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1. 发明申请

WO2015187219A8 X-RAY ABSORPTION MEASUREMENT SYSTEM 审中-公开
标题翻译： X射线吸收测量系统
公开(公告)号：WO2015187219A8
公开(公告)日：2017-01-05
申请号：PCT/US2015018553
申请日：2015-03-03
申请人： SIGRAY INC
发明人： LEWIS SYLVIA JIA YUN , YUN WENBING , KIRZ JANOS , LYON ALAN FRANCIS
IPC分类号： G01N23/083 , G01T1/16
CPC分类号： G01N23/063 , G21K1/067 , G21K2201/062 , G21K2201/064 , H01J35/08 , H01J2235/086 , H01J2235/087
摘要： This disclosure presents systems for x-ray absorption fine structure (XAFS) measurements that have x-ray flux and flux density several orders of magnitude greater than existing compact systems; for applications of x-ray absorption near-edge spectroscopy (XANES) or extended x-ray fine absorption structure (EXFAS) spectroscopy. The higher brightness is achieved using designs for x-ray targets that comprise aligned microstructures of x-ray generating materials fabricated in close thermal contact with a substrate having high thermal conductivity. This allows for bombardment with higher electron density and/or higher energy electrons, leading to greater x-ray brightness and high flux. The high brightness x-ray source is coupled to an x-ray reflecting optical system to collimate the x-rays, and a monochromator, which selects the exposure energy. Absorption spectra of samples using the high flux monochromatic x-rays can be made using standard detection techniques.
摘要翻译：本公开提供了具有比现有紧凑系统大几个数量级的x射线通量和通量密度的x射线吸收精细结构（XAFS）测量系统; 用于X射线吸收近边缘光谱（XANES）或扩展X射线精细吸收结构（EXFAS）光谱学的应用。使用包括与具有高导热性的基板紧密热接触制造的x射线产生材料的对准微结构的x射线靶的设计来实现更高的亮度。这允许用更高电子密度和/或更高能量的电子进行轰击，导致更大的x射线亮度和高通量。高亮度x射线源耦合到x射线反射光学系统以准直x射线，以及选择曝光能量的单色仪。使用高通量单色x射线的样品的吸收光谱可以使用标准检测技术进行。

2. 发明申请

WO2012007198A1 EINRICHTUNG ZUR ÜBERWACHUNG DER VERBINDUNG EINES FÖRDERGURTES MITTELS ENERGIEREICHER STRAHLEN, INSBESONDERE RÖNTGENSTRAHLEN 审中-公开
标题翻译：用于监控资金BELT能量射线，尤其是X射线的连接
公开(公告)号：WO2012007198A1
公开(公告)日：2012-01-19
申请号：PCT/EP2011/056533
申请日：2011-04-26
申请人： PHOENIX CONVEYOR BELT SYSTEMS GMBH , KÜSEL, Bernd
发明人： KÜSEL, Bernd
IPC分类号： B65G43/02 , G01N23/04 , G01N23/16
CPC分类号： G01N23/063 , B65G15/36 , B65G43/02 , G01N23/085 , G01N23/16
摘要： Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur kontinuierlichen und zerstörungsfreien Überwachung der Verbindung eines Fördergurtes (2) mit einer tragseitigen Deckplatte (3) und laufseitigen Deckplatte (4) aus jeweils einem elastomeren Werkstoff sowie mit einem eingebetteten Zugträger, wobei unter Bewegung des Fördergurtes (2) eine Strahlenquelle (10) in Richtung Gurtoberfiäche Strahlen (11) aussendet, die derart energiereich sind, dass diese den Fördergurt (2) und dessen Verbindung innerhalb eines materialfreien Bereiches durchstrahlen, wobei ein Sensor (12) die durchgegangenen Strahlen (11) erfasst, wobei ferner ein Prozessrechner das Ergebnis der Durchstrahlungsprüfung auswertet, und zwar unter Erfassung der Ist -Verbindungswerten bei Abgleich mit den Soll- Verbindungswerten und den Verbindungsgrenzwerten. Die erfindungsgemäße Einrichtung zeichnet sich dadurch aus, dass die Strahlenquelle (10) und der Sensor (12) in einem Gehäuse (7) untergebracht sind, wobei zwischen der Strahlenquelle (10) und dem Sensor (12) zwei Gehäuseöffnungen (8, 9) vorhanden sind, durch die der sich bewegende Fördergurt (2) und dessen Verbindung berührungslos verläuft. Die Strahlenquelle (10) sendet insbesondere Röntgenstrahlen aus. Der Sensor (12) ist vorzugsweise als Zeilensensor ausgebildet. Das Gehäuse (7) ist im Untertrum einer Förderanlage (1) integriert.
摘要翻译：本发明涉及一种装置，用于连续和非破坏性监视输送带的连接的（2），其具有载体侧盖板（3）和运转侧盖板（4）的弹性体材料制成，并且具有嵌入的张力构件每种情况下，其特征在于，通过移动的传送带（2）一放射线源（10）朝向Gurtoberfiäche梁（11）发送，它是如此高能，它的传送带（2）和它的由辐射的无材料区域内连接件，其中一个传感器（12）检测到失控梁（11），其中进一步过程计算机评估所述射线照相检查的结果，下与设定点值和连杆连接限制比较检测实际-Verbindungswerten。本发明的装置的特征在于，所述辐射源（10）和在壳体（7）的传感器（12）被容纳，所述辐射源（10）和传感器（12）之间有两个壳体开口（8,9）本是，由移动的传送带（2）和其连接无接触地延伸。所述辐射源（10）从X射线特别发送。所述传感器（12）优选形成为一个线传感器。壳体（7）被集成在一个输送机系统（1）的下链。

3. 发明申请

WO2011017475A1 METHOD AND SYSTEM FOR EXTRACTING SPECTROSCOPIC INFORMATION FROM IMAGES AND WAVEFORMS 审中-公开
标题翻译：从图像和波形提取光谱信息的方法和系统
公开(公告)号：WO2011017475A1
公开(公告)日：2011-02-10
申请号：PCT/US2010/044475
申请日：2010-08-04
申请人： RAPISCAN LABORATORIES, INC. , LANGEVELD, Willem, G.j.
发明人： LANGEVELD, Willem, G.j.
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01N23/063 , G01N23/085 , G01N23/087
摘要： The application discloses systems and methods for determining an atomic number of a material being scanned by generating a predetermined number of transmission data samples, determining a variance of the transmission data samples, and determining the atomic number of the material being scanned by comparing the variance or a derivative of the variance of the transmission data samples to one or more predetermined variances. The application also discloses systems and methods for determining an atomic number of a material being scanned by deriving transmission signal samples of the material being scanned, determining a variance of the signal samples, and determining an atomic number of the material being scanned by comparing the variance of the signal samples, or a derivative of the variance, to one or more predetermined variances.
摘要翻译：该申请公开了用于通过生成预定数量的传输数据样本来确定被扫描的材料的原子序号，确定传输数据样本的方差以及通过比较方差来确定被扫描的材料的原子序号的系统和方法，将传输数据样本的方差的导数代入一个或多个预定方差。本申请还公开了通过导出正被扫描的材料的传输信号样本来确定被扫描的材料的原子序号，确定信号样本的方差，以及通过比较方差来确定被扫描的材料的原子序数来确定被扫描材料的原子序号的系统和方法信号样本或方差的导数代表一个或多个预定方差。

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