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1. 发明申请

WO2012110898A9 SYSTEM AND METHOD FOR MULTI-SCANNER X-RAY INSPECTION 审中-公开
公开(公告)号：WO2012110898A9
公开(公告)日：2012-08-23
申请号：PCT/IB2012/000570
申请日：2012-02-16
申请人： DREISEITEL, Pia , MUENSTER, Matthias , KOENIG, Sebastian , SMITHS HEIMANN GMBH
发明人： DREISEITEL, Pia , MUENSTER, Matthias , KOENIG, Sebastian
IPC分类号： G01N23/04 , G01V5/00
摘要： A method of analyzing a target item utilizing multiple scanners is disclosed. The method can include providing an item comprising a material. The method can further include acquiring a first set of scan data associated with the item using a first scanner, and acquiring a second set of scan data associated with the item using a second scanner. The method can further include generating a first set of transform data from the first set of scan data, analyzing the first set of transform data to identify a subset of the first set of transform data associated with a first region, and analyzing the second set of scan data to identify a subset of the second set of scan data associated with a second region. The method can also include generating a measure that at least a portion of scan data is consistent with a presence of a candidate material in the item, where the portion of scan data is selected from at least one of the set consisting of: the subset of the first set of transform data and the subset of the second set of scan data.

2. 发明申请

WO2012114199A2 IMAGE RECONSTRUCTION BASED ON PARAMETRIC MODELS 审中-公开
标题翻译：基于参数模型的图像重建
公开(公告)号：WO2012114199A2
公开(公告)日：2012-08-30
申请号：PCT/IB2012/000416
申请日：2012-02-23
申请人： MUENSTER, Matthias , DREISEITEL, Pia , SMITHS HEIMANN GMBH
发明人： MUENSTER, Matthias , DREISEITEL, Pia
CPC分类号： G06F17/50 , A61B6/0471 , A61B6/4014 , A61B6/482 , A61B6/5205 , F04C2270/041 , G01N23/046 , G01N2223/401 , G01N2223/419 , G06T11/006 , G06T17/30
摘要： Systems and methods for modeling are provided. The method can include acquiring scan data associated with a plurality of x-ray projections of an item. The method can further include determining at least one closed boundary curve associated with the item. For example, the method can determine a first maximum area based on the scan data and determine at least one edge of the first maximum area. The method can further generate a model of the item using the closed boundary curve and a first material specific parameter for a material within the closed boundary curve. The method can utilize the model to generate computed scan data, compare the computed scan data to the scan data, and determine a goodness of fit. The method can further adjust the model of the item by altering at least one of the closed boundary curve and the material specific parameter.
摘要翻译：提供了建模的系统和方法。该方法可以包括获取与项目的多个x射线投影相关联的扫描数据。该方法还可以包括确定与该项目相关联的至少一个闭合边界曲线。例如，该方法可以基于扫描数据确定第一最大区域并且确定第一最大区域的至少一个边缘。该方法可以使用闭合边界曲线和闭合边界曲线内的材料的第一材料特定参数来进一步生成物品的模型。该方法可以利用该模型生成计算的扫描数据，将计算的扫描数据与扫描数据进行比较，并确定拟合优度。该方法可以通过改变闭合边界曲线和材料特定参数中的至少一个来进一步调整物品的模型。

3. 发明申请

WO2009127353A1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DETEKTION EINES BESTIMMTEN MATERIALS IN EINEM OBJEKT MITTELS ELEKTROMAGNETISCHER STRAHLEN 审中-公开
标题翻译：方法和装置检测到特定材料的物体被电磁辐射的方式
公开(公告)号：WO2009127353A1
公开(公告)日：2009-10-22
申请号：PCT/EP2009/002603
申请日：2009-04-08
申请人： SMITHS HEIMANN , MÜNSTER, Matthias , NITTIKOWSKI, Jörg , DREISEITEL, Pia , MADER, Andreas , HEINKEL, Rainer , RIES, Thomas , NAUMANN, Dirk , SIEDENBURG, Uwe
发明人： MÜNSTER, Matthias , NITTIKOWSKI, Jörg , DREISEITEL, Pia , MADER, Andreas , HEINKEL, Rainer , RIES, Thomas , NAUMANN, Dirk , SIEDENBURG, Uwe
IPC分类号： G01N23/08 , G01V5/00
CPC分类号： G01V5/0058 , G01N23/04 , G01N23/087 , G01N23/10 , G01N2223/401 , G01N2223/633 , G01N2223/639 , G01V5/0016
摘要： Beschrieben wird ein Verfahren zur Detektion eines bestimmten Materials in einem Objekt (1), insbesondere in einem Gepäckstück, mittels elektromagnetischer Strahlen, bei dem die Intensitäten von nicht absorbierten Strahlen aus mindestens drei Strahlenebenen in zugeordneten Detektoranordnungen gemessen und ausgewertet werden, wobei - zunächst aus den Intensitäten der nicht absorbierten Strahlung ein Bild erzeugt wird, und, falls einfache Bereiche (E) geringer Komplexität ermittelt werden die sich durch ungefähr konstante Intensitäten auszeichen, nach einem Algorithmus, der aus verschiedenen Ansichten eine dreidimensionale Rekonstruktion errechnet, eine Abschätzung des Schwächungskoeffizienten μ, vorgenommen wird und in dem Bereich (E) eine Materialdetektion durchgeführt wird.
摘要翻译：公开了用于在一件行李中的物体（1）检测特定的材料，特别地，通过电磁辐射的装置的方法，其中所述来自至少三个光束平面未被吸收的辐射的强度都在相关联的检测器阵列测量和评估，其特征在于， - 从所述第一非吸收的辐射的强度，将产生一个图像，并且，如果确定低复杂度的简单区域（e）中，其是用于通过大致恒定强度的特点，根据本发明的算法，它是从不同的视图的三维重建的，衰减系数μ的估计值，由计算并且是在区域（e）中进行的材料的检测。

4. 发明申请

WO2010143174A1 AN IMAGE SYSTEM DESIGNED TO SCAN FOR SECURITY THREATS 审中-公开
标题翻译：设计用于扫描安全威胁的图像系统
公开(公告)号：WO2010143174A1
公开(公告)日：2010-12-16
申请号：PCT/IE2010/000037
申请日：2010-06-11
申请人： SMITHS DETECTION IRELAND LIMITED , ABDILLAH. Mohammed Ben , ENTCHEV, Emil , WIDERA, Adam , MCNABOE, John , LYONS, Brendan , VOLZ, Claudius , DREISEITEL, Pia , MEDER, Claus
发明人： ABDILLAH. Mohammed Ben , ENTCHEV, Emil , WIDERA, Adam , MCNABOE, John , LYONS, Brendan , VOLZ, Claudius , DREISEITEL, Pia , MEDER, Claus
IPC分类号： G01V5/00 , G01V8/00 , G01S13/88
CPC分类号： G01S7/295 , G01S13/887 , G01S13/89 , G01V8/005
摘要： An imaging system comprises a transmitter (24, 25), a receiver (24, 25, 21), and a controller (20) for directing the transmitter and the receiver to scan an object in a volume. The controller determines which sub- volumes of the volume the object is located within and then performs a fine scan in those sub-volumes. This reduces overall scanning time. The controller (20) may compare a received signal sample magnitude from the initial scan with a threshold to make the decision. The initial scan may be performed with a spot size to include only one or more particular volume elements within at least some of the sub-volumes.
摘要翻译：成像系统包括发射器（24,25），接收器（24,25,21）和用于引导发射器和接收器扫描体积中的物体的控制器（20）。控制器确定对象所在的卷的哪些子卷，然后在这些子卷中执行精细扫描。这减少了整体扫描时间。控制器（20）可以将来自初始扫描的接收信号采样幅度与阈值进行比较，以作出决定。初始扫描可以利用斑点大小来执行，以在至少一些子体积内仅包括一个或多个特定体积元素。

5. 发明申请

WO2015107150A2 VERFAHREN UND RÖNTGENPRÜFANLAGE, INSBESONDERE ZUR ZERSTÖRUNGSFREIEN INSPEKTION VON OBJEKTEN 审中-公开
标题翻译：方法和X射线测试系统，特别是对物体的非破坏性检测
公开(公告)号：WO2015107150A2
公开(公告)日：2015-07-23
申请号：PCT/EP2015/050773
申请日：2015-01-16
申请人： SMITHS HEIMANN GMBH
发明人： DREISEITEL, Pia , KÖNIG, Sebastian , MADER, Andreas , NAUMANN, Dirk , NITTIKOWSKI, Jörg
IPC分类号： G01V5/00
CPC分类号： G01V5/005
摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur zerstörungsfreien Inspektion eines Objekts (104), wobei das Objekt (104) mit elektromagnetischer Strahlung (113, 123, 133) durchstrahlt wird und Intensitätswerte nicht absorbierter Strahlen gemessen und ausgewertet werden, wobei das Verfahren die folgenden Schritten aufweist: Erzeugen eines dreidimensionalen Datensatzes (300), in dem einzelnen Raumelementen (301) des Objektes (104) jeweils ein einer ersten Materialeigenschaft des Objekts (104) entsprechender erster Materialgrößenwert mittels eines Computertomografieverfahrens zugeordnet ist; Bestimmen, in dem das Objekt (104) repräsentierenden dreidimensionalen Datensatz (300), eines Prüfraums (310) mit Raumelementen (301), deren erster Materialgrößenwert in einem vorbestimmten Wertebereich liegt; Ableiten von Werten basierend auf dem dreidimensionalen Datensatz (300), die jeweils einer räumlich geometrischen Größe des Prüfraums (310) in einer vorbestimmten Projektionsrichtung (PR1, PR2) entsprechen; Erzeugen eines zweidimensionalen Datensatzes (400), in dem einzelnen Flächenelementen (401) des Objekts (104) jeweils ein einer zweiten Materialeigenschaft des Objekts (104) entsprechender zweiter Materialgrößenwert basierend auf einer Flächenprojektion des Objekts (104) in der vorbestimmten Projektionsrichtung (PR1, PR2) mittels eines zweidimensionalen Röntgenverfahrens zugeordnet ist; Bestimmen eines Prüfbereichs (410) in dem zweidimensionalen Datensatz (400), indem eine Projektion (310') des Prüfraums (310), der vorbestimmten Projektionsrichtung (PR1, PR2) entsprechend, in den zweidimensionalen Datensatz (400) berechnet wird; und Übertragen der abgeleiteten Werte der räumlich geometrischen Größe in jeweils entsprechende Flächenelemente (401) der Projektion (310').
摘要翻译：本发明涉及一种用于物体（104）的非破坏性检查的方法，其中用电磁辐射（113,123,133）照射物体（104）并测量未吸收辐射的强度并进行评价，该方法包括以下步骤：生成在所述对象（104）对应的第一Materialgr＆oUML所述对象（104）的第一材料特性中的每一个的单独的空间元素（301）的三维数据集（300）;道路enwert装置与计算机断层摄影方法相关联; 在表示对象（104）的三维数据记录（300）中确定具有空间元素（301）的样本空间（310），其空间元素（301）的第一材料量值位于预定值范围内; 基于三维数据集（300）导出各自对应于样本空间（310）在预定投影方向（PR1，PR2）上的空间几何尺寸的值; 产生在个别FL＆AUML一个二维数据集（400）;对象的chenelementen（401）（104）中的对象的第二材料特性中的每一个（104）各自的第二Materialgr＆OUML;道路enwert基于一个FL＆AUML;对象的chenprojektion（104）在预定的投影方向（PR1，PR2）上通过二维X射线方法分配; 由镨导航用途fraums的投影（310“）（310）确定在所述二维数据集（400）一个镨导航用途fbereichs（410）的所述预定投影方向（PR1，PR2）对应，在所述二维数据集计算（400） ; 并将空间几何幅度e的导出值转换成投影（310'）的对应表面元素（401）。

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