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21. 发明申请

WO00011440A1 ULTRAVIOLET DETECTOR 审中-公开
标题翻译： ULTRAVIOLET检测器
公开(公告)号：WO00011440A1
公开(公告)日：2000-03-02
申请号：PCT/JP1999/004445
申请日：1999-08-18
IPC分类号： G01J1/58 , G01J1/02
CPC分类号： G01J1/58
摘要： An ultraviolet detector includes a wavelength converter element (1) that is long along the direction of incidence of ultraviolet rays (2), and a photodetector element (3) is arranged on one side (1a) of the wavelength converter element (1). Unconverted ultraviolet rays propagate downward and attenuate without exiting from the wavelength converter element (1). Visible light converted in the wavelength converter element (1) propagates to all sides, and also enters the photodetector element (3). The photodetector element (3) detects the quantity of the incident ultraviolet rays. As a result, the photodetector element is protected from the deterioration due to ultraviolet rays while maintaining its detection sensitivity.
摘要翻译：紫外线检测器包括沿着紫外线（2）的入射方向长的波长转换元件（1），在波长转换元件（1）的一侧（1a）上配置有光检测器元件（3）。未转换的紫外线向下传播并衰减而不离开波长转换器元件（1）。在波长转换器元件（1）中转换的可见光传播到所有侧面，并且还进入光电检测器元件（3）。光检测器元件（3）检测入射的紫外线的量。结果，保护光检测元件免受紫外线的劣化，同时保持其检测灵敏度。

22. 发明申请

WO2016061838A1 超高速光采样时钟的多通道失配测量方法及测量补偿装置审中-公开
公开(公告)号：WO2016061838A1
公开(公告)日：2016-04-28
申请号：PCT/CN2014/089903
申请日：2014-10-30
申请人：上海交通大学
发明人：邹卫文 , 杨光 , 张华杰 , 陈建平
IPC分类号： G01J11/00
CPC分类号： G01J11/00 , G01J1/58 , G01J3/28 , G01R27/28
摘要：一种超高速时间-波长交织光脉冲序列通道失配测量补偿装置及其方法，包括待测超高速时间-波长交织光脉冲产生模块（1），光谱分析模块（3），电频谱分析模块（4）以及数据分析与处理模块（5）。通过对超高速时间-波长交织光脉冲序列的频域测量与分析，得到了各个通道脉冲序列的失配信息，克服了通过示波器进行时域观测方法中采样率不足的瓶颈。得到的通道失配信息可进一步作为超高速时间-波长交织光脉冲序列通道失配补偿和校正的依据。

23. 发明申请

WO2013176759A1 SYSTEMS AND METHODS FOR CHIP-INTEGRATED INFRARED SILICON DETECTOR 审中-公开
标题翻译：芯片集成红外探测器的系统和方法
公开(公告)号：WO2013176759A1
公开(公告)日：2013-11-28
申请号：PCT/US2013/031736
申请日：2013-03-14
申请人： THE TRUSTEES OF COLUMBIA UNIVERSITY IN THE CITY OF NEW YORK
发明人： ENGLUND, Dirk, R. , GAN, Xuetao
IPC分类号： G01J3/28
CPC分类号： G01J1/58 , H01L31/02327
摘要： Systems and methods for chip-integrated infrared silicon detectors are disclosed. In one aspect of the disclosed subject matter, a detector for detecting at least one electromagnetic field is disclosed. An exemplary detector can include a photodetector, a photonic crystal cavity, a spacer layer, and an incoupling element. The spacer layer can be disposed between the photonic crystal cavity and the photodetector. The incoupling element can be adapted to couple at least one input electromagnetic field into the photonic crystal cavity. The photonic crystal cavity can be adapted to upconvert the at least one input electromagnetic field to form at least one output electromagnetic field, thereby permitting detection of the at least one output electromagnetic field by the photodetector through the spacer layer. In another aspect, a method for upconverting an input field is disclosed. In another aspect, a method for integrating a photonic crystal cavity onto a photodetector is disclosed.
摘要翻译：公开了用于芯片集成的红外硅检测器的系统和方法。在所公开的主题的一个方面，公开了一种用于检测至少一个电磁场的检测器。示例性的检测器可以包括光电检测器，光子晶体腔，间隔层和去耦元件。间隔层可以设置在光子晶体腔和光电检测器之间。耦合元件可以适于将至少一个输入电磁场耦合到光子晶体腔中。光子晶体腔可以适于上变频至少一个输入电磁场以形成至少一个输出电磁场，从而允许光电检测器通过间隔层检测至少一个输出电磁场。另一方面，公开了一种用于上变频输入字段的方法。另一方面，公开了一种将光子晶体腔整合到光电探测器上的方法。

24. 发明申请

WO2012170216A3 METHOD OF MEASURING LUMINESCENCE OF A MATERIAL 审中-公开
标题翻译：测量材料发光的方法
公开(公告)号：WO2012170216A3
公开(公告)日：2013-03-07
申请号：PCT/US2012039508
申请日：2012-05-25
申请人： BATTELLE MEMORIAL INSTITUTE , MILLER STEVEN D
发明人： MILLER STEVEN D
IPC分类号： G01T1/10 , G01T1/105 , G01T1/11
CPC分类号： G01T1/11 , G01J1/58 , G01N21/64 , G01T1/10 , G01T1/105 , G21K5/00
摘要： A method of measuring luminescence of a material is disclosed. The method includes applying a light source to excite an exposed material. The method also includes amplifying an emission signal of the material. The method further includes measuring a luminescent emission at a fixed time window of about 10 picoseconds to about 10 nanoseconds. The luminescence may be radio photoluminescence (RPL) or optically stimulated luminescence (OSL).
摘要翻译：公开了一种测量材料发光的方法。该方法包括施加光源以激发暴露的材料。该方法还包括放大材料的发射信号。该方法还包括在约10皮秒至约10纳秒的固定时间窗下测量发光。发光可以是放射性光致发光（RPL）或光学刺激的发光（OSL）。

25. 发明申请

WO2012167894A1 IN-LINE DECAY-TIME SCANNER 审中-公开
标题翻译：在线衰减扫描仪
公开(公告)号：WO2012167894A1
公开(公告)日：2012-12-13
申请号：PCT/EP2012/002339
申请日：2012-06-01
申请人： SICPA HOLDING SA , VASIC, Milan , DUCA, Nicola
发明人： VASIC, Milan , DUCA, Nicola
IPC分类号： G07D7/12 , G01N21/64
CPC分类号： G01N21/6408 , G01J1/58 , G01N2201/062 , G07D7/1205
摘要： The disclosed scanner allows detecting decay time characteristics of light emitted by a luminescent marking on an item which is transported, even at high speed, on a distribution/production line. The detection zone of the scanner' s light sensor has a shape elongated along a path of the moving item, and the responsivity of the light sensor, within the wavelength range of the emitted luminescence light, is uniform over the detection zone. The control unit of the scanner is further operable to adapt the drive current, or drive voltage, powering its excitation light source to accordingly adapt the intensity of the excitation light delivered to the marking so that its light sensor can reliably measure the corresponding luminescence light response, and thus accurately determine a corresponding decay time value.
摘要翻译：所公开的扫描器允许检测在分配/生产线上甚至高速运输的物品上的发光标记发出的光的衰变时间特性。扫描仪的光传感器的检测区域具有沿着移动物品的路径细长的形状，并且在发射的发光的波长范围内的光传感器的响应度在检测区域上是均匀的。扫描器的控制单元进一步可操作以使驱动电流或驱动电压适应其激发光源的功率，从而适应传递到标记的激发光的强度，使得其光传感器可以可靠地测量相应的发光光响应，从而精确地确定相应的衰减时间值。

26. 发明申请

WO2012118528A1 INFRARED PASS VISIBLE BLOCKER FOR UPCONVERSION DEVICES 审中-公开
标题翻译：用于UPCONVERSION设备的红外线可见阻塞器
公开(公告)号：WO2012118528A1
公开(公告)日：2012-09-07
申请号：PCT/US2011/056159
申请日：2011-10-13
申请人： UNIVERSITY OF FLORIDA RESEARCH FOUNDATION, INC. , NANOHOLDINGS, LLC , SO, Franky , KIM, Do Young , PRADHAN, Bhabendra
发明人： SO, Franky , KIM, Do Young , PRADHAN, Bhabendra
IPC分类号： H01L31/09 , G01J1/02
CPC分类号： H01L27/322 , G01J1/58 , H01L27/301 , H01L51/0085 , H01L51/50
摘要： An IR-to-Visible up-conversion device with a stacked layer structure includes an IR pass visible blocking layer such that the IR entry face of the stacked device allows IR radiation, particularly MR radiation, to enter the device but visible light generated by a light emitting diode (LED) layer to be blocked from exit at that IR entry face of the device. The device has an IR transparent electrode at the IR entry face and a visible light transparent electrode such that the visible light can exit the device at a visible light detection face opposite the IR entry face.
摘要翻译：具有堆叠层结构的IR可见上转换装置包括IR通道可见阻挡层，使得堆叠装置的IR入射面允许IR辐射，特别是MR辐射进入该装置，但由发光二极管（LED）层在设备的IR进入面处被阻止离开。该装置在IR入射面具有IR透明电极和可见光透明电极，使得可见光可以在与IR入射面相对的可见光检测面处离开设备。

27. 发明申请

WO2012104095A1 PRÜFVERFAHREN FÜR EINE FLUCHTWEGMARKIERUNG 审中-公开
标题翻译：程序逃跑路线MARKER
公开(公告)号：WO2012104095A1
公开(公告)日：2012-08-09
申请号：PCT/EP2012/000484
申请日：2012-02-03
申请人： LUFTHANSA TECHNIK AG , BIEHL, Torben
发明人： BIEHL, Torben
IPC分类号： G01J3/28 , G01J1/18 , G01N21/64 , G01J1/58 , G01J3/10 , G01J3/44 , G01J1/42
CPC分类号： G01N21/64 , G01J1/58 , G01J3/10 , G01J3/28 , G01J3/4406 , G01J2001/4247 , G01N21/6408 , G01N2021/6417 , G01N2021/6495
摘要： Prüfverfahren für eine Fluchtwegmarkierung, die eine Einbauposition besitzt und von einer Lichtquelle in definierter Position relativ zu der Einbauposition beleuchtet wird, um die Fluchtwegmarkierung für ein Nachleuchten aufzuladen, gekennzeichnet durch folgende Verfahrensschritte: eine Anregungskurve Α( λ ) für die Fluchtwegmarkierung wird abhängig von der Wellenlänge bereitgestellt, die Bestrahlungsstärke E( λ ) der Lichtquelle wird für die Einbauposition der Fluchtwegmarkierung abhängig von der Wellenlänge erfasst, eine gewichtete Bestrahlungsstärke B( λ ) wird als Produkt der Bestrahlungsstärke und der Anregungskurve abhängig von der Wellenlänge ermittelt, eine Aufladebestrahlungsstärke (BiL) wird als Integral über der gewichteten Bestrahlungsstärke über die Wellenlänge ermittelt und eine von der Aufladedauer t l abhängige Kennlinie K tl (BiL) gibt an, welche Nachleuchtdauer sich für die Fluchtwegmarkierung bei der Aufladedauer t l für die Aufladebestrahlungsstärke (BiL) ergibt.
摘要翻译：用于逃生路线测试方法标记，具有安装位置和由光源在相对于安装位置的限定的位置照亮时，为了充电撤离通路标识为余辉，其特征在于以下步骤：用于撤离通路标识的激发曲线是依赖于波长（λ）提供时，光源的辐照度E（θ）检测到用于逃生路线的安装位置标记依赖于波长，加权辐照度B（？）被确定为照射强度的乘积和依赖于波长的激发曲线，Aufladebestrahlungsstärke（BIL）被定义为一体地确定在所述加权辐照波长，并取决于充电时间TL特性KTL（BIL）指示哪个持久性（用于逃生路线在用于Aufladebestrahlungsstärke充电时间TL标记 BIL）的结果。

28. 发明申请

WO2011140664A2 HANDPIECE WITH INTEGRATED OPTICAL SYSTEM FOR PHOTOTHERMAL RADIOMETRY AND LUMINESCENCE MEASUREMENTS 审中-公开
标题翻译：具有集成光学系统用于光热辐射测量和发光测量的HANDPIECE
公开(公告)号：WO2011140664A2
公开(公告)日：2011-11-17
申请号：PCT/CA2011/050303
申请日：2011-05-13
申请人： QUANTUM DENTAL TECHNOLOGIES INC. , JEON, Jin-Seok , MANDELIS, Andreas , ABRAMS, Stephen , MATVIENKO, Anna , SIVAGURUNATHAN, Koneswaran , SILVERTOWN, Josh , HELLEN, Adam
发明人： JEON, Jin-Seok , MANDELIS, Andreas , ABRAMS, Stephen , MATVIENKO, Anna , SIVAGURUNATHAN, Koneswaran , SILVERTOWN, Josh , HELLEN, Adam
IPC分类号： G01J5/08
CPC分类号： G01J5/10 , A61B1/00177 , A61B1/05 , A61B1/24 , A61B5/0088 , A61B5/0093 , A61B6/14 , A61B2018/202 , A61B2560/0233 , G01J1/0233 , G01J1/58 , G01J3/0272 , G01J5/048 , G01N21/63 , H04N7/18
摘要： An apparatus is provided for performing photothermal measurements on a object. The apparatus, which may be provided as a handpiece, houses optical components including a laser, an infrared detector, a dichroic beamsplitter, and focusing and beam directing optics for the delivery of a laser beam to, and the collection of photothermal radiation from, a measured object. Some of the optical components may be provided on an optical bench that is directly attached to a thermally conductive tip portion for the passive heat sinking of internal optical components. The apparatus may further include a sampling optical element and a photodetector for the detection of luminescence, and a camera for obtaining an image of the object during a diagnostic procedure. The apparatus may be employed for the scanning of a tooth to determine an oral health status of the tooth.
摘要翻译：提供了一种用于对物体进行光热测量的装置。可以设置为手持件的装置容纳光学部件，包括激光器，红外检测器，二向色分束器以及聚焦和光束引导光学器件，用于将激光束传送到光热辐射和从其中收集光热辐射测量对象。一些光学部件可以设置在光学台上，其直接附接到用于内部光学部件的被动散热的导热末端部分。该装置还可以包括用于检测发光的采样光学元件和光电检测器，以及用于在诊断过程期间获得物体的图像的照相机。该装置可用于扫描牙齿以确定牙齿的口腔健康状况。

29. 发明申请

WO2011092020A3 ARRANGEMENT FOR USE IN A PROJECTION EXPOSURE TOOL FOR MICROLITHOGRAPHY HAVING A REFLECTIVE OPTICAL ELEMENT 审中-公开
标题翻译：用于具有反射光学元件的微型摄影用投影曝光工具中的安排
公开(公告)号：WO2011092020A3
公开(公告)日：2011-09-29
申请号：PCT/EP2011000385
申请日：2011-01-28
申请人： ZEISS CARL SMT GMBH , ASML NETHERLANDS BV , EHM DIRK HEINRICH , VAN KAMPEN MAARTEN , SCHMIDT STEFAN-WOLFGANG , BANINE VADIM YEVGENYEVICH , LOOPSTRA ERIK
发明人： EHM DIRK HEINRICH , VAN KAMPEN MAARTEN , SCHMIDT STEFAN-WOLFGANG , BANINE VADIM YEVGENYEVICH , LOOPSTRA ERIK
IPC分类号： G01J1/04 , G03F7/20
CPC分类号： G03F7/70891 , G01J1/58 , G02B5/0891 , G03F7/70316 , G03F7/70558 , G03F7/7085 , G03F7/70958
摘要： An arrangement for use in a projection exposure tool (100) for microlithography comprises a reflective optical element (10; 110) and a radiation detector (30; 32; 130). The reflective optical element (10; 110) comprises a carrier element (12) guaranteeing the mechanical strength of the optical element (10; 110) and a reflective coating (18) disposed on the carrier element (12) for reflecting a use radiation (20a). The carrier element (12) is made of a material which upon interaction with the use radiation (20a) emits a secondary radiation (24) the wavelength of which differs from the wavelength of the use radiation (20a), and the radiation detector (30; 32; 130) is configured to detect the secondary radiation (24).
摘要翻译：一种用于微光刻投影曝光工具（100）的装置包括反射光学元件（10; 110）和辐射检测器（30; 32; 130）。反射光学元件（10; 110）包括保证光学元件（10; 110）的机械强度的载体元件（12）和设置在载体元件（12）上的反射涂层（18），用于反射使用辐射 20A）。载体元件（12）由与使用辐射（20a）相互作用时发射波长与使用辐射（20a）的波长不同的次级辐射（24）的材料制成，并且辐射检测器（30 ; 32; 130）被配置为检测所述次级辐射（24）。

30. 发明申请

WO2011058431A2 WELDING ARC APPAREL WITH UV ACTIVATED IMAGES AND METHOD FOR DETECTING UV RADIATION 审中-公开
标题翻译：具有UV激活图像的焊接弧装置和用于检测紫外线辐射的方法
公开(公告)号：WO2011058431A2
公开(公告)日：2011-05-19
申请号：PCT/IB2010/002908
申请日：2010-11-15
申请人： LINCOLN GLOBAL, INC. , CHANTRY, Bruce, John , MCDOWELL, Mark, David
发明人： CHANTRY, Bruce, John , MCDOWELL, Mark, David
IPC分类号： B23K9/32 , A61F9/06 , F16P1/06 , G01J1/42
CPC分类号： B23K9/321 , A61F9/06 , A61F9/067 , F16P1/06 , G01J1/429 , G01J1/58
摘要： A welding accessory and a system for detecting UV radiation exposure during welding operations are disclosed. The welding accessory may have a surface exposed to UV radiation generated by electric arc welding, a first image visible without exposure to the UV radiation, and a second image formed from UV activated dye that is visible only after exposure to UV radiation generated by the electric welding arc. A system may include a UV exposure indicator with a first state and at least a second state, and include UV activated dye adapted to provide a reversible or persistent visual indication upon exposure to UV radiation. The visual indication may include any combination of symbols, logos, images, text, or other decorative or informational designs as desired.
摘要翻译：公开了焊接附件和用于在焊接操作期间检测UV辐射暴露的系统。焊接附件可能具有暴露于通过电弧焊接产生的UV辐射的表面，第一图像可见而不暴露于UV辐射，以及由UV活化染料形成的第二图像，其仅在暴露于由电气产生的UV辐射之后才可见焊弧。系统可以包括具有第一状态和至少第二状态的UV曝光指示器，并且包括适于在暴露于UV辐射时提供可逆或持续的视觉指示的UV活化染料。视觉指示可以包括符号，标志，图像，文本或其他装饰或信息设计的任何组合。

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