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1. 发明专利

JP6148187B2 遅延時間差計測システム及び遅延時間差計測方法有权
公开(公告)号：JP6148187B2
公开(公告)日：2017-06-14
申请号：JP2014024176
申请日：2014-02-12
申请人：住友電気工業株式会社 , 日本電信電話株式会社
发明人：毛利慎太郎 , 大木一芳 , 井上雅晶 , 岡本圭司 , 片山和典 , 真鍋哲也 , 納戸一貴
IPC分类号： H04B10/032 , H04B10/079

2. 发明专利

JP6193144B2 遅延時間差計測システム及び遅延時間差計測方法有权
公开(公告)号：JP6193144B2
公开(公告)日：2017-09-06
申请号：JP2014024174
申请日：2014-02-12
申请人：住友電気工業株式会社 , 日本電信電話株式会社
发明人：大木一芳 , 毛利慎太郎 , 井上雅晶 , 岡本圭司 , 片山和典 , 真鍋哲也 , 納戸一貴
IPC分类号： H04B10/032 , H04B10/079

3. 发明专利

JP2015154132A 遅延時間差計測システム及び遅延時間差計測方法有权
标题翻译：延迟时间差分测量系统和延迟时间差异测量方法
公开(公告)号：JP2015154132A
公开(公告)日：2015-08-24
申请号：JP2014024174
申请日：2014-02-12
申请人：住友電気工業株式会社 , 日本電信電話株式会社
发明人：大木一芳 , 毛利慎太郎 , 井上雅晶 , 岡本圭司 , 片山和典 , 真鍋哲也 , 納戸一貴
IPC分类号： H04B10/032 , H04B10/079
摘要：【課題】現用光伝送路と迂回用光伝送路との遅延時間差を精度良く計測できる遅延時間差計測システム及び遅延時間差計測方法を提供する。【解決手段】遅延時間差計測システム30Aは、現用光伝送路を経た光通信信号L UP1 をシリアル信号S 1 に変換する光電変換部33a、及びS/P変換用のクロック信号C 21 を用いてシリアル信号S 1 をパラレル信号P 1 に変換するS/P変換部33dを含む信号処理部33と、迂回用光伝送路13,14を経た光通信信号L UP2 をシリアル信号S 2 に変換する光電変換部35a、及びS/P変換用のクロック信号C 22 を用いてシリアル信号S 2 をパラレル信号P 2 に変換するS/P変換部35dを含む信号処理部35と、クロック信号C 21 及びC 22 の時間差をもとに補正された、パラレル信号P 1 及びP 2 の時間差を遅延時間差として出力する遅延時間差演算部39とを備える。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：提供能够精确测量有源光传输线路与旁路光传输线路之间的延迟时间差的延迟时差测量系统和延迟时差测量方法。解决方案：延迟时差测量系统30A 包括：信号处理单元33，包括光电转换部分33a，用于将通过有源光传输线传输的光通信信号L转换成串行信号SandS S / P转换部分33d，用于将串行信号Sinto转换成并行信号Pby，使用 S / P转换时钟信号C; 信号处理单元35，包括用于将通过旁路光传输线13和14传输的光通信信号L转换为串行信号Sand S / P转换部分35d的光电转换部分35a，用于将串行信号Sinto转换为并行信号Pby，使用 S / P转换时钟信号C; 以及延迟时间差计算单元39，用于基于时钟信号Cand Cas之间的时间差输出延迟时间差之间的并行信号PandPc校正之间的时间差。

4. 发明专利

JP2015154133A 遅延時間差計測システム及び遅延時間差計測方法有权
标题翻译：延迟时间差分测量系统和延迟时间差异测量方法
公开(公告)号：JP2015154133A
公开(公告)日：2015-08-24
申请号：JP2014024176
申请日：2014-02-12
申请人：住友電気工業株式会社 , 日本電信電話株式会社
发明人：毛利慎太郎 , 大木一芳 , 井上雅晶 , 岡本圭司 , 片山和典 , 真鍋哲也 , 納戸一貴
IPC分类号： H04B10/032 , H04B10/079
摘要：【課題】現用光伝送路と迂回用光伝送路との遅延時間差を精度良く計測することができる遅延時間差計測システム及び遅延時間差計測方法を提供する。【解決手段】遅延時間差計測システム30Aは、現用光伝送路及び迂回用光伝送路をそれぞれ経た2つの光通信信号それぞれをシリアル信号に変換する光電変換部と、シリアル信号S 3 、S 4 をパラレル信号P 5 、P 6 に変換するシリアル/パラレル変換部33i及び35iと、パラレル信号P 5 及びP 6 の時間差を演算する時間差演算部39と、シリアル信号S 3 、S 4 のうち少なくとも一方に遅延を与えることによりシリアル信号S 3 、S 4 の時間差を補正する遅延部36と、遅延部36から出力されたシリアル信号S 3 、S 4 の論理和を出力する論理回路32と、論理回路32からの出力信号に基づいて、シリアル信号S 3 、S 4 の時間差の有無を確認する確認部34とを備える。【選択図】図3
摘要翻译：要解决的问题：提供能够精确测量有源光传输线路与旁路光传输线路之间的延迟时间差的延迟时差测量系统和延迟时差测量方法。解决方案：延迟时差测量系统30A 包括：光电转换单元，用于将分别通过有源光传输线路和旁路光传输线路传输的两个光通信信号分别转换成串行信号; 串行/并行转换单元33i和35i，用于分别转换串行信号Sand Sinto并行信号Pand; 时间差计算单元39，用于计算并行信号Pand P之间的时间差; 延迟单元36，用于校正串行信号Sand Sby之间的延迟至少一个串行信号Sand S的时间差; 逻辑电路32，用于在从延迟单元36输出的串行信号Sand之间输出OR; 以及确认单元34，用于确认串行信号Sand Son之间的时间差存在来自逻辑电路32的输出信号的基础。

5. 发明专利

JP6777483B2 光ファイバ試験装置及び光ファイバ試験方法有权
公开(公告)号：JP6777483B2
公开(公告)日：2020-10-28
申请号：JP2016184705
申请日：2016-09-21
申请人：日本電信電話株式会社
发明人：岡本圭司 , 中村篤志 , 古敷谷優介 , 真鍋哲也
IPC分类号： G01M11/02 , G01M11/00

6. 发明专利

JP6429325B2 ブリルアン散乱測定装置及びブリルアン散乱測定方法审中-公开
公开(公告)号：JP6429325B2
公开(公告)日：2018-11-28
申请号：JP2015115411
申请日：2015-06-08
申请人：日本電信電話株式会社 , 国立大学法人島根大学
发明人：岡本圭司 , 真鍋哲也 , 戸毛邦弘 , 岡本達也 , 高橋央 , 伊藤文彦
IPC分类号： G01M11/02 , G01D5/353 , G01M11/00

7. 发明专利

JP6396861B2 光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法有权
公开(公告)号：JP6396861B2
公开(公告)日：2018-09-26
申请号：JP2015145540
申请日：2015-07-23
申请人：日本電信電話株式会社
发明人：中村篤志 , 岡本圭司 , 古敷谷優介 , 真鍋哲也
IPC分类号： G01M11/00

8. 发明专利

JP6364336B2 二重化光線路の遅延量調整装置及び光線路切替方法审中-公开
公开(公告)号：JP6364336B2
公开(公告)日：2018-07-25
申请号：JP2014248021
申请日：2014-12-08
申请人：日本電信電話株式会社
发明人：岡本圭司 , 井上雅晶 , 古敷谷優介 , 片山和典 , 真鍋哲也
IPC分类号： H04B10/038 , H04B10/25

9. 发明专利

JP6338153B2 モード結合比率分布測定方法及びモード結合比率分布測定装置有权
公开(公告)号：JP6338153B2
公开(公告)日：2018-06-06
申请号：JP2015115410
申请日：2015-06-08
申请人：日本電信電話株式会社 , 国立大学法人島根大学
发明人：戸毛邦弘 , 岡本達也 , 高橋央 , 真鍋哲也 , 岡本圭司 , 伊藤文彦
IPC分类号： G01M11/00 , G01M11/02

10. 发明专利

JP2017026474A 光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法有权
标题翻译：光纤特性分析装置以及光纤表征方法
公开(公告)号：JP2017026474A
公开(公告)日：2017-02-02
申请号：JP2015145540
申请日：2015-07-23
申请人：日本電信電話株式会社
发明人：中村篤志 , 岡本圭司 , 古敷谷優介 , 真鍋哲也
IPC分类号： G01M11/00
摘要：【課題】光ファイバ特性の検出感度が高く、且つ安価な装置構成を実現できるファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明に係る光ファイバ特性解析装置及び光ファイバ特性解析方法は、後方散乱光の高次モードと基本モードとを分離せずにまとめて測定するため、モード合分波器が不要であり構成が簡易になり装置の低価格化を実現できる。一方、本光ファイバ特性解析装置及び本光ファイバ特性解析方法は、高次モードで伝搬する試験光および後方散乱光に生じる損失情報を含む信号の強度分布を得ることができるため、基本モードのみを用いた場合に比べて高い感度で光ファイバ特性を検知可能である。【選択図】図1
摘要翻译：光纤特性的检测灵敏度高，并提供一种和纤维表征可实现便宜的设备配置装置和光纤的表征方法。根据本发明的光纤特性分析装置以及光纤表征方法中，为了共同测量不分离的高次模式和所述反向散射光的基本模式中，不需要模式解复用器安排，所以能够实现装置的低价格变得简单。在另一方面，光纤特性分析装置和光纤的表征方法，能够得到在高次模试验中传播的光与信号的强度分布，其包括产生后方散射光损耗信息，只有基本模式因此能够以高灵敏度与使用的情况相比，以检测光纤的特性。点域1

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