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    • 2. 发明申请
    • 波形測定装置の評価装置および評価方法ならびにジッター測定方法
    • 用于评估波形测量装置的装置和方法以及用于测量抖动的方法
    • WO2006087782A1
    • 2006-08-24
    • PCT/JP2005/002428
    • 2005-02-17
    • 京セラキンセキ株式会社川島 信加藤 学土井 新
    • 川島 信加藤 学土井 新
    • G01R29/02G01R13/20G01R35/00
    • G01R29/26G01R35/00
    •  ジッター測定器によって測定されたジッターから、当該ジッター測定に用いる波形測定器の時間的な揺らぎを差し引いて、信号発生器の持つジッターをより正確に測定する。波形測定器の揺らぎは、容量(112)を有する受動回路(101)と、前記容量を充放電する駆動回路(102)と、波形測定装置(103)によって測定して得られる、前記受動回路の出力信号の時間的変化を表す応答波形を信号処理して、前記波形測定装置の時間的な揺らぎを求める信号処理手段(105)とを備え、前記信号処理手段は、前記容量を同一の条件の下で充電または放電したときに前記波形測定装置により測定された前記受動回路の複数の応答波形に基づいて、前記受動回路の出力信号の前記波形測定装置による測定値のばらつきを求める処理手段(105a)と、この処理手段により得られた前記波形測定装置による測定値のばらつきを時間的な揺らぎに変換する変換手段(105b)とを有する評価装置によって評価する。                                                                                 
    • 通过减去用于测量由抖动测量仪器测量的抖动的波形测量仪器的时间波动,可以更精确地测量信号发生器的抖动。 波形测量装置的波动由包括具有容量(112)的无源电路(101),用于充电/放电的驱动电路(102))的评估装置和用于确定 通过对从波形测量装置(103)获得的响应波形执行信号处理并且指示来自无源电路的输出信号的时间变化的波形测量装置的时间波动,所述信号处理装置包括处理装置(105a),用于 根据在相同条件下对容量进行充电或放电时由波形测量装置测量的无源电路的多个响应波形,确定波形测量装置对来自无源电路的输出信号的测量值的变化;以及装置(105b) ),用于将由处理装置获得的波形测量装置的测量变化转换为a 时间波动。
    • 7. 发明申请
    • STREAMING ARCHITECTURE FOR WAVEFORM PROCESSING
    • 波浪加工流水建筑
    • WO0241103A3
    • 2003-02-27
    • PCT/US0143211
    • 2001-11-16
    • LECROY CORP
    • MILLER MARTIN THOMASLIBBY JONATHAN CALVINRITTER GILLES
    • G01R13/20G01R13/02G01R13/34G01R19/25G05B15/02G06F9/445
    • G06F9/44505G01R13/02G01R13/029G01R13/345G01R19/2506G05B15/02H04N21/47202H04N21/8173
    • An oscilloscope apparatus and method of processing waveform data using a streaming architecture. The apparatus has multiple processing objects (processors) that share a common cache memory in which the waveform data is stored during processing. Each processing object (220) performs a sequential processing operation by retrieving a "chunk" or portion of the waveform from the memory, processes the chunk of data, and re-stores the processed data into the same location in the cache memory. This process is generally repeated until the entire waveform has been sequentially processed. The apparatus operates using a "pull" design wherein the last processor requests the next chunk to be processed from the preceeding processor. In this manner, the waveform data is essentially processed by pulling it thorugh the sequence of processing objects. The multiple processing objects may be implemented as a sequence of software processing objects in a processing thread or as separate hardware processors.
    • 使用流式架构处理波形数据的示波器装置和方法。 该装置具有共享公共高速缓冲存储器的多个处理对象(处理器),其中在处理期间存储波形数据。 每个处理对象(220)通过从存储器中检索“块”或波形的一部分来执行顺序处理操作,处理数据块,并将处理的数据重新存储到高速缓冲存储器中的相同位置。 通常重复该过程直到整个波形被顺序处理。 该设备使用“拉”设计进行操作,其中最后的处理器从先前的处理器请求要处理的下一个块。 以这种方式,通过拉动它来处理对象的序列来基本上处理波形数据。 多个处理对象可以被实现为处理线程中的软件处理对象的序列或者作为单独的硬件处理器。
    • 9. 发明申请
    • APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING JITTER, AND TESTER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT EQUIPPED WITH THE APPARATUS FOR MEASURING JITTER
    • 用于测量抖动的装置和方法,以及用于测量抖动装置的半导体集成电路的测试仪
    • WO01038888A1
    • 2001-05-31
    • PCT/JP2000/008076
    • 2000-11-16
    • G01R25/00G01R29/027G01R29/02G01R13/20
    • G01R25/00G01R29/0273
    • An apparatus and method for measuring jitter while controlling the timing of a clock signal to a measuring point of jitter in a short time. The apparatus has a thinning circuit (22) for limiting the number of passing clock signals on a clock signal supply path from a clock generating section (12) of a sampling digitizer comprising a sampling head (11), the clock generating section (12), and a digitizer (13) to the digitizer and a trigger circuit (21) for controlling the thinning operation of the thinning circuit between the output end of the sampling head and the input end of the thinning circuit. In the trigger circuit, the level (amplitude) of a signal with respect to which jitter is measured and the edge data of the signal waveform are preset, and an equivalent sampling method is applied to the sampling digitizer.
    • 一种用于在短时间内将时钟信号的定时控制到抖动测量点的情况下测量抖动的装置和方法。 该装置具有用于从包括采样头(11),时钟产生部分(12)的采样数字转换器的时钟产生部分(12)限制在时钟信号提供路径上经过的时钟信号数目的稀疏电路(22) 和数字转换器(13)以及一个触发电路(21),用于控制采样头的输出端和稀疏电路的输入端之间的稀疏电路的稀疏操作。 在触发电路中,相对于测量抖动的信号的电平(振幅)和信号波形的边缘数据被预先设定,采样数字化仪应用等效采样方法。