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    • 2. 发明申请
    • OPTOELECTRONIC SEMICONDUCTOR CHIP
    • 光电子半导体芯片
    • WO2011104274A3
    • 2011-12-01
    • PCT/EP2011052681
    • 2011-02-23
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBHEICHLER CHRISTOPHLERMER TERESAAVRAMESCU ADRIAN STEFAN
    • EICHLER CHRISTOPHLERMER TERESAAVRAMESCU ADRIAN STEFAN
    • H01S5/343H01S5/20
    • H01S5/2018B82Y20/00H01S5/0655H01S5/2009H01S5/2027H01S5/3211H01S5/34333H01S2301/18
    • In at least one embodiment of the optoelectronic semiconductor chip (1) the same comprises a substrate (2) and a semiconductor layer sequence (3) which is epitaxially grown on the substrate (2). The semiconductor layer sequence (3) is based on a nitride compound semiconductor material and includes at least one active zone (4) for generating electromagnetic radiation and at least one waveguide layer (5) which adjoins the active zone (4) indirectly or directly, thereby forming a waveguide (45). The semiconductor layer sequence (4) further comprises a p-cladding (6p) adjoining the waveguide layer (4) on a p-doped side or/and an n-cladding (6n) on an n-doped side of the active zone (4). The waveguide layer (5) adjoins the cladding (6n, 6p) indirectly or directly. An effective refractive index (neff) of a mode (M) passing through the waveguide is higher than a refractive index of the substrate (2).
    • 在载体(2)的光电子半导体芯片(1)的至少一个实施例,并且所述载体(2)上生长的半导体层序列(3)。 半导体层序列(3)基于氮化物的化合物半导体材料,并且包括至少一个有源区(4),用于产生电磁辐射和至少一个波导层(5),其直接或间接地邻接所述有源区(4),其中一个波导( 45)形成。 此外,半导体层序列(3)包括一个以上的掺杂p侧和/或n覆层(6 N)的波导层(4)接壤p覆层(6P)在有源区(4)的n型掺杂侧上。 波导层(5)间接或直接毗邻包层(6N,6P)上。 在波导(M)引导的模式的有效折射率(夫)在这种情况下比所述载体(2)的折射率更大。
    • 7. 发明专利
    • Laserdiode
    • DE102015104206A1
    • 2016-09-22
    • DE102015104206
    • 2015-03-20
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
    • LELL ALFREDKÖNIG HARALDAVRAMESCU ADRIAN STEFAN
    • H01S5/30H01S5/34
    • Die Erfindung betrifft eine Laserdiode (1) mit einer Schichtanordnung mit aufeinander angeordneten Schichten, wobei die Schichtanordnung eine erste, eine zweite und eine dritte Schichtstruktur (15, 26, 27) mit wenigstens einer aktiven Zone (18) und zwei Wellenleiterschichten (16, 17) umfasst, wobei die aktive Zone (18) zwischen den zwei Wellenleiterschichten (16, 17) angeordnet ist, mit einer ersten Schichtstruktur (15), wobei sich die erste Schichtstruktur entlang einer Z-Achse in einer Längsrichtung, entlang einer X-Achse in einer Querrichtung und entlang einer Y-Achse in einer Höhenrichtung erstreckt, mit einer zweiten und einer dritten Schichtstruktur (26, 27), die entlang der Z-Achse an gegenüberliegenden Längsseiten der ersten Schichtstruktur angeordnet sind, und an die erste Schichtstruktur (15) angrenzen, wobei die aktive Zone der ersten Schichtstruktur (15) in der Höhe versetzt gegenüber den aktiven Zonen (18) der zweiten und der dritten Schichtstruktur (26, 27) angeordnet ist. Zudem betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Herstellung der Laserdiode.
    • 10. 发明专利
    • Steglaser
    • DE102012106687B4
    • 2019-01-24
    • DE102012106687
    • 2012-07-24
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
    • MÜLLER JENSAVRAMESCU ADRIAN STEFAN
    • H01S5/22H01S5/02H01S5/042H01S5/34
    • Steglaser (1) mit- einer Halbleiterschichtenfolge (2) mit einer aktiven Zone (20),- einem Wellenleiter (3) an einer p-dotierten Seite der Halbleiterschichtenfolge (2), auch bezeichnet als Steg, mit einer Breite (B), wobei der Wellenleiter (3) aus der Halbleiterschichtenfolge (2) als Erhebung geformt ist,- einer Kontaktmetallisierung (4) aus einem Metall oder aus einer Metalllegierung, die auf einer der aktiven Zone (20) abgewandten Oberseite (30) des Wellenleiters (3) aufgebracht ist, und- einer Bestromungsschicht (5), die in direktem Kontakt mit der Kontaktmetallisierung (4) steht und über die die Kontaktmetallisierung (4) elektrisch angeschlossen ist,wobei- die Oberseite (30) parallel zur aktiven Zone (20) orientiert ist,- eine Bestromungsbreite (C) der aktiven Zone (20) und/oder des Wellenleiters (3) kleiner ist als die Breite (B) des Wellenleiters (3),- der Wellenleiter (3) von der aktiven Zone (20) beabstandet ist,- die Oberseite (30) nur teilweise von der Kontaktmetallisierung (4) mit einer Kontaktbreite (M) bedeckt ist und die Kontaktbreite (M) kleiner ist als die Breite (B) des Wellenleiters (3),- die Bestromungsschicht (5) die Oberseite (30) stellenweise berührt,- ein Abstand der Kontaktmetallisierung (4) von einer Kante der Oberseite (30) mindestens 0,15 µm und/oder mindestens 2,5 % der Breite (B) des Wellenleiters (3) beträgt,- sich zwischen der Halbleiterschichtenfolge (2) und der Bestromungsschicht (5) stellenweise eine Passivierungsschicht (6) befindet,- eine Definition einer optischen Modenbreite über die Breite des Wellenleiters (3) und über die Brechungsindizes der beteiligten Materialien erfolgt und die Bestromungsbreite (C) hingegen über die Kontaktmetallisierung (4) an der Oberseite (30) eingestellt ist,- für die Kontaktbreite M, die Breite B des Wellenleiters (3) und einen Bedeckungsanteil S der Oberseite (30) durch die Bestromungsschicht (5) gilt: 0,1 B ≤ M ≤ 0,8 B und 0,4 (B-M) ≤ S ≤ (B-M),- die Halbleiterschichtenfolge (2) frei von einer Stromblockschicht ist, und- die Bestromungsschicht (5) mit der Halbleiterschichtenfolge (2) einen nicht-ohmschen Kontakt bildet und die Kontaktmetallisierung (4) gegenüber der Halbleiterschichtenfolge (2) eine höhere Austrittsarbeit aufweist als die Bestromungsschicht (5) gegenüber der Halbleiterschichtenfolge (2).