基本信息:
- 专利标题： デバイス識別方法、デバイス製造方法、及び電子デバイス
- 专利标题（英）：Device identifying method, device manufacturing method and electronic device
- 专利标题（中）：装置识别方法，装置制造方法和电子装置
- 申请号：PCT/JP2005/015093 申请日：2005-08-18
- 公开(公告)号：WO2007020698A1 公开(公告)日：2007-02-22
- 发明人： 岡安 俊幸 , 須川 成利 , 寺本 章伸
- 申请人： 株式会社アドバンテスト , 国立大学法人東北大学 , 岡安 俊幸 , 須川 成利 , 寺本 章伸
- 申请人地址： 〒1790071 東京都練馬区旭町1丁目32番1号 Tokyo JP
- 专利权人： 株式会社アドバンテスト,国立大学法人東北大学,岡安 俊幸,須川 成利,寺本 章伸
- 当前专利权人： 株式会社アドバンテスト,国立大学法人東北大学,岡安 俊幸,須川 成利,寺本 章伸
- 当前专利权人地址： 〒1790071 東京都練馬区旭町１丁目３２番１号 Tokyo JP
- 代理机构： 龍華 明裕
- 主分类号： H01L21/66
- IPC分类号： H01L21/66 ; H01L21/822 ; H01L27/04
摘要：
電子デバイスの実動作時に動作する実動作回路と、複数のテスト用素子が設けられ、電子デバイスの試験時に動作するテスト用回路とを備える電子デバイスを識別するデバイス識別方法であって、複数のテスト用素子の電気的特性を測定する特性測定段階と、それぞれのテスト用素子の電気的特性を、電子デバイスの識別情報として格納する識別情報格納段階と、所望の電子デバイスを識別するべく、当該電子デバイスに含まれる複数のテスト用素子の電気的特性を測定し、当該電子デバイスの識別情報を取得する識別情報取得段階と、識別情報取得段階が取得した識別情報と、識別情報格納段階が格納した識別情報とを比較し、識別情報が一致した場合に同一の電子デバイスと判定するマッチング段階とを備えるデバイス識別方法を提供する。
摘要（中）：
提供了一种用于识别具有在电子设备的实际操作期间操作的实际操作电路的电子设备的设备识别方法和具有多个测试元件并且在测试电子设备时操作的测试电路。 设备识别方法具有特征测量步骤，其中测量测试元件的电特性; 识别信息存储步骤，其中每个测试元件的电特性被存储为电子设备的识别信息; 识别信息获取步骤，其中测量包括在电子设备中的测试元件的电特性，以便识别期望的电子设备，并且获取电子设备的识别信息; 以及匹配步骤，其中将在所述识别信息获取步骤中获取的识别信息与存储在所述识别信息存储步骤中的识别信息进行比较，并且当所述两种识别信息匹配时，所述电子设备被判断为相同。
IPC结构图谱:
| H | 电学 |
| --H01 | 基本电气元件 |
| ----H01L | 半导体器件；其他类目未包含的电固体器件 |
| ------H01L21/00 | 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备 |
| --------H01L21/66 | .在制造或处理过程中的测试或测量 |