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    • 21. 发明申请
    • ニッケル銅合金薄膜積層フィルム
    • 镍铜合金薄层叠膜
    • WO2015060119A1
    • 2015-04-30
    • PCT/JP2014/076766
    • 2014-10-07
    • 東洋紡株式会社
    • 河本 宗範阿部 和洋
    • B32B15/08C23C14/06G01N23/207G01N27/327G01N27/416G01N27/48
    • C23C14/562C23C14/20G01N27/307G01N27/3272G01N27/48
    •  本発明の解決しようとする課題は、従来の問題点に鑑み、安価でありながら、低い表面抵抗値、耐薬品性を有し、保存安定性に優れる、血糖値センサー等のバイオセンサー用電極フィルムとして好適に使用できるニッケル銅合金薄膜積層フィルムを提供することである。 そして、上記課題を解決するための手段は、フィルム基材の少なくとも片面上に、直接または他の層を介して、ニッケル銅合金薄膜を積層したフィルムであって、ニッケル銅合金薄膜におけるニッケルの含有率が40重量%以上95重量%以下であり、ニッケル銅合金薄膜が、X線回折パターンにおいて、43°≦2θ≦45°、49°≦2θ≦52°、及び74°≦2θ≦77°の3つの範囲のうち、少なくとも1つの範囲に回折ピークを有するニッケル銅合金薄膜積層フィルムである。
    • 鉴于现有技术的问题,本发明要解决的问题是提供一种适合用作血糖传感器等的生物传感器电极膜的镍铜合金薄层叠层膜。 并且具有低表面电阻率,对化学品的高耐久性,优异的保存稳定性和低成本特征。 解决该问题的方法是通过在薄膜基材的至少一个表面上直接或跨另一层层压镍 - 铜合金薄层而形成的镍铜合金薄层叠层薄膜,其中镍 - 铜合金中的镍含量 薄层为40重量%以上且95重量%以下,所述镍铜合金薄膜在X射线衍射图中具有以下三个范围中的至少一个的衍射峰:43°≤ 2θ≤45°,49°≤2θ≤52°,74°≤2θ≤77°。
    • 22. 发明申请
    • X-RAY DIFFRACTION-BASED DEFECTIVE PIXEL CORRECTION METHOD USING AN ACTIVE PIXEL ARRAY SENSOR
    • 基于X射线衍射的有缺陷的像差校正方法使用有源像素阵列传感器
    • WO2015006304A1
    • 2015-01-15
    • PCT/US2014/045715
    • 2014-07-08
    • BRUKER AXS, INC.
    • KAERCHER, JoergCHAMBERS, John L.
    • G01N23/207
    • G01T7/005G01N23/207
    • A method for correcting erroneous intensity measurements caused by defective pixels of the detector for a single-crystal X-ray diffraction system uses collected diffraction images and a defective pixel list to modify three-dimensional reflection profiles by replacing profile elements affected by defective pixels with corresponding profile elements from a model profile. Reflection positions on the detector are predicted using a crystal orientation matrix and a three-dimensional observed profile is constructed for each reflection. A model profile is constructed using normalized data from multiple reflection profiles. The observed profiles are compared with the defective pixel list to determine which profile elements are affected by defective pixels, and those elements are replaced by corresponding elements from the model profile. If the replaced elements represent more than a predetermined percentage of the overall reflection intensity, the data for that reflection is omitted from an overall dataset for the crystal.
    • 用于校正由单晶X射线衍射系统的检测器的缺陷像素引起的错误强度测量的方法使用所收集的衍射图像和缺陷像素列表来修改三维反射曲线,通过用相应的方式替换受缺陷像素影响的轮廓元素 来自模型配置文件的配置文件元素。 使用晶体取向矩阵预测检测器上的反射位置,并为每次反射构造三维观察曲线。 使用来自多个反射谱的归一化数据构建模型分布。 将观察到的轮廓与缺陷像素列表进行比较,以确定哪些轮廓元素受到缺陷像素的影响,并且这些元素由来自模型轮廓的相应元素代替。 如果替换的元件表示超过总体反射强度的预定百分比,则从晶体的整体数据集中省略该反射的数据。
    • 24. 发明申请
    • METHOD AND APPARATUS FOR USING AN AREA X-RAY DETECTOR AS A POINT DETECTOR IN AN X-RAY DIFFRACTOMETER
    • 在X射线衍射仪中使用区域X射线探测器作为点检测器的方法和装置
    • WO2011139473A3
    • 2012-01-26
    • PCT/US2011031554
    • 2011-04-07
    • BRUKER AXS INCHE BOB
    • HE BOB
    • G01N23/207G01B15/00
    • G01N23/207
    • An area detector used in a two-dimensional system is used as a point detector in Bragg-Brentano and other geometries by providing the area detector with a mask the limits the area through which X-rays can enter the detector. Secondary X-ray optics and a monochromator that are part of the diffractometer geometry are attached to the area detector mask to allow a fast and easy switch between the two-dimensional detector mode and the point detector mode. A concave detector mask is used with a spherical detector in order to reduce the secondary beam path and increase detector efficiency and the opening in the detector mask can be offset from the mask center to achieve high 2? angle measurements. Single channel bypath electronics are used to disregard the dimensional position of each X-ray count to increase the efficiency and speed of the system.
    • 在二维系统中使用的区域检测器用作布拉格布伦塔诺(Bragg-Brentano)中的点检测器和其他几何形状,通过为区域检测器提供限制X射线可以进入检测器的区域的掩模。 二次X射线光学元件和作为衍射仪几何形状的一部分的单色仪被附接到区域检测器掩模,以允许在二维检测器模式和点检测器模式之间的快速和容易的切换。 凹面检测器掩模与球面检测器一起使用,以减少二次光束路径并提高检测器效率,并且检测器掩模中的开口可以从掩模中心偏移以实现高2? 角度测量。 单通道旁路电子设备用于忽略每个X射线计数的尺寸位置,以提高系统的效率和速度。
    • 30. 发明申请
    • HANDHELD TWO-DIMENSIONAL X-RAY DIFFRACTOMETER
    • 手持式二维X射线衍射仪
    • WO2009134849A2
    • 2009-11-05
    • PCT/US2009/042051
    • 2009-04-29
    • BRUKER AXS, INC.HE, Bob, B.DURST, Roger, D.
    • HE, Bob, B.DURST, Roger, D.
    • G01N23/207
    • G01N23/207
    • A handheld X-ray diffractometer comprises a miniaturized X-ray source and multiple area detectors to allow the diffractometer to obtain two-dimensional X-ray diffraction images in a large diffraction space without rotating the sample. The source and detectors are located inside of a radio opaque enclosure that protects the operator during use. The handheld diffractometer also comprises a sample monitoring and alignment system that allows an operator to observe the measuring area and to align the diffractometer to the sample from outside of the housing. A specially designed mouthpiece, which mates the diffractometer to the sample area, prevents x-ray leakage and triggers off the data collection. The detectors can be positioned to perform measurements necessary to calculate a mechanical stress in the sample. Linear detectors may also be used in place of the area detectors.
    • 手持X射线衍射仪包括小型化X射线源和多个区域检测器,以允许衍射仪在大的衍射空间中获得二维X射线衍射图像,而不旋转样品。 源和检测器位于无线电不透明外壳内部,可在使用过程中保护操作者。 手持衍射仪还包括样品监测和校准系统,其允许操作者观察测量区域并将衍射仪与壳体外部对准样品。 将衍射仪与样品区域配合的专门设计的接口管可防止X射线泄漏并触发数据采集。 可以将检测器定位成执行用于计算样品中的机械应力所需的测量。 也可以使用线性检测器来代替区域检测器。