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    • 6. 发明申请
    • LEUCHTDIODENCHIP
    • LEDS CHIP
    • WO2011107344A1
    • 2011-09-09
    • PCT/EP2011/052233
    • 2011-02-15
    • OSRAM Opto Semiconductors GmbHMAUTE, MarkusENGL, KarlBRÜNINGHOFF, StefanieGMEINWIESER, NikolausEIBL, Johann
    • MAUTE, MarkusENGL, KarlBRÜNINGHOFF, StefanieGMEINWIESER, NikolausEIBL, Johann
    • H01L33/40H01L33/46
    • H01L33/60H01L33/20H01L33/382H01L33/405H01L33/46H01L33/54H01L2924/0002H01L2924/00
    • Es wird ein Leuchtdiodenchip mit einer Halbleiterschichtenfolge (2) angegeben, die eine zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung geeignete aktive Schicht (3) aufweist, wobei der Leuchtdiodenchip (1) an einer Vorderseite eine Strahlungsaustrittsfläche (4) aufweist. Der Leuchtdiodenchip (1) weist an einer der Strahlungsaustrittsfläche (4) gegenüberliegenden Rückseite zumindest bereichsweise eine Spiegelschicht (5) auf, die Silber enthält. Eine funktionelle Schicht (6) zur Verminderung der Korrosion und/oder Verbesserung der Haftung der Spiegelschicht (5) ist auf der Spiegelschicht (5) angeordnet, wobei ein Material, aus dem die funktionelle Schicht (6) gebildet ist, in der gesamten Spiegelschicht (5) verteilt ist. Das Material der funktionellen Schicht (6) weist in der Spiegelschicht (5) einen Konzentrationsgradienten auf, wobei die Konzentration des Materials der funktionellen Schicht (6) in der Spiegelschicht (5) ausgehend von der funktionellen Schicht (6) in Richtung zur Halbleiterschichtenfolge (2) hin abnimmt.
    • 它是一种具有(2)所示的半导体层序列,其具有适合于产生电磁辐射活性层(3)发光二极管芯片,其特征在于,上辐射出射表面的前侧上的LED芯片(1)(4)。 的发光二极管芯片(1)具有在至少的区域中的辐射出射表面(4)相对的后侧中的一个,反射镜层(5)含有银。 用于减小反射镜层中的腐蚀和/或改善的(5)被布置在反射层(5)上,的粘附性的功能层(6),其特征在于其中的形成所述功能层(6)的材料(在整个镜面层 5)是分布式的。 镜中的层(5)(6)的功能层的材料具有浓度梯度,其中,所述功能层(6)的材料在反射镜层中的浓度(5),从功能层开始(6)(在所述半导体层序列2的方向 )向下降。
    • 7. 发明申请
    • LEUCHTDIODENCHIP
    • LEDS CHIP
    • WO2011012446A1
    • 2011-02-03
    • PCT/EP2010/060077
    • 2010-07-13
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBHMAUTE, MarkusALBRECHT, TonyKASPRZAK-ZABLOCKA, Anna
    • MAUTE, MarkusALBRECHT, TonyKASPRZAK-ZABLOCKA, Anna
    • H01L33/00H01L33/20H01L33/44
    • H01L33/20H01L33/405H01L33/44H01L2933/0025
    • Es wird ein Leuchtdiodenchip angegeben, umfassend - einen Halbleiterkörper (1), der einen ersten (1A) und einen zweiten Bereich (1B) aufweist; - eine aktive Zone (2) innerhalb des Halbleiterkörpers (1), die im Betrieb des Leuchtdiodenchips (100) elektromagnetische Strahlung durch eine Strahlungsauskoppelfläche (11) emittiert, die zumindest stellenweise durch eine erste Hauptfläche (111) des Halbleiterkörpers (1) gebildet ist; - zumindest einen Graben (3) in dem Halbleiterkörper (1), wobei im Bereich des Grabens Teile des Halbleiterkörpers (1) entfernt sind, wobei - der zumindest eine Graben (3) zumindest bis zur aktiven Zone (2) reicht, - der zumindest eine Graben (3) den ersten Bereich (1A) in lateraler Richtung vollständig umgibt, und - der zweite Bereich (1B) den zumindest einen Graben (3) und den ersten Bereich (1A) in lateraler Richtung vollständig umgibt.
    • 它是指定的发光二极管芯片,包括: - 一个半导体主体(1),具有第一(1A)和第二区域(1B); - 通过辐射在电磁辐射的LED芯片(100)的操作发出所述半导体主体(1)内的活性区域(2),其通过所述半导体主体(1)的第一主表面(111)形成至少局部地(11); - 至少一个沟槽(3)在半导体本体(1)与半导体本体的部分(1)的在沟槽的区域中除去, - 所述至少一个沟槽(3),至少直到所述有源区(2)延伸, - 至少 的沟槽(3)完全包围在横向方向上的第一区域(1A),以及 - 第二部分(1B)完全包围所述至少一个沟槽(3)和在横向方向上的第一区域(1A)。
    • 8. 发明申请
    • VERFAHREN ZUM HERSTELLEN EINER MEHRZAHL VON OPTOELEKTRONISCHEN HALBLEITERCHIPS
    • 方法制造光电子半导体芯片的多个
    • WO2012171817A2
    • 2012-12-20
    • PCT/EP2012/060393
    • 2012-06-01
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBHREUFER, MartinMAUTE, MarkusALBRECHT, Tony
    • REUFER, MartinMAUTE, MarkusALBRECHT, Tony
    • H01L33/00
    • H01L33/24H01L33/0062H01L33/007H01L33/0095H01L33/22H01L33/32H01L33/44
    • Es wird ein Verfahren zum Herstellen einer Mehrzahl von optoelektronischen Halbleiterchips angegeben, das zumindest die folgenden Verfahrensschritte umfasst: - Bereitstellen zumindest eines Halbleiterkörpers (1); - Einbringen von zumindest einem Graben (2) mittels zumindest eines Strukturierungsprozesses (3) in den Halbleiterkörper (1), wobei - der Graben (2) in einer vertikalen Richtung (V) die aktive Zone (12) durchbricht; - Anwendung zumindest eines Reinigungsprozesses (4) zumindest auf freiliegende Stellen des Halbleiterkörpers (1) im Bereich des Grabens (2), wobei - der Reinigungsprozess (4) zumindest einen Plasmareinigungsprozess (33) umfasst, und - der Plasmareinigungsprozess (44) eine Anzahl und/oder eine räumliche Ausdehnung von Strukturierungsrückständen (333) an freiliegenden Stellen des Halbleiterkörpers (1) zumindest im Bereich des Grabens (2) zumindest verringert; - Aufbringen zumindest einer Passivierungsschicht (5) zumindest auf freiliegende Stellen des Halbleiterkörpers (1) im Bereich des Grabens (2).
    • 一种用于制造多个给定光电半导体芯片的方法,包括至少以下步骤: - 提供至少一个半导体本体(1); - (2)通过在半导体本体的至少一个图案化工艺(3)的装置将至少一个沟槽(1),其中 - 所述槽(2)在垂直方向(V)突破了有源区(12); - 至少在至少一个清洁过程(4)的应用在半导体本体的暴露的部分(1)在所述沟槽的区域(2),其中 - 所述清洁工艺(4)包括至少一个等离子清洁工艺(33),以及 - 所述等离子清洁工艺(44)包括一个数字和 /或在半导体本体(1)至少在所述沟槽的区域(2)被至少减少外露部分结构化残留物(333)的空间范围; - 在所述沟槽的区域上的半导体主体(1)的外露部分施加至少至少一个钝化层(5)(2)。