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    • 6. 发明申请
    • VORRICHTUNG ZUR ECHTHEITSPRÜFUNG VON WERTDOKUMENTEN
    • 设备进行认证有价证券
    • WO2011147575A1
    • 2011-12-01
    • PCT/EP2011/002615
    • 2011-05-26
    • GIESECKE & DEVRIENT GMBHHOLL, NorbertSTEIN, DieterSU, Shanchuan
    • HOLL, NorbertSTEIN, DieterSU, Shanchuan
    • G07D7/12G07D7/20
    • G01J1/42G07D7/12G07D7/202G07G1/0045G07G1/0081
    • Zum Prüfen der Echtheit eines Wertdokuments (BN) wird zumindest eine Intensitätsverteilung einer durch das Wertdokument (BN) rtindurchtreten-den elektromagnetischen Strahlung (7) im Dunkelfeld ortsaufgelöst erfasst und daraus eine ortsaufgelöste Dunkelfeldcharakteristik bestimmt. Die eigentliche Echtheitsprüfung erfolgt dann indem ausgewählte Prüfungsteilbereiche (51a, 51b) des Wertdokuments (BN) jeweils einer von mehreren Verdachtsklasse zugeordnet werden, ein Zusammenhangsbereich aus im Wesentlichen zusammenhängenden Prüfungsteilbereichen (51a, 51b) gebildet wird, die zumindest einer bestimmten Verdachtsklasse zugeordnet wurden, und das Wertdokument (BN) in Abhängigkeit von Form und/oder Lage des Zusammenhangsbereichs einer von zumindest zwei Echtheitskategorien zugeordnet wird, die mit der zumindest einen bestimmten Verdachtsklasse verknüpft ist.
    • 由值(BN)的文件检查的值(BN)的文件的真实性,的至少一条强度分布rtindurchtreten-的电磁辐射(7)在暗视场以空间分辨检测并用于确定一个空间分辨暗场特性。 实际的认证,然后通过试验选择的部分(51A,51B)被分配给多个被怀疑类值(BN)的文件中的一分别(和51b 51A)形成,其中至少有被分配到一个特定的疑似类基本上连续的检查部的连接区域,并进行 的值(BN),这取决于形状和/或所述连接部分的位置的原稿与牢度至少两个类别其中特定类怀疑与所述至少关联。
    • 10. 发明申请
    • VORRICHTUNG ZUR PRÜFUNG VON BANKNOTEN
    • 设备用于测试注意事项
    • WO2004104947A2
    • 2004-12-02
    • PCT/EP2004/005515
    • 2004-05-21
    • GIESECKE & DEVRIENT GMBHWUNDERER, BerndTHIERAUF, KlausHOLL, NorbertSTEIN, Dieter
    • WUNDERER, BerndTHIERAUF, KlausHOLL, NorbertSTEIN, Dieter
    • G07D7/00
    • H04N5/332G07D7/1205H04N9/045
    • Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Prüfung von Banknoten, welche die zu prüfenden Banknoten mittels eines Halbleiter-Arrays abtastet. Die erfindungsgemässe Vorrichtung zur Prüfung von Banknoten weist zwei zeilenförmige Halbleiter-Arrays auf, die von mindestens drei Schichten gebildet werden, die für Licht unterschiedlicher Wellenlänge empfindlich sind, wobei ein erstes zeilenförmiges Halbleiter-Array die Banknoten im einem definierten Bereich der spektralen Empfindlichkeit des Halbleiters (z.B. im sichtbaren Bereich) abtastet und ein zweites zeilenförmiges Halbleiter-Array die Banknoten in einem davon verschiedenen Bereich (z.B. des nicht sichtbaren infraroten Lichts) abtastet. Aus den Signalen der beiden Arrays wird durch geeignete Kombination ein farbiges Abbild der Banknote und wenigstens ein Abbild im Bereich des nicht sichtbaren Lichts gewonnen. Die erfindungsgemässe Vorrichtung weist den Vorteil auf, dass sie einfach und kostengünstig zu realisieren ist und wegen der Vermeidung von Bildfehlern, die beispielsweise durch Parallaxenfehler verursacht werden können, gute Prüfungsergebnisse liefert.
    • 本发明涉及一种用于检查钞票,其扫描由一个半导体阵列来检查钞票的装置。 用于检查钞票本发明的装置具有两个线状半导体阵列,其由至少三层形成,其是对不同波长的光敏感,其中第一线形半导体阵列(在一个限定的半导体的光谱灵敏度的范围中的钞票, 例如,在可见光范围内的样品)和第二线形半导体阵列中它们的不同的区域中的纸币(例如,不可见的红外光)的样品。 来自两个阵列的信号形成钞票的彩色图像和非可见光的范围内的至少一个图像是通过适当组合而获得的。 本发明的装置具有的优点是它是简单且廉价地实施,并且提供由于预防图像缺陷的,可以例如由视差引起的良好的考试结果。