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1. 发明专利

JP2016008954A 物体形状推定装置及びプログラム审中-公开
标题翻译：对象形状设计和程序
公开(公告)号：JP2016008954A
公开(公告)日：2016-01-18
申请号：JP2014131760
申请日：2014-06-26
申请人：株式会社豊田中央研究所 , 国立大学法人岐阜大学
发明人：城殿清澄 , 内藤貴志 , 加藤邦人 , 山本和彦 , 伊藤優太
IPC分类号： G01B11/26 , G01B11/24
摘要：【課題】物体表面の色が未知の場合であっても、物体の3次元形状を精度よく推定することができるようにする。【解決手段】照明部10により、物体表面に対して、RGBに対応する3つの光の各々と、3つの光の各々の波長を全て包含する波長域を有する光とが照射され、画像取得部30で、光の点灯及び消灯に対応する一組の画像の各々から分光画像データの各々を取得し、反射率推定部34で、取得した分光画像データの各々を用いて、各注目画素に対応する物体表面の各位置について、波長間の反射比を推定し、法線ベクトル算出部36で、推定した反射比を用いて、各注目画素に対応する物体表面の各位置の法線ベクトルを算出する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：即使对象表面的颜色未知，也可以精确地估计对象的三维形状。照明单元10发射对应于RGB的三个光线和具有波长范围包含三个光线的所有波长到物体的表面上; 图像获取单元30从对应于光的点亮和点亮的一对图像中的每一个获取光谱图像数据; 反射率估计单元34使用获取的光谱图像数据估计与感兴趣的每个像素对应的物体表面的每个位置处的波长之间的反射率; 并且法线向量计算单元36使用估计的反射率来计算对应于每个感兴趣像素的物体表面的每个位置的法线矢量。

2. 发明专利

JP6432968B2 物体形状推定装置及びプログラム审中-公开
公开(公告)号：JP6432968B2
公开(公告)日：2018-12-05
申请号：JP2014131760
申请日：2014-06-26
申请人：国立大学法人岐阜大学
发明人：城殿清澄 , 内藤貴志 , 加藤邦人 , 山本和彦 , 伊藤優太
IPC分类号： G01B11/26 , G01B11/24

3. 发明专利

JP2016161331A 表面検査装置および表面検査方法审中-公开
标题翻译：用于表面检查的装置和方法
公开(公告)号：JP2016161331A
公开(公告)日：2016-09-05
申请号：JP2015038571
申请日：2015-02-27
申请人：国立大学法人岐阜大学
发明人：加藤邦人 , 伊藤優太
IPC分类号： G01N21/88 , G01B11/00 , G01B11/30
摘要：【課題】被検査体の凹凸を精度よく検出する。【解決手段】カメラで撮像した画像データに基づいて被検査体の測定領域内の測定点Tの面法線ベクトルを算出し、面法線ベクトルを内積する位置を示す算定点IPおよび当該算定点IPに対応する基準点M1を定めた指標値設定フィルタFRの算定点を測定領域L内の測定点Tに合わせて、算定点IPに一致する測定点Tの面法線ベクトルを内積することで基準点M1に対応する指標値を算出する。このとき、指標値を算出する毎に、指標値設定フィルタFRの算定点IPを合わせる測定点Tを変更して変更毎の基準点M1に対応する指標値を算出することで、当該測定領域Lの各座標に対応する指標値を特定し、測定領域Lにおいて基準範囲から外れた指標値に対応する座標を特定することで被検出体の凹凸位置を検出する。【選択図】図10
摘要翻译：要解决的问题：准确地检测检查对象的不规则性。解决方案：基于由照相机拍摄的图像数据计算被检查物体的测量区域中的测量点T的表面法线向量，并且对应于通过使得指标值设定滤波器FR的计算点确定与计算对应的标准点M1，通过执行与计算点IP一致的测量点T的表面法线向量的内积来计算标准点M1 表示执行表面法线向量的内积的位置和计算点IP符合测量区域L中的测量点T.此时，与测量区域L的每个坐标对应的指标值为通过改变符合指标值设定滤波器FR的计算点IP的测量点T并计算t来指定对于每个变化，对应于标准点M1的索引值，并且通过在测量区域L中指定与标准范围之外的指标值相对应的坐标来检测检测到的身体的不规则位置。图10

4. 发明专利

JP6420180B2 表面検査装置および表面検査方法审中-公开
公开(公告)号：JP6420180B2
公开(公告)日：2018-11-07
申请号：JP2015038571
申请日：2015-02-27
申请人：国立大学法人岐阜大学
发明人：加藤邦人 , 伊藤優太
IPC分类号： G01N21/88 , G01B11/00 , G01B11/30

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