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    • 12. 发明申请
    • VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG EINES LEUCHTMITTELS UND LEUCHTMITTEL
    • 用于生产灯泡和灯具
    • WO2011009821A1
    • 2011-01-27
    • PCT/EP2010/060345
    • 2010-07-16
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBHHAHN, BertholdMAUTE, MarkusHERRMANN, Siegfried
    • HAHN, BertholdMAUTE, MarkusHERRMANN, Siegfried
    • H01L25/16F21K99/00H01L25/075H01L33/00H01L33/50
    • H01L25/167H01L25/0753H01L33/0079H01L33/50H01L2924/0002H01L2924/00
    • Es wird ein Verfahren zur Herstellung eines Leuchtmittels angegeben, mit den folgenden Schritten: Bereitstellen einer Vielzahl von Leuchtdioden (4), wobei jede Leuchtdiode einen strahlungsdurchlässigen Träger (44) und zumindest zwei räumlich voneinander getrennte Halbleiterkörper (41, 42, 43) aufweist, jeder Halbleiterkörper (41, 42, 43) zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung vorgesehen ist, die Halbleiterkörper (41, 42, 43) getrennt voneinander ansteuerbar sind und die Halbleiterkörper (41, 42, 43) an der Oberseite (44a) des strahlungsdurchlässigen Trägers (44) auf dem strahlungsdurchlässigen Träger (44) angeordnet sind, Bereitstellen eines Chip-Verbundes (1) aus CMOS-Chips (10), wobei jeder CMOS-Chip (10) an seiner Oberseite (10a) zumindest zwei Anschlussstellen (2) aufweist, Verbinden zumindest einer der Leuchtdioden (4) mit einem der CMOS-Chips (10), wobei die Leuchtdiode (4) an der Oberseite (44a) des strahlungsdurchlässigen Trägers (44) an der Oberseite (10a) des CMOS-Chips (10) angeordnet wird und jeder Halbleiterkörper (41, 42, 43) der Leuchtdiode mit einer Anschlussstelle (2) des CMOS-Chips (10) verbunden wird.
    • 本发明提供一种方法用于生产荧光物质的方法,包括以下步骤:提供多个发光二极管(4),其中每个发光二极管,包括每一个辐射透射的支撑件(44)和至少两个空间上分离的半导体基体(41,42,43) 半导体主体(41,42,43)被设置用于在所述辐射透射支座的顶部(44a)上产生电磁辐射,所述半导体主体(41,42,43)彼此独立地控制,和半导体本体(41,42,43)(44 有)(在辐射透射的支撑件44)被布置,提供了一个芯片复合材料(1)制成的CMOS芯片(10),每个CMOS芯片(10)(在其顶部侧10 a)至少两个连接点(2),连接 的发光二极管(4)配有一个CMOS芯片(10)的至少一个,其中所述发光二极管(4)在透射辐射的支撑件(44)的顶部的顶部(44A)(10A )CMOS芯片(10)的设置,并且每个具有CMOS芯片(2)的结发光二极管的半导体本体(41,42,43)的(10)连接。
    • 13. 发明申请
    • VERFAHREN ZUM HERSTELLEN EINER MEHRZAHL VON OPTOELEKTRONISCHEN HALBLEITERCHIPS
    • 方法制造光电子半导体芯片的多个
    • WO2012171817A2
    • 2012-12-20
    • PCT/EP2012/060393
    • 2012-06-01
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBHREUFER, MartinMAUTE, MarkusALBRECHT, Tony
    • REUFER, MartinMAUTE, MarkusALBRECHT, Tony
    • H01L33/00
    • H01L33/24H01L33/0062H01L33/007H01L33/0095H01L33/22H01L33/32H01L33/44
    • Es wird ein Verfahren zum Herstellen einer Mehrzahl von optoelektronischen Halbleiterchips angegeben, das zumindest die folgenden Verfahrensschritte umfasst: - Bereitstellen zumindest eines Halbleiterkörpers (1); - Einbringen von zumindest einem Graben (2) mittels zumindest eines Strukturierungsprozesses (3) in den Halbleiterkörper (1), wobei - der Graben (2) in einer vertikalen Richtung (V) die aktive Zone (12) durchbricht; - Anwendung zumindest eines Reinigungsprozesses (4) zumindest auf freiliegende Stellen des Halbleiterkörpers (1) im Bereich des Grabens (2), wobei - der Reinigungsprozess (4) zumindest einen Plasmareinigungsprozess (33) umfasst, und - der Plasmareinigungsprozess (44) eine Anzahl und/oder eine räumliche Ausdehnung von Strukturierungsrückständen (333) an freiliegenden Stellen des Halbleiterkörpers (1) zumindest im Bereich des Grabens (2) zumindest verringert; - Aufbringen zumindest einer Passivierungsschicht (5) zumindest auf freiliegende Stellen des Halbleiterkörpers (1) im Bereich des Grabens (2).
    • 一种用于制造多个给定光电半导体芯片的方法,包括至少以下步骤: - 提供至少一个半导体本体(1); - (2)通过在半导体本体的至少一个图案化工艺(3)的装置将至少一个沟槽(1),其中 - 所述槽(2)在垂直方向(V)突破了有源区(12); - 至少在至少一个清洁过程(4)的应用在半导体本体的暴露的部分(1)在所述沟槽的区域(2),其中 - 所述清洁工艺(4)包括至少一个等离子清洁工艺(33),以及 - 所述等离子清洁工艺(44)包括一个数字和 /或在半导体本体(1)至少在所述沟槽的区域(2)被至少减少外露部分结构化残留物(333)的空间范围; - 在所述沟槽的区域上的半导体主体(1)的外露部分施加至少至少一个钝化层(5)(2)。
    • 15. 发明申请
    • LEUCHTDIODENCHIP
    • LEDS CHIP
    • WO2011012446A1
    • 2011-02-03
    • PCT/EP2010/060077
    • 2010-07-13
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBHMAUTE, MarkusALBRECHT, TonyKASPRZAK-ZABLOCKA, Anna
    • MAUTE, MarkusALBRECHT, TonyKASPRZAK-ZABLOCKA, Anna
    • H01L33/00H01L33/20H01L33/44
    • H01L33/20H01L33/405H01L33/44H01L2933/0025
    • Es wird ein Leuchtdiodenchip angegeben, umfassend - einen Halbleiterkörper (1), der einen ersten (1A) und einen zweiten Bereich (1B) aufweist; - eine aktive Zone (2) innerhalb des Halbleiterkörpers (1), die im Betrieb des Leuchtdiodenchips (100) elektromagnetische Strahlung durch eine Strahlungsauskoppelfläche (11) emittiert, die zumindest stellenweise durch eine erste Hauptfläche (111) des Halbleiterkörpers (1) gebildet ist; - zumindest einen Graben (3) in dem Halbleiterkörper (1), wobei im Bereich des Grabens Teile des Halbleiterkörpers (1) entfernt sind, wobei - der zumindest eine Graben (3) zumindest bis zur aktiven Zone (2) reicht, - der zumindest eine Graben (3) den ersten Bereich (1A) in lateraler Richtung vollständig umgibt, und - der zweite Bereich (1B) den zumindest einen Graben (3) und den ersten Bereich (1A) in lateraler Richtung vollständig umgibt.
    • 它是指定的发光二极管芯片,包括: - 一个半导体主体(1),具有第一(1A)和第二区域(1B); - 通过辐射在电磁辐射的LED芯片(100)的操作发出所述半导体主体(1)内的活性区域(2),其通过所述半导体主体(1)的第一主表面(111)形成至少局部地(11); - 至少一个沟槽(3)在半导体本体(1)与半导体本体的部分(1)的在沟槽的区域中除去, - 所述至少一个沟槽(3),至少直到所述有源区(2)延伸, - 至少 的沟槽(3)完全包围在横向方向上的第一区域(1A),以及 - 第二部分(1B)完全包围所述至少一个沟槽(3)和在横向方向上的第一区域(1A)。
    • 17. 发明申请
    • LEUCHTDIODE MIT PASSIVIERUNGSSCHICHT
    • 与钝化发光二极管
    • WO2014195420A1
    • 2014-12-11
    • PCT/EP2014/061732
    • 2014-06-05
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
    • VOM DORP, SabineMAUTE, Markus
    • H01L33/00H01L33/40H01L33/44H01L33/20
    • H01L33/24H01L27/156H01L33/007H01L33/0079H01L33/0095H01L33/20H01L33/22H01L33/382H01L33/405H01L33/44H01L33/54H01L33/56H01L33/60H01L33/62H01L2933/0016H01L2933/0033H01L2933/005H01L2933/0058H01L2933/0066
    • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen eines optoelektronischen Halbleiterchips. Das Verfahren umfasst ein Ausbilden einer Halbleiterschichtenfolge (130) auf einem Ausgangssubstrat (120) und ein Strukturieren der Halbleiterschichtenfolge (130), wobei eine Halbleiterstruktur (230, 232) in Form einer Erhebung mit einer umlaufenden Mantelfläche (239) ausgebildet wird, indem Material der Halbleiterschichtenfolge (130) in einem die Halbleiterstruktur (230, 232) umgebenden Bereich wenigstens bis zu einer Tiefe entfernt wird, dass die aktive Zone (133) der Halbleiterschichtenfolge (130) an der umlaufenden Mantelfläche (239) freiliegt. Das Verfahren umfasst ferner ein Ausbilden einer Passivierungsschicht (150), wobei die Passivierungsschicht (150) auf der umlaufenden Mantelfläche (239) der Halbleiterstruktur (230, 232) angeordnet ist, ein Ausbilden einer Anschlussstruktur im Bereich der Halbleiterstruktur (230, 232) mit wenigstens einer Durchkontaktierung (260) nach dem Ausbilden der Passivierungsschicht (150), ein Verbinden der Anschlussstruktur mit einem Trägersubstrat (125), und ein Entfernen des Ausgangssubstrats (120). Die Erfindung betrifft des Weiteren einen optoelektronischen Halbleiterchip.
    • 本发明涉及一种制造光电半导体芯片的方法。 该方法包括形成一个起始衬底(120)上的半导体层序列(130)和图案化所述半导体层序列(130),一个半导体结构(230,232)形成为与外周表面(239)的调查表格,由材料 半导体层序列(130)在围绕区域中的至少一个深度的半导体结构(230,232)被移除,该外周面(239)上的半导体层序列(130)的有源区(133)被暴露。 该方法还包括形成钝化层(150),其中,所述半导体结构(230,232)的外周面(239)上的钝化层(150)布置,在所述半导体结构(230,232)的区域中的连接结构,其具有至少 通孔(260)形成钝化层(150),连接所述连接结构包括支撑衬底(125);以及去除所述起始衬底(120)之后。 本发明还涉及一种光电子半导体芯片。
    • 18. 发明申请
    • OPTOELEKTRONISCHER HALBLEITERCHIP MIT EINER ALD-SCHICHT VERKAPSELT UND ENTSPRECHENDES VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG
    • 有一层ALD光电子半导体芯片,封装及相应方法用于生产
    • WO2014154503A1
    • 2014-10-02
    • PCT/EP2014/055110
    • 2014-03-14
    • OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH
    • ENGL, KarlHARTUNG, GeorgMAUTE, Markus
    • H01L33/40H01L33/44H01L33/00
    • H01L33/46H01L33/382H01L33/405H01L33/44H01L33/54H01L2924/0002H01L2933/0025H01L2933/005H01L2924/00
    • Es wird ein optoelektronischer Halbleiterchip angegeben, mit - einem Halbleiterkörper (10), der einen n-leitenden Bereich (2), einen zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung vorgesehenen aktiven Bereich (4) und einen p-leitenden Bereich (3) umfasst, - einer ersten Spiegelschicht (21), die zur Reflexion der elektromagnetischen Strahlung vorgesehen ist, und - einer Verkapselungsschichtenfolge (20), die mit einem elektrisch isolierenden Material gebildet ist, wobei - die erste Spiegelschicht (21) an einer Unterseite des p-leitenden Bereichs (3) angeordnet ist, wobei - die Verkapselungsschichtenfolge (20) den Halbleiterkörper (10) an seiner Außenfläche stellenweise bedeckt, - sich die Verkapselungsschichtenfolge (20) an der Außenfläche des Halbleiterkörpers (10) vom aktiven Bereich (4) entlang dem p-leitenden Bereich (3) bis unterhalb der ersten Spiegelschicht (21) erstreckt und - die Verkapselungsschichtenfolge (20) zumindest eine Verkapselungsschicht (12) umfasst, die eine ALD-Schicht ist oder aus einer ALD-Schicht besteht.
    • 它是设置有光电子半导体芯片 - 一个半导体本体(10),包括n型区域(2),用于产生电磁辐射有源区(4)提供与p型区(3), - 一个 第一反光镜层(21)被设置用于将电磁辐射的反射,以及 - 其与电绝缘材料,其特征在于,形成的Verkapselungsschichtenfolge(20) - 所述第一反光镜层(21)上(3 p型区域的下侧 )被布置,其中, - 所述Verkapselungsschichtenfolge(20)的半导体主体(10)上的地方其外表面上覆盖, - 在Verkapselungsschichtenfolge(20)从该有源区(4)沿着所述p型区域的半导体主体(10)的外表面上( 3)下面的第一反光镜层(21),以及 - 所述Verkapselungsschichtenfolge(20)包括至少一个密封层(12)具有 ALD层或由ALD层的。