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1. 发明申请

WO2013037807A2 VERFAHREN ZUR TEMPORÄREN ELEKTRISCHEN KONTAKTIERUNG EINER BAUELEMENTANORDNUNG UND VORRICHTUNG HIERFÜR 审中-公开
标题翻译：程序对部件布置及其装置临时电接触
公开(公告)号：WO2013037807A2
公开(公告)日：2013-03-21
申请号：PCT/EP2012/067806
申请日：2012-09-12
申请人： OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH , KÜHNELT, Michael , ENZMANN, Roland
发明人： KÜHNELT, Michael , ENZMANN, Roland
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R1/067 , G01R1/06744 , G01R1/07321 , G01R1/0735 , G01R31/2635 , G01R31/2855
摘要： Es wird ein Verfahren zur temporären elektrischen Kontaktierung einer Bauelementanordnung (9) mit einer Mehrzahl von Kontaktflächen (93, 94) angegeben. Ein Anschlussträger (1) mit einer Mehrzahl von Anschlussflächen (11, 12), auf denen Kontakterhebungen (2) angeordnet sind, wird bereitgestellt. Anschlussträger (1) und Bauelementanordnung (9) werden derart zusammengeführt, dass die Anschlussflächen (93, 94) und die zugeordneten Kontaktflächen (93, 94) in einer Aufsicht überlappen und die Kontakterhebungen (2) zur elektrischen Kontaktierung der Bauelementanordnung (9) einen elektrischen Kontakt zu den Kontaktflächen (93, 94) bilden. Nachfolgend werden Anschlussträger (1) und Bauelementanordnung (9) voneinander getrennt.
摘要翻译：提供了一种用于与一个部件组件（9）的暂时电接触的方法具有多个接触表面（93，94）的。具有多个焊盘（11，12）在其上的接触凸起（2）被布置提供了一种连接载体（1）。连接载体（1）和安装件组件（9）被合在一起，使得所述连接表面（93,94）和相关联的接触表面（93，94）在俯视图中重叠，并且所述接触凸起（2）的部件组件的电接触（9）的电接触到接触表面（93,94）的形式。随后连接载体（1）和安装件组件（9）彼此隔开。

2. 发明申请

WO2014167410A2 TESTING HEAD OF ELECTRONIC DEVICES 审中-公开
标题翻译：电子器件测试头
公开(公告)号：WO2014167410A2
公开(公告)日：2014-10-16
申请号：PCT/IB2014000528
申请日：2014-04-08
申请人： TECHNOPROBE SPA
发明人： FELICI STEFANO , VALLAURI RAFFAELE
CPC分类号： G01R1/07321 , G01R1/07357
摘要： The invention describes a testing head (20) for a testing equipment of electronic devices comprising a plurality of contact probes (22) inserted into guide holes being realized in at least one upper guide (23) and in one lower guide (24), and at least one containment element (27) of the probes which is disposed between the upper and lower guides (23, 24), each of the contact probes (22) having at least one terminal portion (25) which ends with a contact tip adapted to abut on a respective contact pad of a device to be tested and projecting from the lower guide (24) with a length (L), the testing head further comprising at least one a spacer element (28) interposed between said containment element (27) and at least one of said upper and lower guides (23, 24), this spacer element (28) being removable in order to adjust the length (L) of the terminal portions (25) of the contact probes (22).
摘要翻译：本发明描述了一种用于电子设备测试设备的测试头（20），其包括插入导向孔中的多个接触探针（22），其被实现在至少一个上引导件（23）和一个下引导件（24）中，以及所述探针的至少一个容纳元件（27）设置在所述上部和下部引导件（23,24）之间，每个所述接触探针（22）具有至少一个末端部分（25），所述端部部分（25）以适于邻接待测装置的相应接触垫并且从下引导件（24）突出长度（L），所述测试头还包括至少一个间隔元件（28），其插入在所述容纳元件（27）之间）和所述上部和下部引导件（23,24）中的至少一个，该间隔元件（28）可移除，以便调节接触探针（22）的端子部分（25）的长度（L）。

3. 发明申请

WO2013037807A3 METHOD FOR A TEMPORARY ELECTRICAL CONTACT OF A COMPONENT ARRANGEMENT AND DEVICE THEREFOR 审中-公开
标题翻译：程序对部件布置及其装置临时电接触
公开(公告)号：WO2013037807A3
公开(公告)日：2013-06-20
申请号：PCT/EP2012067806
申请日：2012-09-12
申请人： OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH , KUEHNELT MICHAEL , ENZMANN ROLAND
发明人： KUEHNELT MICHAEL , ENZMANN ROLAND
IPC分类号： G01R1/073 , G01R1/067
CPC分类号： G01R1/067 , G01R1/06744 , G01R1/07321 , G01R1/0735 , G01R31/2635 , G01R31/2855
摘要： The invention relates to a method for a temporary electrical contact of a component arrangement (9) comprising a plurality of contact surfaces (93, 94). A connection board (1) having a plurality of connection surfaces (11, 12), on which contact elevations (2) are arranged, is provided. The connection board (1) and the component arrangement (9) are joined together in such a manner that the connection surfaces (11, 12) and the associated connection surfaces (93, 94) overlap in one view and the contact elevations (2) for electrically contacting the component arrangement (9) form an electrical contact with the connection surfaces (93, 94). Subsequently, the connection board (1) and the component arrangement (9) are separated from one another.
摘要翻译：提供了一种用于与一个部件组件（9）的暂时电接触的方法具有多个接触表面（93，94）的。具有多个焊盘（11，12）在其上的接触凸起（2）被布置提供了一种连接载体（1）。连接载体（1）和安装件组件（9）被合在一起，使得所述连接表面（11,12）和相关联的接触表面（93，94）在俯视图中重叠，并且所述接触凸起（2）的部件组件的电接触（9）的电接触到接触表面（93,94）的形式。随后连接载体（1）和安装件组件（9）彼此隔开。

4. 发明申请

WO2006104886A2 RESILIENT PROBES FOR ELECTRICAL TESTING 审中-公开
标题翻译：电气测试的灵活探索
公开(公告)号：WO2006104886A2
公开(公告)日：2006-10-05
申请号：PCT/US2006010779
申请日：2006-03-23
申请人： TEXAS INSTRUMENTS INC , STILLMAN DANIEL J
发明人： STILLMAN DANIEL J
IPC分类号： H04L9/32
CPC分类号： G01R1/07378 , G01R1/06738 , G01R1/06744 , G01R1/07321 , G01R3/00
摘要： An apparatus for electrical testing having probes (201) constructed of metal elements (201a) of about equal size bonded together in substantially linear sequence. Further an insulating holder (202) having first and second surfaces and a plurality of metal-filled vias (210) traversing the holder from the first to the second surface; the vias form contact pads on the first and second surfaces. The contact pads (210a) of the first holder surface have a probe attached so that the probe is positioned about normal to the surface. A sheet (203) of resilient insulating material, which has first and second surfaces and a thickness traversed by a plurality of conducting traces (220), has its first sheet surface attached to the second holder surface so that at least one of the traces contacts one of the contact pads, respectively, to provide an electrical path to the second sheet surface. A printed circuit board, suitable for insertion into an electrical test apparatus, is attached to the second sheet surface so that a continuous electrical path is established from the apparatus to each of the probes.
摘要翻译：一种用于电测试的装置，具有由基本相同尺寸的金属元件（201a）构成的探针（201），其基本上以线性顺序连接在一起。此外，具有第一和第二表面的绝缘保持器（202）和从第一表面延伸到第二表面的多个金属填充的通孔（210）穿过保持器; 通孔形成第一和第二表面上的接触垫。第一保持器表面的接触垫（210a）具有附接的探针，使得探针定位成大致垂直于表面。弹性绝缘材料片（203）具有第一和第二表面以及由多个导电迹线（220）穿过的厚度，其第一片表面附接到第二保持器表面，使得至少一个迹线接触接触垫之一，分别提供到第二片表面的电路。适于插入电气测试装置的印刷电路板被附接到第二片表面，使得从装置到每个探针建立连续的电路径。

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