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1. 发明申请

WO2006120978A1 プロジェクタ装置、積層型発光ダイオード装置および反射型発光ダイオードユニット审中-公开
标题翻译：投影仪器，多层发光二极管器件和反射发光二极管单元
公开(公告)号：WO2006120978A1
公开(公告)日：2006-11-16
申请号：PCT/JP2006/309168
申请日：2006-05-02
申请人：岩崎電気株式会社 , 畠中三幸 , 佐藤敬 , 山本一夫 , 齋藤行正 , 内田浩二 , 川鍋保文
发明人：畠中三幸 , 佐藤敬 , 山本一夫 , 齋藤行正 , 内田浩二 , 川鍋保文
IPC分类号： G03B21/14 , G02B27/00 , G02F1/133 , H01L33/00
CPC分类号： G02B5/10 , F21V29/74 , F21Y2115/10 , G03B21/14 , G03B21/2013 , G03B21/2033 , G03B33/12
摘要：　放熱性に優れ高出力化が可能な積層型発光ダイオード装置を提供する。　高熱伝導性を有する金属製の中空状のホルダケース５内に発光ダイオード２およびダイクロイックミラー３を対向配置してなる複数の反射型発光ダイオードユニット１０を、電気的絶縁材からなる連結材４を介して連結して積層型発光ダイオード装置１００を構成した。
摘要翻译：公开了一种散热性优异且可以形成为高输出的多层发光二极管装置。具体公开了通过使用由电绝缘材料制成的连接材料（4）连接多个反射型发光二极管单元（10）形成的多层发光二极管装置（100）。每个反射型发光二极管单元（10）通过在由具有高热量的金属制成的中空保持器壳体（5）中布置彼此相对的发光二极管（2）和分色镜（3）而获得电导率。

2. 发明申请

WO2011142120A1 光源装置审中-公开
标题翻译：光源设备
公开(公告)号：WO2011142120A1
公开(公告)日：2011-11-17
申请号：PCT/JP2011/002593
申请日：2011-05-10
申请人：岩崎電気株式会社 , 川鍋保文 , 小川大輔 , 山田一吉 , 酒井雅寛 , 齋藤行正
发明人：川鍋　保文 , 小川　大輔 , 山田　一吉 , 酒井　雅寛 , 齋藤　行正
IPC分类号： F21S2/00 , F21V17/00 , G03B21/14
CPC分类号： G03B21/20 , G03B21/2026 , G03B21/2066
摘要：　大型化を抑制しつつ、電極の溶解を防止する光源装置を提供する。放電ランプ（１１）、及び、この放電ランプ（１１）の放射光を反射する楕円反射鏡（１２）を備えた光源装置（１）において、放電ランプ（１１）の発光点を楕円反射鏡（１２）の第一焦点（Ｆ１）に配置し、楕円反射鏡（１２）の第二焦点（Ｆ２）に反射光を照射する照射面（１３Ａ）を配置し、この照射面（１３Ａ）と楕円反射鏡（１２）との間にカラーフィルタ（１５）を設け、このカラーフィルタ（１５）を楕円反射鏡（１２）の光軸（Ｘ）に対して傾斜させる構成とする。
摘要翻译：公开了一种被设计为抑制尺寸增加并且防止电极溶解的光源装置。所公开的光源装置（1）设置有放电灯（11）和反射从放电灯（11）放出的光的椭圆反射器（12）。放电灯（11）的发光点配置在椭圆反射体（12）的第一焦点（F1），照射反射光的照射面（13A）配置在椭圆形的第二焦点（F2）反射器（12）。在所述照射面（13A）和所述椭圆面反射体（12）之间设置有滤色器（15），所述滤色器（15）相对于所述椭圆形反射体的光轴（X） 12）。

3. 发明申请

WO2012014767A1 照射装置审中-公开
标题翻译： IRRADIATION装置
公开(公告)号：WO2012014767A1
公开(公告)日：2012-02-02
申请号：PCT/JP2011/066531
申请日：2011-07-21
申请人：岩崎電気株式会社 , 小川大輔 , 川鍋保文 , 酒井雅寛 , 山田一吉 , 森川哲国
发明人：小川　大輔 , 川鍋　保文 , 酒井　雅寛 , 山田　一吉 , 森川　哲国
IPC分类号： F21S2/00 , F21Y101/00
CPC分类号： G01N21/255 , H02S50/10
摘要：　特性評価等の試験に際し照射すべき適切な光源が異なるデバイスを試験する場合であっても、これらの光源を個別に用意することなく試験を可能にする照射装置を提供すること。　全波長域に亘って連続スペクトルを有する光を放射する装置光源４と、試験対象物を置く試料台６と、前記装置光源４の光を前記試料台６に導き前記試験対象物に照射する導光用光学系８と、を筐体２に備え、前記装置光源４と前記導光用光学系８の間に、前記装置光源４の光のスペクトル特性を他の光源の光のスペクトル特性に変えるスペクトル補正フィルタ６０を着脱自在に設け、前記スペクトル補正フィルタ６０を交換することにより、前記試験対象物に所望の他の光源の光のスペクトル特性の光を照射可能にした照射装置１を構成した。
摘要翻译：本发明提供一种照射装置，其能够在不对各个光源进行准备的情况下进行评价特性等的测试时，对不同的合适的光源进行照明的装置进行测试。照射装置（1）包括：壳体（2），其设置有用于在整个波长范围内发射具有连续光谱的光的装置光源（4），并且还设置有用于放置物体的样品台（6）以及用于将装置光源（4）的光引导到试样台（6）并照射待测试物体的光导光学系统（8）。用于将来自装置光源（4）的光的光谱特性改变为来自另一光源的光的光谱特性的光谱校正滤光器（60）可拆卸地安装在装置光源（4）和光导光学系统（8）。交换频谱校正滤波器（60）使得可以对来自所需的其他光源的具有光的光谱特性的光进行被测试物体的照射。

4. 发明申请

WO2011108263A1 光束平行度測定装置审中-公开
标题翻译：光束平行测量装置
公开(公告)号：WO2011108263A1
公开(公告)日：2011-09-09
申请号：PCT/JP2011/001213
申请日：2011-03-02
申请人：岩崎電気株式会社 , 株式会社ジェネシア , 酒井雅寛 , 川鍋保文 , 山田一吉 , 江野口章人 , 武山芸英
发明人：酒井　雅寛 , 川鍋　保文 , 山田　一吉 , 江野口　章人 , 武山　芸英
IPC分类号： G01M11/00 , G01J1/00 , G01J1/02 , G01B11/26 , H01L31/04
CPC分类号： G01B11/272 , G01J1/02 , G01J1/0242 , G01J1/04 , G01J1/0411 , G01J1/0418 , G01J1/0437 , G01J1/0448
摘要：　インコヒーレント光源から放射された光束の平行度を少ない測定回数で測定できる光束平行度測定装置を提供すること。　光束９に含まれる光線成分のそれぞれを光軸Ｋに対する入射角度θに応じた距離Ｌだけ前記光軸Ｋから離れた位置に結像するレンズ部２０と、前記光束９の結像位置Ｐを検出する二次元検出器２２と、を有し、前記光軸Ｋから前記結像位置Ｐまでの距離Ｌを前記入射角度θに変換し、前記光束９に含まれる光線成分の入射角度分布を出力する解析装置１２を備える光束平行度測定装置１を提供する。
摘要翻译：提供了一种光束平行度测量装置，其能够测量从非相干光源辐射的光束的平行度，几乎没有测量。光束平行度测量装置（1）具有：透镜部（20），其在远离光轴K的位置处形成包含在光束（9）中的光分量的图像，距离仅 L根据入射角θ相对于光轴为K; 和检测光束（9）的图像形成位置P的二维检测器（22）。光束平行度测量装置（1）配备有分析器（12），该分析器将距离光轴K的距离K转换成图像形成位置P至入射角θ，并且其输出包含在光束（9）中的光分量的入射角的分布。

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