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    • 3. 发明申请
    • 실린지 형상의 배양관 및 이를 이용한 세포배양기
    • 使用相同的SYRINGE形状的文化管和细胞培养装置
    • WO2010036023A2
    • 2010-04-01
    • PCT/KR2009/005427
    • 2009-09-23
    • 코아스템(주)홍석기양시은김경숙윤현수이태용이진화
    • 홍석기양시은김경숙윤현수이태용이진화
    • C12M1/24
    • C12M27/10C12M23/08
    • 본 발명은 대면적이 넓고 작업자가 원하는 크기로 변경 가능한 실린지 형상의 배양관과, 이러한 배양관을 다수 장착가능하도록 되어 있으며, 회동유닛에 의해 배양관 내에 배양액가 일정부분 채워진 상태에서 배양관 내주면 전체에 걸쳐 배양액이 미리 지정된 속도로 지속덕이고 부드럽게 접촉하면서 회전하도록 하여 교반 및 가스 공급과 가스교환비율을 증가시킬 수 있으며 배양액의 소모량을 감소시킬 수 있는 세포배양기에 관한 것이다. 본 발명에 따른 세포배양기는, 내부에 배양공간이 형성되어 있으며 배양공간으로 배양액이 유출입되는 유출홀이 양단부 중 적어도 어느 하나의 일단부에 형성되어 있으며, 일단부는 외측으로 갈수록 내경이 좁아지는 형상으로 형성된 배양관; 배양관 다수가 길이방향으로 수평하게 장착되며, 중앙에 형성된 회전축을 중심으로 회전가능한 회전지지부재; 및 회전지지부재를 회전축을 중심으로 회전시키기 위한 회동유닛을 포함한다.
    • 本发明涉及一种注射器状培养管,其具有宽的表面积并且可由使用者改变为期望的尺寸,以及安装有多个培养管的细胞培养装置。 细胞培养装置允许培养基在培养管填充有培养基时,以规定的速度恒定地平滑地接触培养管的整个内周,并以旋转单元旋转。 因此,细胞培养装置可以促进搅拌和气体供应,并提高气体交换率。 此外,细胞培养装置可以减少培养基的消耗。 本发明的细胞培养装置包括:具有培养空间的培养管,其一端或两端形成培养液流入培养管的通气孔,内径逐渐变细 在另一端朝向外面; 具有多个培养管的旋转支撑构件,所述多个培养管沿沿着形成在所述中心的旋转轴旋转的纵向方向水平地安装; 以及用于使所述旋转支撑构件绕所述旋转轴旋转的旋转单元。
    • 4. 发明授权
    • 외팔보 구조물을 이용한 반도체소자 테스트 소켓용 컨택터 및 그 제조 방법
    • 半导体器件的测试插座接触器及其制造方法
    • KR101514636B1
    • 2015-04-23
    • KR1020140012668
    • 2014-02-04
    • 재단법인 서울테크노파크
    • 홍석기양시은최종하박기순
    • G01R31/26
    • 반도체소자의테스트과정에서반도체소자와테스트보드의물리적, 전기적접촉에의해반도체소자의전극단자가손상되는것을방지하는외팔보구조물을이용한반도체소자테스트소켓용컨택터및 그제조방법이개시된다. 이를위하여테스트보드의접촉단자에이격되도록상기테스트보드에부착되고, 절연성재질의탄성체로구성되며, 반도체소자의전극단자와상기접촉단자의개별적접촉을유도하는외팔보구조물이구비된패턴이복수개로형성된절연판, 및상기패턴의상면및 하면에양단이노출되도록상기패턴에구비되어상기전극단자와상기접촉단자의전기적접촉을유도하는전기접촉부를포함하는반도체소자테스트소켓용컨택터를제공한다. 본발명에의하면, 반도체소자의전극단자와소켓의전기적접촉을위해가해져야하는압력의크기를줄임으로써소켓의수명을장기화할 수있고, 반도체소자에가해지는손상을최소화할수 있다는장점이있다.
    • 公开了一种使用悬臂结构的半导体器件测试插座的接触器及其制造方法,能够防止半导体器件的电极端子在该过程中被半导体器件与测试板之间的物理和电接触而被损坏 测试设备。 一种用于半导体器件测试插座的接触器包括:绝缘板,其连接到测试板上以与测试板的接触端子间隔开,该绝缘板包括由绝缘材料制成的弹性体,并且具有多个图案, 具有形成为引起半导体器件的电极端子和接触端子之间的单独接触的悬臂结构; 以及电接触单元,其安装在每个图案处以将其两端露出到图案的上表面和下表面,并且其引起电极端子和接触端子之间的电接触,从而增加插座的寿命并最小化所产生的损坏 通过减小为半导体器件的电极端子和插座之间的电接触提供的压力的尺寸在半导体器件中。
    • 7. 发明授权
    • 외팔보 구조물을 이용한 반도체소자 테스트 소켓용 컨택터 및 그 제조 방법
    • 半导体器件的测试插座接触器及其制造方法
    • KR101420170B1
    • 2014-07-18
    • KR1020130032354
    • 2013-03-26
    • 재단법인 서울테크노파크
    • 홍석기양시은장동영
    • G01R1/067G01R31/26H01L21/66
    • Disclosed is a contactor of a test socket for a semiconductor device using a cantilever structure and a manufacturing method thereof, which prevents electrode terminals of the semiconductor device from being damaged due to the physical and electrical contacts of a test board with the semiconductor device during the testing of the semiconductor device. To this end, the contactor of a test socket for a semiconductor device includes an insulation plate attached to the test board to be spaced apart from contact terminals of the test board, formed of an elastic body made of insulating material, and having a plurality of patterns on which cantilever structures are provided to guide the individual contacts between the electrode terminals of the semiconductor device and the contact terminals; and an electrical contact part disposed on each of the patterns in such a way that both ends of the electrical contact part are exposed at a top surface and a bottom surface of each of the patterns to guide the electrical contact between the electrode terminals and the contact terminals. According to the present invention, the life of a socket can be extended and the damage applied to the semiconductor device can be minimized, by reducing the amount of pressure applied for the electrical contact between the electrode terminals of the semiconductor device and the socket.
    • 公开了一种使用悬臂结构的半导体器件的测试插座的接触器及其制造方法,其防止半导体器件的电极端子由于在半导体器件期间由于具有半导体器件的测试板的物理和电接触而被损坏 测试半导体器件。 为此,用于半导体器件的测试插座的接触器包括安装在测试板上的绝缘板,与绝缘材料制的弹性体形成的与测试板的接触端子间隔开,并具有多个 提供悬臂结构以引导半导体器件的电极端子和接触端子之间的各个接触的图案; 以及设置在每个图案上的电接触部分,使得电接触部分的两端在每个图案的顶表面和底表面处露出,以引导电极端子和触点之间的电接触 终端。 根据本发明,通过减少为半导体器件的电极端子和插座之间的电接触施加的压力的量,可以延长插座的寿命并且可以最小化施加到半导体器件的损坏。
    • 9. 发明公开
    • 레이저를 이용한 접합웨이퍼 검사장치
    • 使用激光的粘结波形检测装置
    • KR1020110055787A
    • 2011-05-26
    • KR1020090112346
    • 2009-11-20
    • 재단법인 서울테크노파크
    • 장동영홍석기황호진임영환반창우양시은
    • H01L21/66B23K26/03
    • G01N21/9505G01N21/94H01L22/12
    • PURPOSE: A device for inspecting a bonded wafer using laser is provided to detect whether a bonded wafer is defective by a projecting image by irradiating laser onto a bonded wafer, thereby increasing profitability and reliability. CONSTITUTION: A laser device(100) emits a laser beam for inspecting a defect between interfaces of a bonded wafer onto a bonded wafer(10). The laser device includes a laser generating device(110), a laser dividing device(120), and a laser light source(130). A laser diffusing device(200) diffuses a laser beam emitted through the laser device onto the bonded wafer. The laser diffuser installation locates between the laser unit and bonded wafer. A detection device(300) detects whether the interface of the bonded wafer is defective by a laser beam.
    • 目的:提供一种使用激光检查接合晶片的装置,通过在接合晶片上照射激光来检测接合晶片是否由投影图像有缺陷,从而提高获利能力和可靠性。 构成:激光装置(100)发射激光束,用于检查接合的晶片在接合晶片(10)上的界面之间的缺陷。 激光装置包括激光产生装置(110),激光分割装置(120)和激光光源(130)。 激光漫射装置(200)将通过激光装置发射的激光束扩散到接合晶片上。 激光扩散器安装位于激光单元和接合晶片之间。 检测装置(300)通过激光束检测接合晶片的界面是否有缺陷。
    • 10. 发明公开
    • 레퍼런스 데이터로 설정된 관리기준을 이용한 액추에이터의 관리방법
    • 如何使用参考标准作为参考数据管理执行器
    • KR1020170091319A
    • 2017-08-09
    • KR1020160012180
    • 2016-02-01
    • 재단법인 서울테크노파크
    • 홍석기양시은최종하김대호
    • F15B19/00
    • 액추에이터에구비된센서를통해수집한센싱정보를기반으로실시간상황을자율적으로판단하여액추에이터를자동으로제어하는액추에이터의관리방법이개시된다. 이를위하여유무선통신네트워크를통해연결된액추에이터로부터설정된시간동안센서별레퍼런스데이터를수신받아저장하는레퍼런스데이터수집단계와, 상기레퍼런스데이터를분석하여센서별관리기준을도출하는관리기준설정단계와, 상기액추에이터로부터전송된센싱정보를분석하여해당관리기준을벗어나는센싱정보를감지하는센싱정보감시단계, 및상기관리기준을벗어나는센싱정보가감지된경우상기액추에이터를제어하는제어신호를생성하여액추에이터로전송하는제어신호전송단계를포함하는액추에이터의관리방법을제공한다. 본발명에의하면, 액추에이터가설치된기구의상태를관리자가일일이점검하지않더라도액추에이터에구비된센서에의해기구및 이의주변환경에대한정보를수집하여자율적상황판단을실시할수 있으므로, 관리기준을벗어나는상황발생시에신속히대처할수 있다.
    • 确定实时情况的基础上,通过具有用于自动地控制由设置在致动器致动器方法的自主控制的致动器的传感器所收集的感测信息。 和控制标准设定导出传感器特定控制标准来分析所述基准数据收集步骤的步骤,和用于从相关联的致动器经由有线或无线通信网络用于该目的的一组接收和存储接收时间传感器特定基准数据,从致动器的基准数据 通过分析当感测信息监视步骤,和感测信息进行的控制标准,用于感测所述感测信息进行的控制标准传感控制将被发送到致动器,以产生控制信号,用于控制致动器的信号的发送的感测信息 提供了一种管理包括转印步骤的致动器的方法。 根据本发明,由于要连机构的状态由具有由致动器所提供的传感器来检查具有致动器安装管理员收集有关设备的信息和它的周围可以进行自我状态确定,所述情况发生外部的控制标准 可以及时应付。