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    • 1. 发明申请
    • SYSTEME ET METHODE DE MICROSCOPIE PAR ECLAIRAGE PAR LA TRANCHE
    • EDGE-ILLUMINATION MICROSCOPY的系统和方法
    • WO2015028493A1
    • 2015-03-05
    • PCT/EP2014/068139
    • 2014-08-27
    • IMAGINE OPTICCENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE-CNRSUNIVERSITÉ DE BORDEAUX SEGALEN
    • LEVECQ, XavierVIASNOFF, VirgileSIBARITA, Jean-BaptisteSTUDER, VincentGALLAND, Rémi
    • G02B21/06
    • G02B21/06G01N21/6428G01N21/6458G01N2201/06113G01N2201/0638G01N2201/10G02B21/16G02B21/241G02B21/361G02B27/0068
    • Selon un aspect, l'invention concerne une méthode de microscopie d'un échantillon épais agencé sur un support d'échantillon, avec illumination par la tranche de l'échantillon. La méthode comprend notamment l'émission d'au moins un faisceau d'illumination (1), la formation à partir du faisceau d'illumination d'une surface d'illumination, la focalisation de la surface d'illumination dans l'échantillon au moyen d'un objectif de microscope (120) et la déflexion de la surface d'illumination issue de l'objectif de microscope permettant la formation d'une surface d'illumination transverse, située dans un plan sensiblement perpendiculaire à l'axe optique de l'objectif de microscope. La méthode comprend en outre la formation, au moyen dudit objectif de microscope (120), de l'image d'une zone de l'échantillon éclairée par la surface d'illumination transverse sur une surface de détection (131) d'un dispositif de détection (130), le balayage du faisceau d'illumination permettant un déplacement de la surface d'illumination transverse le long de l'axe optique de l'objectif de microscope et la superposition par des moyens de mise au point comprenant des moyens distincts des moyens de déplacement axial relatif de l'objectif de microscope et de l'échantillon, de la surface d'imagerie objet et de la surface d'illumination transverse.
    • 根据一个方面,本发明涉及一种用样品的边缘照明布置在样品载体上的厚样品的显微镜检查方法。 特别地,该方法包括发射至少一个照明光束(1),从照明光束形成照明表面,借助于显微镜(120)将照明表面聚焦在样品中,并使照明表面起始 从显微镜透镜,以形成横向照明表面,位于基本上垂直于显微镜镜片的光轴的平面内。 该方法还包括通过所述显微镜(120)形成由检测装置(130)的检测表面(131)上的横向照明表面照射的样品的区域的图像,扫描照明光束, 允许横向照明表面沿着显微镜透镜的光轴移动,并且通过聚焦装置叠加物体成像表面和横向照明表面,聚焦装置包括与用于显微镜镜片和样品的相对轴向运动的装置分离的装置。