会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 1. 发明申请
    • 光分析装置及び光分析デバイス
    • 光学分析单元和光学分析装置
    • WO2005054826A1
    • 2005-06-16
    • PCT/JP2004/018315
    • 2004-12-08
    • オムロン株式会社松下 智彦西川 武男津田 裕子乗岡 茂巳和沢 鉄一青山 茂
    • 松下 智彦西川 武男津田 裕子乗岡 茂巳和沢 鉄一青山 茂
    • G01N21/27
    • G01N21/7703G01N21/553
    •  複数本のコア51を有する導波路部43の両端に、各コア51端面と対向させるようにして発光素子47と受光素子49を配置する。導波路部43の上には、スイッチング部44を重ねる。スイッチング部44には、コア51を伝搬する光を透過させる状態と反射させる状態とに切替可能となったスイッチング窓52を縦横に配列し、各コア51の上面に沿ってスイッチング窓52を複数配列させる。スイッチング部44の上には、金属薄膜61が形成された流路60を複数有する検査基板45を配置し、流路60内で金属薄膜61の上に受容体62を固定する。各流路60内には、特異性のリガンドを含んだ被検体を流す。
    • 发光元件(47)和光接收元件(49)分别设置在具有多个芯(51)的波导单元(43)的相对的两端,以面对相对芯(51)的端面。 开关单元(44)重叠在波导单元(43)上。 切换窗(52)在开关单元(44)上交叉排列,以便允许通过芯(51)传播的光在光透射状态和光反射状态之间切换,具有多个切换窗口 沿着每个芯部51的上表面布置。 具有多个形成有金属薄膜(61)的流路(60)的检查基板(45)设置在切换单元(44)上,并且在每个膜(61)上固定有接收器(62) 每个流动路径(60)。 被检查的包含特定配体的材料被允许流过每个流动路径(60)。
    • 2. 发明申请
    • 局在プラズモン共鳴センサ及び検査装置
    • 本地等离子体共振传感器和检测仪器
    • WO2005095927A1
    • 2005-10-13
    • PCT/JP2005/006116
    • 2005-03-30
    • オムロン株式会社松下 智彦青山 茂西川 武男長岡 真吾和沢 鉄一
    • 松下 智彦青山 茂西川 武男長岡 真吾和沢 鉄一
    • G01N21/27
    • G01N21/648Y10S435/808Y10S436/805
    •  透明基板32の表面に金属微粒子33を間をまばらに固定し、特異的なリガンドを吸着する受容体35を透明基板32又は金属微粒子33の上に固定する。透明基板32下面にはプリズム36を密着させてあり、プリズム36を通して透明基板32に励起光を入射させる。入射光は透明基板32の表面で全反射し、当該表面に発生したエバネッセント光と金属微粒子33が局在プラズモン共鳴する。エバネッセント光と金属微粒子とが局在プラズモン共鳴することによって強い電界が金属微粒子近傍に閉じ込められる。金属微粒子33と受容体35を設けられた面を発光分子で修飾されたリガンドを含んだ分析試料液に接触させると、受容体に吸着された特異的なリガンドを修飾している発光分子だけが発光する。
    • 精细金属颗粒(33)稀疏地固定在透明基板(32)的表面上,并且将吸附单一配体的受体(35)固定在透明基板(32)或细金属颗粒(33)上。 棱镜(36)与透明基板(32)的下表面紧密接触地设置,激发光通过棱镜(36)撞击在透明基板(32)上。 入射光从透明基板(32)的表面全反射,局部等离子体共振发生在表面产生的ev逝光与金属微粒(33)之间。 当在ev逝光和细金属颗粒之间发生等离子体共振时,强电场被限制在细金属颗粒附近。 当具有细金属颗粒(33)和受体(35)的表面与含有用发光分子改性的配体的分析样品液体接触时,仅吸附单配体的发光分子 对受体的修饰发光。