
CPC分类号： G01Q20/00 , B82Y35/00 , G01Q10/06 , G01Q30/04 , G01Q60/32

4. 发明授权

EP2149030B1 CLOSED LOOP CONTROLLER AND METHOD FOR FAST SCANNING PROBE MICROSCOPY 有权转让
标题翻译：快速扫描探针显微镜的闭环控制器和方法
公开(公告)号：EP2149030B1
公开(公告)日：2017-08-02
申请号：EP08827958.3
申请日：2008-05-02
申请人： Bruker Nano, Inc.
发明人： SHI, Jian , SU, Chanmin , PRATER, Craig , MA, Ji
IPC分类号： G01Q10/06
CPC分类号： G01Q10/06 , B82Y35/00 , G01Q10/04 , G01Q10/065

5. 发明公开

EP3137912A1 METHOD OF ADVANCING A PROBE TIP OF A SCANNING MICROSCOPY DEVICE TOWARDS A SAMPLE SURFACE, AND DEVICE THEREFORE 有权
标题翻译：方法背着GRID观察装置的探头尖端的探针的表面及其装置的方向
公开(公告)号：EP3137912A1
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：EP15724785.9
申请日：2015-04-28
申请人： Nederlandse Organisatie voor toegepast- natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
发明人： SADEGHIAN MARNANI, Hamed , KRAMER, Geerten Frans Ijsbrand , VAN DEN DOOL, Teunis Cornelis
IPC分类号： G01Q10/06
CPC分类号： G01Q10/06 , B82Y35/00
摘要： The invention is directed at a method of advancing a probe tip of a probe of a scanning microscopy device towards a sample surface. The scanning microscopy device comprises the probe for scanning the sample surface for mapping nanostructures on the sample surface. The probe tip of the probe is mounted on a cantilever arranged for bringing the probe tip in contact with the sample surface. The method comprises controlling, by a controller, an actuator system of the device for moving the probe to the sample surface, and receiving, by the controller, a sensor signal indicative of at least one operational parameter of the probe for providing feedback to perform said controlling. The method further comprises maintaining, during said controlling, an electric field between the sample surface and the probe tip, and evaluating the sensor signal indicative of the at least one operational parameter for determining an influence on said probe by said electric field, for determining proximity of the sample surface relative to the probe tip. The invention is further directed at a scanning microscopy device comprising a probe for scanning a sample surface for mapping nanostructures thereon.
摘要翻译：本发明在向样品表面推进扫描显微镜装置的探针的探针尖端的方法定向。扫描显微镜设备包括探针，用于扫描用于映射的纳米结构的样品表面在样品表面上。探头的探头端部被安装在布置用于使探头尖端与样品表面接触的悬臂。该方法包括控制，由控制器，所述设备的致动器系统的试验，用于移动到样品表面上，并接收由所述控制器，传感器信号指示所述探针的至少一个操作参数的用于提供反馈以执行所述控制。该方法还包括维护，在此期间所述控制，在样品表面和所述探头末端之间的电场，并且指示用于在所述探针通过所述电场的影响确定性挖掘的所述至少一个操作参数的传感器信号评估，用于确定性采矿接近的相对于所述探针针尖在样品表面上。本发明还涉及在扫描显微镜设备包括探针用于扫描样品表面用于在其上映射的纳米结构。

6. 发明授权

EP2726832B1 DISPOSITIF RESISITIF A JAUGE DE CONTRAINTE A NANOFILS DE SILICIUM ET PROCEDE D'OPTIMISATION DE LA CONSOMMATION ELECTRIQUE D'UN TEL DISPOSITIF 有权
标题翻译：随着对优化这样的设备的电源，使用硅纳米线应变计和方法电阻器件
公开(公告)号：EP2726832B1
公开(公告)日：2016-11-02
申请号：EP12730972.2
申请日：2012-06-29
申请人： Centre National de la Recherche Scientifique (C.N.R.S.) , Université du Sud Toulon-Var , Université d'Aix-Marseille
发明人： RAHAJANDRAIBE, Wenceslas , MEILLERE, Stéphane , KUSSENER, Edith , BARTHELEMY, Hervé
IPC分类号： B82Y10/00 , H01L29/8605 , H01L29/16 , G01L1/22 , G01P15/12 , H01L29/06
CPC分类号： G01L1/22 , B82Y10/00 , B82Y35/00 , G01P15/122 , H01L29/0669 , H01L29/16 , H01L29/8605

7. 发明授权

EP2548306B1 FREQUENCY MEASURING AND CONTROL APPARATUS WITH INTEGRATED PARALLEL SYNCHRONIZED OSCILLATORS 有权
标题翻译：具有集成并联同步振荡器的频率测量和控制装置
公开(公告)号：EP2548306B1
公开(公告)日：2016-03-16
申请号：EP11757010.1
申请日：2011-03-17
申请人： RHK Technology Inc.
发明人： PORTHUN, Steffen
IPC分类号： H03L7/08 , G01R23/02 , G01Q10/06
CPC分类号： H03L7/0991 , B82Y35/00 , G01Q10/06 , G01Q10/065 , G01Q30/00 , G01Q30/04 , G01R23/02 , G01R23/06 , G01R23/12 , G01R23/155 , H03L7/0805 , H03L7/085 , H03L7/099 , H03L2207/50

8. 发明授权

EP2565904B1 Procédé et dispositif d'estimation d'un paramètre de masse moléculaire dans un échantillon 有权
标题翻译：用于对样品中推定的参数分子量的方法和装置
公开(公告)号：EP2565904B1
公开(公告)日：2015-10-21
申请号：EP12183031.9
申请日：2012-09-04
申请人： Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives
发明人： Perenon, Rémi , Grangeat, Pierre , Mohammad-Djafari, Ali
IPC分类号： H01J49/00 , G01N30/72 , G01N29/02 , G06F19/24 , B82Y15/00
CPC分类号： G06F17/18 , B82Y15/00 , B82Y35/00 , G01N29/022 , G01N29/30 , G01N2291/0255 , G01N2291/0256 , G01N2291/0427 , G06F19/703 , G06F19/707 , H01J49/0018

9. 发明授权

EP2793399B1 Circuit de mesure de fréquence de résonance de nano-résonateurs 有权
标题翻译：纳米谐振器的谐振频率测量电路
公开(公告)号：EP2793399B1
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：EP14164290.0
申请日：2014-04-10
申请人： COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES
发明人： Villard, Patrick , Billiot, Gérard
IPC分类号： H03L7/02 , G01G3/16
CPC分类号： H03L7/093 , B82Y35/00 , G01G3/16 , G01N29/036 , G01N29/22 , H03B5/30 , H03L7/02

10. 发明公开

EP2869071A1 Probe configuration and method of fabrication thereof 审中-实审转让
标题翻译： Sondenkonfiguration und Herstellungsverfahrendafür
公开(公告)号：EP2869071A1
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：EP14152595.6
申请日：2014-01-27
申请人： IMEC , Katholieke Universiteit Leuven
发明人： Hantschel, Thomas , Tsigkourakos, Menelaos , Vandervorst, Wilfried
IPC分类号： G01Q70/14 , G01Q70/16
CPC分类号： G01Q70/14 , B82Y35/00 , G01Q70/16
摘要： The present invention is related to probe configuration for characterizing a sample, the probe configuration comprising:
• a holder (707);
• a cantilever (704) having a base end attached to said holder and a distal end extending away from the holder;
• a tip (702) being arranged near the distal end of the cantilever, the tip having a shape defined by a base plane, a side surface and an apex, the side surface extending from the base plane up to the apex;

wherein the tip comprises a diamond body (110,710) and a diamond layer (103,703) covering at least an apex region (108,708), the apex region being a part of the side surface of the solid diamond body (110,710) that starts from and includes the apex. The invention is equally related to a method for fabricating a probe configuration according to the invention.
摘要翻译：本发明涉及用于表征样品的探针配置，所述探针配置包括：保持器（707）; - 悬臂（704），其具有连接到所述保持器的基端和远离所述保持器延伸的远端; 一种尖端（702），其布置在所述悬臂的远端附近，所述尖端具有由基面，侧表面和顶点限定的形状，所述侧表面从所述基面延伸到所述顶点; 其中所述尖端包括金刚石体（110,710）和覆盖至少顶点区域（108,708）的金刚石层（103,703），所述顶点区域是所述实心菱形体（110,710）的侧表面的一部分，从所述顶点区域开始并包括顶点。本发明同样涉及根据本发明的用于制造探针结构的方法。

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