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1. 发明公开

EP1774605A1 NANOCOMPOSITE PHOTOACTIF ET SON PROCEDE DE FABRICATION 审中-公开
标题翻译：光活性纳米复合材料及其制造方法
公开(公告)号：EP1774605A1
公开(公告)日：2007-04-18
申请号：EP05792198.3
申请日：2005-07-21
申请人： COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE , ECOLE POLYTECHNIQUE , Centre National de la Recherche Scientifique
发明人： FIRON, Muriel , DREVILLON, Bernard , FONCTCUBERTA I MORRAL, Anna , PALACIN, Serge , ROCA I CABARROCAS, Pere
IPC分类号： H01L51/00
CPC分类号： H01L51/4213 , B82Y10/00 , B82Y30/00 , H01L51/002 , H01L51/0036 , H01L51/0048 , H01L51/4266 , H01L2251/308 , Y02E10/549
摘要： The invention relates to a photoactive nanocomposite (3) comprising at least one pair of donor-acceptor semiconductor elements, wherein an element consists of a nanowires (7) doped with an sp3 structure and another element in embodied in the form of an organic compound (8). Said elements are carried by the substrate (1) of a device. A production method is also disclosed and consists, in a first embodiment, in picking, fonctionalising and solubilizing the grown nanowires in the organic element (8) and in depositing the mixture by coating on the device substrate. In the second embodiment, the nanowires (7) are formed on a growth substrate (5) which is embodied in the form of the device substrate. The organic element (8) is associated with the nanowires (7) in such a way that an active layer (3) is formed. The inventive photoactive nanocomposite makes it possible to produce a photovoltaic cell.

2. 发明申请

WO2010049652A9 DISPOSITIF ET PROCEDE DE MESURES POLARIMETRIQUES SPECTROSCOPIQUES DANS LE DOMAINE VISIBLE ET PROCHE INFRAROUGE 审中-公开
公开(公告)号：WO2010049652A9
公开(公告)日：2010-05-06
申请号：PCT/FR2009/052087
申请日：2009-10-28
申请人： HORIBA JOBIN YVON SAS , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE , ECOLE POLYTECHNIQUE , CATTELAN, Denis , GARCIA-CAUREL, Enric , DE MARTINO, Antonello , DREVILLON, Bernard
发明人： CATTELAN, Denis , GARCIA-CAUREL, Enric , DE MARTINO, Antonello , DREVILLON, Bernard
IPC分类号： G01N21/21
摘要： L'invention concerne un système polarimétrique spectroscopique sur un large domaine spectral, comprenant une source de lumière apte à émettre un faisceau lumineux incident sur un domaine de longueur d'onde, un générateur d'états de polarisation (PSG), un analyseur d'états de polarisation (PSA) et un détecteur. Le PSG et le PSA comprennent des moyens de modulation de la polarisation du faisceau lumineux. Selon l'invention, les moyens de modulation de la polarisation du PSG sont aptes à générer une séquence de m états de polarisation avec m > 4 à chaque longueur d'onde de mesure, les moyens de modulation de la polarisation du PSA sont aptes à déterminer une séquence de n états de polarisation avec n > 4 à chaque longueur d'onde de mesure, et les moyens de détection sont aptes à acquérir une séquence de N mesures avec 16

3. 发明申请

WO2007082937A1 POLARIMETRIC RAMAN SYSTEM AND METHOD FOR ANALYSING A SAMPLE 审中-公开
标题翻译：极化拉曼系统和分析样品的方法
公开(公告)号：WO2007082937A1
公开(公告)日：2007-07-26
申请号：PCT/EP2007/050547
申请日：2007-01-19
申请人： ECOLE POLYTECHNIQUE , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE , OSSIKOVSKI, Razvigor , DE MARTINO, Antonello , DREVILLON, Bernard
发明人： OSSIKOVSKI, Razvigor , DE MARTINO, Antonello , DREVILLON, Bernard
IPC分类号： G01N21/65 , G01N21/21 , G01J3/44
CPC分类号： G01J3/44 , G01J3/02 , G01J3/0224 , G01N21/21 , G01N21/65 , G01N21/658 , G01N2021/4792
摘要： The present invention concerns a Raman method and system for analysing a sample (4) comprising an excitation source (1) emitting an incident light beam (2), a sample holder (3), on which the sample (4) can be mounted, means for focusing the incident light beam (2) onto the sample surface (16) to generate a Raman scattered light having an intensity, means for collecting the Raman scattered light to form a Raman scattered light beam (5), a detection system (6) measuring intensity of the Raman scattered light beam (5) as a function of time. According to the invention, it comprises at least a polarization state generator (PSG) (7) able to generate four independent polarization states or a polarization state analyser (PSA) (8) able to analyse four independent polarization states in order to detect the intensity of the Raman scattered light beam (5) making it possible to calculate a partial or complete Mueller- Stokes matrix of the sample (4), the incident light beam (2) passing through said PSG (7) before being scattered by the sample (4) and the Raman scattered light beam (5) passing through said PSA (8) after being scattered by the sample (4).
摘要翻译：本发明涉及一种用于分析样品（4）的拉曼方法和系统，该样品（4）包括发射入射光束（2）的激发源（1），可以安装样品（4）的样品保持器（3）用于将入射光束（2）聚焦到样品表面（16）上以产生具有强度的拉曼散射光的装置，用于收集拉曼散射光以形成拉曼散射光束（5）的装置，检测系统（6））测量拉曼散射光束（5）的强度作为时间的函数。根据本发明，它包括至少能够产生四个独立极化状态的偏振状态发生器（PSG）（7）或能够分析四个独立极化状态的偏振状态分析器（PSA）（8），以便检测强度的拉曼散射光束（5），使得可以计算样品（4）的部分或完整的米勒 - 斯托克斯矩阵，入射光束（2）在被样品散射之前穿过所述PSG（7） 4）和被样品（4）散射之后穿过所述PSA（8）的拉曼散射光束（5）。

4. 发明申请

WO2004070848A1 TRANSISTOR FOR ACTIVE MATRIX DISPLAY AND A METHOD FOR PRODUCING SAID TRANSISTOR 审中-公开
标题翻译：用于主动矩阵显示的晶体管和用于生成像素晶体管的方法
公开(公告)号：WO2004070848A1
公开(公告)日：2004-08-19
申请号：PCT/EP2004/001107
申请日：2004-02-06
申请人： CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) , ECOLE POLYTECHNIQUE , ROCA I CABARROCAS, Pere , VANDERHAGHEN, Régis , DREVILLON, Bernard
发明人： ROCA I CABARROCAS, Pere , VANDERHAGHEN, Régis , DREVILLON, Bernard
IPC分类号： H01L29/786
CPC分类号： H01L29/66765 , H01L29/78603 , H01L29/78678
摘要： The invention concerns a transistor for active matrix display and a method for producing the said transistor (1). The transistor (1) comprises a microcrystalline silicon film (5) and an insulator (3). The crystalline fraction of the said microcrystalline silicon film (5) is above 80%. According to the invention, the transistor (1) comprises a plasma treated interface (4) located between the insulator (3) and the microcrystalline silicon film (5) so that the said transistor (1) has a linear mobility equal or superior to 1.5 cm2V-1s-1, shows threshold voltage stability and wherein the microcrystalline silicon film (5) comprises grains (6) whose size ranges between 10 nm and 400 nm. The invention concerns as well a display unit having a line-column matrix of pixels that are actively addressed, each pixel comprising at least a transistor as described above.
摘要翻译：本发明涉及用于有源矩阵显示的晶体管和用于产生所述晶体管（1）的方法。晶体管（1）包括微晶硅膜（5）和绝缘体（3）。所述微晶硅膜（5）的结晶部分高于80％。根据本发明，晶体管（1）包括位于绝缘体（3）和微晶硅膜（5）之间的等离子体处理的界面（4），使得所述晶体管（1）具有等于或优于1.5的线性迁移 cm2V-1s-1示出了阈值电压稳定性，其中微晶硅膜（5）包括尺寸在10nm和400nm之间的晶粒（6）。本发明还涉及具有被积极寻址的像素的行列矩阵的显示单元，每个像素至少包括如上所述的晶体管。

5. 发明申请

WO2014114860A1 MICROSCOPE À SONDE LOCALE MULTIMODE, MICROSCOPE RAMAN EXALTÉ PAR POINTE ET PROCÉDÉ DE RÉGULATION DE LA DISTANCE ENTRE LA SONDE LOCALE ET L'ÉCHANTILLON 审中-公开
标题翻译：具有多模式本地探测器，提升拉曼显微镜的显微镜和用于控制本地探头与样品之间的距离的方法
公开(公告)号：WO2014114860A1
公开(公告)日：2014-07-31
申请号：PCT/FR2014/050058
申请日：2014-01-13
申请人： ECOLE POLYTECHNIQUE , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE
发明人： CHAIGNEAU, Marc , KARAR, Akli , DREVILLON, Bernard , OSSIKOVSKI, Razvigor
IPC分类号： G01Q10/04 , G01Q20/04 , G01Q30/02 , G01Q60/04 , G01Q60/16 , G01Q60/26 , G01N21/65
CPC分类号： G01Q10/00 , G01J3/06 , G01J3/44 , G01N21/658 , G01Q10/045 , G01Q20/04 , G01Q30/02 , G01Q40/00 , G01Q60/04 , G01Q60/16 , G01Q60/26
摘要： La présente invention concerne un microscope à sonde locale multimode comportant un résonateur (1), une première électrode (9) et une seconde électrode (8), une source d'excitation adaptée pour générer une résonance mécanique dans le résonateur, une pointe (4) métallique fixée sur le résonateur, des moyens de déplacement relatif entre la sonde locale et un échantillon adaptés pour approcher l'extrémité de la pointe à une distance Z comprise entre 0 et 100 nm et des moyens de détection d'au moins un signal électrique représentatif des forces de friction aux bornes desdites électrodes (8, 9). Selon l'invention, ladite pointe métallique (4) est reliée électriquement à ladite deuxième électrode de sortie (9) et l'appareil de microscopie comporte des moyens d'amplification et de filtrage des signaux relatifs aux forces de frictions et au courant tunnel dans un seul et même circuit électronique, des moyens de régulation de la distance Z entre l'extrémité de la pointe et la surface de l'échantillon.
摘要翻译：本发明涉及具有多模局部探针的显微镜，其包括：谐振器（1）; 第一电极（9）和第二电极（8）; 适于在谐振器中产生机械谐振的激励源; 附接到谐振器的金属尖端（4）; 意味着允许局部探针和样品之间的相对移动，其可以移动尖端的端部，使得其距离样品处于距离Z在0和100nm之间; 以及用于检测表示所述电极（8,9）的端子上的剪切力的至少一个电信号的装置。根据本发明，所述金属尖端（4）电连接到所述第二输出电极（9），并且所述显微镜装置包括用于在单个电子电路中相对于剪切力和隧道电流放大和滤波信号的装置 ; 以及用于控制尖端的端部和样品表面之间的距离Z的装置。

6. 发明申请

WO2006070161A1 CARACTERISATION METROLOGIQUE DE CIRCUITS DE MICROELECTRONIQUE 审中-公开
标题翻译：微电子电路的计量学特征
公开(公告)号：WO2006070161A1
公开(公告)日：2006-07-06
申请号：PCT/FR2005/051130
申请日：2005-12-22
申请人： ECOLE POLYTECHNIQUE , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE , DE MARTINO, Antonello , DREVILLON, Bernard
发明人： DE MARTINO, Antonello , DREVILLON, Bernard
IPC分类号： G01B11/06 , G01J4/00 , G01N21/21
CPC分类号： G01N21/211 , G01B11/0641 , G01N2021/213
摘要： L'invention concerne un procédé et un dispositif de mesure par polarimétrie d'un objet plan portant des motifs répétés régulièrement et formant les lignes d'un réseau Selon le procédé de l'invention, on effectue une première mesure à l'ordre zéro, sous un angle d'incidence 1 et pour un premier angle azimuthal 1, on effectue au moins une deuxième mesure à l'ordre zéro, sous un angle d'incidence 2 et pour un deuxième angle azimuthal 2, la polarisation du faisceau incident est modulée et la polarisation du faisceau réfléchi est analysée pour chaque mesure, on calcul des données polarimétriques théoriques pour un objet modèle de l'objet réel, l'objet modèle comportant des paramètres ajustables à l'aide d'un formalisme de l'électromagnétisme, on caractérise l'objet en faisant une comparaison itérative des mesures avec les données polarimétriques théoriques pour différentes valeurs des paramètres ajustables.
摘要翻译：本发明涉及一种具有规则地重复形成网络线路的平坦物体的偏振测量的方法和装置。根据本发明，对于第一方位角（1）以入射角（1）进行第一零次测量，进行第二零次测量，对于第二方位角（1）具有入射角（2）角度（2），调制入射光束的偏振，并对每次测量分析反射光束的极化，计算出实物对象模型的理论极化数据，对象模型的参数可以通过手段形式主义的电磁学。该目的的特征在于对可调参数的不同值进行与理论极化数据测量的迭代比较。

7. 发明申请

WO2008119687A1 APPARATUS FOR GENERATING A PLASMA 审中-公开
标题翻译：用于产生等离子体的装置
公开(公告)号：WO2008119687A1
公开(公告)日：2008-10-09
申请号：PCT/EP2008/053452
申请日：2008-03-21
申请人： ECOLE POLYTECHNIQUE , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE , BULKIN, Pavel , DREVILLON, Bernard
发明人： BULKIN, Pavel , DREVILLON, Bernard
IPC分类号： H05H1/46 , H01J37/32
CPC分类号： H05H1/46 , H01J37/32192 , H01J37/3222 , H01J37/32678
摘要： The present invention concerns an apparatus for generating a plasma comprising a vacuum chamber (1) comprising a wall (2) and a plasma source (5) comprising one or more devices for exciting the plasma (6), and means for generating a constant magnetic field around the plasma in order to couple microwave energy into plasma at electron cyclotron resonance, each of said devices for exciting the plasma (6) comprising a coaxial microwave connector (7) able to be connected to a microwave energy source and a loop antenna (9) able to emit a microwave energy for exciting the plasma. According to the invention, the loop antenna (9) of the one or more devices for exciting the plasma (6) is positioned inside the vacuum chamber (1) in order to be in contact with the plasma and the means for generating a constant magnetic field comprises at least two magnetic dipoles (10) placed on the wall of the vacuum chamber (1), each of said one or more devices for exciting the plasma (6) having said two magnetic dipoles (10) placed on both sides.
摘要翻译：本发明涉及一种用于产生等离子体的装置，包括包括壁（2）和等离子体源（5）的真空室（1），该等离子体源包括用于激发等离子体（6）的一个或多个装置，以及用于产生恒定磁围绕等离子体的场，以便在电子回旋共振时将微波能量耦合到等离子体中，用于激发等离子体（6）的每个所述装置包括能够连接到微波能量源的同轴微波连接器（7）和环形天线 9）能够发射微波能量来激发等离子体。根据本发明，用于激发等离子体（6）的一个或多个装置的环形天线（9）位于真空室（1）的内部，以便与等离子体接触，以及用于产生恒定磁场的装置场包括放置在真空室（1）的壁上的至少两个磁偶极子（10），所述一个或多个装置中的每一个用于激发具有放置在两侧的所述两个磁偶极子（10）的等离子体（6）。

8. 发明申请

WO2005059883A2 CELLULE DE COMMANDE ELECTRONIQUE POUR DIODE ELECTROLUMINESCENTE ORGANIQUE D'AFFICHEUR A MATRICE ACTIVE, PROCEDES DE FONCTIONNEMENT ET AFFICHEUR 审中-公开
标题翻译：用于有源矩阵显示有机电致发光二极管的电子控制单元及其操作及显示方法
公开(公告)号：WO2005059883A2
公开(公告)日：2005-06-30
申请号：PCT/FR2004/050685
申请日：2004-12-13
申请人： CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) , ECOLE POLYTECHNIQUE , DREVILLON, Bernard , ANCEAU, François Camille , BONNASSIEUX, Yvan, Eric , VANDERHAGHEN, Régis
发明人： DREVILLON, Bernard , ANCEAU, François Camille , BONNASSIEUX, Yvan, Eric , VANDERHAGHEN, Régis
IPC分类号： G09G3/32
CPC分类号： G09G3/3233 , G09G3/3258 , G09G2300/0842 , G09G2310/066 , G09G2320/0261
摘要： L'invention concerne une cellule de commande électronique pour au moins une diode électroluminescente organique (OLED) d'un pixel ou segment d'un afficheur à matrice active, la cellule comportant au moins un circuit de commande (6,61,62) avec une entrée de commande et fonctionnant en fonction d'un signal de commande arrivant sur une ligne de commande (5,5') et permettant l'allumage ou non du/des OLED, un circuit de mémorisation capacitif du signal de commande avec une capacité C reliée à la ligne de commande, un circuit de sélection (4,41,42) fonctionnant en fonction d'un signal de sélection V sel , sur une ligne de sélection (3,3') et permettant la mise en relation ou l'isolement électrique du circuit de mémorisation capacitif avec une tension de commande V com , (2) en fonction dudit signal de sélection. Selon l'invention, la mémorisation est temporaire par décharge de la capacité à travers une résistance Rf en parallèle de la capacité. Des procédés de fonctionnement et un afficheur complètent l'invention.
摘要翻译：本发明涉及用于有源矩阵显示器的像素或分段的至少一个有机电致发光二极管（OLED）的电子控制单元，其中该单元包括具有控制输入的至少一个控制电路（6,61,62）根据到达控制线路（5,5'）的控制信号起作用并且使OLED能够被接通，用于控制信号的电容性存储存储器，由此其电容器连接到控制线路，选择电路（4,41,42），其根据选择线（3,3'）上的选择信号Vsel起作用，使电容性存储电路能够相对于控制电压Vcom连接到绝缘或者与控制电压Vcom绝缘）根据选择信号。根据本发明，通过与电容器并联的电阻器Rf放电电容器来暂时存储。本发明还涉及操作方法和显示器。

9. 发明申请

WO2003076910A1 POLARIMETRIC SYSTEM AND METHOD OF POLARIMETRIC MEASUREMENT OF THE REPRESENTATIVE PARAMETERS OF A SAMPLE 审中-公开
标题翻译：一种样品的代表性参数的极化系统和极性测量方法
公开(公告)号：WO2003076910A1
公开(公告)日：2003-09-18
申请号：PCT/EP2003/002480
申请日：2003-03-11
申请人： CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) , ECOLE POLYTECHNIQUE , JOBIN YVON S.A.S , GARCIA-CAUREL, Enrique , MONCEL, Jean-Luc , DREVILLON, Bernard , BOS, Francis
发明人： GARCIA-CAUREL, Enrique , MONCEL, Jean-Luc , DREVILLON, Bernard , BOS, Francis
IPC分类号： G01N21/21
CPC分类号： G01N21/211
摘要： The invention concerns a polarimetric system and a method of polarimetric measurement of the representative parameters of a sample (7). The polarimetric system contains an excitation section (1) emitting a light beam (2). Said light beam passes through a polarisation state generator (PSG) (5) and is focused on the sample (7). After reflection on the sample surface (8), the beam goes through an analysis section (4) containing a polarisation state detector (PSD) or polarimeter (9) and detection means (10). According to the invention, the light beam (2) emitted by the excitation section (1) is in the spectral range from the far ultraviolet to the visible. The light beam propagates through the excitation section (1) up to through the analysis section (4) under a low partial pressure of far ultraviolet absorbing gases. The polarimetric system comprises at least an air tight chamber (17), said chambers containing said excitation section and said analysis section.
摘要翻译：本发明涉及一种偏振系统和一种对样品（7）的代表性参数进行极化测量的方法。偏振系统包含发射光束（2）的激发部分（1）。所述光束通过偏振态发生器（PSG）（5）并聚焦在样品（7）上。在样品表面（8）上反射后，光束通过包含偏振状态检测器（PSD）或偏振计（9）和检测装置（10）的分析部分（4）。根据本发明，由激励部（1）发射的光束（2）处于从远紫外线到可见光的光谱范围。光束在远紫外吸收气体的低分压下传播通过激发部分（1）直到分析部分（4）。所述偏振系统至少包括气密室（17），所述腔室包含所述激励部分和所述分析部分。

10. 发明公开

EP1974204A1 POLARIMETRIC RAMAN SYSTEM AND METHOD FOR ANALYSING A SAMPLE 审中-公开
标题翻译：偏振拉曼光谱仪和方法分析样品
公开(公告)号：EP1974204A1
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：EP07704017.8
申请日：2007-01-19
申请人： ECOLE POLYTECHNIQUE , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE
发明人： OSSIKOVSKI, Razvigor , DE MARTINO, Antonello , DREVILLON, Bernard
IPC分类号： G01N21/65 , G01N21/21 , G01J3/44
CPC分类号： G01J3/44 , G01J3/02 , G01J3/0224 , G01N21/21 , G01N21/65 , G01N21/658 , G01N2021/4792
摘要： The present invention concerns a Raman method and system for analysing a sample (4) comprising an excitation source (1) emitting an incident light beam (2), a sample holder (3), on which the sample (4) can be mounted, means for focusing the incident light beam (2) onto the sample surface (16) to generate a Raman scattered light having an intensity, means for collecting the Raman scattered light to form a Raman scattered light beam (5), a detection system (6) measuring intensity of the Raman scattered light beam (5) as a function of time. According to the invention, it comprises at least a polarization state generator (PSG) (7) able to generate four independent polarization states or a polarization state analyser (PSA) (8) able to analyse four independent polarization states in order to detect the intensity of the Raman scattered light beam (5) making it possible to calculate a partial or complete Mueller- Stokes matrix of the sample (4), the incident light beam (2) passing through said PSG (7) before being scattered by the sample (4) and the Raman scattered light beam (5) passing through said PSA (8) after being scattered by the sample (4).

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