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1. 发明公开

EP1111397A2 Anordnung zum Testen von Chips mittels einer gedruckten Schaltungsplatte 有权
公开(公告)号：EP1111397A2
公开(公告)日：2001-06-27
申请号：EP00126789.7
申请日：2000-12-06
申请人： Infineon Technologies AG
发明人： Pöchmüller, Peter
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R1/0466 , H01L2224/16 , H01L2924/10155
摘要： Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Testen von Chips mittels einer gedruckten Schaltungsplatte (PCB) (5), bei der Probe-Nadeln (3) direkt auf der applikationsnah gestalteten PCB (5) so angebracht sind, daß auf der PCB (5) mehrere Chips (1) parallel getestet werden können.
摘要翻译：测试装置使用设置有多个测试引脚（3）的印刷电路板（5），用于在印刷电路板和经测试的IC芯片之间直接连接，被配置为允许同时并行测试多个IC芯片。印刷电路板具有多个用于经测试的IC芯片中的位置标记凹槽（10）与所测试的IC芯片的机械自对准的伪引脚（3）。

2. 发明公开

EP1193598A1 Intergrierter Speicher mit Speicherzellen mit magnetoresistivem Speichereffekt 审中-公开
标题翻译：集成具有存储器存储单元用磁阻效应存储
公开(公告)号：EP1193598A1
公开(公告)日：2002-04-03
申请号：EP01114671.9
申请日：2001-06-19
申请人： Infineon Technologies AG
发明人： Pöchmüller, Peter
IPC分类号： G06F11/20
CPC分类号： G11C11/15
摘要： Ein integrierter Speicher weist Speicherzellen (MC) mit magnetoresistivem Speichereffekt auf, die jeweils zwischen eine Spaltenleitung (BL0 bis BLn) und eine Zeilenleitung (WL0 bis WLm) geschaltet sind. Die Zeilenleitungen (WL2) sind mit einem Anschluß für ein Auswahlsignal (GND) verbindbar zum Auslesen eines Datensignals (DA) einer der Speicherzellen (MC3) oder Schreiben eines Datensignals (DA) in eine der Speicherzellen (MC3) über die mit der Speicherzelle (MC3) verbundene Spaltenleitung (BL2). Eine oder mehrere der nicht mit der Speicherzelle (MC3) verbundenen Spaltenleitungen (BL0, BL1, BLn) sind derart ansteuerbar, daß sie zum Auslesen oder Schreiben des Datensignals (DA) in dem Leseverstärker (3) elektrisch isoliert sind. Dadurch ist im Falle einer vorhandenen fehlerhaften Speicherzelle (MC2) ein ordnungsgemäßes Auslesen oder Schreiben des Datensignals (DA) der Speicherzelle (MC3) ermöglicht.
摘要翻译：集成存储器具有的存储单元（MC）与磁阻存储效应，每个连接的列线（BL0至BLn）和行线（WL0至WLm）之间被连接。行线（WL2）连接到用于连接的用于读取的存储器单元（MC3）的数据信号（DA）的选择信号（GND）的端子或在存储单元（MC3）的一个写数据信号（DA）（到存储单元MC3 ），连接列线（BL2）。一个或多个与所述存储单元（MC3）连接的列线（BL0，BL1，BL n）的非可被控制，使得它们（DA）中读出放大器（3）电绝缘用于读取或写入的数据信号。在存储单元的数据信号（DA）的现有缺陷的存储器单元（MC2）适当的读出或写入的情况下，其特征在于（MC3）允许。

3. 发明公开

EP1102168A2 Integrierter Speicher mit Speicherzellen und Referenzzellen 有权
公开(公告)号：EP1102168A2
公开(公告)日：2001-05-23
申请号：EP00124934.1
申请日：2000-11-15
申请人： Infineon Technologies AG
发明人： Pöchmüller, Peter
IPC分类号： G06F11/20
CPC分类号： G11C29/781
摘要： Der integrierte Speicher weist Referenzwortleitungen (WLREF, /WLREF), Wortleitungen (WLi) und redundante Wortleitungen (RWL1, RWL2) auf. Er hat eine programmierbare Aktivierungseinheit (AKT), von deren Programmierzustand abhängt, ob die redundante Wortleitung (RWL1, RWL2) mit den daran angeschlossenen redundanten Speicherzellen (RC) während des Betriebs des Speichers eine der Wortleitungen (WLi) mit den daran angeschlossenen Speicherzellen (MC) oder die Referenzwortleitung (WLREF, /WLREF) mit den daran angeschlossenen Referenzzellen (CREF) ersetzt.
摘要翻译：集成存储器具有布置在字线（WL1，...）和位线（BL1，...）的交点处的存储单元（MC），在至少一个参考字线的交点处的参考单元（CREF） WLREF），/ WLREF）和用于在访问存储器单元之一之前的位线上产生参考电位的位线，在冗余字线（RWL1，...）与交点处的冗余存储单元（RC）位线和可编程激活单元（AKT），用于确定是否连接冗余字线和存储单元。

4. 发明授权

EP1111397B1 Anordnung zum Testen von Chips mittels einer gedruckten Schaltungsplatte 有权
标题翻译：布置通过印刷电路板的方法来测试芯片
公开(公告)号：EP1111397B1
公开(公告)日：2005-10-26
申请号：EP00126789.7
申请日：2000-12-06
申请人： Infineon Technologies AG
发明人： Pöchmüller, Peter
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R1/0466 , H01L2224/16 , H01L2924/10155

5. 发明公开

EP1085517A2 Integrierter Speicher mit wenigstens zwei Plattensegmenten 有权
公开(公告)号：EP1085517A2
公开(公告)日：2001-03-21
申请号：EP00119661.7
申请日：2000-09-08
申请人： Infineon Technologies AG
发明人： Pöchmüller, Peter
IPC分类号： G11C11/404
CPC分类号： G11C11/22 , G11C11/4074
摘要： Eine Elektrode jedes Speicherkondensators C der Speicherzellen MC ist über den zugehörigen Speichertransistor T mit einer der Bitleitungen BLi und eine andere Elektrode ist mit einem der Plattensegmenten PLA, PLB; PLC, PLD verbunden. Ein Steueranschluß jedes Auswahltransistors T ist mit einer der Wortleitungen WLi verbunden. In einer Normalbetriebsart wird bei Zugriffen auf die Speicherzellen MC das Potential jeweils nur eines der Plattensegmente gepulst. In einer Testbetriebsart werden gleichzeitig die Potentiale beider Plattensegmente gepulst.
摘要翻译：存储器在具有至少2个板段（PLA，PLB）的单元区域内的字线（WLi）和位线（BLi）的交点处具有存储单元（MC），每个存储单元具有选择晶体管（T ）和耦合在位线和板段之间的存储电容器（C），每个选择晶体管的控制电极耦合到字线。在正常操作模式中，在访问存储器单元期间，脉冲电位仅被施加到板电极中的一个，而在测试模式中，同时的电位被施加到两个平板电极。

6. 发明授权

EP1102168B1 Integrierter Speicher mit Speicherzellen und Referenzzellen 有权
标题翻译：集成存储器具有存储器单元和参考单元
公开(公告)号：EP1102168B1
公开(公告)日：2005-07-06
申请号：EP00124934.1
申请日：2000-11-15
申请人： Infineon Technologies AG
发明人： Pöchmüller, Peter
IPC分类号： G11C29/00
CPC分类号： G11C29/781

7. 发明公开

EP1102168A3 Integrierter Speicher mit Speicherzellen und Referenzzellen 有权
标题翻译：集成存储器具有存储器单元和参考单元
公开(公告)号：EP1102168A3
公开(公告)日：2004-02-11
申请号：EP00124934.1
申请日：2000-11-15
申请人： Infineon Technologies AG
发明人： Pöchmüller, Peter
IPC分类号： G11C29/00
CPC分类号： G11C29/781
摘要： Der integrierte Speicher weist Referenzwortleitungen (WLREF, /WLREF), Wortleitungen (WLi) und redundante Wortleitungen (RWL1, RWL2) auf. Er hat eine programmierbare Aktivierungseinheit (AKT), von deren Programmierzustand abhängt, ob die redundante Wortleitung (RWL1, RWL2) mit den daran angeschlossenen redundanten Speicherzellen (RC) während des Betriebs des Speichers eine der Wortleitungen (WLi) mit den daran angeschlossenen Speicherzellen (MC) oder die Referenzwortleitung (WLREF, /WLREF) mit den daran angeschlossenen Referenzzellen (CREF) ersetzt.

8. 发明授权

EP1085523B1 Integrierter Speicher mit Speicherzellen und Referenzzellen 有权
标题翻译：集成存储器具有存储器单元和参考单元
公开(公告)号：EP1085523B1
公开(公告)日：2008-03-19
申请号：EP00119563.5
申请日：2000-09-07
申请人： Infineon Technologies AG
发明人： Pöchmüller, Peter
IPC分类号： G11C29/00
CPC分类号： G11C11/22 , G11C29/24

9. 发明授权

EP1085517B1 Integrierter Speicher mit wenigstens zwei Plattensegmenten 有权
标题翻译：具有至少两个板节段的集成存储器
公开(公告)号：EP1085517B1
公开(公告)日：2007-06-06
申请号：EP00119661.7
申请日：2000-09-08
申请人： Infineon Technologies AG
发明人： Pöchmüller, Peter
IPC分类号： G11C11/407 , G11C11/22 , G11C29/00
CPC分类号： G11C11/22 , G11C11/4074

10. 发明公开

EP1111397A3 Anordnung zum Testen von Chips mittels einer gedruckten Schaltungsplatte 有权
标题翻译：布置通过印刷电路板的方法来测试芯片
公开(公告)号：EP1111397A3
公开(公告)日：2003-06-25
申请号：EP00126789.7
申请日：2000-12-06
申请人： Infineon Technologies AG
发明人： Pöchmüller, Peter
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R1/0466 , H01L2224/16 , H01L2924/10155
摘要： Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Testen von Chips mittels einer gedruckten Schaltungsplatte (PCB) (5), bei der Probe-Nadeln (3) direkt auf der applikationsnah gestalteten PCB (5) so angebracht sind, daß auf der PCB (5) mehrere Chips (1) parallel getestet werden können.

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