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1. 发明申请

WO2011085766A1 HOCHAUFLÖSENDES MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUR ZWEI- ODER DREIDIMENSIONALEN POSITIONSBESTIMMUNG VON OBJEKTEN 审中-公开
标题翻译：高分辨率显微镜AND METHOD FOR TWO或三维定位对象
公开(公告)号：WO2011085766A1
公开(公告)日：2011-07-21
申请号：PCT/EP2010/007595
申请日：2010-12-14
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , KALKBRENNER, Thomas , WOLLESCHENSKY, Ralf
发明人： KALKBRENNER, Thomas , WOLLESCHENSKY, Ralf
IPC分类号： G01N21/64
CPC分类号： G01N21/6458 , G01N21/6428 , G02B21/16 , G02B21/361 , G02B21/367 , G02B27/58
摘要： Hochauflösendes Mikroskop - und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten, mit mindestens einem der folgenden Verfahrensschritte a) - o) : a) mittels anamorphotischen Optik, vorzugsweise einer Zylinderlinse in der Abbildung wird über die Orientierung und Form abgebildeter Teilchen oder Moleküle ihre vertikale (Z) Position ermittelt, b) im Detektionsstrahlengang erfolgt eine Aufspaltung in mindestens zwei Detektions-Teilstrahlengänge mit unterschiedlicher optischer Weglänge die auf einem Detektor versetzt detektiert werden, c) eine Aktivierung oder Umschaltung erfolgt durch einen Mehrphotonen-Anregungsprozeß, vorzugsweise eine Zweiphotonenanregung, d) es erfolgt eine punktscannende Aktivierung oder Umschaltung, e) es erfolgt eine linienscannende Aktivierung oder Umschaltung, f) die Anregung der Probe und Detektion des Probenlichtes erfolgt im Weitfeldmodus, g) manuell oder automatisch vorbestimmte Probenregionen werden aktiviert oder umgeschaltet, h) die Aktivierung oder Umschaltung erfolgt durch AOTF oder SLM oder DMD, i) über ein spektral aufspaltendes Element, vorzugsweise ein Gitter werden Laserpulse zum Aktivieren oder Schalten spektral aufgespaltet, j) ein SLM oder DMD im Strahlengang nach dem Gitter nimmt eine gesteuerte Auswahl aufgespalteter Laserpulsanteile vor k) die Laserweitfeldanregung wird durch SLM oder DMD geführt, l) es werden ROI durch SLM oder DMD selektiert, m) eine Mehrphotonenschaltung oder Aktivierung erfolgt über ein Mikrolinsenarray, vorzugsweise ein Zylinderlinsenarray, n) Schalten und/oder Anregung erfolgt durch einen Linienscanner o) eine Liniendetektion erfolgt über einen ortsaufgelösten Sensor, wobei über eine Spaltblendenstellung mit mindestens zwei Sensorreihen, jeweils aus mehreren Sensoren bestehend, mit Probenlicht beleuchtet werden.
摘要翻译：高分辨率显微镜 - 和方法，用于对象的二维或三维位置确定，用下列过程中的至少一个步骤a） - O）：a）通过变形光学系统的方法，最好是在图中的柱面透镜是成像颗粒的取向和形状或分子其垂直（Z）来确定在检测光束路径的位置，b）中，执行一个分割成具有不同光路长度的至少两个检测光束路径检测出的偏移至一个检测器，c）中的活化或切换由多光子激发过程发生，最好是双光子激发，D）有一个点扫描激活或开关，E）存在下进行行扫描激活或开关，F）试样的光的样品和检测的激发在宽视野模式下被执行，克）手动或自动地预先确定的样本区域被激活或接通， h）上的激活或切换由AOTF或SLM或DMD，ⅰ）一个频谱分割元件，优选的光栅将被用于在光路激活或光谱切换，j）的一个SLM或DMD增大分裂激光脉冲光栅具有受控的选择之后向上spalteter ķ之前激光脉冲分量）由SLM或DMD，L）执行激光远场激励由SLM或DMD，米）多光子电路所选择的ROI或经由微透镜阵列，优选为柱面透镜阵列，n）的切换和/或激励激活由行扫描仪进行 O）A线检测上方空间分辨传感器进行，包括具有至少两行的传感器，每一个多个传感器中的由具有光样本被照射的缝隙位置。

2. 发明申请

WO2012143164A1 WEITFELDMIKROSKOP UND VERFAHREN ZUR WEITFELDMIKROSKOPIE 审中-公开
标题翻译：宽视场显微镜和方法宽观察
公开(公告)号：WO2012143164A1
公开(公告)日：2012-10-26
申请号：PCT/EP2012/053726
申请日：2012-03-05
申请人： CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH , KALKBRENNER, Thomas , WOLLESCHENSKY, Ralf , KLEPPE, Ingo
发明人： KALKBRENNER, Thomas , WOLLESCHENSKY, Ralf , KLEPPE, Ingo
IPC分类号： G01N21/64 , G02B21/00 , G02B21/36 , G02B21/16
CPC分类号： G02B21/365 , G01N21/6408 , G01N21/6458 , G02B21/16 , G02B21/361 , G02B21/367 , G02B27/58 , H04N5/372
摘要： Bei einem Verfahren zur Weitfeldmikroskopie, insbesondere zur hochauflösenden PAL-Mikroskopie, wobei ein Probenfeld auf eine Detektorfläche (13) eines Detektors (D) abgebildet wird, ist vorgesehen, daß das Probenfeld in ein Bildfeld (15) abgebildet wird, das kleiner ist als die Detektorfläche (13), und das Bildfeld (15) auf der Detektorfläche (13) verschoben wird, so daß dasselbe Probenfeld bei verschiedenen, nebeneinander liegenden Lagen (15.1 -15.9) des Bildfeldes abgebildet wird, um Informationen über Veränderungen im Probenfeld zu ermitteln.
摘要翻译：在用于宽视场显微镜的方法，特别是用于高清晰度PAL显微镜，与样品字段到检测器（D）的检测器表面（13）进行成像时，它提供了在图象场的样本场（15）被成像，这是比小检测器表面（13）和所述检测器表面（13）在框架（15）被移动，以使相同的样品区域在图像场的不同的相邻的层（15.1 -15.9）成像，以获取有关试样的变化的信息。

3. 发明申请

WO2011116901A3 MICROSCOPE AND METHOD FOR DETECTING SAMPLE LIGHT 审中-公开
标题翻译：显微镜和检测方法的样本LIGHT
公开(公告)号：WO2011116901A3
公开(公告)日：2012-03-08
申请号：PCT/EP2011001320
申请日：2011-03-17
申请人： ZEISS CARL MICROIMAGING GMBH , KALKBRENNER THOMAS , WOLLESCHENSKY RALF
发明人： KALKBRENNER THOMAS , WOLLESCHENSKY RALF
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0056 , G02B21/0032 , G02B21/0076 , G02B26/06
摘要： The invention relates to a microscope and method for detecting sample light, having at least one illuminating beam which is partially phase-modulated with a modulation frequency along the cross-section thereof and a microscope objective for intensity-modulated focusing of the illuminating beam into a sample and also having a detection beam path having at least one demodulator. Advantageously at least one electro-optic modulator (EOM) is used for phase modulation of at least a part, preferably half of the illuminating beam, or different portions or halves of the illuminating beam are modulated differently, preferably anti-phase, by anti-phase control of piezoelectric elements, or acousto-optic modulators are provided for subdivision into a plurality of partial beam paths and optic elements are provided for partial phase modulation of the excitation beam. Also actuating elements are advantageously provided for setting the phase difference or at least one optic modulator, preferably an acousto-optic modulator (AOM), is used for demodulation in the detection or a change to the mode of operation of the detectors for demodulation takes place or in the case of foci distribution, produced for example by a rotating micro-lens disc or multisport generation the individual foci are subjected to an intensity modulation, either by arranging a half-space phase mask in a pupil plane of the objective or by individually manipulating each partial beam by means of the partial phase modulation of said partial beam with a modulation frequency along the cross-section thereof or by manipulating a beam by means of the partial phase modulation of said beam with a modulation frequency along the cross-section thereof and subsequent subdivision of said beam.
摘要翻译：显微镜和方法，用于检测样品的光的，随着调制频率和显微镜物镜的照明光束的强度调制聚焦到样品，并用至少一个解调器检测光束路径的横截面具有至少一个照明光束，其是部分地调相的，其中，有利的是至少一个电光调制器（EOM）相位调制的至少一部分，优选地，照明光束的一半被使用，或光束的不同部分 - 或照明光束半部的不同由压电元件的反相位驱动，优选地在相反的相位，对于划分成设置有多个光路和用于激发光束的局部相位调制的光学元件被调制或声光调制器提供了用于调整相位差和有利地调节元件，或丝毫 NS，光调制器，优选一个声光调制器（AOM）用于解调在检测或存在检测器，用于解调或者Fokiverteilung的操作的改变，例如，通过旋转微透镜盘或一个多点生成单元生成在所述Einzelfoki一个Intentsitätsmodulation印迹，或者通过由被部分地相伴随的调制频率其横截面和它的随后的除法调制通过被部分地相伴随的调制频率或修改光束的横截面调制布置在透镜的光瞳平面或由每个部分光束的个体影响的半空间相位掩模。

4. 发明申请

WO2012041502A1 LASER SCANNING MICROSCOPE WITH SWITCHABLE OPERATING MODE 审中-公开
标题翻译：可逆操作激光扫描显微镜观察
公开(公告)号：WO2012041502A1
公开(公告)日：2012-04-05
申请号：PCT/EP2011004873
申请日：2011-09-29
申请人： ZEISS CARL MICROIMAGING GMBH , ANHUT TIEMO , KALKBRENNER THOMAS , SCHWEDT DANIEL
发明人： ANHUT TIEMO , KALKBRENNER THOMAS , SCHWEDT DANIEL
IPC分类号： G02B27/28 , G02B21/00
CPC分类号： G02B21/06 , G02B21/0032 , G02B21/0076 , G02B21/008 , G02B27/283 , G02F1/0136
摘要： A laser scanning microscope, which is switchable between different operating modes, wherein it contains, for switching in the illumination beam path, an electro-optical modulator (EOM) in a first beam path, which electro-optical modulator has arranged, upstream and downstream of it, adjustable first and second polarization-rotating elements and, downstream of it, at least one first polarization splitter for producing a second beam path, in which light-influencing means are located, wherein one or more of the following operating modes of the LSM can be set: - Single spot LSM - multispot LSM - single spot FMM - multispot FMM - FRAP system.
摘要翻译：激光扫描 - 显微镜，可以不同的操作模式之间进行切换，其特征在于，它包含用于切换照明光束路径在第一光束路径中的电光调制器（EOM），上游至可调节的第一和第二偏振旋转元件，并且下游和至少一个第一偏振分束器用于布置产生第二光束路径被布置的下游，在影响装置的光的位置，其中所述LSM的以下操作模式的一个或多个进行设置： - 单点LSM - 多点LSM - 单点FMM - 多点FMM - FRAP系统

5. 发明申请

WO2011085765A1 HOCHAUFLÖSENDES MIKROSKOP UND BILDTEILERANORDNUNG 审中-公开
标题翻译：高分辨率显微镜和图像组件
公开(公告)号：WO2011085765A1
公开(公告)日：2011-07-21
申请号：PCT/EP2010/007594
申请日：2010-12-14
申请人： CARL ZEISS MICROLMAGING GMBH , KALKBRENNER, Thomas , GOELLES, Michael
发明人： KALKBRENNER, Thomas , GOELLES, Michael
IPC分类号： G02B21/18 , G02B27/14 , G02B17/02
CPC分类号： G02B21/361 , G01N21/6458 , G02B7/38 , G02B17/023 , G02B21/0032 , G02B21/0072 , G02B21/0076 , G02B21/0088 , G02B21/16 , G02B21/18 , G02B21/245 , G02B21/367 , G02B27/106 , G02B27/1066 , G02B27/141 , G02B27/144 , G02B27/145 , G02B27/58
摘要： Mikroskop mit einem Beleuchtungsstrahlengang mit einer Weitfeldbeleuchtung einer Probe und einem ersten Detektionsstrahlengang mit einem ortsaufgelösten Flächenempfänger, auf den ein erster Teil des von der Probe kommenden Detektionslichtes über den ersten Detektionsstrahlengang gelangt oder Bildteileranordnung für ein Mikroskop, wobei zur Verlängerung der optischen Weglänge mindestens ein zweiter Teil des von der Probe kommenden Detektionslichtes aus dem Detektionsstrahlengang ausgeblendet ist und über Umlenkmittel zum Detektionsstrahlengang mindestens in einem zweiten Detektionsstrahlengang geführt ist und vorzugsweise über weitere Umlenkmittel in Richtung der Detektion so zurückgelenkt wird, dass auf dem Flächenempfänger nebeneinander mindestens zwei Teilgebiete mit Detektionslicht beaufschlagt sind, wobei mindestens der zweite Teil des Detektionslichtes zumindest teilweise zur Verlängerung der optischen Weglänge in einem optischen Element mit gegenüber dem ersten Detektionsstrahlengang erhöhter optischer Dichte verläuft und das optische Element in einem Winkel, vorzugsweise senkrecht zur optischen Achse des ersten Detektionsstrahlengangs zur Verstellung der optischen Weglänge verschiebbar ausgebildet ist und zumindest an seiner Lichteintritts- und Lichtaustrittsseite ebene Flächen aufweist und vorzugsweise mindestens im zweiten Detektionsstrahlengang nach einer ersten Strahlumlenkung ein Prisma, bevorzugt ein Glasprisma zur Umlenkung in eine zum ersten Detektionsstrahlengang parallele Richtung zur Erhöhung der Weglänge und zur Rückumlenkung vorgesehen ist.
摘要翻译：
显微镜用具有样品的宽视场照明，并用空间分辨＆OUML第一检测光束路径的照明光束路径;斯登FL＆AUML; chenempf歌手，在光从样品检测光来在第一检测光束穿过的第一部分或用于导航使用图像分割器装置R的显微镜，其中，用于VERL＆AUML; ngerung的光路长度及AUML;从所述检测光路中的样本的检测光的光的至少一个第二部分的长度被隐藏并在偏转装置，用于在第二检测光束路径实测值导航使用至少检测光束路径是HRT和优选的是超过在检测作为用于导航的使用方向多个偏转是ckgelenkt，关于FL BEAR chenempf BEAR至少两个子区域暴露给检测光手指彼此相邻，其中，至少所述检测光的第二部分至少部分地VERL＆AUML; ngerung的OPTIS 在防止过的光学元件陈Wegl BEAR长度，所述第一检测光束路径ERH＆OUML; HTER光密度VERL＆AUML; UFT和以一个角度的光学元件，优选地垂直于用于调节光路长度BEAR长度在第一检测光束路径的光轴被设计为可移动和平面至少在其光入射和光出射侧FL＆AUML; Chen和优选至少在由第一光束偏转器，棱镜，优选玻璃棱镜用于在平行于朝向玉儿＆oUML第一检测光束路偏转所述第二检测光束路径;悬挂在Wegl BEAR长度和R导航用途ckumlenkung 是有意的。

6. 发明申请

WO2012065910A1 TIEFENAUFLÖSUNGSGESTEIGERTE MIKROSKOPIE 审中-公开
标题翻译： LOW分辨率提高观察
公开(公告)号：WO2012065910A1
公开(公告)日：2012-05-24
申请号：PCT/EP2011/069918
申请日：2011-11-11
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , KALKBRENNER, Thomas , LIPPERT, Helmut , KLEPPE, Ingo
发明人： KALKBRENNER, Thomas , LIPPERT, Helmut , KLEPPE, Ingo
IPC分类号： G01N21/64 , G01N21/00
CPC分类号： G01N21/6447 , G01N21/64 , G01N21/6428 , G01N21/6458 , G02B21/0076 , G02B21/16 , G02B21/367 , G02B27/58
摘要： Beschrieben wird ein Verfahren zur hochauflösenden Lumineszenzmikroskopie einer Probe, die mit Markierungsmolekülen markiert ist, welche derart aktivierbar sind, daß sie erst aktiviert zur Abgabe bestimmter Lumineszenzstrahlung anregbar sind, wobei das Verfahren folgende Schritte aufweist: a) wiederholtes Aktivieren und Anregen einer Teilmenge der in der Probe vorhandenen Markierungsmoleküle zur Abgabe von Lumineszenzstrahlung, wobei in der Probe mindestens ein Teil der lumineszierenden Markierungsmoleküle zu den ihnen nächst benachbarten lumineszierende Markierungsmoleküle mindestens einen Abstand haben, der größer oder gleich einer Länge ist, welche sich aus einer vorbestimmten optischen Auflösung ergibt, b) wiederholtes Abbilden der Probe mit lumineszierenden Markierungsmolekülen längs einer Tiefenrichtung und mit der vorbestimmten optischen Auflösung und c) Erzeugen von Einzelbildern aus den Abbildungen aus Schritt b), wobei in den Einzelbildern die geometrischen Orte der lumineszierenden Markierungsmoleküle mit einer über die vorbestimmte optische Auflösung gesteigerten Ortsauflösung ermittelt werden, wobei zur Hochauflösung längs der Tiefenrichtung d) die Aktivierung und/oder Anregung in den Schritten a) mit einer Strahlung erfolgt, die in mindestens zwei Bereiche eingebracht wird, wobei - die Bereiche sich jeweils längs einer Ebene erstrecken, die im wesentlichen senkrecht zur Tiefenrichtung liegt, - die Bereiche in Tiefenrichtung eine vorbestimmte Ausdehnung haben und - die Bereiche so angeordnet sind, daß sie in Tiefenrichtung gesehen hintereinander liegen und sich nur teilweise überlappen, und e) in den Schritten b) getrennte Bilder der Probe bei Aktivierung und/oder Anregung jedes der mindestens zwei Bereiche aufgenommen werden, um aus den getrennten Bildern eine Tiefeninformation der lumineszierenden Markierungsmoleküle zu gewinnen.
摘要翻译：公开了一种用于样品，将其标记与标记分子，其被这样激活，它可以被激励用于递送某些发光辐射的只被激活的高分辨率的发光的方法，该方法包括以下步骤：a）重复激活和刺激的一个子集反复样品现有标记分子以发射发光辐射，其中，所述样品将它们在下一个相邻的发光标记分子具有发光标记分子的至少一个距离，该距离大于或等于一个长度，它从一个预定的光学分辨率结果中的至少一部分，b）中成像与发光标记沿深度方向，并在）预定的光学分辨率和c）产生来自步骤b的画面的图像帧，其中，在所述单个图像的位点的分子的样品确定了发光标记物分子具有增加超过预定的光学分辨率的空间分辨率，其中，用于沿着深度方向D高分辨率），激活和/或激发到辐射步骤a），其在至少两个区域引入，其特征在于， - 所述分别沿着平面延伸，其基本上垂直于深度方向的区域 - 在深度方向上的区域具有预定程度，以及 - 所述区域被布置为在彼此后面的深度方向可看出，仅延伸部分地重叠，以及e）在步骤b）中的每个的所述至少两个区域中的样品的单独的图像在激活和/或激励被接收，以获得从单独的图像的发光标记分子的深度信息。

7. 发明申请

WO2012041502A8 LASER-SCANNING-MIKROSKOP MIT UMSCHALTBARER BETRIEBSWEISE 审中-公开
公开(公告)号：WO2012041502A8
公开(公告)日：2012-04-05
申请号：PCT/EP2011/004873
申请日：2011-09-29
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , ANHUT, Tiemo , KALKBRENNER, Thomas , SCHWEDT, Daniel
发明人： ANHUT, Tiemo , KALKBRENNER, Thomas , SCHWEDT, Daniel
IPC分类号： G02B27/28 , G02B21/00
摘要： Laser-Scanning - Mikroskop, das zwischen verschiedenen Betriebsarten umschaltbar ist, wobei es zur Umschaltung im Beleuchtungsstrahlengang in einem ersten Strahlengang einen elektrooptischen Modulator (EOM) enthält, dem verstellbare erste und zweite polarisationsdrehende Elemente vor- und nachgeordnet sind und dem mindestens ein erster Polarisationsteiler zur Erzeugung eines zweiten Strahlengangs nachgeordnet ist, in dem sich lichtbeeinflussende Mittel befinden, wobei eine oder mehrere der folgenden Betriebsarten des LSM eingestellt werden: - Einzelspot-LSM - Multispot-LSM - Einzelspot-FMM - Multispot-FMM - FRAP-System.

8. 发明申请

WO2011116901A2 MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUR ERFASSUNG VON PROBENLICHT 审中-公开
标题翻译：显微镜和检测方法的样本LIGHT
公开(公告)号：WO2011116901A2
公开(公告)日：2011-09-29
申请号：PCT/EP2011/001320
申请日：2011-03-17
申请人： Carl Zeiss MicroImaging GmbH , KALKBRENNER, Thomas , WOLLESCHENSKY, Ralf
发明人： KALKBRENNER, Thomas , WOLLESCHENSKY, Ralf
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0056 , G02B21/0032 , G02B21/0076 , G02B26/06
摘要： Mikroskop und Verfahren zur Erfassung von Probenlicht, mit mindestens einem Beleuchtungsstrahl, der entlang seines Querschnitts teilweise mit einer Modulationsfrequenz phasenmoduliert wird und einem Mikroskopobjektiv zur intensitätsmodulierten Fokussierung des Beleuchtungsstrahls in eine Probe sowie einem Detektionsstrahlengang mit mindestens einem Demodulator wobei vorteilhaft mindestens ein elektrooptischer Modulator (EOM) zur Phasenmodulation mindestens eines Teils, vorzugsweise der Hälfte des Beleuchtungsstrahls eingesetzt wird oder unterschiedliche Strahlabschnitte - oder hälften des Beleuchtungsstrahls durch gegenphasige Ansteuerung von Piezoelementen unterschiedlich, vorzugsweise gegenphasig, moduliert werden oder akustooptische Modulatoren zur Aufteilung in mehrere Teilstrahlengänge sowie optischen Elemente zur teilweisen Phasenmodulation des Anregungsstrahls vorgesehen sind sowie vorteilhaft Stellelemente zur Einstellung des Phasenunterschieds vorgesehen sind oder mindestens ein optischer Modulator, vorzugsweise ein akustooptischer Modulator (AOM), zur Demodulation in der Detektion eingesetzt wird oder eine Änderung der Betriebsweise der Detektoren zur Demodulation erfolgt oder bei einer Fokiverteilung, beispielsweise erzeugt durch eine rotierende Mikrolinsenscheibe oder einer Multispoterzeugung wird den Einzelfoki eine Intentsitätsmodulation aufgeprägt, entweder durch Anordnung einer Halbraumphasenmaske in einer Pupillenebene des Objektives oder durch Einzelbeeinflussung jedes Teilstrahles indem er entlang seines Querschnitts teilweise mit einer Modulationsfrequenz phasenmoduliert wird oder Beeinflussung eines Strahls indem er entlang seines Querschnitts teilweise mit einer Modulationsfrequenz phasenmoduliert wird und seiner nachfolgender Aufteilung.
摘要翻译：显微镜和方法，用于检测样品的光的，随着调制频率和显微镜物镜的照明光束的强度调制聚焦到样品，并用至少一个解调器检测光束路径的横截面具有至少一个照明光束，其是部分地调相的，其中，有利的是至少一个电光调制器（EOM）相位调制的至少一部分，优选地，照明光束的一半被使用，或光束的不同部分 - 或照明光束半部的不同由压电元件的反相位驱动，优选地在相反的相位，对于划分成设置有多个光路和用于激发光束的局部相位调制的光学元件被调制或声光调制器提供了用于调整相位差和有利地调节元件，或丝毫 NS，光调制器，优选一个声光调制器（AOM）用于解调在检测或存在检测器，用于解调或者Fokiverteilung的操作的改变，例如，通过旋转微透镜盘或一个多点生成单元生成在所述Einzelfoki一个Intentsitätsmodulation印迹，或者通过由被部分地相伴随的调制频率其横截面和它的随后的除法调制通过被部分地相伴随的调制频率或修改光束的横截面调制布置在透镜的光瞳平面或由每个部分光束的个体影响的半空间相位掩模。

9. 发明申请

WO2011085765A8 HIGH RESOLUTION MICROSCOPE AND IMAGE DIVIDER ASSEMBLY 审中-公开
标题翻译：高分辨率显微镜和图像分割器安排
公开(公告)号：WO2011085765A8
公开(公告)日：2011-09-29
申请号：PCT/EP2010007594
申请日：2010-12-14
申请人： ZEISS CARL MICROIMAGING GMBH , KALKBRENNER THOMAS , GOELLES MICHAEL
发明人： KALKBRENNER THOMAS , GOELLES MICHAEL
IPC分类号： G02B21/18 , G02B17/02 , G02B27/14
CPC分类号： G02B21/361 , G01N21/6458 , G02B7/38 , G02B17/023 , G02B21/0032 , G02B21/0072 , G02B21/0076 , G02B21/0088 , G02B21/16 , G02B21/18 , G02B21/245 , G02B21/367 , G02B27/106 , G02B27/1066 , G02B27/141 , G02B27/144 , G02B27/145 , G02B27/58
摘要： The invention relates to a microscope having an illumination beam path with wide field illumination of a sample and a first detection beam path having a spatially resolved surface receiver, which is reached by a first part of the detection light coming from the sample via the first detection beam path, or an image divider assembly for a microscope. In order to lengthen the optical path length, at least a second part of the detection light coming from the sample is masked out of the detection beam path and, via deflection means belonging to the detection beam path, is led into a second detection beam path and, preferably via further deflection means, is deflected back in the direction of the detection in such a way that detection light is applied to at least two partial regions beside one another on the surface receiver. At least the second part of the detection light runs in an optical element having an optical density that is increased as compared with the first detection beam path, in order to lengthen the optical path length, and the optical element is designed to be displaceable at an angle, preferably perpendicular, to the optical axis of the first detection beam path in order to adjust the optical path length, and has flat surfaces, at least on the light entry and light exit side thereof; a prism is provided, preferably a glass prism, preferably at least in the second detection beam path after a first beam deflection, for deflection in a direction parallel to the first detection beam path, in order to increase the path length and for reverse deflection.
摘要翻译：显微镜用具有样品的宽视场照明，并用为在经由所述第一检测光束路径从所述样品检测光的光的第一部分经过或图像分割器装置，用于在显微镜空间分辨表面接收器的第一检测光束路径的照明光束的路径，其中对于至少一个第二部分的光路长度的延长从检测光路中的样本的检测光的光线被隐藏和被引导越过偏转装置，用于至少在第二检测光束路径检测光束路径，并且优选地引导返回通过进一步偏转装置在检测的方向，使得彼此相邻的至少两个子区域被暴露给检测光接收器的表面上，至少至少部分地延伸在光学元件的光路长度相对于所述第一德的检测光的第二部分延伸根据第一光束偏转tektionsstrahlengang至少在所述第二检测光束路径增加的光密度和以一个角度的光学元件，最好是垂直形成在第一检测光束路径的光轴为它的光入射和光出射侧调节光程长度，并具有至少平坦表面，并且优选地棱镜，优选玻璃棱镜用于在平行偏转到第一检测光束路径方向上增加的路径长度，并且设置到后偏转。

10. 发明申请

WO2011038810A1 VERFAHREN UND MIKROSKOP ZUR DREIDIMENSIONAL AUFLÖSUNGSGESTEIGERTEN MIKROSKOPIE 审中-公开
标题翻译：方法和显微镜的三维分辨率提高观察
公开(公告)号：WO2011038810A1
公开(公告)日：2011-04-07
申请号：PCT/EP2010/005247
申请日：2010-08-26
申请人： CARL ZEISS MICROIMAGING GMBH , KALKBRENNER, Thomas , WOLLESCHENSKY, Ralf
发明人： KALKBRENNER, Thomas , WOLLESCHENSKY, Ralf
IPC分类号： G02B21/16 , G01N21/64
CPC分类号： G02B21/16 , G01N21/6458 , G02B21/361 , G02B21/367 , G02B27/58
摘要： Hochauflösendes Mikroskop zur dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten, insbesondere einzelner Fluorophore, vorzugsweise zur räumlich hochauflösenden Lumineszenzmikroskopie einer Probe, die mit Markierungsmolekülen markiert ist, welche mit einem Signal derart aktivierbar oder umschaltbar sind, dass sie erst im aktivierten Zustand zur Abgabe bestimmter Lumineszenzstrahlung anregbar sind, wobei das Objekt über ein Abbildungssystem, vorzugsweise dem Mikroskopobjektiv auf einen einem aus einzelnen Detektorelementen bestehenden Flächendetektor abgebildet wird, wobei sich mindestens eine Mikrolinsenanordnung, vor den Detektorelementen befindet und unterschiedliche, vorzugsweise benachbarte Detektorelemente Licht von Mikrolinsen mit unterschiedlichen Brennweiten und aus unterschiedlichen Objektebenen erhalten oder wobei durch mindestens eine Mikrolinsenanordnung, die sich teilweise vor den Detektorelementen befindet, eine andere Objektebene auf die Detektorelemente in Lichtrichtung hinter den Mikrolinsen abgebildet wird als auf Detektorelemente, vor denen sich keine Mikrolinsen befinden.
摘要翻译：高分辨率显微镜对三维位置确定的对象，特别是单荧光团，优选为一个示例，它标记有标记分子，它们被连接到一个信号，例如活化的或可切换的，因为它只能在某些发光辐射的递送激活状态被激发的高空间分辨率的发光，其特征在于其中，至少一个微透镜阵列是在检测器元件和不同的，优选相邻的检测器元件的前部接收与不同的焦距和不同物平面或微透镜的光，其特征在于通过成像系统中的对象，优选显微镜物镜被成像在一个包括单独的检测器元件面对检测器通过至少一个微透镜阵列，其被部分地位于检测器元件的前部，一个不同的对象平面上在Lichtric检测器元件 PLA为微透镜比面对没有微透镜的检测器元件的后面显示。

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