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    • 6. 发明申请
    • AUFLÖSUNGSGESTEIGERTE LUMINESZENZ-MIKROSKOPIE
    • 分辨率提高LUMINESCENT显微镜
    • WO2007009812A1
    • 2007-01-25
    • PCT/EP2006/007212
    • 2006-07-21
    • CARL ZEISS MICROIMAGING GMBHCARL ZEISS JENA GMBHWOLLESCHENSKY, RalfKEMPE, Michael
    • WOLLESCHENSKY, RalfKEMPE, Michael
    • G01N21/64G02B21/00
    • G02B21/0076G01N21/6458
    • Es wird ein Lumineszenz-Mikroskopieverfahren beschrieben, bei dem eine Probe (24) durch Anregungsstrahlung (A) zu Emission von bestimmter Lumineszenzstrahlung (F) angeregt wird, wobei die lumineszierende Probe (24) aus einem ersten Lumineszenz-Zustand (5), in dem die Anregbarkeit mit steigender Anregungsstrahlungsleistung bis zu einem Maximalwert (18), welcher einem Anregungsstrahlungsleistungs-Schwellwert (19) zugeordnet ist, steigt, in einen zweiten Lumineszenz-Zustand (6) überführbar ist, in dem die Probe (24) gegenüber dem ersten Zustand (5) verminderte Anregbarkeit aufweist, wobei die Probe (24) durch Einstrahlung von Anregungsstrahlungsleistung oberhalb des Schwellwertes (19) in den zweiten Zustand (6) bringbar ist, die Probe (24) in Teil-Bereichen in den ersten Zustand (5) und in angrenzenden Teil-Bereichen in den zweiten Zustand (6) versetzt wird, indem die Einstrahlung von Anregungsstrahlung (A) mit einer Anregungsstrahlungsverteilung erfolgt, die zumindest ein örtliches Leistungsmaximum über dem Schwellwert (19) aufweist, das Bild der lumineszierenden Probe (24) Proben-Bereiche im ersten Zustand (5) und Proben-Bereiche im zweiten Zustand (6) umfaßt, wodurch das Bild eine gegenüber der Anregungsstrahlungsverteilung gesteigerte Ortsauflösung hat. Es wird weiter bereitgestellt ein Laser-Scanning-Mikroskop mit einem Strahlteiler (113), über den von einer Beleuchtungsstrahlquelle (105) abgegebene Beleuchtungsstrahlung in einem Beleuchtungsstrahlengang (B) auf eine Probe (103) gerichtet ist, wobei der Strahlteiler (113) an der Probe (103) spiegelnd reflektierte Beleuchtungsstrahlung nicht zu einer Detektoreinrichtung (104) passieren läßt und dazu in einer Pupille des Beleuchtungsstrahlenganges (B) angeordnet sowie teilverspiegelt ist, indem er eine Strahlteilerfläche (122) aufweist, die zumindest an drei Punkten (123a-d) für die Beleuchtungsstrahlung verspiegelt ist, welche auf der Strahlteilerfläche (122) auf einem Kreis um den Durchstoßpunkt (125) der optischen Achse (OA) liegen, wodurch in der Probe (103) ein Interferenzmuster (128) in Form periodisch über die Probe (113) verteilter Beleuchtungsflecke (126) entsteht.
    • 它是一个发光显微镜中描述的方法,其中的样品(24)由激发辐射(A)到一定的发光辐射的发射(F)被激励时,其特征在于,从第一发光状态的发光试料(24)(5),其中, 兴奋性高达随激发辐射功率(18)的最大值被分配给一个激励辐射功率阈值(19)上升,在第二发光状态(6)是可转移,其中,所述样品(24)(相对于该第一状态 5)降低兴奋性,其中所述样品(24)由所述阈值(19)(在第二状态下6上方的激发辐射功率的辐射)可以带来的,在部分区域中的样品(24)(在第一状态5),并在 邻接的部分区域中,通过激发辐射照射放置在第二状态(6)(a)与具有至少一个本地升的激发辐射分布进行 eistungsmaximum高于阈值(19),所述发光试料的图像(24)在第一状态下的样品的区域(5)和在所述第二状态(6),由此,图像具有相对于所述激发辐射分布样品区域增加的空间分辨率。 本发明还提供用通过在照明光束路径(B)照射辐射到样品(103)的照明束源(105)经由所述传递的分束器(113)的激光扫描显微镜被引导,其中,在所述分束器(113) 样品(103)不能传递到检测器设备(104)镜面反射的照明辐射,并在设置在照明光束路径(B)的光瞳和通过光束分离器表面(122)部分地镜像,其中至少在三个点(123A-D) 被镜像的照明辐射,其中位于所述分束器表面(122)上围绕光轴(OA)的交叉点(125)的圆上,从而干涉图案(128)周期性地(在表格中样品(103)在试样113上的 )分布式照明斑点(126)形成。