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    • 4. 发明申请
    • DUAL MODE MASS SPECTROMETER
    • 双模式质谱分析仪
    • WO2018073589A1
    • 2018-04-26
    • PCT/GB2017/053155
    • 2017-10-18
    • MICROMASS UK LIMITED
    • BROWN, Jeffery Mark
    • H01J49/40
    • H01J49/405H01J49/0031H01J49/0036H01J49/406H01J49/408
    • Disclosed herein is an ion analysis instrument comprising a Time of Flight ("TOF") mass analyser comprising a reflectron. The instrument is operable in at least a first mode and a second mode, wherein in said first mode ions are caused to turn around at a first point in the reflectron and wherein in said second mode ions are caused to turn around at a second point in the reflectron such that the distance travelled by ions within the Time of Flight mass analyser is greater in the second mode than the distance travelled by ions within the Time of Flight mass analyser in the first mode. In this way, the operating modes can be selectively optimised for the analysis of ions of different masses.
    • 本文公开了包括包含反射器的飞行时间(“TOF”)质量分析仪的离子分析仪器。 该仪器可在至少第一模式和第二模式下操作,其中在所述第一模式中,使离子在反射器的第一点处转向,并且其中在所述第二模式中,使离子在第二点处转向 反射器使得飞行时间质量分析仪内的离子所行进的距离在第二模式中大于在第一模式中飞行时间质量分析仪内的离子所行进的距离。 通过这种方式,可以选择性地优化操作模式,以便分析不同质量的离子。