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    • 2. 发明申请
    • VERFAHREN ZUR KONTAKTFREIEN ERMITTLUNG EINER TEMPERATUR SOWIE INFRAROT-MESSSYSTEM
    • 用于非接触测定温度和红外测量系统的方法
    • WO2018001734A1
    • 2018-01-04
    • PCT/EP2017/064505
    • 2017-06-14
    • ROBERT BOSCH GMBH
    • FRANK, MichaelSENZ, VolkmarBADEJA, MichaelRUMBERG, AxelKRUEGER, MichaelDITTMER, Helge
    • G01J5/08G01J5/02G01J5/06G01J5/52G01J5/62G01J5/00H04N5/33H04N5/365
    • G01J5/025G01J5/0265G01J5/06G01J5/0834G01J5/0859G01J5/089G01J5/522G01J5/62G01J2005/0048G01J2005/0077G01J2005/0081G01J2005/065G01J2005/066G01J2005/526H04N5/33H04N5/357H04N5/3651H04N5/3655
    • Das vorgeschlagene Verfahren zur kontaktfreien Ermittlung einer Temperatur einer Oberfläche (22), insbesondere zur kontaktfreien Ermittlung einer Temperaturverteilung einer Oberfläche (22), geht aus von einem Infrarot-Messsystem (10, 10a), das zumindest aufweist: - ein Infrarot-Detektorarray (36) mit einer Mehrzahl von Messpixeln (62), die jeweils ein Messsignal zur Ermittlung eines von einer Intensität der einfallenden Infrarotstrahlung abhängigen Temperaturmesswerts T MP (64) bereitstellen, und - einen Verschlussmechanismus zum Unterbinden eines Einfalls von Infrarotstrahlung auf das Infrarot-Detektorarray (36), wobei das Verfahren zumindest folgende Schritte umfasst: - Bestimmen der Temperaturmesswerte T MP (64) einer Mehrzahl von Messpixeln (62); - Korrigieren von Temperaturmesswerten T MP (64) um jeweils eine Pixel-zugehörige Temperatur-Driftkomponente T drift (46). Erfindungsgemäß wird zumindest zeitweise ein Einfall von Infrarotstrahlung auf das Infrarot-Detektorarray (36) mittels des Verschlussmechanismus (58) des Infrarot-Messsystems (10, 10a) unterbunden, währenddessen Temperaturmesswerte T MP blind (66) ermittelt werden, und werden die Temperatur-Driftkomponenten T drift (46) unter Verwendung von Temperaturmesswerten TMP blind (66) bestimmt. Ferner wird ein mit dem Verfahren betriebenes Infrarot-Messsystem (10, 10a) vorgeschlagen.
    • 用于表面BEAR表面(22)的温度的非接触确定用于表面BEAR表面(22)的温度分布的非接触确定所提出的方法,特别是基于红外线测量系统(10,10a)的 至少包括: - ;所述入射的红外辐射BEAR依赖性温度值的Ť的<的DEP吨一个具有多个测量的像素(62),每个具有用于确定强度&AUML中的一个的测量信号的红外检测器阵列(36) 子系统和用于防止红外辐射在红外探测器阵列(36)上发生的快门机构,该方法至少具有以下内容 步骤包括:确定多个测量像素(62)的温度读数T(MP)(64);以及 - 修正温度测量Ť的<子>的 MP <子> (64)由一个像素YEARS&OUML;元温度漂移成分T < sub>漂移(46)。 发明&AUML;大街 至少暂时,红外辐射到红外探测器阵列(36)由所述红外线测量系统的锁定机构(58)的手段抑制瓦特BEAR的发生率(10,10A),在此期间的温度测量值的Ť的<子>的 MP 被确定(66),并且温度漂移分量的Ť的<子>的 使用温度读数TMP <盲> (66)计算漂移 , 此外,提出了一种使用该方法操作的红外测量系统(10,10a)。

    • 3. 发明申请
    • THERMAL IMAGING CALIBRATION SYSTEM AND METHOD
    • 热成像校准系统及方法
    • WO2015036192A1
    • 2015-03-19
    • PCT/EP2014/067258
    • 2014-08-12
    • SELEX ES LTD
    • PILLANS, Luke Alexander
    • G01J5/52G01J5/08
    • G01J5/522G01J5/0834G01J5/524G01J2005/0048G01J2005/0077G01J2005/526H04N5/33
    • A system and method is described for calibrating an imaging system. The system incorporates a shutter that is moveable in to the optical path of the imaging system. When the shutter 3 is in the optical path of the imaging system an image of the shutter surface, which is flat and uniform, is generated. The image generated should be uniform. However, 2D IRFPAs comprising an array of pixels often show significant non-uniformity between pixels. This may be caused by a combination of responsivity non-uniformity and variations in DC offset between pixels. These non-uniformities will appear when the shutter 3 is imaged when in the optical path of the imaging system. The shutter 3 can be moved in and out of the optical path between a first 3a and second 3b position. The shutter is heated whilst in the second position 3b and then returned to the first position 3a. A further image of the heated shutter is then generated. The data sets generated at the two different temperatures enabling the image generated by the imaging system in normal use to be to be adjusted for responsivity and variation in DC offset of the specific pixel array.
    • 描述了用于校准成像系统的系统和方法。 该系统包括可移动到成​​像系统的光路的快门。 当快门3处于成像系统的光路中时,产生平坦且均匀的快门表面的图像。 生成的图像应该是均匀的。 然而,包括像素阵列的2D IRFPA通常在像素之间显示出显着的不均匀性。 这可能是由响应度不均匀性和像素之间的DC偏移的变化的组合引起的。 当在成像系统的光路中成像快门3时,将出现这些不均匀性。 挡板3可以在第一3a和第二3b位置之间移动进出光路。 快门在第二位置3b被加热,然后返回到第一位置3a。 然后产生加热的快门的另一图像。 在两个不同温度下产生的数据集使得能够调整正常使用中由成像系统产生的图像以响应特定像素阵列的DC偏移的响应性和变化。
    • 5. 发明申请
    • INFRARED IMAGING DEVICE, VEHICLE WITH THE SAME, AND INFRARED IMAGE ADJUSTING DEVICE
    • 红外成像装置,具有相同功能的车辆和红外图像调整装置
    • WO00042399A1
    • 2000-07-20
    • PCT/JP2000/000116
    • 2000-01-13
    • F01P7/00G01J5/00G01J5/06G01J5/52G01J5/62H04N5/217H04N5/33H04N5/357H04N5/365G01J5/48
    • G01J5/0022G01J5/061G01J5/522G01J5/62G01J2005/068G01J2005/526G08G1/16H04N5/33H04N5/3572H04N5/3651H04N5/3653H04N5/3655
    • An infrared imaging device is disclosed. Shut-off means (40) is closable and openable, and shuts off infrared radiation incident on an optical system (20) when it is in a close state. While the infrared imaging device is imaging, the shut-off means (40) is set in an open state, and the optical system (20) forms an infrared image of an object (70) on an infrared sensor (10) by focusing infrared radiation radiated from the object (70). The infrared sensor (10) outputs a signal corresponding to the amount of infrared radiation received by each pixel. Correction means (30) corrects the sensitivity variations of pixels and the effect of infrared radiation from the optical system (20). While the infrared imaging (40) device is calibrated, the shut-off means is set in a closed state, and correcting means (30) determines a correction coefficient for correcting the variation of the amount of infrared radiation from the optical system (20) by using the output of the infrared sensor (10) imaging the shut-off means (40).
    • 公开了一种红外成像装置。 关闭装置(40)可关闭和打开,并在其处于关闭状态时关闭入射在光学系统(20)上的红外辐射。 当红外成像装置成像时,切断装置(40)被设置为打开状态,并且光学系统(20)通过聚焦红外线(20)在红外传感器(10)上形成对象(70)的红外图像 从物体(70)辐射的辐射。 红外线传感器(10)输出与各像素接收的红外线辐射量对应的信号。 校正装置(30)校正像素的灵敏度变化和来自光学系统(20)的红外辐射的影响。 当红外成像(40)装置被校准时,关闭装置被设置在关闭状态,并且校正装置(30)确定用于校正来自光学系统(20)的红外辐射量的变化的校正系数, 通过使用红外线传感器(10)的输出成像关闭装置(40)。