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    • 3. 发明申请
    • Cu-Ga合金スパッタリングターゲット及びその製造方法
    • Cu-Ga合金溅射靶及其制造方法
    • WO2013031381A1
    • 2013-03-07
    • PCT/JP2012/067280
    • 2012-07-06
    • JX日鉱日石金属株式会社田村 友哉坂本 勝
    • 田村 友哉坂本 勝
    • C23C14/34B22D11/00B22D11/04C22C9/00C22F1/08C22F1/00
    • C23C14/3414B22D11/004C22C9/00C22F1/00C22F1/08
    • 目的 Ga組成が29at%以上Cu-Ga合金からなるスパッタリングターゲットを提供すること。 課題 Cu-Ga合金はGa組成が29at%以上になると脆性のあるγ相単相組織となるため、圧延、鍛造等の工程を行う事ができない。したがって、鋳造組織のまま用いることができるよう、鋳造組織の結晶粒径が小さく均一でなければならない。 解決手段 一定の冷却速度以上の凝固条件で連続的に固化させることにより、Gaが29~42.6at%、残部がCu及び不可避的不純物からなる溶解・鋳造したCu-Ga合金スパッタリングターゲットであって、スパッタ表面の平均結晶粒径が3mm以下であり、ターゲットの断面組織がスパッタ表面からスパッタ面に平行な中心面の方向に成長した柱状組織を有することを特徴とするCu-Ga合金スパッタリングターゲットを製造することができる。
    • [目的]提供由Ga含量为29原子%以上的Cu-Ga合金形成的溅射靶。 [问题] Cu-Ga合金是当Ga含量达到29at%以上时脆性的β相单相结构,因此不能被轧制,锻造等。 因此,铸造组合物的晶粒尺寸必须小且均匀,从而可以直接使用铸造组合物。 [解决方案]通过在至少一定的固化条件下进行连续固化,熔融并浇铸含有29〜42.6at%Ga的组成,余量为Cu和不可避免的杂质的Cu-Ga合金溅射靶 冷却速度。 可以制造的Cu-Ga合金溅射靶的特征在于溅射顶表面的平均晶粒尺寸为3mm以下,目标截面结构为从溅射顶面到 平行于溅射表面的中心平面。
    • 5. 发明申请
    • Cu-In-Ga-Se四元系合金スパッタリングターゲット
    • CU-IN-GA-SE第四季度合金喷射目标
    • WO2012042959A1
    • 2012-04-05
    • PCT/JP2011/060347
    • 2011-04-28
    • JX日鉱日石金属株式会社田村 友哉高見 英生坂本 勝
    • 田村 友哉高見 英生坂本 勝
    • C23C14/34
    • C23C14/14C23C14/0623C23C14/3414H01J37/3426
    • 銅(Cu)、インジウム(In)、ガリウム(Ga)及びセレン(Se)からなる四元系合金スパッタリングターゲットであって、各元素の構成比は、式Cu x In 1-y Ga y Se a (式中、0.84≦x≦0.98、0<y≦0.5、a=(1/2)x+3/2)であり、EPMAにより観察した組織において、Cu 2 Se又はCu(In、Ga) 3 Se 5 の異相のない、Cu(In、Ga)Se 2 相のみからなることを特徴とするCu-In-Ga-Seからなる四元系合金スパッタリングターゲット。長時間スパッタリングしても異常放電が殆どなく、スパッタ成膜後の膜の変換効率低下の要因となるCu 2 Se又はCu(In、Ga) 3 Se 5 の異相が存在せず、面内均一性に優れた膜の製造が可能であるCIGS四元系合金スパッタリングターゲット、さらに、所定のバルク抵抗を備え、かつ高密度のCIGS四元系合金スパッタリングターゲットを提供する。
    • 在本发明中,四元合金溅射靶包括铜(Cu),铟(In),镓(Ga)和硒(Se),溅射靶的特征在于元件的组成比由式CuxIn1- yGaySea(式中0.84 = x = 0.98,02相,不含Cu2Se或Cu(In,Ga)3Se5异质相,提供即使长期溅射也几乎不发生异常放电的CIGS四元合金溅射靶, 不含Cu2Se或Cu(In,Ga)3Se5非均相,这是溅射膜沉积后薄膜转换效率降低的原因,并且可以制造具有优异的面内均匀性的膜,以及具有规定的CIGS四元合金溅射靶 体积电阻和高密度。