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1. 发明申请

WO2009112431A1 SURFACE PLASMON RESONANCE ENHANCED NONLINEAR MICROSCOPY 审中-公开
标题翻译：表面等离子体共振增强非线性显微镜
公开(公告)号：WO2009112431A1
公开(公告)日：2009-09-17
申请号：PCT/EP2009/052641
申请日：2009-03-05
申请人： ECOLE NORMALE SUPERIEURE DE LYON , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE , EAST CHINA NORMAL UNIVERSITY , ARGOUL, Françoise , BERGUIGA, Lofti , ZENG, Heping , ZHANG, Sanjun
发明人： ARGOUL, Françoise , BERGUIGA, Lofti , ZENG, Heping , ZHANG, Sanjun
IPC分类号： G01N21/63 , G01N21/55
CPC分类号： G01N21/553 , G01N21/636
摘要： The present invention relates to a nonlinear microscopy method for imaging a sample (S) by means of harmonic generation, characterized in that the electromagnetic field E of the excitation light beam (L) illuminating the sample is amplified by surface plasmon resonance (SPR) at the interface between said sample (S) and a metal layer (5) onto which the sample is lying and said excitation light beam to amplify the intensity of harmonic light beams (2L) in an observation beam reflected or transmitted from the sample. The invention also proposes a microscope to carry out the method of the invention.
摘要翻译：本发明涉及一种用于通过谐波产生对样本（S）进行成像的非线性显微镜方法，其特征在于，照射样品的激发光束（L）的电磁场E通过表面等离子共振（SPR）在所述样品（S）与样品所在的金属层（5）之间的界面和所述激发光束以放大从样品反射或透射的观察光束中的谐波光束（2L）的强度。本发明还提出了一种用于实施本发明的方法的显微镜。

2. 发明申请

WO2010092302A2 MICROSCOPE DE PLASMON DE SURFACE A HAUTE RESOLUTION COMPORTANT UN INTERFEROMETRE HETERODYNE FIBRE 审中-公开
标题翻译：高分辨率表面等离子体显微镜，包括异型纤维干燥仪
公开(公告)号：WO2010092302A2
公开(公告)日：2010-08-19
申请号：PCT/FR2010/050227
申请日：2010-02-11
申请人： ECOLE NORMALE SUPERIEURE DE LYON , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE , ARGOUL, Françoise , BERGUIGA, Lofti , FAHYS, Audrey
发明人： ARGOUL, Françoise , BERGUIGA, Lofti , FAHYS, Audrey
IPC分类号： G01N21/55 , G02B21/00 , G01N13/00 , G02B21/18
CPC分类号： G01N21/553 , G01B9/02002 , G01B9/04 , G01B2290/70 , G02B21/0092 , G02B21/18
摘要： La présente invention concerne un microscope à plasmon de surface à haute résolution comportant un interféromètre hétérodyne (6) divisant un faisceau lumineux d'excitation en au moins un faisceau de référence et au moins un faisceau de mesure dirigé vers un milieu de couplage optique (7) pour générer un plasmon de surface, ledit interféromètre hétérodyne étant constitué essentiellement de fibres optiques de guidage (12, 13, 14, 15) reliées optiquement au niveau d'une première de leurs extrémités à un coupleur optique (16) et chacune également reliées optiquement en leur seconde extrémité respectivement à une source lumineuse (1), un milieu de couplage optique (7), un élément réfléchissant (17) du faisceau de référence, et des moyens de détection (28) d'un faisceau interférométrique.
摘要翻译：本发明涉及一种高分辨率表面等离子体显微镜，其包括将激发光束分成至少一个参考光束的外差干涉仪（6）和指向光耦合介质（7）的至少一个测量光束，用于产生表面等离子体激元，所述外差干涉仪基本上由光导纤维（12,13,14,15）形成，所述光导纤维在其第一端部光学连接到光耦合器（16），并且在其第二端光学连接到光源）到光耦合介质（7），参考光束反射元件（17）和用于分别检测干涉仪光束的装置（28）。

3. 发明申请

WO2009080998A2 MICROSCOPE A PLASMON DE SURFACE A HAUTE RESOLUTION AVEC INTERFEROMETRE HETERODYNE EN POLARISATION RADIALE 审中-公开
标题翻译：径向极化模式下高分辨率表面等离子体显微镜的异方差干涉测量
公开(公告)号：WO2009080998A2
公开(公告)日：2009-07-02
申请号：PCT/FR2008/052279
申请日：2008-12-11
申请人： ECOLE NORMALE SUPERIEURE DE LYON , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE , BERGUIGA, Lofti , ARGOUL, Françoise
发明人： BERGUIGA, Lofti , ARGOUL, Françoise
IPC分类号： G01N21/55 , G01B9/02 , G01B9/04 , G02B21/00 , G01N13/14
CPC分类号： G01N21/553 , B82Y20/00 , B82Y35/00 , G01B9/04 , G01N2201/067
摘要： La présente invention concerne un microscope à plasmon de surface à balayage à haute résolution comportant une source (LG) de lumière cohérente, et un milieu de couplage et de confinement d'un plasmon de surface comportant un objectif (O, 0 M ) à grande ouverture numérique, une huile à immersion (Hi) et une lamelle de verre (G s ). Une couche métallique (M s ) recouvre une surface de la lamelle de verre (G s ). le microscope comporte également un interféromètre de Twyman-Green en mode hétérodyne est placé entre la source lumineuse et le milieu de couplage ainsi que des moyens de balayage (PL 1 , PL 2 , EC) de la couche métallique à l'aide d'un faisceau lumineux, et des moyens de détection (PD) du faisceau issu de l'interféromètre reliés à des moyens de traitement (S, F, D Tec , COMP) et de formation d'une image à partir de ce faisceau. Conformément à l'invention, au moins un convertisseur de polarisation linéaire en polarisation radiale (CP) des faisceaux lumineux (L) émis par la source lumineuse (LG) est disposé entre la source lumineuse et l'interféromètre.
摘要翻译：本发明涉及高分辨率扫描表面等离子体激元显微镜，其包括相干光源（LG）和用于耦合和限制表面等离子体激元的介质，包括大数值孔径的物镜（O，OM），浸没油（Hi）和一个载玻片（Gs）。金属层（Ms）覆盖载玻片（Gs）的一个表面。该显微镜还包括以外差模式操作的Twyman-Green干涉仪，其被放置在光源和耦合介质之间，并且还包括用于使用光束扫描金属层的装置（PL1，PL2，EC）），用于检测由干涉仪输出的光束，所述装置连接到用于处理和形成来自该光束的图像的装置（S，F，DTec，COMP）。根据本发明，用于将由光源（LG）发射的光束（L）的线偏振转换成径向偏振的至少一个偏振转换器（CP）放置在光源与干涉仪之间。

4. 发明申请

WO2009080998A3 MICROSCOPE A PLASMON DE SURFACE A HAUTE RESOLUTION AVEC INTERFEROMETRE HETERODYNE EN POLARISATION RADIALE 审中-公开
公开(公告)号：WO2009080998A3
公开(公告)日：2009-07-02
申请号：PCT/FR2008/052279
申请日：2008-12-11
申请人： ECOLE NORMALE SUPERIEURE DE LYON , CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE , BERGUIGA, Lofti , ARGOUL, Françoise
发明人： BERGUIGA, Lofti , ARGOUL, Françoise
IPC分类号： G01N21/55 , G01B9/02 , G01B9/04 , G02B21/00
摘要： La présente invention concerne un microscope à plasmon de surface à balayage à haute résolution comportant une source (LG) de lumière cohérente, et un milieu de couplage et de confinement d'un plasmon de surface comportant un objectif (O, 0 M ) à grande ouverture numérique, une huile à immersion (Hi) et une lamelle de verre (G s ). Une couche métallique (M s ) recouvre une surface de la lamelle de verre (G s ). le microscope comporte également un interféromètre de Twyman-Green en mode hétérodyne est placé entre la source lumineuse et le milieu de couplage ainsi que des moyens de balayage (PL 1 , PL 2 , EC) de la couche métallique à l'aide d'un faisceau lumineux, et des moyens de détection (PD) du faisceau issu de l'interféromètre reliés à des moyens de traitement (S, F, D Tec , COMP) et de formation d'une image à partir de ce faisceau. Conformément à l'invention, au moins un convertisseur de polarisation linéaire en polarisation radiale (CP) des faisceaux lumineux (L) émis par la source lumineuse (LG) est disposé entre la source lumineuse et l'interféromètre.

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