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1. 发明申请

WO2010032429A1 近接場光学顕微鏡の信号光測定システム审中-公开
标题翻译：用于近场光学显微镜的信号灯测量系统
公开(公告)号：WO2010032429A1
公开(公告)日：2010-03-25
申请号：PCT/JP2009/004588
申请日：2009-09-15
申请人：独立行政法人科学技術振興機構 , 市村垂生 , 矢野隆章 , 井上康志 , 河田聡
发明人：市村垂生 , 矢野隆章 , 井上康志 , 河田聡
IPC分类号： G01N13/14
CPC分类号： G01Q20/02 , G01N21/6458 , G01Q60/22
摘要：　近接場光により試料から放射される信号光のプローブ・試料間距離依存性を調べることができる近接場光学顕微鏡の信号光測定システムを提供する。本発明の信号光測定システムは、試料の表面を走査するプローブ１２、光源１６、試料から放射される信号光を検出する分光器１８を備えている。前記プローブ１２はカンチレバーとその先端の銀チップから成る。カンチレバーは振動子２０によって加振され、これにより銀チップの先端が試料表面に間欠接触する。光源１６から出射された光は、光変調器２４、ビームスプリッタ２６，対物レンズ２２，透明基板１２を経て試料表面に照射され、試料表面に近接場光を生成させる。この近接場光によって試料から信号光が放射される。
摘要翻译：公开了一种用于近场光学显微镜的信号光测量系统，其能够通过近场光相对于探针和样本之间的距离来研究从样本发射的信号光的依赖性。该信号光测量系统配备有扫描样品表面的探针（14），光源（16）和检测从样品发出的信号光的分光镜（18）。探针（14）在其顶端包括悬臂和银芯片。悬臂由振荡器（20）振动，导致银芯片的尖端间断地与试样的表面接触。从光源（16）发射的光通过光调制器（24），分束器（26），物镜（22）和透明基板（12），并且撞击样本表面，产生近场在样品表面发光。信号光通过该近场光从样品辐射。

2. 发明申请

WO2010016267A1 粒子プローブ近傍に存在する物質の分布を検出する方法、粒子プローブを用いた画像化方法およびその利用审中-公开
标题翻译：用于检测粒子探针附近物质分布的方法，使用粒子探针的成像方法及其使用方法
公开(公告)号：WO2010016267A1
公开(公告)日：2010-02-11
申请号：PCT/JP2009/003792
申请日：2009-08-07
申请人：独立行政法人科学技術振興機構 , 河田聡 , 藤田克昌 , 井上康志 , 市村垂生 , 安藤潤
发明人：河田聡 , 藤田克昌 , 井上康志 , 市村垂生 , 安藤潤
IPC分类号： G01N21/65 , G01N21/27 , G01N21/64 , G01N33/48
CPC分类号： G01N21/6458 , G01N21/658
摘要：　本発明は外的な走査を行うことなく、生細胞内の分子等の微小な試料の分布を高感度で高速かつ、高空間分解に検出する方法を提供する。本発明は試料において粒子プローブ近傍に存在する物質の分布を検出する方法であって、（１）流動場を備える試料の流動場に粒子プローブを導入する工程、（２）上記粒子プローブの近傍に存在する物質の光学応答を経時的に検出することによって、試料における粒子プローブの位置情報および上記粒子プローブの近傍に存在する物質の情報を複数取得する工程を含む。
摘要翻译：公开了一种用于以高灵敏度，高速度和高空间分辨率检测微细样品（例如活细胞内的分子）的分布，而无需外部扫描的方法。在样品内检测存在于粒子探针附近的物质的分布的方法包括：（1）将粒子探针引入具有流场的样品的流场中的步骤; 以及（2）通过检测存在于粒子探针附近的物质随时间的光学响应，获取与样品中的粒子探针的位置和存在于粒子探针附近的物质有关的多个数据的步骤。

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