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1. 发明申请

WO2009058197A1 TESTING OF ANALOG TO DIGITAL CONVERTERS 审中-公开
标题翻译：模拟数字转换器的测试
公开(公告)号：WO2009058197A1
公开(公告)日：2009-05-07
申请号：PCT/US2008/011888
申请日：2008-10-17
申请人： EAGLE TEST SYSTEMS, INC. , ANDERSON, David , WEIMER, Jack
发明人： ANDERSON, David , WEIMER, Jack
IPC分类号： H03M1/10 , H03M3/00 , H03M1/12
CPC分类号： H03M1/109 , H03M1/12
摘要： Methods and apparatus, including computer program products, to test analog to digital converters, are disclosed. In general, data is received that characterizes a first digital code from a device under test at a first analog voltage of an analog signal generator and a second digital code being a digital code threshold, and a step size is generated for another test of the device by performing a calculation by a processor. The calculation may include multiplying a least significant bit size of the device with a difference of the first and second digital codes to generate a product, and dividing the product by a least significant bit size of the analog signal generator. The first digital code may be calculated from results from multiple subtests in the test, where each of the subtests includes multiple analog to digital conversions by the device at the first analog voltage.
摘要翻译：公开了用于测试模数转换器的方法和装置，包括计算机程序产品。通常，接收在模拟信号发生器的第一模拟电压下表征来自被测器件的第一数字代码的数据和作为数字代码阈值的第二数字代码，并且为器件的另一测试生成步长通过执行处理器的计算。计算可以包括将设备的最低有效位大小与第一和第二数字码的差值相乘以产生乘积，并且将乘积除以模拟信号发生器的最低有效位大小。可以根据测试中的多个子测试的结果来计算第一个数字代码，其中每个子测验包括该器件在第一个模拟电压下的多个模数转换。

2. 发明专利

TW200935750A 類比至數位轉換器之測試 TESTING OF ANALOG TO DIGITAL CONVERTERS 审中-公开
简体标题：模拟至数码转换器之测试 TESTING OF ANALOG TO DIGITAL CONVERTERS
公开(公告)号：TW200935750A
公开(公告)日：2009-08-16
申请号：TW097140665
申请日：2008-10-23
申请人：伊格測試系統股份有限公司 EAGLE TEST SYSTEMS, INC.
发明人：安德森大衛 ANDERSON, DAVID , 威門傑克 WEIMER, JACK
IPC分类号： H03M
CPC分类号： H03M1/109 , H03M1/12
摘要：揭示方法和設備,包括電腦程式產品,以測試類比至數位轉換器。通常,接收資料,該資料的特徵為:一第一數位碼,來自一類比信號產生器的在一第一類比電壓中之待測裝置,及一第二數位碼,是一數位碼臨界;以及藉由一處理器來執行一計算而為該裝置的另一測試產生一步進尺寸。該計算可包括以該第一和第二數位碼的一差乘上該裝置的一最低有效位元尺寸,以產生一乘積;及將該乘積除以該類比信號產生器的一最低有效位元尺寸。該第一數位碼係可從該測試中的多個子測試之結果來計算,其中該等子測試的每一個包括在該第一類比電壓之該裝置的多個類比至數位轉換。
简体摘要：揭示方法和设备,包括电脑进程产品,以测试模拟至数码转换器。通常,接收数据,该数据的特征为:一第一数码码,来自一模拟信号产生器的在一第一模拟电压中之待测设备,及一第二数码码,是一数码码临界;以及借由一处理器来运行一计算而为该设备的另一测试产生一步进尺寸。该计算可包括以该第一和第二数码码的一差乘上该设备的一最低有效比特尺寸,以产生一乘积;及将该乘积除以该模拟信号产生器的一最低有效比特尺寸。该第一数码码系可从该测试中的多个子测试之结果来计算,其中该等子测试的每一个包括在该第一模拟电压之该设备的多个模拟至数码转换。

3. 发明专利

TWI469531B 類比至數位轉換器之測試有权
简体标题：模拟至数码转换器之测试
公开(公告)号：TWI469531B
公开(公告)日：2015-01-11
申请号：TW097140665
申请日：2008-10-23
申请人：伊格測試系統股份有限公司 , EAGLE TEST SYSTEMS, INC.
发明人：安德森大衛 , ANDERSON, DAVID , 威門傑克 , WEIMER, JACK
IPC分类号： H03M1/10 , H03M1/12
CPC分类号： H03M1/109 , H03M1/12

4. 发明申请

US20030197521A1 Interface adapter for automatic test systems 有权
标题翻译：用于自动测试系统的接口适配器
公开(公告)号：US20030197521A1
公开(公告)日：2003-10-23
申请号：US10125725
申请日：2002-04-17
申请人： EAGLE TEST SYSTEMS INC.
发明人： Jack Edward Weimer
IPC分类号： G01R031/26
CPC分类号： G01R1/07378
摘要： A removable interface adapter includes a frame, a first set of contacts configured for connection to a first set of test head contacts in a test system, and a second set of contacts configured for connection to a test board having at least one device to be tested. The first and second adapter contacts are interconnected so that electronic devices placed in the test board can be tested by the test system. With this adapter, test boards made for one test system can be used on other test systems.
摘要翻译：可移动接口适配器包括框架，被配置为连接到测试系统中的第一组测试头触点的第一组触点和被配置用于连接到具有至少一个待测试设备的测试板的第二组触点。第一和第二适配器触点互连，使得放置在测试板中的电子设备可以通过测试系统进行测试。使用此适配器，为一个测试系统制成的测试板可用于其他测试系统。

5. 发明申请

US20030135343A1 Methods and apparatus for testing electronic devices 有权
标题翻译：用于测试电子设备的方法和装置
公开(公告)号：US20030135343A1
公开(公告)日：2003-07-17
申请号：US10047506
申请日：2002-01-15
申请人： EAGLE TEST SYSTEMS, INC.
发明人： Gordon M. Samuelson , Jack Edward Weimer
IPC分类号： G06F019/00 , G01R027/28 , G01R031/00 , G01R031/14
CPC分类号： G01R31/2841
摘要： Apparatus for testing an electronic device under a plurality of test conditions created during a test sequence includes an arbitrary waveform generator that sequentially generates the plurality of test conditions. The test conditions include selectively forcing voltage or forcing current over a wide range of amplitudes, measuring a plurality of results with various resolutions and at selected times during the test sequence, changing filter settings, gains and other parameters. The test conditions are selected and set under the control of a system clock using data stored in memory. A controller initiates the test sequence of the apparatus and determines whether measured results are within predetermined specifications. The controller uses processor-driven software, but the settings of the test apparatus are changed at predetermined times during the test sequence, without controller intervention. Several test apparatus are typically managed by one controller. Performing test sequences without controller intervention reduces the time required for testing.
摘要翻译：用于在测试序列期间产生的多个测试条件下测试电子设备的装置包括顺序产生多个测试条件的任意波形发生器。测试条件包括在宽范围的幅度上选择性地强制电压或强制电流，以各种分辨率测量多个结果，并且在测试序列期间的选定时间，改变滤波器设置，增益和其它参数。使用存储在存储器中的数据在系统时钟的控制下选择和设置测试条件。控制器启动设备的测试顺序，并确定测量结果是否在预定规格内。控制器使用处理器驱动的软件，但是在测试序列期间，测试设备的设置在预定的时间被改变，而无需控制器干预。一些测试装置通常由一个控制器管理。执行测试序列而无需控制器干预可以减少测试所需的时间。

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