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1. 发明专利

JP6748027B2 光パルス試験装置及び光パルス試験方法有权
公开(公告)号：JP6748027B2
公开(公告)日：2020-08-26
申请号：JP2017094523
申请日：2017-05-11
申请人：日本電信電話株式会社
发明人：中村篤志 , 古敷谷優介 , 真鍋哲也
IPC分类号： G01M11/00

2. 发明专利

JP2020098127A 光パルス試験方法および光パルス試験装置审中-公开
公开(公告)号：JP2020098127A
公开(公告)日：2020-06-25
申请号：JP2018235878
申请日：2018-12-17
申请人：日本電信電話株式会社
发明人：中村篤志 , 岡本圭司 , 押田博之
IPC分类号： G01M11/02
摘要：【課題】2モード光ファイバを直列させた接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を、入射する試験光のモードを切り替えることなく測定できる光パルス試験方法および光パルス試験装置を提供することを目的とする。【解決手段】本発明に係る光パルス試験装置は、被試験光ファイバの一端から基本モードと第一高次モードで伝搬可能な波長の試験光パルスを基本モード(または第一高次モード)で入射し、該試験光パルスの戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分それぞれの該一端からの距離に関する強度分布を測定し、該強度分布から被試験光ファイバの所望の接続点における戻り光の基本モード成分および第一高次モード成分の損失をそれぞれ求め、式(8)(または式(9))に基づいて該接続点における基本モードおよび第一高次モードの透過損失を算出する。【選択図】図1

3. 发明专利

JP6691033B2 2モード光ファイバ特性解析方法および2モード光ファイバ特性解析装置有权
公开(公告)号：JP6691033B2
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：JP2016202588
申请日：2016-10-14
申请人：日本電信電話株式会社
发明人：中村篤志 , 古敷谷優介 , 真鍋哲也
IPC分类号： G01M11/02

4. 发明专利

JP6220764B2 光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法有权
公开(公告)号：JP6220764B2
公开(公告)日：2017-10-25
申请号：JP2014234811
申请日：2014-11-19
申请人：日本電信電話株式会社
发明人：中村篤志 , 岡本圭司 , 古敷谷優介 , 真鍋哲也
IPC分类号： G01M11/00 , G01M11/02

5. 发明专利

JP2021135179A 光ファイバのモード群遅延特性評価方法および評価装置审中-公开
公开(公告)号：JP2021135179A
公开(公告)日：2021-09-13
申请号：JP2020031816
申请日：2020-02-27
申请人：日本電信電話株式会社 , 公立大学法人大阪
发明人：中村篤志 , 飯田大輔 , 大橋正治 , 久保田寛和
IPC分类号： G01M11/02
摘要：【課題】本開示は、群遅延特性よりも簡単な方法で得られるファイバパラメータを用いて数モードファイバのモード群遅延特性を評価するためのモード群遅延特性評価方法及び評価装置を提供することを目的とする。【解決手段】本開示は、被試験光ファイバのモード群遅延特性を評価するモード群遅延特性評価方法であって、コアとクラッドの屈折率差が小さい場合に、前記被試験光ファイバのモード群遅延特性の近似解がコアの群屈折率、クラッドの群屈折率、正規化周波数及び正規化伝搬定数を用いて導出できることに基づいて、前記被試験光ファイバにおける前記伝搬モードのモード群遅延特性を算出するモード群遅延算出手順を有するモード群遅延特性評価方法である。【選択図】図1

6. 发明专利

JP6777483B2 光ファイバ試験装置及び光ファイバ試験方法有权
公开(公告)号：JP6777483B2
公开(公告)日：2020-10-28
申请号：JP2016184705
申请日：2016-09-21
申请人：日本電信電話株式会社
发明人：岡本圭司 , 中村篤志 , 古敷谷優介 , 真鍋哲也
IPC分类号： G01M11/02 , G01M11/00

7. 发明专利

JP2018189600A 光パルス試験装置及び光パルス試験方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018189600A
公开(公告)日：2018-11-29
申请号：JP2017094523
申请日：2017-05-11
申请人：日本電信電話株式会社
发明人：中村篤志 , 古敷谷優介 , 真鍋哲也
IPC分类号： G01M11/00
摘要：【課題】後方散乱光のLP11aおよびLP11bモード成分のOTDR波形の揺らぎを低減できる光パルス試験装置及び光パルス試験方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明に係る光パルス試験装置は、被試験光ファイバの任意の地点で生成される後方散乱光のLP11モード成分の電界分布を意図的に変化させることで、異なるLP11モードの電界分布状態に対する測定波形を取得し、さらにそれらに加算平均処理を施すことにより、LP11モードの電界分布状態に起因した波形揺らぎを低減することとした。【選択図】図1

8. 发明专利

JP6396861B2 光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法有权
公开(公告)号：JP6396861B2
公开(公告)日：2018-09-26
申请号：JP2015145540
申请日：2015-07-23
申请人：日本電信電話株式会社
发明人：中村篤志 , 岡本圭司 , 古敷谷優介 , 真鍋哲也
IPC分类号： G01M11/00

9. 发明专利

JP2017026474A 光ファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法有权
标题翻译：光纤特性分析装置以及光纤表征方法
公开(公告)号：JP2017026474A
公开(公告)日：2017-02-02
申请号：JP2015145540
申请日：2015-07-23
申请人：日本電信電話株式会社
发明人：中村篤志 , 岡本圭司 , 古敷谷優介 , 真鍋哲也
IPC分类号： G01M11/00
摘要：【課題】光ファイバ特性の検出感度が高く、且つ安価な装置構成を実現できるファイバ特性解析装置および光ファイバ特性解析方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明に係る光ファイバ特性解析装置及び光ファイバ特性解析方法は、後方散乱光の高次モードと基本モードとを分離せずにまとめて測定するため、モード合分波器が不要であり構成が簡易になり装置の低価格化を実現できる。一方、本光ファイバ特性解析装置及び本光ファイバ特性解析方法は、高次モードで伝搬する試験光および後方散乱光に生じる損失情報を含む信号の強度分布を得ることができるため、基本モードのみを用いた場合に比べて高い感度で光ファイバ特性を検知可能である。【選択図】図1
摘要翻译：光纤特性的检测灵敏度高，并提供一种和纤维表征可实现便宜的设备配置装置和光纤的表征方法。根据本发明的光纤特性分析装置以及光纤表征方法中，为了共同测量不分离的高次模式和所述反向散射光的基本模式中，不需要模式解复用器安排，所以能够实现装置的低价格变得简单。在另一方面，光纤特性分析装置和光纤的表征方法，能够得到在高次模试验中传播的光与信号的强度分布，其包括产生后方散射光损耗信息，只有基本模式因此能够以高灵敏度与使用的情况相比，以检测光纤的特性。点域1

10. 发明专利

JP2016109559A 試験光遮断フィルタおよびそれを適用したインサービス試験方法有权
标题翻译：测试光切割过滤器和适用于其的在线测试方法
公开(公告)号：JP2016109559A
公开(公告)日：2016-06-20
申请号：JP2014247356
申请日：2014-12-05
申请人：日本電信電話株式会社
发明人：中村篤志 , 岡本圭司 , 古敷谷優介 , 真鍋哲也
IPC分类号： G01M11/00
摘要：【課題】試験対象とされる光線路において、試験光が通信光に及ぼす影響を低減し、当該光線路のインサービス試験を可能とすること。【解決手段】本発明のインサービス試験方法では、試験光の波長の光に損失を与える一方、被試験光ファイバによって伝搬される通信光の波長の光を透過させる試験光遮断フィルタ14を用いる。試験光遮断フィルタ14は、被試験光ファイバ中を基本モードで伝搬する試験光の波長の光を高次モードに変換するモード変換部31と、被試験光ファイバ中を基本モードで伝搬する通信光に損失をほとんど与えず、被試験光ファイバ中を高次モードで伝搬する試験光に損失を与える損失付与部32とを備える。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：允许通过减少测试光对测试对象光线路中的通信光的影响来执行测试对象光线路的在役测试。解决方案：根据本发明使用测试光截止滤光器14，该测试光截止滤光器14对测试光的波长产生损失，并且使由测试对象光纤传播的通信光的波长的光穿透。测试光截止滤光器14包括：模式转换单元31，其将在测试对象光纤中以基本模式传播的测试光的波长的光模式转换为更高阶模式; 以及对被测对象光纤中的基本模式传播的通信光仅施加少许损失的损耗造成单元32，并且对被测对象光纤中以较高模式传播的测试光线造成损耗。图2

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