专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明授权

EP1617255B1 Anordnung zur mikroskopischen Beobachtung und / oder Detektion 有权
标题翻译：排列的显微观察和/或检测
公开(公告)号：EP1617255B1
公开(公告)日：2009-01-28
申请号：EP04023499.9
申请日：2004-10-01
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： Wolleschensky, Ralf
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/10
CPC分类号： G02B21/002 , G02B21/082

2. 发明公开

EP1892522A2 Drehvorrichtung für einen optischen Tomographen und optischer Tomograph mit einer Drehvorrichtung 审中-公开
标题翻译： Drehvorrichtungfüreinen optischen Tomographen und optischer Tomograph mit einer Drehvorrichtung
公开(公告)号：EP1892522A2
公开(公告)日：2008-02-27
申请号：EP07016147.6
申请日：2007-08-17
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： Bartzke, Karlheinz , Wegwerth, Michael , Wolleschensky, Ralf , Günther, Georg
IPC分类号： G01N21/47 , G02B21/32
CPC分类号： G01N21/6456 , G01N21/4795
摘要： Es wird bereitgestellt eine Drehvorrichtung (1) für einen optischen Tomographen mit der ein Probenträger (4) mit einem zu untersuchenden Objekt (5) um eine vorbestimmte Objektachse (6) drehbar ist,
wobei die Drehvorrichtung (1) aufweist
ein Drehmodul (8; 15), das eine Drehung um eine erste Drehachse (10) bewirken kann,
ein erstes Positioniermodul (7), das mit dem Drehmodul (8) verbunden ist und mit dem das erste Drehmodul (8; 15) entlang der ersten Drehachse (10) positionierbar ist,
und ein zweites Positioniermodul (9; 11, 12; 16; 17), das mit dem Drehmodul (8; 15) verbunden ist und an dem der Probenträger (4) mit dem zu untersuchenden Objekt (5) befestigbar ist,
wobei mittels des zweiten Positioniermoduls (9; 11, 12; 16; 17) die Objektachse (6) so relativ zur ersten Drehachse (10) positionierbar ist, daß bei Drehung durch das Drehmodul (8; 15) das Objekt (5) um die Objektachse (6) gedreht wird.
摘要翻译：装置（1）具有围绕旋转轴线旋转的旋转模块。定位模块可操作地连接到旋转模块。另一个定位模块可操作地连接到旋转模块，安装到例如载体（4）的样品载体（4）上。凝胶棒，具有要检查的物体（5），即胚胎，并且相对于旋转轴线定位物体的轴线（6）。提供照明模块（2）以照亮对象。提供检测模块，用于检测物体在物体的各种旋转位置中的光学横截面。

3. 发明授权

EP1248132B1 Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe 有权
标题翻译：用于样品的深度分辨的光学检测方法和装置
公开(公告)号：EP1248132B1
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：EP02007111.4
申请日：2002-03-28
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： Wolleschensky, Ralf , Kempe, Michael, Dr.
IPC分类号： G02B21/00 , G01N21/63 , G01B11/24
CPC分类号： G02B21/002 , G01N2021/6463

4. 发明授权

EP1372012B1 Optische Anordnung zur Beobachtung einer Probe oder eines Objekts 有权
标题翻译：用于观察样品或对象的光学布置
公开(公告)号：EP1372012B1
公开(公告)日：2010-12-08
申请号：EP03007650.9
申请日：2003-04-03
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： Wolleschensky, Ralf
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/06 , G02B17/08 , G02B21/24
CPC分类号： G02B21/0048 , G02B21/0032

5. 发明公开

EP1944600A3 Auflösungsgesteigerte Lumineszenz-Mikroskopie 有权
标题翻译：分辨率提高发光显微镜
公开(公告)号：EP1944600A3
公开(公告)日：2009-08-05
申请号：EP08007103.8
申请日：2006-07-21
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH , Carl-Zeiss Jena GmbH
发明人： Wolleschensky, Ralf , Kempe, Michael
IPC分类号： G01N21/64 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0076 , G01N21/6458
摘要： Ein Laser-Scanning-Mikroskop umfasst einen Strahlteiler (13), über den von einer Beleuchtungsstrahlquelle (5) abgegebene Beleuchtungsstrahlung in einem Beleuchtungsstrahlengang (B) auf eine Probe (3) gerichtet ist, wobei der Strahlteiler (13) an der Probe (3) spiegelnd reflektierte Beleuchtungsstrahlung nicht zu einer Detektoreinrichtung (4) passieren läßt und dazu in einer Pupille des Beleuchtungsstrahlenganges (B) angeordnet sowie teilverspiegelt ist, indem er eine Strahlteilerfläche aufweist, die zumindest an drei Punkten für die Beleuchtungsstrahlung verspiegelt ist, welche auf der Strahlteilerfläche auf einem Kreis um den Durchstoßpunkt der optischen Achse (OA) liegen, wodurch in der Probe (3) ein Interferenzmuster in Form periodisch über die Probe (3) verteilter Beleuchtungsflecke entsteht.

6. 发明公开

EP1845349A1 Spektralanalytische Einheit mit einem Beugungsgitter 有权
标题翻译： Einheit mit einem Beugungsgitter的Spektralanalytische
公开(公告)号：EP1845349A1
公开(公告)日：2007-10-17
申请号：EP07007384.6
申请日：2007-04-11
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： Dobschal, Hans-Jürgen , Wolleschensky, Ralf , Bathe, Wolfgang , Steinert, Jörg
IPC分类号： G01J3/18 , G01J3/24 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0064 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0259 , G01J3/1804 , G02B21/16
摘要： Die Erfindung betrifft eine spektralanalytische Einheit mit einem Beugungsgitter, bei der ein paralleles Lichtbündel (10), welches einen Wellenlängenbereich aufweist, auf ein Beugungsgitter (1) einfällt, welches die unterschiedlichen Wellenlängen durch Beugung in erste Richtungen spektral aufspaltet, wobei diese Lichtbündel als Lichtbündel 1.-Beugungsordnung ohne Umlauf (11) bezeichnet werden, und das Beugungsgitter (1) Lichtbündel in eine zweite Richtung lenkt, wobei dieses Lichtbündel als Lichtbündel 0.-Beugungsordnung ohne Umlauf (12) bezeichnet wird, weiterhin Wellenlängenteilbereiche des spektral aufgespalteten Lichtbündels 1.-Beugungsordnung ohne Umlauf (11) durch eine Optik (2) auf eine Detektorzeile (3) fokussierbar sind und eine Auswerteelektronik (9) an die Detektorzeile (8) angeschlossen ist, welche das erzeugte Spektrum als Information gewinnt und darstellt.
Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß das Lichtbündel 0.-Beugungsordnung ohne Umlauf (12) auf eine Umlenkeinrichtung (Umlenkspiegel 4, 5, 6) trifft, die so ausgerichtet und positioniert ist, daß dieses Lichtbündel auf das Beugungsgitter (1) einfällt und ein Lichtbündel 1.-Beugungsordnung aus einem ersten Umlauf (13) und ein Lichtbündel 0.-Beugungsordnung aus den ersten Umlauf (14) erzeugbar sind, wobei das Lichtbündel 1.-Beugungsordnung ohne Umlauf (11) und das Lichtbündel 1.-Beugungsordnung aus dem ersten Umlauf (13) jeweils eines Wellenlängenteilbereiches durch die Optik (2) auf jeweils ein Einzelelement (7) der Detektorzeile (8) abbildbar sind.
摘要翻译：该单元具有衍射光栅（1）和没有循环（12）的光束0衍射级，其在偏转装置上撞击，其中该装置以使得光束落在光栅上的方式对准和定位，并且光产生来自循环（13）的束1衍射级和来自循环（14）的光束0衍射级。通过透镜（2）在检测器线的各个单独的单元上形成没有循环（11）的光束1-折射顺序和来自循环的光束1 - 衍射顺序。

7. 发明公开

EP1882969A1 Laser-Scanning-Mikroskop 审中-公开
标题翻译：激光扫描-Mikroskop
公开(公告)号：EP1882969A1
公开(公告)日：2008-01-30
申请号：EP07014253.4
申请日：2007-07-20
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： Wolleschensky, Ralf , Bathe, Wolfgang , Steinert, Jörg , Huhse, Dieter
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0076
摘要： Laser- Scanning Mikroskop mit einem Beleuchtungsstrahlengang zur Beleuchtung einer Probe und einem Detektionsstrahlengang zur wellenlängenabhängigen Erfassung von Probenlicht, wobei Filter zur Selektion von Detektionswellenlängen vorgesehen sind, wobei zur Wellenlängenselektion in mehrere Teilstrahlengänge mindestens ein bezüglich der Grenzwellenlänge zwischen Transmission und Reflektion räumlich veränderlicher Verlaufsfilter vorgesehen ist
摘要翻译：显微镜具有照亮样品的照明光束路径和用于探测光的波长相关检测的检测光束路径（DE1）。提供了用于选择检测波长的滤波器。提供了分光滤波器（VNFT）用于部分光束路径中的波长选择，其中刻度滤波器相对于透射和反射之间的边界波长进行空间调整。调整分级滤波器以改变检测光束路径中的光学效应边界波长。还包括用于激光扫描显微镜的检测光路中的分束器的独立权利要求。

8. 发明授权

EP1591825B8 Vorrichtung zur Einkopplung von Licht in einen Strahlengang eines Mikroskops 有权
标题翻译：设备，用于将光耦合到显微镜的光束路径
公开(公告)号：EP1591825B8
公开(公告)日：2009-10-14
申请号：EP05012775.2
申请日：1999-12-22
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： Wolleschensky, Ralf
IPC分类号： G02B21/00 , G02B27/10
CPC分类号： G02B27/145 , G02B21/002 , G02B21/0032 , G02B21/06 , G02B27/1086

9. 发明公开

EP2042906A1 Verfahren und Anordnung zur optischen Erfassung einer beleuchteten Probe 有权
标题翻译：用于照射的样品的深度分辨的光学检测方法和装置
公开(公告)号：EP2042906A1
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：EP08016423.9
申请日：2008-09-18
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH
发明人： Wolleschensky, Ralf , Kempe, Michael
IPC分类号： G02B21/06 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0048 , G02B21/0044 , G02B21/0068 , G02B21/008
摘要： Anordnung zur optischen Erfassung einer Probe (29),
wobei die Probe oder mindestens ein Probenteil mittels linienförmiger Beleuchtung durch Scanmittel (9,11) gescannt wird,
Mittel zur linienförmigen Strahlformung (7) des Beleuchtungslichtes vorgesehen sind
und das Beleuchtungslicht eine vorzugsweise periodische Struktur in mindestes einer Raumrichtung aufweist, indem im Beleuchtungsstrahlengang Mittel (13) zur Erzeugung der Struktur vorgesehen sind,
von der Probe kommendes Licht detektiert und daraus Bilder der Probe erzeugt werden,
aus den Bildern mindestens ein optisches Schnittbild durch die Probe und/ oder ein Bild mit erhöhter Auflösung berechnet wird
und in Richtung der Beleuchtung die Mittel (13) zur Erzeugung der Struktur den Scanmitteln (9,11) nachgeordnet sind.
摘要翻译：该装置具有扫描仪（9）扫描样品（29）或样品的一部分。的线形成光学器件（7）被设置用于照明光的线状光束形成。灯在空间的方向上表现出的周期性结构，用于制造结构的掩模（13）在照明光束路径提供英寸光出来从被检测样品，并且样品的图像被产生的。通过样品和/或具有增加的分辨率的图像的光学截面图像从图像估计。掩模是从属于扫描器在给照明方向。因此独立claimsoft包括用于光学检测的样品的方法。

10. 发明公开

EP1944600A2 Auflösungsgesteigerte Lumineszenz-Mikroskopie 有权
标题翻译：激光扫描-Mikroskop
公开(公告)号：EP1944600A2
公开(公告)日：2008-07-16
申请号：EP08007103.8
申请日：2006-07-21
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH , Carl-Zeiss Jena GmbH
发明人： Wolleschensky, Ralf , Kempe, Michael
IPC分类号： G01N21/64 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0076 , G01N21/6458
摘要： Es wird ein Lumineszenz-Mikroskopieverfahren beschrieben, bei dem eine Probe (24) durch Anregungsstrahlung (A) zu Emission von bestimmter Lumineszenzstrahlung (F) angeregt wird, wobei die lumineszierende Probe (24) aus einem ersten Lumineszenz-Zustand (5), in dem die Anregbarkeit mit steigender Anregungsstrahlungsleistung bis zu einem Maximalwert (18), welcher einem Anregungsstrahlungsteistungs-Schweilwerl (19) zugeordnet ist, steigt, in einen zweiten Lumineszenz-Zustand (6) überführbar ist, in dem die Probe (24) gegenüber dem ersten Zustand (5) verminderte Anregbarkeit aufweist, wobei die Probe (24) durch Einstrahlung von Anregungsstrahlungsleistung oberhalb des Schweilwertes (19) in den zweiten Zustand (6) bringbar ist, die Probe (24) in Teil-Bereichen in den ersten Zustand (5) und in angrenzenden Teil-Bereichen in den zweiten Zustand (6) versetzt wird, indem die Einstrahlung von Anregungsstrahlung (A) mit einer Anregungsstrahlungsverteitung erfolgt, die zumindest ein örtliches Leistungsmaximum über dem Schwellwert (19) aufweist, das Bild der lumineszierenden Probe (24) Proben-Bereiche im ersten Zustand (5) und Proben-Bereiche im zweiten Zustand (6) umfaßt, wodurch das Bild eine gegenüber der Anregungsstrahlungsverteilung gesteigerte Ortsauflösung hat. Es wird weiter bereitgestellt ein Laser-Scanning-Mikroskop mit einem Strahlteiler (113), über den von einer Beleuchtungsstrahlquelle (105) abgegebene Beleuchtungsstrahlung in einem Beleuchtungsstrahlengang (B) auf eine Probe (103) gerichtet ist, wobei der Strahlteiler (113) an der Probe (103) spiegelnd reflektierte Beleuchtungsstrahlung nicht zu einer Detektoreinrichtung (104) passieren läßt und dazu in einer Pupille des Beleuchtungsstrahlenganges (B) angeordnet sowie teilverspiegelt ist, indem er eine Strahlteilerfläche (122) aufweist, die zumindest an drei Punkten (123a-d) für die Beleuchtungsstrahlung verspiegelt ist, welche auf der Strahlteilerfläche (122) auf einem Kreis um den Durchstoßpunkt (125) der optischen Achse (OA) liegen, wodurch in der Probe (103) ein Interferenzmuster (128) in Form periodisch über die Probe (113) verteilter Beleuchtungsflecke (126) entsteht.
摘要翻译：该方法包括分别以两种状态移位样品的两个部分区域，同时用激发辐射分布发生激发辐射（A）的照射。发光样品的图像分别具有两个状态的样品区域。样本区域中的一个以样本的图像为准，使得图像具有相对于分布增强的局部分辨率。对于样品的分辨率增强发光显微镜，还包括显微镜的独立权利要求。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式