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    • 6. 发明申请
    • PROGRAMMABLE LOGIC ARRAY
    • 可编程逻辑阵列
    • WO1988003291A2
    • 1988-05-05
    • PCT/US1987002875
    • 1987-10-28
    • SILC TECHNOLOGIES, INC.
    • SILC TECHNOLOGIES, INC.JOU, Jing-YangROSEBRUGH, Christopher
    • G06F11/26
    • G01R31/318516G06F11/27
    • Built-in self-test programmable logic arrays use a deterministic test pattern generator to generate test patterns such that each cross point in an AND-plane can be evaluated sequentially. A multiple input signature register which uses XQ + 1 as its characteristics polynomial is used to evaluate the test results, where Q is the number of outputs. The final signature can be further compressed into only ONE bit. Instead of only determining the probability of fault detection, in this scheme, the fault detection capability has been analyzed using both the stuck at fault and the contact fault model. It can be shown that all of these faults can be detected. Shorts between two adjacent lines can be detected by using NOR gates.
    • 内置的自控可编程逻辑网络使用确定性控制模型生成器来生成控制模型,其中可评估AND平面上的每个交叉点。 使用XQ + 1作为特征多项式的多输入签名寄存器用于评估控制结果,其中Q是输出数。 最后的签名可以进一步压缩到一个位。 该方案不是简单地确定故障检测的概率,而是使用由于堵塞和错误接触导致的故障模型来分析故障检测能力。 已经证明可以检测到所有这些类型的故障。 使用NI门可以检测到两条相邻线路之间的短路。