会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 43. 发明申请
    • BAUELEMENT MIT VERGRÖßERTER AKTIVER ZONE UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG
    • WO2020070022A1
    • 2020-04-09
    • PCT/EP2019/076277
    • 2019-09-27
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
    • HÖPPEL, Lutz
    • H01L33/38H01L33/40H01L33/42
    • Es wird ein Bauelement (10) mit einem Halbleiterkörper (2), einer ersten Elektrode (3) und einer zweiten Elektrode (4) angegeben, wobei der Halbleiterkörper eine erste Halbleiterschicht (21), eine zweite Halbleiterschicht (22) und eine dazwischenliegende aktive Zone (23) aufweist. Die erste Elektrode ist zur elektrischen Kontaktierung der ersten Halbleiterschicht eingerichtet und weist einen ersten Verteilungssteg (30) zur gleichmäßigen Stromverteilung in der ersten Halbleiterschicht auf. Die zweite Elektrode ist zur elektrischen Kontaktierung der zweiten Halbleiterschicht eingerichtet und weist einen zweiten Verteilungssteg (40) zur gleichmäßigen Stromverteilung in der zweiten Halbleiterschicht auf. Der erste Verteilungssteg und der zweite Verteilungssteg sind bereichsweise übereinander auf derselben Seite des Halbleiterkörpers angeordnet, wobei sie in Draufsicht bereichsweise überlappen und den Halbleiterkörper nur stellenweise bedecken. Außerdem erstreckt sich der erste Verteilungssteg stellenweise durch die zweite Halbleiterschicht und die aktive Zone hindurch zur ersten Halbleiterschicht, wobei die aktive Zone in Überlappungsbereichen des Halbleiterkörpers mit dem ersten Verteilungssteg nur stellenweise entfernt ist.
    • 44. 发明申请
    • OPTOELEKTRONISCHER HALBLEITERCHIP
    • 光电子半导体芯片
    • WO2017036854A1
    • 2017-03-09
    • PCT/EP2016/069883
    • 2016-08-23
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
    • PERZLMAIER, KorbinianKASPRZAK-ZABLOCKA, AnnaHÖPPEL, Lutz
    • H01L33/62H01L33/48H01L33/64
    • H01L33/62H01L33/486H01L33/647
    • Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip (1) mit einem Halbleiterkörper (23) angegeben, der einen aktiven Bereich (39) aufweist, und einem Träger (3) mit einer ersten Trägerfläche (5), auf der der Halbleiterkörper angeordnet ist, und einer zweiten Trägerfläche (7) auf der vom Halbleiterkörper abgewandten Seite, wobei der Träger einen Verbundkörper (11, 13, 15) aufweist, der zumindest einen elektrisch leifähigen Leiterkörper (11, 13) und zumindest einen elektrisch isolierenden Formkörper (15) aufweist, wobei sich der Leiterkörper von der ersten Trägerfläche bis zur zweiten Trägerfläche erstreckt und elektrisch leitend mit dem aktiven Bereich verbunden ist, und wobei der Verbundkörper zugstabil ausgebildet ist.
    • 它是包括提供一种具有有源区(39)的半导体主体(23)和支撑的光电子半导体芯片(1)(3),其具有(5)在其上的半导体本体被布置在第一支撑面和第二支撑面 (7)具有上侧远离主体的半导体侧上,其中所述载体是具有至少一个电leifähigen导体主体(11,13)和至少一个电绝缘模制体(15)的复合体(11,13,15),所述导体本体 达所述第二支承表面从第一支承表面延伸,并电连接到有源区,并且其中所述复合体中形成zugstabil。
    • 47. 发明申请
    • VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG EINES OPTOELEKTRONISCHEN HALBLEITERCHIPS UND OPTOELEKTRONISCHER HALBLEITERCHIP
    • 方法用于制造光电子半导体芯片和光电子半导体芯片
    • WO2015176873A1
    • 2015-11-26
    • PCT/EP2015/058055
    • 2015-04-14
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
    • PERZLMAIER, KorbinianMUERMANN, BjörnKOPP, FabianHÖPPEL, Lutz
    • H01L33/42H01L33/00
    • H01L21/28575H01L29/452H01L33/0095H01L33/42H01L2933/0016
    • Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Halbleiterchips (1) mit den Schritten: - Bereitstellen einer Halbleiterschichtenfolge (2) mit einer aktiven Zone (22), - Aufbringen einer ersten und einer zweiten Kontaktschicht (31, 32) auf die Halbleiterschichtenfolge (2), - Aufbringen einer Kontaktmetallisierung (4) auf die zweite Kontaktschicht (31, 32) in einem ersten und in einem zweiten elektrischen Kontaktbereich (51, 52), wobei - die erste und die zweite Kontaktschicht (31, 32) je aus einem transparenten leitfähigen Oxid gebildet sind, - im ersten elektrischen Kontaktbereich (51) folgende Schichten aufeinander folgen: die Halbleiterschichtenfolge (2), die erste Kontaktschicht (31, 32), die zweite Kontaktschicht (31, 32), die Kontaktmetallisierung (4), und - im zweiten elektrischen Kontaktbereich (52) folgende Schichten aufeinander folgen: eine dotierte Halbleiterschicht (21) der Halbleiterschichtenfolge (2), die zweite Kontaktschicht (31, 32), die Kontaktmetallisierung (4).
    • 一种用于制造光电子半导体芯片(1)包括以下步骤的方法: - 提供半导体层序列(2)与活性区(22), - 在半导体层序列施加第一和第二接触层(31,32)(2), - 将 接触金属化物(4)在第一与第二接触层(31,32)上,并且在第二电接触区(51,52),其特征在于, - 所述第一和第二接触层(31,32)各自的透明导电氧化物形成 - 按照第一电接触区(51)下面的层依次为:半导体层序列(2),所述第一接触层(31,32),所述第二接触层(31,32),该接触金属化(4),以及 - 所述第二电接触区 随后(52)下面的层依次为:半导体层序列(2),所述第二接触层(31,32)的掺杂的半导体层(21),接触金属化物(4)。