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    • 43. 发明申请
    • HOCHAUFLÖSENDES MIKROSKOP UND VERFAHREN ZUR ZWEI- ODER DREIDIMENSIONALEN POSITIONSBESTIMMUNG VON OBJEKTEN
    • 高分辨率显微镜AND METHOD FOR TWO或三维定位对象
    • WO2011085766A1
    • 2011-07-21
    • PCT/EP2010/007595
    • 2010-12-14
    • CARL ZEISS MICROIMAGING GMBHKALKBRENNER, ThomasWOLLESCHENSKY, Ralf
    • KALKBRENNER, ThomasWOLLESCHENSKY, Ralf
    • G01N21/64
    • G01N21/6458G01N21/6428G02B21/16G02B21/361G02B21/367G02B27/58
    • Hochauflösendes Mikroskop - und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten, mit mindestens einem der folgenden Verfahrensschritte a) - o) : a) mittels anamorphotischen Optik, vorzugsweise einer Zylinderlinse in der Abbildung wird über die Orientierung und Form abgebildeter Teilchen oder Moleküle ihre vertikale (Z) Position ermittelt, b) im Detektionsstrahlengang erfolgt eine Aufspaltung in mindestens zwei Detektions-Teilstrahlengänge mit unterschiedlicher optischer Weglänge die auf einem Detektor versetzt detektiert werden, c) eine Aktivierung oder Umschaltung erfolgt durch einen Mehrphotonen-Anregungsprozeß, vorzugsweise eine Zweiphotonenanregung, d) es erfolgt eine punktscannende Aktivierung oder Umschaltung, e) es erfolgt eine linienscannende Aktivierung oder Umschaltung, f) die Anregung der Probe und Detektion des Probenlichtes erfolgt im Weitfeldmodus, g) manuell oder automatisch vorbestimmte Probenregionen werden aktiviert oder umgeschaltet, h) die Aktivierung oder Umschaltung erfolgt durch AOTF oder SLM oder DMD, i) über ein spektral aufspaltendes Element, vorzugsweise ein Gitter werden Laserpulse zum Aktivieren oder Schalten spektral aufgespaltet, j) ein SLM oder DMD im Strahlengang nach dem Gitter nimmt eine gesteuerte Auswahl aufgespalteter Laserpulsanteile vor k) die Laserweitfeldanregung wird durch SLM oder DMD geführt, l) es werden ROI durch SLM oder DMD selektiert, m) eine Mehrphotonenschaltung oder Aktivierung erfolgt über ein Mikrolinsenarray, vorzugsweise ein Zylinderlinsenarray, n) Schalten und/oder Anregung erfolgt durch einen Linienscanner o) eine Liniendetektion erfolgt über einen ortsaufgelösten Sensor, wobei über eine Spaltblendenstellung mit mindestens zwei Sensorreihen, jeweils aus mehreren Sensoren bestehend, mit Probenlicht beleuchtet werden.
    • 高分辨率显微镜 - 和方法,用于对象的二维或三维位置确定,用下列过程中的至少一个步骤a) - O):a)通过变形光学系统的方法,最好是在图中的柱面透镜是成像颗粒的取向和形状或分子其垂直 (Z)来确定在检测光束路径的位置,b)中,执行一个分割成具有不同光路长度的至少两个检测光束路径检测出的偏移至一个检测器,c)中的活化或切换由多光子激发过程发生,最好是双光子激发,D) 有一个点扫描激活或开关,E)存在下进行行扫描激活或开关,F)试样的光的样品和检测的激发在宽视野模式下被执行,克)手动或自动地预先确定的样本区域被激活或接通, h)上的激活或切换由AOTF或SLM或DMD,ⅰ)一个频谱分割元件,优选的光栅将被用于在光路激活或光谱切换,j)的一个SLM或DMD增大分裂激光脉冲光栅具有受控的选择之后向上spalteter ķ之前激光脉冲分量)由SLM或DMD,L)执行激光远场激励由SLM或DMD,米)多光子电路所选择的ROI或经由微透镜阵列,优选为柱面透镜阵列,n)的切换和/或激励激活由行扫描仪进行 O)A线检测上方空间分辨传感器进行,包括具有至少两行的传感器,每一个多个传感器中的由具有光样本被照射的缝隙位置。
    • 44. 发明申请
    • VORRICHTUNG, INSBESONDERE EIN MIKROSKOP, ZUR UNTERSUCHUNG VON PROBEN
    • 装置,尤其是显微镜,调查样本
    • WO2010037486A2
    • 2010-04-08
    • PCT/EP2009/006817
    • 2009-09-22
    • CARL ZEISS MICROIMAGING GMBHKEMPE, MichaelKRAMPERT, GerhardKLEPPE, IngoWOLLESCHENSKY, Ralf
    • KEMPE, MichaelKRAMPERT, GerhardKLEPPE, IngoWOLLESCHENSKY, Ralf
    • G01N21/64G01B21/16
    • G01N21/6428G01N21/6458G01N2021/6417G02B21/0076G02B21/16
    • Vorrichtung, insbesondere ein Mikroskop, charakterisiert durch ein beugungsbegrenztes Auflösungsvolumen, mit mehreren zwischen unterschiedlichen Zuständen umschaltbaren Farbstoffmolekülen (UF), wobei mindestens ein Zustand fluoreszierend ist, die Fluoreszenz mit einem Objektiv (O) gesammelt und mit einem optischen System auf einen ortsauflösenden Detektor abgebildet wird, wobei die UF in mindestens einem Teil der Probe eine Verteilungsdichte aufweisen, die größer ist als das Inverse des beugungsbegrenzten Auflösungsvolumens; einer oder mehrere Lichtquellen zur Aussendung einer Umschaltstrahlung, um eine erste Untermenge der UF in der Probe umzuschalten und zur Aussendung einer Anregungsstrahlung, um die erste Untermenge der UF anzuregen, wobei im Strahlengang, vorzugsweise im Detektionsstrahhlengang eine Phasenmaske vorgesehen ist, die in der Detektorebene eine Lichtverteilung (PSF) mit zumindest teilweise begrenztem lokalen Strahlungsminimum erzeugt oder ein Axicon zur Erzeugung einer Besselverteilung (PSF) in der Detektorebene vorgesehen ist oder im Beleuchtungsstrahlengang ein Mittel zur Strukturierung der Beleuchtungsverteilung vorgesehen ist oder im Beleuchtungsstrahlengang ein Mittel zur Strukturierung der Beleuchtungsverteilung vorgesehen ist oder im Detektionsstrahlengang sind Mittel zur spektralen Aufspaltung des Probenlichtes vorgesehen sind oder zur Detektion ein Empfängerarray aus positionsempfindlichen Empfängern ( psd) vorgesehen ist oder Mittel im Detektionsstrahlengang vorgesehen sind, die eine farbabhängige Lichtverteilung (PSF) in der Detektorebene hervorrufen oder ein achromatischer Strahlteiler in oder in der Nähe der Pupille angeordnet ist.
    • 是设备,特别是显微镜,其特征在于通过衍射限制的分辨率体积,具有多个可切换的之间不同状态染料分子(UF),所述至少一个条件是荧光的,收集到的荧光与目标(O),并与一个位置敏感探测器上的光学系统成像 其中,UF具有分布密度在比衍射极限分辨率体积的倒数越大,样品的至少一部分上; 用于发射的切换辐射来切换所述样品中的UF的第一子集和用于发送的激发辐射来激发在检测器平面中的UF,其中一个相位掩模在光路中设置,优选地在Detektionsstrahhlengang,一个的第一子集的一个或多个光源 通过局部辐射最小至少部分地限定或用于生成贝塞尔分布(PSF)的旋转三棱镜产生的光分布(PSF)是在检测器平面内,或者是提供的照明光束的路径,以构建照度分布的手段,或者在照明光束路径中,装置被提供用于照明分布的结构或 检测光束的路径,用于将所述样品的光的光谱分离设置,或用于检测位置灵敏的接收器的接收器阵列(PSD)被提供,或在检测光束路径装置被提供,二 Ë导致检测器平面中的颜色相关的光分布(PSF),或消色差分束器被布置在或靠近瞳孔。
    • 47. 发明申请
    • KOMBINATIONSMIKROSKOPIE
    • 数据组合
    • WO2010060515A1
    • 2010-06-03
    • PCT/EP2009/007693
    • 2009-10-28
    • CARL ZEISS MICROLMAGING GMBHWOLLESCHENSKY, RalfKLEPPE, IngoKRAMPERT, GerhardKEMPE, Michael
    • WOLLESCHENSKY, RalfKLEPPE, IngoKRAMPERT, GerhardKEMPE, Michael
    • G02B21/00G02B21/36G02B27/64G02B27/58
    • G02B27/642G01N21/6458G02B21/0076G02B21/367G02B27/58
    • Er wird ein Verfahren zum Erzeugen eines Bildes einer Probe mittels Mikroskopieverfahren, die unterschiedliche Ortsauflösung umfassen, beschrieben, wobei mindestens zwei der folgenden Mikroskopieverfahren kombiniert werden: Laserscanningmikroskopie zur Erzeugung eines LSM-Mikroskopiebildes, ein Mikroskopieverfahren, bei dem die Probe durch strukturierte Linien- oder Weitfeldbeleuchtung zur Lumineszenz angeregt wird, die Strukturierung gedreht und für jede Drehstellung mehrmals verschoben wird, wobei mindestens drei Drehlagen und pro Drehlage mindestens drei Verschiebelagen realisiert werden, jeweils die lumineszierende Probe auf einen Flächendetektor abgebildet wird und aus den so erhaltenden Bildern ein erstes Mikroskopie-Bild mit über die optische Auflösung der Abbildung hinaus gesteigerter Ortsauflösung erzeugt wird, ein weiteres Mikroskopieverfahren gemäß dem PAL-Prinzip, mit ein zweites Mikroskopie-Bild erzeugt wird, das geometrische Orte von Lumineszenzstrahlung abgebenden Markierungsmoleküle mit einer über die optische Auflösung gesteigerten Ortsauflösung angeben, und noch ein weiteres Mikroskopieverfahren, bei dem die Probe mit zur STED-, ESA- oder RESOLFT-Technik geeigneten Markierungsmolekülen markiert wird und mittels STED, ESA oder RESOLFT ein drittes Mikroskopiebild erzeugt wird, wobei die erhaltenen Mikroskopiebilder überlagert werden.
    • 它描述了一种方法,用于产生通过显微镜方法,包括不同空间分辨率的样品,其中至少两个下列显微镜方法结合起来的图像:激光扫描显微镜,用于产生LSM显微镜图像,显微镜方法,其中,通过结构化的线或宽视场照明的样品 结构化被激发发光,旋转并移动用于每个转动位置几次,其中每旋转位置的至少三个旋转位置的至少三个变速位置可以实现的,在每种情况下,发光试料被映射到区域检测器,并从如此获得的图像中,第一显微镜图像与 由成像另外的光学分辨率生成增加的空间分辨率,按照PAL-原理的另一显微镜方法中,通过一个第二显微图像生成,发光的几何位置供 指定Ñ标记分子具有增加的超过光学分辨率的空间分辨率,和另一个显微镜方法,其中,与所述STED,ESA或RESOLFT技术合适的标记物分子的样品被标记,并且由装置产生的第三显微镜图像STED,ESA或RESOLFT, 其中所获得的显微图像叠加。
    • 48. 发明申请
    • VERBESSERTE VERFAHREN UND VORRICHTUNGEN FÜR DIE MIKROSKOPIE MIT STRUKTURIERTER BELEUCHTUNG
    • 对于结构化照明观察改进方法和设备
    • WO2010037487A1
    • 2010-04-08
    • PCT/EP2009/006818
    • 2009-09-22
    • CARL ZEISS MICROIMAGING GMBHKEMPE, MichaelKRAMPERT, GerhardKLEPPE, IngoWOLLESCHENSKY, Ralf
    • KEMPE, MichaelKRAMPERT, GerhardKLEPPE, IngoWOLLESCHENSKY, Ralf
    • G02B21/00G01N21/64
    • G02B21/0032G01N21/6458G02B21/0072G02B21/0076G02B21/008G02B21/367G02B27/58
    • 2.1. Bei der Mikroskopie mit strukturierter Beleuchtung erfordert die mehrfache Aufnahme von Einzelbildern mit verschiedenen Phasenlagen der Strukturierung eine hohe Stabilität der optischen Anordnung und der Probe während der gesamten Messung. Auch muss die Strukturierung mit hoher Homogenität in die Probe abgebildet werden. Bei nichtlinearer Fluoreszenzanregung werden die Probe und deren Farbstoffe durch Bleichen belastet. Daneben hängt die Nichtlinearität außer von den Beleuchtungsbedingungen auch von den lokalen Umgebungsbedingungen in der Probe ab. Das kann zu lokal unterschiedlichen Nichtlinearitäten führen. Diese Effekte verschlechtern die Auflösung. Die Erfindung soll möglichst hohe Auflösungen ermöglichen. 2.2. Es wird die Einzelbildaufnahme optimiert, um im Ergebnisbild eine bestmögliche Auflösung auch bei problematischen Proben zu erreichen. Eine solche Optimierung kann auf unterschiedlichen Wegen erfolgen, beispielsweise durch Ermitteln einer optimalen Einstellung für mindestens einen Beleuchtungs- oder Aufnahmeparameter oder durch gepulste Beleuchtung derart, dass eine Anregung aus einem Triplettzustand des Fluoreszenzfarbstoffs in einen höheren Triplettzustand verringert wird, oder durch Beleuchtung der Probe mit Unterdrückungslicht zum Entvölkern eines Triplettzustands des Fluoreszenzfarbstoffs, was Bleichen vermeidet. 2.3. Hochauflösende Fluoreszenzmikroskopie
    • 2.1。 在具有与图案化的不同的相位位置的各个图像的结构照明多个记录显微镜,光学装置的高稳定性和整个测量样品需要。 具有高均匀性的结构具有被映射到样品。 与荧光的非线性激发样品,并且染料被漂白的负担。 此外,非线性不仅取决于照明条件,并从样品中当地的环境条件。 这可能会导致局部不同的非线性。 这些影响降低分辨率。 本发明是提供可能的最高分辨率。 2.2。 这是优化的静态图像拍摄得到的图像中,以实现甚至难以样本中的最佳分辨率。 这样的优化可以以不同的方式来完成,例如,通过确定至少一个照明或曝光参数或由脉冲照明,使得所述荧光染料的三重态的激发较高三重态被减小最佳设置,或通过利用光的抑制照亮样品 为荧光染料,这避免了褪色的三重态的灭绝。 2.3。 高分辨率荧光显微镜
    • 49. 发明申请
    • MIKROSKOP MIT EINER OPTISCHEN ANORDNUNG ZUR STRUKTURIERUNG DES BELEUCHTUNGSLICHTES
    • 与光学系统中的结构的光显微镜
    • WO2009141107A1
    • 2009-11-26
    • PCT/EP2009/003540
    • 2009-05-19
    • CARL ZEISS MICROLMAGING GMBHWOLLESCHENSKY, Ralf
    • WOLLESCHENSKY, Ralf
    • G02B21/06G02B5/18
    • G02B21/06G02B5/1828G02B5/1866
    • Die Erfindung bezieht sich auf ein Mikroskop, in dessen Beleuchtungsstrahlengang ein Beugungsgitter angeordnet ist, durch welches dem Beleuchtungslicht eine Struktur in Form einer periodischen Intensitätsverteilung aufgeprägt wird. Bei einem Mikroskop dieser Art ist vorgesehen, daß - das Beleuchtungslicht zu einer Linie (L) geformt auf das Beugungsgitter, bevorzugt ein transmittierendes Amplitudengitter (G), gerichtet ist, wobei die Linie (L) eine in Richtung X gemessenen Länge 1 und eine in Richtung Y gemessenen Breite b aufweist, - das Periodizitätsintervall des Beugungsgitters eine in Richtung Y verlaufende kontinuierliche oder progressive Variation aufweist, - das Beugungsgitter in Richtung Y relativ zu der Linie (L) des Beleuchtungslichtes verschiebbar ist, und - die in Richtung Y gemessene Breite b der Linie (L) um ein Vielfaches geringer ist als die Ausdehnung des Beugungsgitters in der Richtung Y.
    • 本发明涉及一种显微镜,衍射光栅被布置在通过其中在周期性强度分布的形式的结构是在照射光的印象照明光束路径。 在这种类型的显微镜设置, - 所述照明光形成在衍射光栅的线(L),优选发送振幅光栅(G)被引导,其中所述线(L)一X的长度为1,并且在方向上测量 b的ÿ测量宽度的方向, - 所述衍射光栅具有在Y方向上连续或逐渐变化延伸的轴的周期性, - 衍射Y方向相对于线(L)的照明光被移位,并且在光栅 - 在Y方向宽度b测量 线(L)是由多比衍射的程度在Y方向光栅较小
    • 50. 发明申请
    • VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM RÄUMLICHEN HOCHAUFLÖSENDEN ABBILDEN EINER STRUKTUR EINER PROBE
    • 装置和方法对样品的结构的空间高分辨率成像
    • WO2009100830A1
    • 2009-08-20
    • PCT/EP2009/000677
    • 2009-02-03
    • CARL ZEISS MICROIMAGING GMBHWOLLESCHENSKY, RalfLIPPERT, HelmutPOWER, ChristopherRADT, Benno
    • WOLLESCHENSKY, RalfLIPPERT, HelmutPOWER, ChristopherRADT, Benno
    • G02B21/00G02B21/10G01N21/64
    • G02B21/002G01N21/6458G02B21/10G02B27/58
    • Vorrichtung und Verfahren zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe, insbesondere ein Mikroskop, charakterisiert durch ein beugungsbegrenztes Auflösungsvolumen, mit mehreren zwischen unterschiedlichen Zuständen umschaltbaren Farbstoffmolekülen (UF), wobei mindestens ein Zustand fluoreszierend ist, die Fluoreszenz mit einem Objektiv (O) gesammelt und mit einem optischen System auf einen ortsauflösenden Detektor abgebildet wird, wobei die UF in mindestens einem Teil der Probe eine Verteilungsdichte aufweisen, die größer ist als das Inverse des beugungsbegrenzten Auflösungsvolumens; einer oder mehrere Lichtquellen zur Aussendung einer Umschaltstrahlung, um eine erste Untermenge der UF in der Probe umzuschalten und zur Aussendung einer Anregungsstrahlung, um die erste Untermenge der UF anzuregen, wobei mindestens eine der Lichtquellen derart angeordnet ist, dass sie die Probe durchstrahlt und eine Umschaltung und / oder Fluoreszenzanregung der UF in der Probe zumindest in einer Richtung annähernd senkrecht zur optischen Achse und insbesondere im Fokus des Objektives (O) erfolgt, wobei vorteilhaft die Umschaltung eine Photoaktivierung oder -deaktivierung der UF ist und die Lichtquelle zur Umschaltung und / oder die Lichtquelle zur Anregung eine Fokussieranordnung zur Erzeugung eines in Richtung der Beleuchtung ausgedehnten zumindest in einer Richtung zumindest annähernd senkrecht zur optischen Achse des Objektivs linienartigen Beleuchtungsbereiches vorgesehen ist.
    • 装置和试样的结构的高空间分辨率成像,尤其是显微镜,其特征在于通过衍射限制的分辨率体积,具有多个可切换的之间不同状态染料分子(UF)的方法,所述至少一个条件是荧光的,收集到的荧光与目标(O)和 由位置敏感检测器上的光学系统成像,所述UF具有在比衍射极限分辨率体积的倒数越大,样品的至少一部分上的分布密度; 一个或多个用于发射切换辐射来切换所述样品中的UF的第一子集和用于发送激发辐射来激发UF,其中所述光源中的至少一个被布置为使得其照射所述样品的所述第一子集多个光源,并切换 和/或样品中的UF的荧光激发发生在一个方向上至少近似垂直于所述光轴,并且特别是在物镜的焦点(O),其中,有利地,所述开关是光激活或UF的失活和光源,用于切换和/或 是用于在照明的方向上产生激动人心的聚焦光源的方向上至少延伸垂直于该目标线状照明区域的光学轴至少大致设置之一。