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1. 发明申请

WO2008064922A1 LAYOUT OF PIXEL CELLS 审中-公开
标题翻译：像素细胞的布局
公开(公告)号：WO2008064922A1
公开(公告)日：2008-06-05
申请号：PCT/EP2007/010782
申请日：2007-12-03
申请人： GEMIDIS NV , VERMANDEL, Miguel
发明人： VERMANDEL, Miguel
IPC分类号： G02F1/1362 , H01L27/32
CPC分类号： G02F1/1362 , G02F1/13454 , G02F1/136209 , G02F1/136213 , G02F1/136277 , G02F2001/136254
摘要： An array (40) of active pixel cells (49), wherein each pixel cell (49) comprises an actuator (42) for changing reflectivity of the pixel cell (49) depending on image data to be shown by the pixel cell (49), and a switch (43) for allowing image data to pass from a data signal bus (44) to the actuator (42). The layout of the pixel cells (49) is such that at least for some pixel cells (49) in the array (40) the switch (43) is physically located underneath the actuator (42) of another pixel cell (49) of the array (40). This lay-out is advantageous in terms of light shielding.
摘要翻译：有源像素单元（49）的阵列（40），其中每个像素单元（49）包括用于根据要由像素单元（49）示出的图像数据改变像素单元（49）的反射率的致动器（42），以及用于允许图像数据从数据信号总线（44）传递到致动器（42）的开关（43）。像素单元（49）的布局使得至少对于阵列（40）中的一些像素单元（49），开关（43）物理地位于另一像素单元（49）的致动器（42）的下方阵列（40）。这种布局在光屏蔽方面是有利的。

2. 发明申请

WO2009130627A1 AN INTEGRATED CIRCUIT AND A MISALIGNMENT DETERMINATION SYSTEM FOR CHARACTERIZING THE SAME 审中-公开
标题翻译：集成电路和用于表征其的MISALIGNMENT确定系统
公开(公告)号：WO2009130627A1
公开(公告)日：2009-10-29
申请号：PCT/IB2009/051408
申请日：2009-04-03
申请人： NXP B.V. , HAUSSER, Stefan , EICHLER, Christoph , VERMANDEL, Miguel
发明人： HAUSSER, Stefan , EICHLER, Christoph , VERMANDEL, Miguel
IPC分类号： G03F7/20
CPC分类号： G03F7/70475 , G03F7/70633
摘要： A method comprising forming a first integrated circuit component (102) and a first misalignment test structure (104) on and/or in a first surface portion (106) of a substrate (108) using a first mask (110), forming a second integrated circuit component (112) and a second misalignment test structure (114) on and/or in a second surface portion (116) of the substrate (108) using a second mask (118), wherein the first misalignment test structure (104) and the second misalignment test structure (114) are formed to overlap one another, and determining potential misalignment between the first integrated circuit component (102) and the second integrated circuit component (112) based on an evaluation of an electric measurement indicative of a potential misalignment between the first misalignment test structure (104) and the second misalignment test structure (114).
摘要翻译：一种方法，包括使用第一掩模（110）在衬底（108）的第一表面部分（106）上和/或第一表面部分（106）上形成第一集成电路部件（102）和第一未对准测试结构（104），形成第二使用第二掩模（118）在所述基板（108）的第二表面部分（116）上和/或第二表面部分（116）上的第二未对准测试结构（114）和第二未对准测试结构（114）并且第二未对准测试结构（114）形成为彼此重叠，并且基于表示电位的电测量的评估来确定第一集成电路部件（102）和第二集成电路部件（112）之间的潜在的未对准第一未对准测试结构（104）和第二未对准测试结构（114）之间的未对准。

3. 发明申请

WO2012059560A1 PROCESS AND APPARATUS FOR MAKING ALTERNATE S/Z TWIST PLIED BRAID OR JOINED ALTERNATE S/Z TWIST PLIED YARNS 审中-公开
标题翻译：用于制作替代S / Z TWAS PLIED BRAID或JOINED ALTERNATE S / Z TWIST PLIED YARNS的工艺和设备
公开(公告)号：WO2012059560A1
公开(公告)日：2012-05-10
申请号：PCT/EP2011/069368
申请日：2011-11-03
申请人： GILBOS NV , GILBOS, Erik , VERMANDEL, Miguel , EVENEPOEL, Hans , CLAES, Jeroen
发明人： GILBOS, Erik , VERMANDEL, Miguel , EVENEPOEL, Hans , CLAES, Jeroen
IPC分类号： D02G3/28
CPC分类号： D02G3/286 , D02J13/00
摘要： The present invention provides an improved method and device for producing an alternate S/Z twist plied braid and joined alternate S/Z twist plied yarns. The invention further provides an alternate S/Z twist plied braid and joined alternate S/Z twist plied yarns produced according to a process of the invention.
摘要翻译：本发明提供了用于生产交替的S / Z捻合编织物和连接的交替S / Z捻合纱的改进的方法和装置。本发明还提供了根据本发明的方法生产的替代的S / Z捻合编织物和连接的交替的S / Z捻合纱。

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