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    • 3. 发明申请
    • 실린지 형상의 배양관 및 이를 이용한 세포배양기
    • 使用相同的SYRINGE形状的文化管和细胞培养装置
    • WO2010036023A2
    • 2010-04-01
    • PCT/KR2009/005427
    • 2009-09-23
    • 코아스템(주)홍석기양시은김경숙윤현수이태용이진화
    • 홍석기양시은김경숙윤현수이태용이진화
    • C12M1/24
    • C12M27/10C12M23/08
    • 본 발명은 대면적이 넓고 작업자가 원하는 크기로 변경 가능한 실린지 형상의 배양관과, 이러한 배양관을 다수 장착가능하도록 되어 있으며, 회동유닛에 의해 배양관 내에 배양액가 일정부분 채워진 상태에서 배양관 내주면 전체에 걸쳐 배양액이 미리 지정된 속도로 지속덕이고 부드럽게 접촉하면서 회전하도록 하여 교반 및 가스 공급과 가스교환비율을 증가시킬 수 있으며 배양액의 소모량을 감소시킬 수 있는 세포배양기에 관한 것이다. 본 발명에 따른 세포배양기는, 내부에 배양공간이 형성되어 있으며 배양공간으로 배양액이 유출입되는 유출홀이 양단부 중 적어도 어느 하나의 일단부에 형성되어 있으며, 일단부는 외측으로 갈수록 내경이 좁아지는 형상으로 형성된 배양관; 배양관 다수가 길이방향으로 수평하게 장착되며, 중앙에 형성된 회전축을 중심으로 회전가능한 회전지지부재; 및 회전지지부재를 회전축을 중심으로 회전시키기 위한 회동유닛을 포함한다.
    • 本发明涉及一种注射器状培养管,其具有宽的表面积并且可由使用者改变为期望的尺寸,以及安装有多个培养管的细胞培养装置。 细胞培养装置允许培养基在培养管填充有培养基时,以规定的速度恒定地平滑地接触培养管的整个内周,并以旋转单元旋转。 因此,细胞培养装置可以促进搅拌和气体供应,并提高气体交换率。 此外,细胞培养装置可以减少培养基的消耗。 本发明的细胞培养装置包括:具有培养空间的培养管,其一端或两端形成培养液流入培养管的通气孔,内径逐渐变细 在另一端朝向外面; 具有多个培养管的旋转支撑构件,所述多个培养管沿沿着形成在所述中心的旋转轴旋转的纵向方向水平地安装; 以及用于使所述旋转支撑构件绕所述旋转轴旋转的旋转单元。
    • 5. 发明申请
    • 세탁물 처리장치
    • 洗衣机
    • WO2011105729A2
    • 2011-09-01
    • PCT/KR2011/001146
    • 2011-02-22
    • 엘지전자 주식회사김성민김종석박대윤홍석기
    • 김성민김종석박대윤홍석기
    • D06F58/20
    • D06F58/20
    • 본 발명은 세탁물을 건조한 후 배기되는 공기의 열 에너지를 재사용하여 에너지가 절약되며 건조 성능이 보장되는 세탁물 처리장치에 관한 것이다. 본 발명의 실시예에 따른 세탁물 처리장치는, 외관을 형성하는 캐비닛과, 상기 캐비닛 내에 배치되며 세탁물이 수용되는 드럼과, 상기 드럼 내로 유입되는 공기를 가열하는 히터와, 상기 드럼을 통과한 공기가 상기 캐비닛 외부로 배기되는 배기 유로와, 상기 배기 유로로 배기되는 공기와 상기 히터로 유입되는 공기가 열교환되는 열교환기를 포함한다.
    • 本发明涉及一种衣物处理机,其在烘干衣物之后重新排放空气排放物的热能,以节省能量并确保干燥性能。 根据本发明的示例性实施例的洗衣机包括形成衣物处理机的外观的机壳; 设置在橱柜中以容纳衣物的鼓; 用于加热流入滚筒的空气的加热器; 用于将通过所述滚筒的空气排出到所述机壳的外部的排气流路; 以及热交换器,用于通过流入加热器的空气将通过排气流路排出的空气进行热交换。
    • 8. 发明授权
    • 외팔보 구조물을 이용한 반도체소자 테스트 소켓용 컨택터 및 그 제조 방법
    • 半导体器件的测试插座接触器及其制造方法
    • KR101514636B1
    • 2015-04-23
    • KR1020140012668
    • 2014-02-04
    • 재단법인 서울테크노파크
    • 홍석기양시은최종하박기순
    • G01R31/26
    • 반도체소자의테스트과정에서반도체소자와테스트보드의물리적, 전기적접촉에의해반도체소자의전극단자가손상되는것을방지하는외팔보구조물을이용한반도체소자테스트소켓용컨택터및 그제조방법이개시된다. 이를위하여테스트보드의접촉단자에이격되도록상기테스트보드에부착되고, 절연성재질의탄성체로구성되며, 반도체소자의전극단자와상기접촉단자의개별적접촉을유도하는외팔보구조물이구비된패턴이복수개로형성된절연판, 및상기패턴의상면및 하면에양단이노출되도록상기패턴에구비되어상기전극단자와상기접촉단자의전기적접촉을유도하는전기접촉부를포함하는반도체소자테스트소켓용컨택터를제공한다. 본발명에의하면, 반도체소자의전극단자와소켓의전기적접촉을위해가해져야하는압력의크기를줄임으로써소켓의수명을장기화할 수있고, 반도체소자에가해지는손상을최소화할수 있다는장점이있다.
    • 公开了一种使用悬臂结构的半导体器件测试插座的接触器及其制造方法,能够防止半导体器件的电极端子在该过程中被半导体器件与测试板之间的物理和电接触而被损坏 测试设备。 一种用于半导体器件测试插座的接触器包括:绝缘板,其连接到测试板上以与测试板的接触端子间隔开,该绝缘板包括由绝缘材料制成的弹性体,并且具有多个图案, 具有形成为引起半导体器件的电极端子和接触端子之间的单独接触的悬臂结构; 以及电接触单元,其安装在每个图案处以将其两端露出到图案的上表面和下表面,并且其引起电极端子和接触端子之间的电接触,从而增加插座的寿命并最小化所产生的损坏 通过减小为半导体器件的电极端子和插座之间的电接触提供的压力的尺寸在半导体器件中。
    • 9. 发明授权
    • 외팔보 구조물을 이용한 반도체소자 테스트 소켓용 컨택터 및 그 제조 방법
    • 半导体器件的测试插座接触器及其制造方法
    • KR101420170B1
    • 2014-07-18
    • KR1020130032354
    • 2013-03-26
    • 재단법인 서울테크노파크
    • 홍석기양시은장동영
    • G01R1/067G01R31/26H01L21/66
    • Disclosed is a contactor of a test socket for a semiconductor device using a cantilever structure and a manufacturing method thereof, which prevents electrode terminals of the semiconductor device from being damaged due to the physical and electrical contacts of a test board with the semiconductor device during the testing of the semiconductor device. To this end, the contactor of a test socket for a semiconductor device includes an insulation plate attached to the test board to be spaced apart from contact terminals of the test board, formed of an elastic body made of insulating material, and having a plurality of patterns on which cantilever structures are provided to guide the individual contacts between the electrode terminals of the semiconductor device and the contact terminals; and an electrical contact part disposed on each of the patterns in such a way that both ends of the electrical contact part are exposed at a top surface and a bottom surface of each of the patterns to guide the electrical contact between the electrode terminals and the contact terminals. According to the present invention, the life of a socket can be extended and the damage applied to the semiconductor device can be minimized, by reducing the amount of pressure applied for the electrical contact between the electrode terminals of the semiconductor device and the socket.
    • 公开了一种使用悬臂结构的半导体器件的测试插座的接触器及其制造方法,其防止半导体器件的电极端子由于在半导体器件期间由于具有半导体器件的测试板的物理和电接触而被损坏 测试半导体器件。 为此,用于半导体器件的测试插座的接触器包括安装在测试板上的绝缘板,与绝缘材料制的弹性体形成的与测试板的接触端子间隔开,并具有多个 提供悬臂结构以引导半导体器件的电极端子和接触端子之间的各个接触的图案; 以及设置在每个图案上的电接触部分,使得电接触部分的两端在每个图案的顶表面和底表面处露出,以引导电极端子和触点之间的电接触 终端。 根据本发明,通过减少为半导体器件的电极端子和插座之间的电接触施加的压力的量,可以延长插座的寿命并且可以最小化施加到半导体器件的损坏。