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    • 9. 发明授权
    • Memory error detection and/or correction
    • 存储器错误检测和/或校正
    • US08250435B2
    • 2012-08-21
    • US12559953
    • 2009-09-15
    • Robert G. BlankenshipDennis W. BrzezinskiEdwin F. Mendez Valverde
    • Robert G. BlankenshipDennis W. BrzezinskiEdwin F. Mendez Valverde
    • H03M13/00
    • G06F11/1004
    • An embodiment may include circuitry that may detect and/or correct at least one error in a data codeword that may include a data word, cyclical redundancy check (CRC) word, and parity word. The circuitry may select whether a portion of the CRC word indicates whether only a single processor has accessed the data word. The data word, CRC word, and the parity word may be accessible in respective distinct memory device sets that each may include one or more respective memory devices. If the circuitry detects, based at least in part upon the data codeword and CRC word, a CRC error, and the at least one error includes fewer than a first predetermined number of errors, the circuitry may determine in which of the one or more respective memory devices in the memory device sets the at least one error resides and may correct the at least one error.
    • 实施例可以包括可以检测和/或校正可包括数据字,循环冗余校验(CRC)字和奇偶校验字的数据码字中的至少一个错误的电路。 电路可以选择CRC字的一部分是否指示单个处理器是否已经访问了数据字。 数据字,CRC字和奇偶校验字可以在各自不同的存储器件组中可访问,每个不同的存储器件集合可以包括一个或多个相应的存储器件。 如果电路至少部分地基于数据码字和CRC字来检测CRC错误,并且该至少一个错误包括少于第一预定数量的错误,则电路可以确定在一个或多个相应的 存储器设备中的存储器设备设置至少一个错误,并且可以校正至少一个错误。