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    • 2. 发明专利
    • Optoelektronischer Halbleiterkörper und optoelektronischer Halbleiterchip
    • DE102009023849B4
    • 2022-10-20
    • DE102009023849
    • 2009-06-04
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
    • MAUTE MARKUSENGL KARL DR
    • H01L33/00H01L23/14H01L31/0216H01L31/0224H01L33/20H01L33/38
    • Optoelektronischer Halbleiterkörper (1) mit- einer Vorderseite (120), die zur Emission und/oder zum Empfang von elektromagnetischer Strahlung vorgesehen ist,- einer der Vorderseite (120) gegenüberliegenden Rückseite (110), die zum Aufbringen auf eine Trägerplatte (7) vorgesehen ist, und- einer aktiven Halbleiterschichtenfolge (2) die in Richtung von der Rückseite (110) zur Vorderseite (120) eine Schicht eines ersten Leitfähigkeitstyps (21), eine aktive Schicht (22) und eine Schicht eines zweiten Leitfähigkeitstyps (23) in dieser Reihenfolge aufweist, wobei- die Halbleiterschichtenfolge (2) mindestens eine Vertiefung (4) aufweist, die sich von der Rückseite (110) her in die Halbleiterschichtenfolge (2) hinein erstreckt, wobei die Vertiefung (4) in einer lateralen Richtung parallel zur Haupterstreckungsrichtung der Halbleiterschichtenfolge (2) vollständig von einer kontinuierlichen Bahn der aktiven Schicht (22) umschlossen ist;- die Vertiefung (4) einen ersten Abschnitt (41) aufweist, welcher durch die Schicht des ersten Leitfähigkeitstyps (21) und die aktive Schicht (22) hindurch in die Schicht des zweiten Leitfähigkeitstyps (23) hinein verläuft und in der Schicht des zweiten Leitfähigkeitstyps (23) eine Bodenfläche (411) aufweist;- die Vertiefung (4) einen zweiten Abschnitt (42) mit einer Öffnung (420) aufweist, wobei in der lateralen Richtung die Öffnung (420) nicht vollständig einen Bereich der aktiven Schicht (22) umschließt und wobei die Öffnung (420) in Draufsicht auf die Rückseite (110) von einer Außenkontur der Bodenfläche (411) des ersten Abschnitts (41) vollständig umschlossen ist und der zweite Abschnitt (42) sich ausgehend von der Öffnung (420) in Richtung zur Vorderseite (120) hin erstreckt und zumindest in der Schicht des zweiten Leitfähigkeitstyps (23) verläuft.
    • 3. 发明专利
    • Optoelektronischer Halbleiterchip
    • DE102013105870A1
    • 2014-12-24
    • DE102013105870
    • 2013-06-06
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
    • WALTHER SABINEMAUTE MARKUS
    • H01L33/38H01L21/283H01L33/44
    • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Halbleiterchips. Das Verfahren umfasst ein Ausbilden einer Halbleiterschichtenfolge (130) auf einem Ausgangssubstrat (120) und ein Strukturieren der Halbleiterschichtenfolge (130), wobei eine Halbleiterstruktur (230, 232) in Form einer Erhebung mit einer umlaufenden Mantelfläche (239) ausgebildet wird, indem Material der Halbleiterschichtenfolge (130) in einem die Halbleiterstruktur (230, 232) umgebenden Bereich wenigstens bis zu einer Tiefe entfernt wird, dass die aktive Zone (133) der Halbleiterschichtenfolge (130) an der umlaufenden Mantelfläche (239) freiliegt. Das Verfahren umfasst ferner ein Ausbilden einer Passivierungsschicht (150), wobei die Passivierungsschicht (150) auf der umlaufenden Mantelfläche (239) der Halbleiterstruktur (230, 232) angeordnet ist, ein Ausbilden einer Anschlussstruktur im Bereich der Halbleiterstruktur (230, 232) mit wenigstens einer Durchkontaktierung (260) nach dem Ausbilden der Passivierungsschicht (150), ein Verbinden der Anschlussstruktur mit einem Trägersubstrat (125), und ein Entfernen des Ausgangssubstrats (120). Die Erfindung betrifft des Weiteren einen optoelektronischen Halbleiterchip.
    • 8. 发明申请
    • METHOD FOR PRODUCING A PLURALITY OF OPTOELECTRONIC SEMICONDUCTOR CHIPS
    • 方法制造光电子半导体芯片的多个
    • WO2012171817A3
    • 2013-06-06
    • PCT/EP2012060393
    • 2012-06-01
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBHREUFER MARTINMAUTE MARKUSALBRECHT TONY
    • REUFER MARTINMAUTE MARKUSALBRECHT TONY
    • H01L33/00H01L33/22H01L33/32H01L33/44
    • H01L33/24H01L33/0062H01L33/007H01L33/0095H01L33/22H01L33/32H01L33/44
    • The invention relates to a method for producing a plurality of optoelectronic semiconductor chips, which comprises at least the following method steps: providing at least one semiconductor body (1); introducing at least one trench (2) into the semiconductor body (1) by means of at least one structuring process (3), wherein the trench (2) breaks through the active zone (12) in a vertical direction (V); applying at least one cleaning process (4) at least to exposed points of the semiconductor body (1) in the area of the trench (2), wherein the cleaning process (4) comprises at least one plasma cleaning process (33), and the plasma cleaning process (44) reduces a number and/or a physical extent of structuring residues (333) at exposed points of the semiconductor body (1), at least in the area of the trench (2); and applying at least one passivation layer (5) at least to exposed points of the semiconductor body (1) in the area of the trench (2).
    • 一种用于制造多个给定光电半导体芯片的方法,包括至少以下步骤: - 提供至少一个半导体本体(1); - (2)通过在半导体本体的至少一个图案化工艺(3)的装置将至少一个沟槽(1),其中 - 所述槽(2)在垂直方向(V)突破了有源区(12); - 至少在至少一个清洁过程(4)的应用在半导体本体的暴露的部分(1)在所述沟槽的区域(2),其中 - 所述清洁工艺(4)包括至少一个等离子清洁工艺(33),以及 - 所述等离子清洁工艺(44)包括一个数字和 /或在半导体本体(1)至少在所述沟槽的区域(2)被至少减少外露部分结构化残留物(333)的空间范围; - 在所述沟槽的区域上的半导体主体(1)的外露部分施加至少至少一个钝化层(5)(2)。