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1. 发明申请

WO2005031427A1 VERFAHREN ZUR PROBENUNTERSUCHUNG UND MIKROSKOP MIT EVANESZENTER PROBENBELEUCHTUNG 审中-公开
标题翻译：方法样品分析并在显微镜的样品逝照明
公开(公告)号：WO2005031427A1
公开(公告)日：2005-04-07
申请号：PCT/EP2004/052273
申请日：2004-09-22
申请人： LEICA MICROSYSTEMS WETZLAR GMBH , LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH , HECKER, Andreas , ULRICH, Heinrich , KNEBEL, Werner , MÖLLMANN, Kyra
发明人： HECKER, Andreas , ULRICH, Heinrich , KNEBEL, Werner , MÖLLMANN, Kyra
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/082 , G02B21/0032 , G02B21/008 , G02B21/02 , G02B21/06 , G02B21/08 , G02B21/16 , G02B21/32
摘要： Ein Mikroskop (1) mit evaneszenter Probenbeleuchtung (9) und ein Verfahren zur Probenuntersuchung ist offenbart. Es wird ein erstes evanseszentes Feld, das eine erste Eindringtiefe in die Probe (11) aufweist, und ein zweites evanseszentes Feld, das eine zweite Eindringtiefe in die Probe, die größer als die erste Eindringtiefe ist, aufweist, erzeugt. Es ist ein Detektor (43) vorgesehen, der erstes Detektionslicht, das von dem mit dem ersten evanseszenten Feld beleuchteten Teil der Probe (11) ausgeht, detektiert und daraus erste Detektionslichtdaten erzeugt und der zweites Detektionslicht, das von dem mit dem zweiten evanseszenten Feld beleuchteten Teil der Probe (11) ausgeht, detektiert und daraus zweite Detektionslichtdaten erzeugt. Außerdem ist ein Verarbeitungsmodul (45) zum Verarbeiten der ersten und zweiten Detektionslichtdaten (37) vorgesehen.
摘要翻译：显微镜（1）与倏逝样品照明（9）和用于样品分析的方法被公开。它是具有样本（11）在第一穿透深度的第一evanseszentes字段，和具有第二穿透深度样品，这是比渗透的第一深度大的第二evanseszentes字段，被产生。本发明提供检测来自与样品（11）的第一evanseszenten字段部分被照明发出第一检测光的检测器（43），并且产生从其第一检测光的数据和由所述evanseszenten具有第二场照射的第二检测光样品（11）的部分耗尽，检测并从其产生第二检测光的数据。此外，用于处理所述第一和第二检测光的数据（37）的处理模块（45）被提供。

2. 发明申请

WO2004034124A1 MIKROSKOP MIT KORREKTUR UND VERFAHREN ZUR KORREKTUR DER DURCH TEMPERATURÄNDERUNG HERVORGERUFENEN XYZ-DRIFT 审中-公开
标题翻译：随着对校正温度变化的修正和法显微镜造成XYZ DRIFT
公开(公告)号：WO2004034124A1
公开(公告)日：2004-04-22
申请号：PCT/EP2003/050675
申请日：2003-10-01
申请人： LEICA MICROSYSTEMS WETZLAR GMBH , GILBERT, Manfred
发明人： GILBERT, Manfred
IPC分类号： G02B21/24
CPC分类号： G02B21/26 , G02B21/245 , G02B21/365
摘要： Es ist ein Mikroskop (2) offenbart, das mit einem Stativ (12), einem am Stativ (12) angebrachten, in allen drei Raumrichtungen motorisch verstellbaren Mikroskoptisch (18) versehen ist. Ferner ist mindestens ein Temperatursensor 5 (30) und eine Steuer- und Kontrolleinheit (10) vorgesehen. Die Steuer- und Kontrolleinheit (10) umfasst einen Speicher (9) und einen Mikroprozessor (11), wobei im Speicher (9) eine Korrekturtabelle (44) abgelegt ist, die Driftwerte für die drei Raumrichtrungen (X, X und Z) als Funktion der Temperatur enthält.
摘要翻译：它是（2）中公开的三脚架（12），在支架（12），其安装，马达调节在所有三个空间方向显微镜载物台（18），提供了一种显微镜。另外，至少设置一个温度传感器5（30），和一个命令和控制单元（10）。所述控制和监视单元（10）包括一个存储器（9）和一个微处理器（11），其中，所述存储器（9）的校正表（44）被存储，对于三个空间方向性支柱漂移值（X，X和Z），为功能包含温度。

3. 发明申请

WO2003023482A1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR OPTISCHEN UNTERSUCHUNG EINES OBJEKTES 审中-公开
标题翻译：方法和设备对象的光学调查成果
公开(公告)号：WO2003023482A1
公开(公告)日：2003-03-20
申请号：PCT/EP2002/010122
申请日：2002-09-10
申请人： LEICA MICROSYSTEMS WETZLAR GMBH , SIECKMANN, Frank
发明人： SIECKMANN, Frank
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/367 , G02B21/002
摘要： In einer Vorrichtung zur Erzeugung eines dreidimensionalen Bildes eines Objektes (12) mit einem Objektiv (10) und einem Objekttisch (14) zur Aufnahme des Objektes (12) wird ein Piezoaktor (16,22) zur Einstellung des Abstandes des Objektives (10) vom Objekt (12) vorgesehen. Eine Bildaufnahmevorrichtung zeichnet eine Serie von Einzelbildern des Objektes (12) in verschiedenen Ebenen auf. Aus dieser Serie von Einzelbildern wird dann ein Multifokusbild erzeugt.
摘要翻译：在用于与透镜（10）和对象表（14），用于接收所述对象产生的物体（12）的三维图像的设备（12）是用于调节从透镜（10）的距离的压电致动器（16,22）对象（12）。一种图像拾取装置记录了一系列在不同的平面物体（12）的单个图像。一个多聚焦图像，然后从该帧序列生成的。

4. 发明申请

WO2005116718A1 SYSTEM ZUR BILDAUFNAHME UND BILDDARSTELLUNG VON PRÄPARATEN 审中-公开
标题翻译：系统来录制和制剂成像
公开(公告)号：WO2005116718A1
公开(公告)日：2005-12-08
申请号：PCT/EP2005/051537
申请日：2005-04-07
申请人： LEICA MICROSYSTEMS WETZLAR GMBH , GANSER, Michael
发明人： GANSER, Michael
IPC分类号： G02B21/18
CPC分类号： G02B21/18
摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft ein System (1) zur Bildaufnahme und Bilddarstellung von Präparaten. Es ist eine erste Beleuchtungsquelle (16), eine zweite Beleuchtungsquelle (17) und eine Auflichtbeleuchtungseinrichtung (25) vorgesehen. Das System (1) umfasst eine Kamera (5) zum Aufnehmen eines Bildes vom Präparat und ein Display (2) zum Darstellen zumindest eines Bildes eines Teils des Präparats. Der ersten Beleuchtungsquelle (16) entspricht ein erster Beleuchtungsstrahlengang (18) und der zweiten Beleuchtungsquelle (17) entspricht ein zweiter Beleuchtungsstrahlengang (19). Es ist ein Vereinigungsmittel (20) im Rahmen (3) vorgesehen, das einen ersten Abbildungsstrahlengang (21) und einen zweiten Abbildungsstrahlengang (22) zusammenführt und auf die Kamera (5) lenkt.
摘要翻译：本发明涉及一种用于图像捕获和制剂的图像显示的系统（1）。它是第一照明源（16），提供第二照明源（17）和入射光照明（25）。该系统（1）包括用于从所述标本和用于显示制备的一部分的至少一个图像的显示（2）拾取的图像的照相机（5）。所述第一照明源（16）对应于第一照明光束路径（18）和所述第二照明源（17），对应于第二照明光束路径（19）。（3），其汇集了第一成像光束路径（21）和第二成像光束路径（22）和偏转朝向所述照相机（5）提供了一种在框架上的组合装置（20）。

5. 发明申请

WO2005040762A1 VERFAHREN ZUR AUTOMATISCHEN ERZEUGUNG VON LASER-SCHNITTLINIEN IN DER LASER-MIKRODISSEKTION 审中-公开
标题翻译：一种用于自动生成激光显微切割激光切割线
公开(公告)号：WO2005040762A1
公开(公告)日：2005-05-06
申请号：PCT/EP2004/052600
申请日：2004-10-21
申请人： LEICA MICROSYSTEMS WETZLAR GMBH , SIECKMANN, Frank , JOHANNSEN, Gerhard
发明人： SIECKMANN, Frank , JOHANNSEN, Gerhard
IPC分类号： G01N1/28
CPC分类号： G01N1/2813 , G01N2001/288 , G02B21/32 , G02B21/365
摘要： In einem Verfahren zur Laser-Mikrodissektion wird zu einem auszuschneidenden Objekt in einem mikroskopischen Präparat eine Soll-Schnittlinie markiert und anschliessend das Objekt mittels einer Relativbewegung zwischen Laserstrahl und Präparat ausgeschnitten. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass ein elektronisches Bild zumindest eines Bildausschnittes des Präparats aufgenommen wird, dass der Bildausschnitt bildanalytisch bearbeitet wird, wobei mindestens ein auszuschneidendes Objekt automatisch ermittelt wird, und dass anschliessend die Soll-Schnittlinie um das mindestens eine auszuschneidende Objekt automatisch bestimmt wird. In einer vorteilhaften Ausgestaltung wird zusätzlich die zugehörige Laserschnittlinie automatisch erzeugt.
摘要翻译：在用于激光显微切割的方法是要被切割到所选择的对象在微观制剂，希望的切割线，然后通过激光束和样品之间的相对运动的装置切断加工对象物。该方法的特征在于：电子图像捕获的准备中的至少一个图像部分，所述图像部分是通过图像分析，其中至少一个auszuschneidendes目的是自动地确定处理，并且然后将所需的切割线在所述至少一个被切割对象被自动地确定是。在相关联的激光切割线的一个有利的实施例，除了自动生成。

6. 发明申请

WO2004034120A2 MIKROSKOP 审中-公开
标题翻译：显微镜
公开(公告)号：WO2004034120A2
公开(公告)日：2004-04-22
申请号：PCT/EP2003/050673
申请日：2003-09-30
申请人： LEICA MICROSYSTEMS WETZLAR GMBH , GILBERT, Manfred
发明人： GILBERT, Manfred
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/24
摘要： Es ist ein Mikroskop (2) offenbart, das aus einer ersten Gehäuseschale und einer zweiten Gehäuseschale (16 und 18) aufgebaut ist. Die erste und die zweite Gehäuseschale (16 und 18) definieren ein Bodenteil (20), auf dem das Stativ (4) steht. Das Stativ (4) ist c-förmig ausgebildet und eine Stativbodenabdeckung (22) schliesst das Bodenteil (20) des Stativs (4) nach aussen hin ab. Mindestens ein Verbindungsmittel (34) ist für die erste und die zweite Gehäuseschale (16 und 18) vorgesehen, wobei das Verbindungsmittel (34) von ausserhalb des Stativs (4) bei angebrachter Stativbodenabdeckung (22) unzugänglich ist.
摘要翻译：它是（2）中公开了一种显微镜，其包括第一外壳壳体和第二壳体外壳（16和18）构成。在第一和第二壳体外壳（16和18）限定的底部部分（20），在其支架（4）。支架（4）是C形的，以及支架基座盖（22）关闭所述支架（4）向外侧的基座部分（20）。提供了一种用于在第一和第二壳体外壳（16和18），其特征在于，在附接时，以底盖站（22）从支架（4）的外侧的连接装置（34）是不可访问的至少一个连接装置（34）。

7. 发明申请

WO2003036566A2 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ERZEUGUNG LICHTMIKROSKOPISCHER, DREIDIMENSIONALER BILDER 审中-公开
标题翻译：用于产生光镜的方法和装置，三维图像
公开(公告)号：WO2003036566A2
公开(公告)日：2003-05-01
申请号：PCT/EP2002/011458
申请日：2002-10-14
申请人： LEICA MICROSYSTEMS WETZLAR GMBH , SIECKMANN, Frank
发明人： SIECKMANN, Frank
IPC分类号： G06T17/00
CPC分类号： G06T17/05 , G02B21/0024 , G02B21/367 , G02B27/22
摘要： In einer Einrichtung zur Darstellung eines dreidimensionalen Objektes (22) als Objektbild (30) ist ein Abbildungssystem, insbesondere einem Mikroskop zur Abbildung des Objektes (22) und einem Computer vorgesehen. Aktoren dienen zur gezielten, schnellen Positionsveränderung des Objektes (22) in x-, y-, und z-Richtung. Mit einer Aufnahmeeinrichtung wird ein Bildstapel (26) von Einzelbildern (24) in verschiedenen Fokusebenen des Objektes (22) aufgenommen. Eine Steuerungseinrichtung steuert die Hardware des Abbildungssystems, wobei eine Analyseeinrichtung ein dreidimensionales Höhenreliefbild (28) und eine Textur (29) aus dem Bildstapel (24) erzeugt. Eine Steuereinrichtung kombiniert das dreidimensionale Höhenreliefbild (28) mit der Textur (29).
摘要翻译：在用于显示三维物体（22）作为对象图像的装置（30）是成像系统，特别是用于成像的对象（22）的显微镜和提供了一种计算机。致动器服务于在x，y和z方向上的定向，快速在所述对象（22）的位置变化。在物体（22）的不同的焦平面拍摄的帧的接收装置，图像堆栈（26）（24）。控制器控制成像系统，其中分析装置产生的三维浮雕图像高度（28）和从所述图像堆栈（24）的纹理（29）的硬件。控制器组合了三维高度浮雕图像（28）与所述纹理（29）。

8. 发明申请

WO2004085908A2 VORRICHTUNG ZUR HÖHENVERSTELLUNG UND TRÄGER FÜR OPTISCHE SYSTEME MIT VORRICHTUNGEN ZUR HÖHENVERSTELLUNG 审中-公开
标题翻译：装置：用于光学系统具有高度调节器件的高度调节和支持
公开(公告)号：WO2004085908A2
公开(公告)日：2004-10-07
申请号：PCT/EP2004/050233
申请日：2004-03-02
申请人： LEICA MICROSYSTEMS WETZLAR GMBH , BENDER, Claus
发明人： BENDER, Claus
IPC分类号： F16M
CPC分类号： F16M7/00 , A47B91/028
摘要： Es ist eine Vorrichtung zur Höhenverstellung einer Einrichtung 2 gegenüber einer Aufstellfläche 3 offenbart. Die Vorrichtung 1 zur Höhenverstellung ist dabei derart ausgestattet, dass bei der Höhenverstellung keinerlei Reibung durch Drehung der Kontaktstellen der Vorrichtungen 1 zur Höhenverstellung mit der Aufstellfläche 3 durch Reibung hervorgerufen wird. Die Vorrichtung 1 zur Höhenverstellung besteht dabei aus einem Drehrad 8, einer Aufnahme 9 und einem Fuss 11. Dabei ist bei der Höhenverstellung das Drehrad 8 und der Fuss 11 gegenüber der ortsfesten Aufnahme 9 teleskopartig verschiebbar. Die Vorrichtung 1 zur Höhenverstellung ist dabei derart ausgestaltet, dass der Fuss 11 gegenüber dem Drehrad 8 eine doppelte Verschiebung zurücklegt. Ein Träger 30 für ein optisches System besitzt mehrere Vorrichtungen 1 zur Höhenverstellung, die mit dem Boden 5 eines Grundkörpers 31 des Trägers 30 verbunden sind. Am Träger 30 ist eine linke und eine rechte Handauflage 31 a und 31 b vorgesehen, die mit einer Scharnierung 32 am Grundkörper 31 des Trägers 30 befestigt sind, so dass die der Scharnierung gegenüberliegenden Kanten 32a der linken bzw. rechten Handauflage 31 a und 31 b unabhängig von der Höhenverstellung des Trägers 30 immer auf der Aufstellfläche 3 aufliegen.
摘要翻译：它是用于相对于所公开的安装面3a装置2的高度调节的装置。高度调节装置1被设置为使得没有摩擦是通过用于与通过摩擦安装表面3的高度调节装置1的接触点的转动高度调节过程中引起的。高度调节装置1包括一旋钮8，座9和脚11。在这种情况下，高度调节过程中，旋转旋钮8和相对于所述固定插座9的脚11是可伸缩地移动。高度调节装置1被构造成使得脚11行进相对于所述旋钮双移8 一个编码一种具有高度调节，其被连接到载体30日的基体31的底部5的多个装置1的光学系统中的载波30 上支撑件30，左和31和31b提供了一种右手的支持，这是在载体30，从而的基座31安装有一个铰链系统32的是，左手或右手支撑件31和31b的铰接边32a相反侧保持在支承面3上独立地支撑第30的高度调节的

9. 发明申请

WO2004034125A1 OBJEKTTISCH FÜR EIN MIKROSKOP 审中-公开
标题翻译：对象表在显微镜
公开(公告)号：WO2004034125A1
公开(公告)日：2004-04-22
申请号：PCT/EP2003/007640
申请日：2003-07-15
申请人： LEICA MICROSYSTEMS WETZLAR GMBH , SCHWAAB, Klaus , GANSER, Michael
发明人： SCHWAAB, Klaus , GANSER, Michael
IPC分类号： G02B21/26
CPC分类号： G02B21/26
摘要： Ein Objekttisch für ein Mikroskop mit einem ersten Tischelement und einem zweiten Tischelement, das relativ um ersten Tischelement in einer y-Richtung horizontal verschiebbar ist, und mit einem dritten Tischelement, das relativ zum zweiten Tischelement in einer x-Richtung verschiebbar ist, und mit einem Koaxialantrieb, über den die Verschiebungen bewirkbar sind, ist offenbart. Der Objekttisch ist dadurch gekennzeichnet, dass der Koaxialtrieb an dem zweiten Tischelement angebracht ist und dort ein Antriebszahnrad bewegt, das in eine am ersten Tischelement angeordnete Zahnstange eingreift und dass ein Zugmechanismus zum Verschieben des dritten Tischelements vorgesehen ist.
摘要翻译：用于具有第一表元件和第二表元素，这是水平移动的相对于在y方向上的第一工作台部件，和一个第三表元件相对于在x方向上的第二表元素移位是在显微镜的目标表，并用其中的位移实现同轴驱动装置中被公开。该阶段的特征在于，所述同轴驱动器连接到所述第二表元素，有移动，在设置在所述第一齿条构件上的表啮合的驱动齿轮，以及设置为第三表元素移位一个牵引机构。

10. 发明申请

WO2003046753A1 VERFAHREN ZUR GEFÜHRTEN "BLIND DECONVOLUTION" MIKROSKOPISCHER BILDER UND SOFTWARE 审中-公开
标题翻译：方法受控显微图像和软件“的盲解”
公开(公告)号：WO2003046753A1
公开(公告)日：2003-06-05
申请号：PCT/EP2002/013406
申请日：2002-11-28
申请人： LEICA MICROSYSTEMS WETZLAR GMBH , GANSER, Michael , WESNER, Joachim
发明人： GANSER, Michael , WESNER, Joachim
IPC分类号： G06F17/00
CPC分类号： B82Y15/00 , G06T5/003 , G06T2207/10056
摘要： Verfahren zur Bind Deconvolution mikroskopischer Bilder, bei dem lediglich zur Schätzung der PSF ein einziger Parameter variiert wird. Der einzige Parameter berücksichtigt die optischen Eigenschaften der Umgebung des Objekts (40) zwischen dem Objektiv (20) des Mikroskops (1) und dem Bereich oberhalb des Objekts. Der einzigen Parameter repräsentiert einen funktionellen Zusammenhang der Parameter der einzelnen Schichten.
摘要翻译：对于显微图像，其中单个参数仅改变来估计PSF的去卷积bind方法。所述单个参数考虑了显微镜（1）和所述物体之上的区域的透镜（20）之间的对象（40）的环境的光学特性的。所述单个参数表示各个层的参数的功能关系。

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