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1. 发明申请

WO2010137330A1 遅延調整装置、遅延調整方法审中-公开
标题翻译：延迟调整设备和延迟调整方法
公开(公告)号：WO2010137330A1
公开(公告)日：2010-12-02
申请号：PCT/JP2010/003568
申请日：2010-05-27
申请人：パナソニック株式会社 , 石野公一 , 中山武司 , 石井雅博
发明人：石野公一 , 中山武司 , 石井雅博
IPC分类号： G06F12/00
CPC分类号： G06F13/1689
摘要：　外部メモリとの間でデータ通信を行うために、データ信号と、データラインにのるデータ信号を読み取るタイミングを規定するストローブ信号との遅延調整をする遅延調整装置を提供する。遅延調整部に含まれるテストアクセス部１５０は、メモリ回路との間のデータ転送に用いられるデータラインの使用メモリバンド幅を監視するメモリバンド幅監視部２１２を備え、使用しているメモリバンド幅が所定の閾値よりも低いときに遅延調整を実行する。遅延調整は、ストローブ信号をデータ信号から所定の遅延量だけ遅延させてそのときのデータ転送の成否を判定することを、遅延量を換えながら行って、最適な遅延量を算出し、以降算出した遅延量を用いてストローブ信号を遅延させる。
摘要翻译：提供了一种调整数据信号和选通信号之间的延迟的延迟调整装置，其中规定了要读取放置在数据线上的数据信号的定时。包含在延迟调整单元中的测试访问单元（150）设置有存储器带宽监视单元（212），其监视要在数据中使用的数据线的使用的存储器带宽使用存储器电路传送，并且当所使用的存储器带宽比规定的阈值窄时调整延迟。延迟调整通过将数据信号的选通信号延迟规定的延迟时间来计算最佳延迟量，并且评估数据传输是否成功，同时改变延迟量同时，并且使用所计算的延迟量延迟选通信号。

2. 发明申请

WO2010044208A1 デバッグ機能を有する半導体装置、半導体動作監視システム、及びデバッグ信号出力方法审中-公开
标题翻译：具有调试功能的半导体器件，半导体操作监控系统和调试信号输出方法
公开(公告)号：WO2010044208A1
公开(公告)日：2010-04-22
申请号：PCT/JP2009/005075
申请日：2009-10-01
申请人：パナソニック株式会社 , 中山武司 , 石井雅博
发明人：中山武司 , 石井雅博
IPC分类号： G06F11/28
CPC分类号： G01R31/31705
摘要：　少なくとも１つの機能ブロックと、信号出力のためだけに利用される出力バス端子を含む複数の接続端子と、デバッグ機能によって得られる少なくとも１つの機能ブロックの動作状態を示す内部信号を取得する取得部と、出力バス端子へ出力される正規信号と内部信号とを入力し、正規信号に内部信号を重畳させたデバッグ信号を生成し、出力バス端子へ出力する出力変換部とを備える。
摘要翻译：该装置设置有至少一个功能块，多个连接端子，其包括仅用于信号输出的输出总线端子，用于获取显示至少一个功能块的操作状态的内部信号的获取单元，并且使用调试功能以及输出到输出总线端子和内部信号的正常信号输出的输出转换单元，并且通过将内部信号叠加在正常信号上并将其输出到输出总线端子来产生调试信号。

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