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1. 发明授权

EP3607390B1 OPTICAL COMPONENT FOR GENERATING A PERIODIC LIGHT PATTERN 有权
公开(公告)号：EP3607390B1
公开(公告)日：2024-10-30
申请号：EP18717675.5
申请日：2018-04-05
IPC分类号： G02B27/58 , G02B27/09 , G02B21/24 , G01N21/64 , G02B21/00 , G02B27/10
CPC分类号： G02B21/0032 , G01N21/6458 , G02B27/58 , G01N2201/0611320130101 , G01N2201/063520130101 , G01N2201/0820130101 , G02B27/0905 , G02B27/10

2. 发明授权

EP3278164B1 SYSTEM AND METHOD FOR CONTINUOUS, ASYNCHRONOUS AUTOFOCUS OF OPTICAL INSTRUMENTS 有权转让
公开(公告)号：EP3278164B1
公开(公告)日：2024-10-16
申请号：EP16773702.2
申请日：2016-03-08
IPC分类号： G02B7/38 , G02B27/10 , G02B21/24 , G02B27/14
CPC分类号： G02B7/38 , G02B27/106 , G02B27/145 , G02B27/148 , G02B21/245

3. 发明授权

EP3926383B1 MICROSCOPIC DEVICE 有权
公开(公告)号：EP3926383B1
公开(公告)日：2024-09-25
申请号：EP19914934.5
申请日：2019-02-12
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/24 , G02B21/34 , G01N1/28
CPC分类号： G02B21/34 , G02B21/24

4. 发明授权

EP3988985B1 FAST AUTO-FOCUS IN MICROSCOPIC IMAGING 有权
公开(公告)号：EP3988985B1
公开(公告)日：2024-08-28
申请号：EP21212720.3
申请日：2011-02-01
IPC分类号： G02B7/08 , G02B21/24
CPC分类号： G02B21/244

5. 发明授权

EP3196685B1 MEDICAL OBSERVATION APPARATUS AND LENS BARREL FOR MEDICAL OBSERVATION APPARATUS 有权转让
公开(公告)号：EP3196685B1
公开(公告)日：2024-08-28
申请号：EP15841902.8
申请日：2015-07-29
IPC分类号： H04N23/55 , G02B7/04 , G02B7/08 , G02B21/24 , G02B21/36
CPC分类号： G02B7/04 , G02B7/08 , G02B21/24 , G02B21/36 , H04N23/55 , H04N23/00

6. 发明授权

EP3642660B1 VERFAHREN UND MIKROSKOPIESYSTEM ZUM AUFNEHMEN EINES BILDES 有权
公开(公告)号：EP3642660B1
公开(公告)日：2024-08-14
申请号：EP18733248.1
申请日：2018-06-20
IPC分类号： G02B21/24
CPC分类号： G02B21/245

7. 发明公开

EP4379445A3 BESTIMMUNG VON TIEFENWERTEN EINES OBERFLÄCHENBEREICHS EINES WERKSTÜCKS 审中-实审
公开(公告)号：EP4379445A3
公开(公告)日：2024-08-07
申请号：EP24170556.5
申请日：2022-02-11
申请人： Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH
发明人： Baum, Michael , Plohmann, Daniel , Schmidt, Sören , Aidukas, Tomas
IPC分类号： G01B11/00 , G01B11/24 , G01B21/04 , G02B21/24 , G02B21/36 , G06T7/557 , G06T7/571
CPC分类号： G02B21/367 , G06T7/571 , G02B21/0016 , G02B21/244 , G01B11/005 , G01B11/24 , G01B21/045
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren (40) zum Erzeugen von Tiefenwerten eines Oberflächenbereichs einer Oberfläche eines Werkstücks (12), mit:
- Empfangen (42) eines Fokalbildstapels, wobei der Fokalbildstapel eine Mehrzahl von Bildern des Werkstücks (12) aufweist, wobei die Bilder den Oberflächenbereich der Oberfläche des Werkstücks (12) mit in einer Tiefenrichtung unterschiedlichen Fokalebenenpositionen (22) als Bildbereich des Bildes abbilden, wobei jedem Bild des Fokalbildstapels eine Fokalebenenposition (22) zugeordnet ist und wobei Bildpunkte der Bilder jeweils einem entsprechenden Objektpunkt auf der Oberfläche des Werkstücks (12) zugeordnet sind;
- Bestimmen (44) jeweils eines Bildschärfenwerts für eine Mehrzahl von Teilbereichen des Bildbereichs jedes Bildes des Fokalbildstapels;
- Anpassen (46) eines Modells, mit dem ein Verlauf von Bildschärfenwerten jeweils für einen gemeinsamen abgebildeten Teilbereich des Oberflächenbereichs über die Bilder des Bildstapels beschreibbar ist, jeweils an tatsächliche Verläufe der bestimmten Bildschärfenwerte derjenigen Teilbereiche der Bildbereiche, die einen Stapel von Bild-Teilbereichen bilden, weil sie einem gemeinsamen abgebildeten Teilbereich des Oberflächenbereichs entsprechen;
- Bestimmen (52) jeweils eines Tiefenwerts für die gemeinsamen Teilbereiche, wobei der Tiefenwert in dem Verlauf von Bildschärfenwerten des Modells einer größten Bildschärfe für den jeweiligen Stapel von Bild-Teilbereichen entspricht und ein Maß für eine Tiefenposition des gemeinsamen abgebildeten Teilbereichs des Oberflächenbereichs ist;
- Korrigieren (52) mindestens eines Abbildungsfehlers der Bilder des Fokalbildstapels für zumindest einen der bestimmten oder zu bestimmenden Tiefenwerte, wobei der mindestens eine Abbildungsfehler ein Kippfehler und/oder ein Bildfeldwölbungs-Fehler und/oder ein Astigmatismus-Fehler ist.

8. 发明授权

EP4151882B1 ANTI-COLLISION PROTECTION SYSTEM EMPLOYING RETRACTION UPON CONTACT AND GUIDED POSITIONING, AND MEASUREMENT PLATFORM 有权
公开(公告)号：EP4151882B1
公开(公告)日：2024-07-17
申请号：EP21745673.0
申请日：2021-01-20
IPC分类号： G01B21/04 , G02B27/00 , G08B21/24 , G01B5/00 , G01B9/04 , G02B21/02 , G02B21/24
CPC分类号： G01B21/047 , G01B5/0004 , G01B9/04 , G02B27/0006 , G02B21/02 , G02B21/24

9. 发明授权

EP3563188B1 SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING THE FOCUS STATE OF AN OPTICAL INSTRUMENT 有权转让
公开(公告)号：EP3563188B1
公开(公告)日：2024-04-24
申请号：EP17828739.7
申请日：2017-12-21
IPC分类号： G02B7/34 , G02B21/24
CPC分类号： G02B7/343 , G02B21/245

10. 发明授权

EP3420393B1 SYSTEM FOR GENERATING A SYNTHETIC 2D IMAGE WITH AN ENHANCED DEPTH OF FIELD OF A BIOLOGICAL SAMPLE 有权转让
公开(公告)号：EP3420393B1
公开(公告)日：2024-04-10
申请号：EP17705911.0
申请日：2017-02-22
发明人： VINK, Jelte, Peter , HULSKEN, Bas , WOLTERS, Martijn , VAN LEEUWEN, Marinus, Bastiaan , SHAND, Stuart, Hamish
IPC分类号： G02B21/36 , G02B7/38 , G02B21/24

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